Úvod. Mikroskopie. Optická Elektronová Skenující sondou. Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů.
|
|
- Pavlína Kučerová
- před 8 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Mikrosvět
2 Úvod Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů. Mikroskopie Optická Elektronová Skenující sondou
3 Optická mikroskopie zorný úhel osvětlení zvětšení zorného uhlu interakce světa s povrchem vzorku
4 Zorný úhel Lidské oko nemůže vidět předměty nebo detail předmětu, jestliže je zorný úhel menší než 1' tgτ y d - zorný úhel y - velikost předmětu d - vzdálenost předmětu d Význam zvětšení zorného úhlu : oko rozezná na předmětu více podrobností předmět se jeví více osvětlen, než při přímém pozorování
5 Zařízení pro zvětšení zorného uhlu Zorný úhel je možné opticky zvětšit pomoci lupy (do 10x) Úhlové zvětšení ( ): tg y y : tg a d d a d konvenční zraková vzdálenost (25 cm) a předmětová vzdálenost Lupa je spojná čočka s malou ohniskovou vzdáleností
6 Zařízení pro zvětšení zorného uhlu dosáhl zvětšení až 270x Právě lupa byla zakladem prvního jednoduchého a jednočočkového mikroskopů Antonina van Leeuwenhoeka (rok 1676). Anton van Leeuwenhoek ( )
7 Zařízení pro zvětšení zorného uhlu První mikroskop pro vědecká pozorovaní sestavil anglický fyzik a chemik Robert Hooke. V roce 1765 zdokonalil osvětlení, vynalezl irisovou clonu a mikroskop složil z více čoček. Robert Hooke ( )
8 Zařízení pro zvětšení zorného uhlu Carl Zeiss ( ) Carl Zeiss byl mechanik a podnikatel. V roce 1846 v Jeně založil dílnu pro jemnou mechaniku. Spolupráce s E. K. Abbem (německým fyzikem, který se zabýval zejména teorií optických přístrojů) přivedla k sériové výrobě mikroskopů.
9 Zařízení pro zvětšení zorného uhlu Základem optické soustavy mikroskopu jsou dvě spojné čočky, které se liší ohniskovou vzdáleností. Princip zobrazování: Pozorovaný předmět se umístí před ohniskovou rovinou objektivu Objektivem se vytvoří převracený, zvětšený a skutečný obraz objektu Tento obraz se pozoruje okulárem (lupou) Okulár pak zobrazuje předmět v nekonečnu Úhlové zvetšení mikroskopu: f f 1 d2 optický interval mikroskopu d konvenční zraková vzdálenost f 1 ohnisková vzdálenost objektivu f 2 ohnisková vzdálenost okuláru
10 Optická mikroskopie: mikroskopické techniky (světelná mikroskopie) Mikroskopie světlého a tmavého pole (brightfield and darkfield microscopy) Mikroskopie odráženého světla (reflected light microscopy) Chycený hmyz na listu Droserý 30x Živí vodní roztoč (brightfield microscopy) List Drosera sp (darkfield microscopy) 14x Fluorescenční mikroskopie (fluorescence microscopy) Buňky ledvin křečka 1500x Konfokální mikroskopie (confocal microscopy) Každý mikroskop má určité maximální zvětšení, které je pro něj charakteristické. Nejlepší optické mikroskopy dosahují maximálního úhlového zvětšení γ~2000.
11 Elektronová mikroskopie Elektronové mikroskopy pracují s proudem elektronů ve vakuu Proud elektronů - záření velmi malé vlnové délky. Elektronové mikroskopy se dělí na dva druhy: Transmisní elektronový mikroskop (TEM Transmission Electron Microscope) Rastrovací elektronový mikroskop (SEM Scanning Electron Microscope)
12 Transmisní elektronový mikroskop Viditelný obraz se vytváří na fluorescenčním stínítku svazkem elektronů, prošlým studovaným vzorkem. Zdrojem proudu elektronů je kovová katoda Kondenzátor, soustřeďuje elektrony na pozorovaný předmět (preparát). Vrstva preparátu musí být velmi tenká (~1 µm) aby nepohlcovala elektrony. Proud elektronů pak prochází další elektronovou čočkou (objektivem) a vytvoří první elektronový obraz. Část tohoto obrazu se elektronovou čočkou (projektivem) znovu zvětší. Výsledný obraz se promítá na stínítko nebo na fotografické desce či filmu. Součásti elektronového mikroskopu jsou uloženy ve vakuu
13 Rastrovací elektronový mikroskop Rastrovací elektronový mikroskop pracuje tak, že na preparát směrován tenký svazek elektronů, který dopadá postupně na všechna místa vzorku. Odražený (emitovaný) paprsek se převádí na viditelný obraz. Napětí na katodě 1 5 kv. Mechanická clona vybírá pouze část elektronů, které dopadnou na preparát. Projekční čočka způsobí, aby zaostřený svazek elektronů dopadl na preparát. Preparát může být 2 3 cm tlustý a 15 cm dlouhý a musí být kvalitně pokoven. Zaostřený svazek elektronů musí po povrchu preparátu rastrovat synchronně s kamerou
14 Příklady aplikace TEM a SEM LiFePO 4 /C komposit syntetizovaný 30 hodin při 700 C TEM obrázek SEM obrázek Mi C.H. et al./ J. Alloys Comp. 424 (2006) 327.
15 Příklady aplikace TEM a SEM Si-Ni-C komposit (Si:Ni:C= 4:1:5) HR-TEM obrázek SEM obrázek M.-S. Park et al./ Materials Chem. Phys. 100 (2006) 496.
16 Příklady aplikace TEM a SEM Nanosféry koloidu zlata stabilizované COOH skupinami poly(dvb-co-aa) SEM obrázek TEM obrázky W. Liu et al./ J. Colloid Interface Sci. 304 (2006) 160.
17 Příklady aplikace SEM Vlas napadený kožní plísní-dermatofitem Pokoveno zlatem (M. Hejtmánek, V. Horn) Buňka (adiospora) mikroskopické patogenní houby (M. Hejtmánek, V. Horn)
18 Elektronová mikroskopie: výhody a nevýhody Výhody TEM a SEM: velmi velké zvětšení řádově až x, umožňuje pozorovat nanočástice velké rozlišení (0,1 nm) velká hloubka ostrosti (několik mm) poskytuje informaci nejen o topografii, ale i o materiálovém složení vzorku Nevýhody TEM a SEM: velké nároky na prostor vysoká pořizovací cena Nevýhody TEM: velmi tenký vzorek (~1 µm) preparát musí být umístěn ve vakuu, což neumožňuje pozorovat živé organismy
19 Mikroskopie skenující sondou (SPM - Scanning Probe Microscopy) Mikroskopie skenující (rastrující) sondou je soubor experimentálních metod určených ke stanovování struktury povrchu se subatomárním rozlišením ve směru kolmém k povrchu, a možností stanovení 3D obrazu povrchu.
20 Mikroskopie skenující sondou (SPM - Scanning Probe Microscopy) Experimentální počátek metod SPM je datovan už od roku 1972 Russell Young, Fredric Scire and John Ward s topografinerem. Mapování povrchu ze vzdálenosti 100 nm Rizlišení: vertikální 3 nm laterálně 400 nm R. Young, J. Ward, and F. Scire, Rev. Sci. Instrum. 43, 999 (1972)
21 Mikroskopie skenující sondou (SPM - Scanning Probe Microscopy) Princip metod SPM: obraz povrchu je získáván pomocí mechanického pohybu sondy, skenovaní a zaznamenávání interakce sonda-povrch jako funkce polohy sondy. R. Kubínek, M. Vůjtek, M. Mašlaň: Mikroskopie skenující sondou, ISBN , vydatelství Univerzity Palackého v Olomouci, 2003
22 Vzájemné interakce Míra, s jakou se hrot a vzorek vzájemně ovlivňují, záleží na jejích vzájemné vzdálenosti d d > 10 nm zanedbatelný vliv 1 < d < 10 nm uplatňují se velmi slabé van der Waalsovy síly. Při nízkých napětích (do 5V), nedochází k tunelování. 0.3 < d < 1 nm výměna procházejících elektronů vede ke vzniku přitažlivých sil (počátek chemické vazby), pod napětím dochází k tunelování pracovní režim STM d < 0.3 převládá odpudivá interakce, která plyne z Pauliho principu.
23 Mikroskopie skenující sondou vlastnosti (Výhody) velký rozsah zvětšení (rozlišení je nezávislé na vlnové délce objektu, ale pouze na parametrech sondy) až atomární rozlišení zobrazení v prostoru a 3D obraz v reálném čase aplikace v různých prostředích (vzduch, vakuum, voda, elektrolyty) vhodné pro zobrazování nativních biologických vzorků obvykle není třeba speciálních úprav vzorku (fixace, odvodnění, vysoušení, nanesení vodivé vrstvy - není zapotřebí žádného externího zdroje částic) metoda registruje zvlnění určité fyzikální vlastnosti, např. plochy konstantní hustoty náboje interakce hrotu se vzorkem může být použita ke změně povrchu a vzniku nových struktur (nanolitografie) vzhledem k malé velikosti SPM sondy ji lze vestavět do zařízení pro jiné typy mikroskopických technik (světelný a elektronový mikroskop)
24 Mikroskopie skenující sondou vlastnosti (Nevýhody) je citlivá pouze na pár povrchových vrstev (často na jednu) při malých zvětšeních lze zkoumat jen místo těsně pod hrotem je omezena lokálně a neobsahuje obraz informaci o zbytku povrchu obtížnost opětovného zobrazení stejného místa na vzorku (obejít lze jen vyrytím orientační značky do vzorku). citlivost k vibracím a teplotním driftům velké množství artefaktů (falešných obrazů) vliv adsorbované vody na povrchu vzorku hodnota měřené veličiny prudce klesá se vzdáleností od povrchu (je to metoda v blízkém poli, využívající zpětné vazby k poloze sondy) není obecně citlivá na chemickou podstatu atomů, určit typ atomu lze jen z doplňujících metod a úvah neexistuje jednoduchá inverzní transformace, tj. z naměřených hodnot není zpravidla možno přímo určit strukturu, lze jen porovnat s očekávanými hodnotami z modelu
25 Mikroskopie skenující sondou Jednotlivé metody Skenovací tunelová mikroskopie (STM) scanning tunneling microscope Mikroskopie atomární síly (AFM) - atomic force microscopy Mikroskopie magnetických sil (MFM) magnetic force microscopy Mikroskopie elektrostatické síly (EFM) - electrostatic force microscopy Skenovací teploměrná mikroskopie (SThM) - scanning thermal microscopy (Protonová) skenovací tunelová mikroskopie ((P)STM) - (proton) scanning tunnelling microscopy
26 Skenující tunelová mikroskopie Gerd Binnig (STM) Metoda STM byla vyvinuta v laboratořích IBM pracovníky G. Binnigem a H. Rohrerem roku 1981, kterým za jejich objev byla v roce 1986 udělena Nobelova cena. Je to jedna z mála metod, která je schopna poskytnout až atomární rozlišení Výhody: nevyžaduje náročnou přípravu vzorku, ale poskytuje jen informace o povrchu. Heinrich Rohrer Nevýhody: neposkytuje okamžitý a vizuální obraz, snímání je postupné
27 Skenující tunelová mikroskopie uspořádání STM zařízení Základem STM je kovový hrot umístěný v blízkosti vodivého povrchu vzorku. Přiložené napětí mezí hrotem a povrchem vede ke vzniku tunelového proudu, který poskytuje informace o povrchové struktuře vzorku. (Tunelový proud vzniká jen v případě že hrot i vzorek jsou z vodivého materiálu, případně polovodiče) Každý mikroskop SPM se skládá z dvou součásti: mechanická část stolek k upevnění vzorku polohovací zařízení, které umožňuje pohyb ve třech rozměrech sondy (hrot, nosník) elektrická část napájení zpětné vazby sběr signálu ovládání pohybu.
28 Tunelový jev Na rozdíl od isolovaných atomů, elektrony v makroskopickém vzorku kovu nemají dobře rozlišitelné energetické hladiny a postupně naplňuji energetickou jámu. Nejvyšší energetická hladina, která je obsazena elektrony, odpovídá hladině Fermiho energie (E F ). Lokální hustota stavu (ρ) s energií E je poměr počtu elektronů v okolí tohoto stavu N E ke změně energie ΔE: N E E
29 Tunelový jev Mezí hrotem a povrchem vzorku ve vakuu existuje energetická bariera. Výška této bariery je označovaná jako Ф. Podle klasické fyziky elektron nemůže proniknout přes potenciální bariéru je-li jeho energie menší než potenciální energie bariéry. Kvantová mechanika umožňuje elektronu projít barierou ( tunelem ), což vede ke vzniku tunelového proudu. Podmínkou tunelového efektu je rozdíl hodnot E F vzorku a hrotu, čehož lze dosáhnout pomocí vloženého napětí.
30 Skenující tunelová mikroskopie Režimy měření režim s konstantní výškou udržuje se jednou nastavená hodnota z 0, měří se velikost tunelového proudu I umožňuje rychlé snímání obrazu, protože není nutno pohybovat vzorkem je méně přesný, neboť při velkých vzdálenostech hrotu od povrchu se proud dostává pod dobře měřitelnou úroveň režim s konstantním proudem pomocí zpětné vazby se udržuje konstantní úroveň proudu I měří se napětí U přikládané k piezokeramickým pohybovým prvkům je pomalejší, umožňuje však sledovat větší změny profilu povrchu je závislý na převodním vztahu přiloženého napětí a změně rozměru piezoprvku, což lze odstranit vnějším měřičem polohy, např. laserovým. je možné poškození povrchu, přejde-li hrot nad oblast s výrazně odlišnými elektrickými vlastnostmi (např. zoxidovaná místa), aby byl udržen nastavený proud, dojde k velkému snížení hrotu. režim s nákresem bariérové výšky měří se bariérová výška φ na základě změny vzdáleností mezí hrotem a vzorkem při modulaci proudu pomocí zpětnovazební smyčky umožňuje měření heterogenních povrchů
31 Skenující tunelová mikroskopie Umístění vzorku a skenování Hrubý mechanický posuv vzorku směrem ke hrotu (z) Přiložení napětí mezi hrotem a vzorkem, aby mohl procházet proud je zapotřebí vodivý vzorek Jemným posuvem pomocí piezokeramiky přiblíží vzorek ke hrotu tak, aby procházející proud nabyl měřitelných hodnot Získání obrazu (skenování) skokovým posuvem ve dvou rozměrech (x, y) po příslušné matici měřicích bodů zpravidla se pohybuje po řádcích a v jednom směru Výstupem měření je matice prvků a ij, jejíž indexy označují polohu bodu a příslušná hodnota je velikost měřeného signálu.
32 Skenující tunelová mikroskopie Jak vzniká obraz Hrot skenuje povrch vzorku ve vzdálenosti rovné průměru atomu. Při každé poloze hrotu se měří tunelující proud I mezi hrotem a povrchem. Měřené hodnoty I se sbírají, vyhodnocují a zobrazují na obrazovce v škále šedi. Barevná paleta může být použita pro znázornění prostorové deformace povrchu. Černě, škálou šedi nebo barevně se dá zobrazit výška nebo zakřivení povrchu.
33 Příklady aplikace STM studium Pt vrstvy (Pt/C film) Simulovaná a změřená STM topografie Pt/C filmu F.Keilmann et al./ Phys. stat. sol. B 215, 849.
34 Příklady aplikace STM studium nanotrubiček uhlíkové saze HR-TEM obrázek nanotrubic STM obrázky a čáry skenování povrchu jednotlivých a slepených nanotrubic W. Rivera et al./ J. Vac. Sci. Thechnol. B 13 (1995) 327.
35 Příklady aplikace STM studium izolovaného acetylenu (C 2 H 2 ) STM obrázek (25 25A ) C 2 H 2 na povrchu Cu(100) s maximální hloubkou 0.23A. Obrázek byl skenován při napětí 100 mv a tunelovém toku 10 na. B. C. Stipe et al./science 280 (1998) 1782
36 Příklady aplikace STM studium Ni(II) oktaethylporpyrinu.
37 Příklady aplikace STM studium adsorpce porfyrinu na povrchu Cu a samo-uspořádaní molekul adeninu na porfyrin/cu povrchu
38 Mikroskopie atomární síly AFM Mikroskopie AFM je založena na mapování rozložení atomární sily na povrchu vzorku AFM byla navržena G. Biningem, Quatem a Gerberem v roce 1986 Je to metoda, která poskytuje atomární rozlišení a zvětšení až C. Hall et al./ Materials Science of Concrete VI AFM je široce používaná pro zobrazení, měření a manipulace v nanoměřítku
39 Mikroskopie atomární síly uspořádání AFM zařízení Detektor ohnutí je tvořen laserovou diodou, vytvářecí stopu konečné velikosti na špičce nosníku a od něj se odráží na světelný detektor, který je rozdělen na dvě citlivé části (duanty) před měřením se systém mechanicky vyváží tak, aby energie svazku dopadající do obou duantu byla stejná při měření se ohyb projeví posunem odrazu, takže signály v jednotlivých duantech už nebudou stejné a z jejich poměrů je možno určit vychýlení nosníku V současné době využívá kvadrantní detektor, který je rozdělen na čtyři části a umožňuje detekovat pohyb skvrny v dalším kolmém směru
40 Mikroskopie atomární síly Příroda atomárních sil Síly ohýbající nosník mohou být různé fyzikální podstaty, především se však uplatňuje: přitažlivá van der Waalsova síla mezi dvěma atomy - působí na větší vzdálenosti odpudivá síla plynoucí z Pauliho principu - působí na menší vzdálenosti Celková síla může být jak odpudivá, tak i přitažlivá v závislosti na vzdálenosti hrotu.
41 Mikroskopie atomární síly Režimy měření dotykový - vzdálenost hrotu a povrchu tak malá, že výsledná síla je odpudivá a snaží se ohýbat nosník od povrchu s konstantní výškou, kdy se udržuje určená hodnota výšky z 0 a měří se ohnutí nosníku; s konstantní silou, kdy se udržuje konstantní ohnutí nosníku a posunuje se vzorkem (či hrotem) ve směru osy z. bezdotykový - vzdálenost mezi hrotem a vzorkem udržována v strmé části vzestupné závislosti van der Waalsových sil poklepový - rozkmit je tak velký, že dochází k dotyku hrotu s povrchem
42 Mikroskopie atomární sily Výhody poskytuje 2D projekce (obraz) vzorku a 3D profil jeho povrchu nevyžaduje speciálních úprav vzorku obvykle nevyžaduje práce ve vakuu, což umožňuje analýzu biologických objektů včetně živých buněk Nevýhody relativně malá velikost obrazu (velikost skenovací plochy μm, max. výška 2 3 μm) kvalita obrazu je omezená zakřivením hrotu, což může vést k projevení artefaktů pomalé skenování může vést k teplotním efektům urychlení pomoci video AFM hysterezi piezoelektrického materiálu ovlivňuje AFM obraz využití ortogonálních skenerů
43 Příklady aplikace AFM studium nanostruktur uhlí TEM a HR-TEM obrázky AFM obrázek Q. Li et al./ultrasonics Sonochemistry 14 (2007) 225
44 Příklady aplikace AFM studium povrchu bakterii Deinoccocus radiodurans D.J Müller et al/ 178 (1996) Journal of Bacteriology, 3025.
45 Příklady aplikace AFM Agregace polymerních řetězců Jednotliví polymerní řetězce (0,4 nm) modré Dvou řetězcové shluky s tloušťkou 0,8 nm zelené Agregáte polymerních řetězců s tlouštkou vice než 2 nm. Roiter and Minko, 2005
46 Příklady aplikace AFM studium porfyrinových derivátů
47 Příklady aplikace AFM studium porfyrin-elektrodových filmů B.Duong et al./journal of Electroanalytical Chemistry 447 (1998)
48
49
50 Skenující tunelová mikroskopie Cantilevery (hroty) běžné
51
52
53
54
55
56 Modifikace povrchu
57
58
59
60 Příklady aplikace různých metod studium uhlíkových nanotrubiček HR-TEM obrázek STM obrázek Histogram počtu jednotlivých nanotrubiček podle poloměru Ramanova spektra jednostěnné uhlíkové nanotrubičky měřené při různých l ex E. D. Obraztsova et al./ NanoStructured Materials 11 (1999) 295
61 Ramanova spektroskopie v poznání mikrosvěta
62 Čandrašékhar Venkatau Raman Grigoryj Landsberg Kariamanickam Srinivasa Krishnan Leonid Mandelstam Ramanův jev Neelastický rozptyl světla, nebo Ramanův jev, dostal svoje jméno podle jednoho z objevitelů tohoto jevu, indického vědce sira C. V. Ramana (1928, spolu s K. S. Krishnanem a nezávislé Grigoryem Landsbergem a Leonidem Mandelstamem). Za tento objev získal sir C. V. Raman Nobelovou cenu z fyziky v 1930 roce. První Ramanův přistroj využíval sluneční světlo jako zdroj fotonu, barevné filtry jako monochromátor a lidské oko jako detektor. Tato technika se stala široce používanou po vynálezu laseru.
63 Ramanův jev Podstata Ramanova jevu - rozptyl záření - rozptýlený foton má odlišnou energii oproti dopadajícímu hν 0 hν R + hν 0 hν R -
64 1 2 3 Ramanův jev
65 1 hν 0 hν 0 výchozí stav stav koncový Rayleighův rozptyl
66 2 hν 0 hν R - hν S výchozí stav koncový stav Stokesův Ramanův rozptyl
67 3 hν 0 hν R + hν S výchozí stav koncový stav anti-stokesův Ramanův rozptyl
68 Vztah intenzity pásů - Možnost měření teploty vzorku
69 Ramanův jev
70 rezonanční Ramanův rozptyl hν 0 hν R - hν S výchozí stav koncový stav - excitace molekuly ve viditelné oblastí (nežádoucí fluorescence) - volba excitace vhodnou vlnovou délkou
71 laser molekula vzorku (do ozáření) vibrující molekula (po ozáření) Princip Ramanove spektroskopii získávaní spekter vzorek je excitován monochromatickým zářením v UV, vis nebo NIR oblastí elastický Rayleighův rozptyl neelastický Ramanův rozptyl holografická difrakční mřížka filtr spektrum detektor filtr odděluje intensivní Rayleighův rozptyl, který je v 10 8 krát větší než Ramanův rozptyl detekce signálu: photon-counting photomultiplier tube (PMT) silicon charge-coupled device (CCD) kamera
72 IČ a Ramanova spektroskopie srovnání vlastností IČ spektroskopie Ramanova spektroskopie Fyzikální děj absorbance, reflektance rozptyl Detekce změna dipolového momentu změna polarizovatelnosti C=C, CS, SS Intenzivní pásy OH, NH Úprava vzorku optimální tloušťka (transmisní) minimální kontakt povrchu (ATR) Komplikace absorbance skla, vody, CO 2 fluorescence Vzorky hlavně organické látky obvykle bez omezení Rozlišení - laterální µm 1-2 µm - konfokální žádné ca. 2.5 µm mapování a globální obraz Chemický obraz mapování Rozsah měření cm -1 (MIR) cm -1 (Stokes a anti-stokes)
73 IČ a Ramanův spektra polyamidu (Nylon 66) Q - normální souřadnice Pro výskyt pásů v Ramanově spektru je nutná nenulová změna polarizovatelnosti dané vazby ( α/ Q) Symetrické molekuly mnohem aktivnější v Ramanově spektru než asymetrické
74 Konfokální Ramanova mikrospektroskopie Rozptýlené světlo je sbíráno jen z tenké vrstvy O (konfokální oblasti) Světlo rozptýlené z vrstev nad (A) a pod (B) vrstvou O je fokusované mimo štěrbinu a nedostane se na detektor štěrbina objektiv
75 Konfokální Ramanova spektroskopie Lineární skenování Ramanových spekter Mapovaní 2D obrazu podle vybraného vlnočtu N. M. Sijtsema et al./applied Spectroscopy 52 (1998) 348
76 Ramanův spektrometr přímého obrazu zvolení vlnočtu pro mapovaní
77 Konfokální Ramanova spektroskopie studium filmu modifikované celulosy Série Ramanovych spekter měřených v různých hloubkách filmu (l ex = 633 nm, 100 objektiv) F. J. Weesner et al./application Note 50832
78 Konfokální Ramanova spektroskopie Výhody Možnost měření Ramanových spekter mikroskopických vzorků a struktur Vzorky mikroskopických řezů se analyzují přímo, ve vzduchu, v rozsáhlém teplotním a tlakovém rozmezí, vlhké a suché, a bez destrukce vzorku Spektroskopická informace je komplementární FT-IR mikroskopu Vysoká prostorová rozlišitelnost (1 mm) s konfokálním zařízením pro zkoumaní hloubky (2 mm) Možnost měření Ramanových spekter poskytuje informace o každé poloze na povrchu vzorku Integrální barevný video display a možnost přímého prohlížení pozice laseru Mapování povrchu vzorku Autofokusace na nehladkém povrchu poskytuje maximální signál a identifikuje vliv povrchového profilu
79 Aplikace Ramanovy mikrospektroskopie studium lokalizace texafyrinu v nádorové tkáni Mikroskopický obraz Ramanova spektra 2D mapa 3D mapa
80 Aplikace Ramanovy mikrospektroskopie studium lokalizace kurkuminu v kořenech Curcuma longa M. Baranska et al., Analyst 129 (2004)
81 Aplikace Ramanovy mikrospektroskopie b c a PCA of Raman spectra of normal, malignant, and benign breast tissues.a) Normal; b) Malignant; c)benign. Mean Raman spectra of breast tissues: (a) normal; (b) malignant; (c) benign. M. V. P. Chowdary at al. Biopolymers, Vol. 83, (2006)
82 Otázky 1. Popište princip zvětšení obrazu v optické mikroskopii. 2. Charakterizujte transmisní (TEM) a rastrovací (SEM) elektronovou mikroskopii. 3. Charakterizujte mikroskopii skenující sondou (SPM) a uveďte její výhody a nevýhody. 4. Charakterizujte skenující tunelovou mikroskopii (STM): tunelový jev, režimy měření a využití. 5. Charakterizujte mikroskopii atomární síly (AFM): původ atomárních sil, uspořádání AFM zařízení, režimy měření a využití. 6. Vysvětlete vznik Ramanova spektra, vysvětlete rozdíl mezi Stokesovými a anti-stokesovými liniemi v Ramanově spektru. 7. Vysvětlete rozdíl mezi normálním a rezonančním Ramanovým rozptylem. 8. Charakterizujte konfokální Ramanovu mikroskopii: uspořádaní konfokálního spektrometru, způsob vytváření obrazu a využití
Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka
Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití
VíceMikroskopie rastrující sondy
Mikroskopie rastrující sondy Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Metody mikroskopie rastrující sondy SPM (scanning( probe Microscopy) Metody mikroskopie rastrující sondy soubor
VícePŘEHLED KLASICKÝCH A MODERNÍCH MIKROSKOPICKÝCH METOD
PŘEHLED KLASICKÝCH A MODERNÍCH MIKROSKOPICKÝCH METOD Jan Hošek Ústav přístrojové a řídící techniky, Fakulta strojní, ČVUT v Praze, Technická 4, 166 07 Praha 6, Česká republika Ústav termomechaniky AV ČR,
VíceIdentifikace barviv pomocí Ramanovy spektrometrie
Identifikace barviv pomocí Ramanovy spektrometrie V kriminalistických laboratořích se provádí technická expertíza písemností, která se mimo jiné zabývá zkoumáním použitých psacích prostředků: tiskových
VíceZobrazovací metody v nanotechnologiích
Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší
VíceMikroskopy. Světelný Konfokální Fluorescenční Elektronový
Mikroskopy Světelný Konfokální Fluorescenční Elektronový Světelný mikroskop Historie 1590-1610 - Vyrobeny první přístroje, které lze považovat za použitelný mikroskop (Hans a Zaccharis Janssenové z Middleburgu
VíceZákladní pojmy. Je násobkem zvětšení objektivu a okuláru
Vznik obrazu v mikroskopu Mikroskop se skládá z mechanické části (podstavec, stojan a stolek s křížovým posunem), osvětlovací části (zdroj světla, kondenzor, clona) a optické části (objektivy a okuláry).
VíceElektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
VíceNejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku
Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku V tomto článku uvádíme shrnutí poznatků učiva II. ročníku
VíceTechniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
Více7. Světelné jevy a jejich využití
7. Světelné jevy a jejich využití - zápis výkladu - 41. až 43. hodina - B) Optické vlastnosti oka Oko = spojná optická soustava s měnitelnou ohniskovou vzdáleností zjednodušené schéma oka z biologického
VíceVybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
VíceViková, M. : MIKROSKOPIE II Mikroskopie II M. Viková
II Mikroskopie II M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Osvětlovac tlovací soustava I Výsledkem Köhlerova nastavení je rovnoměrné a maximální osvětlení průhledného preparátu, ležícího
VíceIDENTIFIKACE LÉČIVA V TABLETÁCH POMOCÍ RAMANOVY SPEKTROMETRIE
IDENTIFIKACE LÉČIVA V TABLETÁCH POMOCÍ RAMANOVY SPEKTROMETRIE Úvod Ramanova spektrometrie je metodou vibrační molekulové spektrometrie. Za zakladatele této metody je považován indický fyzik Čandrašékhara
VíceProč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
VíceMikroskopie skenující sondou
Mikroskopie skenující sondou Roman Kubínek, Milan Vůjtek Katedra experimentální fyziky, Přírodovědecká fakulta Univerzity Palackého v Olomouci Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem
VíceZákladem AFM je velmi ostrý hrot, který je upevněn na ohebném nosníku (angl. cantilever, tento termín se používá i v češtině).
AFM mikroskop Obsah: AFM mikroskop... 1 Režimy snímání povrchu... 1 Konstrukce AFM... 3 Vlastnosti AFM... 3 Rozlišení AFM... 3 Historie AFM... 4 Využití AFM... 4 Modifikace AFM... 5 Závěr... 5 Literatura
Víceλ, (20.1) 3.10-6 infračervené záření ultrafialové γ a kosmické mikrovlny
Elektromagnetické vlny Optika, část fyziky zabývající se světlem, patří spolu s mechanikou k nejstarším fyzikálním oborům. Podle jedné ze starověkých teorií je světlo vyzařováno z oka a oko si jím ohmatává
VíceInfračervená spektroskopie
Infračervená spektroskopie 1 Teoretické základy Podstatou infračervené spektroskopie je interakce infračerveného záření se studovanou hmotou, kdy v případě pohlcení fotonu studovanou hmotou mluvíme o absorpční
VíceEXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM. Pracovní listy teoretická příprava
EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM Pracovní listy teoretická příprava Úloha 1: První nahlédnutí do nanosvěta Novou část dějin mikroskopie otevřel německý elektroinženýr, laureát Nobelovy ceny
VíceOptické měřicí 3D metody
Univerzita Palackého v Olomouci Přírodovědecká fakulta Optické měřicí 3D metod Michal Pochmon Olomouc 212 Oponent: RNDr. Tomáš Rössler Ph.D. Publikace bla připravena v rámci projektu Investice do rozvoje
VíceHmotnostní spektrometrie
Hmotnostní spektrometrie Podstatou hmotnostní spektrometrie je studium iontů v plynném stavu. Tato metoda v sobě zahrnuje tři hlavní části:! generování iontů sledovaných atomů nebo molekul! separace iontů
Více10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita
Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita K. Záruba Optická mikroskopie Elektronová mikroskopie (SEM, TEM) Fotoelektronová
Více1. Teorie mikroskopových metod
1. Teorie mikroskopových metod A) Mezi první mikroskopové metody patřilo barvení biologických preparátů vhodnými barvivy, což způsobilo ovlivnění amplitudy světla prošlého preparátem, který pak byl snadno
VíceKapitoly z fyzikální chemie KFC/KFCH. VII. Spektroskopie a fotochemie
Kapitoly z fyzikální chemie KFC/KFCH VII. Spektroskopie a fotochemie Karel Berka Univerzita Palackého v Olomouci Katedra Fyzikální chemie karel.berka@upol.cz Spektroskopie Analýza světla Excitované Absorbované
VíceMikroskopické techniky
Mikroskopické techniky Světelná mikroskopie Elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou Zkráceno z přednášky doc. RNDr. R. Kubínka, CSc. Zdroj informací: http://apfyz.upol.cz/ucebnice/elmikro.html
VíceOPTIKA - NAUKA O SVĚTLE
OPTIKA OPTIKA - NAUKA O SVĚTLE - jeden z nejstarších oborů yziky - studium světla, zákonitostí jeho šíření a analýza dějů při vzájemném působení světla a látky SVĚTLO elektromagnetické vlnění λ = 380 790
VíceProjekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: Lasery - druhy
Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Lasery - druhy Laser je tvořen aktivním prostředím, rezonátorem a zdrojem energie. Zdrojem energie, který může
VíceINTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
Více- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence
ROZPTYLOVÉ a EMISNÍ metody - Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl - fluorescence - fosforescence Ramanova spektroskopie Každá čára Ramanova spektra je svými vlastnostmi závislá
VíceMetody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie
VícePokročilé cvičení z fyzikální chemie KFC/POK2 Vibrační spektroskopie
Pokročilé cvičení z fyzikální chemie KFC/POK2 Vibrační spektroskopie Vibrace molekul mohou být měřeny buď pomocí absorpce infračerveného záření, nebo pomocí neelastického rozptylu záření, tzn. Ramanova
VícePraktická geometrická optika
Praktická geometrická optika Václav Hlaváč České vysoké učení technické v Praze Centrum strojového vnímání (přemosťuje skupiny z) Český institut informatiky, robotiky a kybernetiky Fakulta elektrotechnická,
VíceMETODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
VíceNanotechnologie a jejich aplikace. doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.
Nanotechnologie a jejich aplikace doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předpona pochází z řeckého νανος což znamená trpaslík 10-9 m 380-780 nm rozsah λ viditelného světla Srovnání známých malých útvarů SPM Vyjasnění
VíceR10 F Y Z I K A M I K R O S V Ě T A. R10.1 Fotovoltaika
Fyzika pro střední školy II 84 R10 F Y Z I K A M I K R O S V Ě T A R10.1 Fotovoltaika Sluneční záření je spojeno s přenosem značné energie na povrch Země. Její velikost je dána sluneční neboli solární
VícePodivuhodný grafen. Radek Kalousek a Jiří Spousta. Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně. Čichnova 19. 9.
Podivuhodný grafen Radek Kalousek a Jiří Spousta Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně Čichnova 19. 9. 2014 Osnova přednášky Úvod Co je grafen? Trocha historie Některé podivuhodné
VíceVyužití zrcadel a čoček
Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Využití zrcadel a čoček V tomto článku uvádíme několik základních přístrojů, které vužívají spojných či rozptylných
VíceStruktura atomů a molekul
Struktura atomů a molekul Obrazová příloha Michal Otyepka tento text byl vysázen systémem L A TEX2 ε ii Úvod Dokument obsahuje všechny obrázky tak, jak jsou uvedeny ve druhém vydání skript Struktura atomů
VíceÚloha č. 8 Vlastnosti optických vláken a optické senzory
Úloha č. 8 Vlastnosti optických vláken a optické senzory Optické vlákna patří k nejmodernějším přenosovým médiím. Jejich vysoká přenosová kapacita a nízký útlum jsou hlavní výhody, které je staví před
VíceTRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, UP Olomouc 4.12.2009 Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah konstrukce transmisního elektronového mikroskopu
VíceFYZIKA 4. ROČNÍK. Kvantová fyzika. Fotoelektrický jev (FJ)
Stěny černého tělesa mohou vysílat záření jen po energetických kvantech (M.Planck-1900). Velikost kvanta energie je E = h f f - frekvence záření, h - konstanta Fotoelektrický jev (FJ) - dopadající záření
VíceSkenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil M. Vůjtek Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky v rámci projektu Vzdělávání výzkumných
VícePraktická geometrická optika
Praktická geometrická optika Václav Hlaváč České vysoké učení technické v Praze Fakulta elektrotechnická, katedra kybernetiky Centrum strojového vnímání http://cmp.felk.cvut.cz/ hlavac, hlavac@fel.cvut.cz
VíceOptická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická
VíceVyužití metod atomové spektrometrie v analýzách in situ
Využití metod atomové spektrometrie v analýzách in situ Oto Mestek Úvod Termínem in situ označujeme výzkum prováděný na místě původního výskytu analyzovaného vzorku nebo jevu (opakem je analýza ex situ,
VíceMolekulová spektroskopie 1. Chemická vazba, UV/VIS
Molekulová spektroskopie 1 Chemická vazba, UV/VIS 1 Chemická vazba Silová interakce mezi dvěma atomy. Chemické vazby jsou soudržné síly působící mezi jednotlivými atomy nebo ionty v molekulách. Chemická
VíceSložení hvězdy. Hvězda - gravitačně vázaný objekt, složený z vysokoteplotního plazmatu; hmotnost 0,08 M ʘ cca 150 M ʘ, ale R136a1 (LMC) má 265 M ʘ
Hvězdy zblízka Složení hvězdy Hvězda - gravitačně vázaný objekt, složený z vysokoteplotního plazmatu; hmotnost 0,08 M ʘ cca 150 M ʘ, ale R136a1 (LMC) má 265 M ʘ Plazma zcela nebo částečně ionizovaný plyn,
VíceÚVOD DO PROBLEMATIKY PIV
ÚVOD DO PROBLEMATIKY PIV Jiří Nožička, Jan Novotný ČVUT v Praze, Fakulta strojní, Ú 207.1, Technická 4, 166 07, Praha 6, ČR 1. Základní princip PIV Particle image velocity PIV je měřící technologie, která
VíceZeemanův jev. Pavel Motal 1 SOŠ a SOU Kuřim, s. r. o. Miroslav Michlíček 2 Gymnázium Vyškov
Zeemanův jev Pavel Motal 1 SOŠ a SOU Kuřim, s. r. o. Miroslav Michlíček 2 Gymnázium Vyškov 1 Abstrakt Při tomto experimentu jsme zopakovali pokus Pietera Zeemana (nositel Nobelovy ceny v roce 1902) se
Více1. Snímací část. Náčrtek CCD čipu.
CCD 1. Snímací část Na začátku snímacího řetězce je vždy kamera. Před kamerou je vložen objektiv, který bývá možno měnit. Objektiv opticky zobrazí obraz snímaného obrazu (děje) na snímací součástku. Dříve
VíceOptická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka
Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova
VíceSPEKTROMETRIE. aneb co jsem se dozvěděla. autor: Zdeňka Baxová
SPEKTROMETRIE aneb co jsem se dozvěděla autor: Zdeňka Baxová FTIR spektrometrie analytická metoda identifikace látek (organických i anorganických) všech skupenství měříme pohlcení IČ záření (o různé vlnové
Více37 MOLEKULY. Molekuly s iontovou vazbou Molekuly s kovalentní vazbou Molekulová spektra
445 37 MOLEKULY Molekuly s iontovou vazbou Molekuly s kovalentní vazbou Molekulová spektra Soustava stabilně vázaných atomů tvoří molekulu. Podle počtu atomů hovoříme o dvoj-, troj- a více atomových molekulách.
VíceZáklady fyzikálněchemických
Základy fyzikálněchemických metod Fyzikálně-chemické metody optické metody elektrochemické metody separační metody kalorimetrické metody radiochemické metody ostatní metody Optické metody Oko je citlivé
VíceTestování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
VíceMikroskop včera a dnes a jeho využití ve fyzikálním praktiku
Mikroskop včera a dnes a jeho využití ve fyzikálním praktiku JIŘÍ TESAŘ 1, VÍT BEDNÁŘ 2 Jihočeská univerzita v Českých Budějovicích 1, Západočeská univerzita v Plzni 2 Abstrakt Úvodní část příspěvku je
Více1 Elektronika pro zpracování optického signálu
1 Elektronika pro zpracování optického signálu Výběr elektroniky a detektorů pro měření optického signálu je odvislé od toho, jaký signál budeme detekovat. V první řadě je potřeba vědět, jakých intenzit
VíceZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části
VícePokročilé AFM mody Příprava nosičů a vzorků. Verze 20110707 Jan Přibyl, pribyl@nanobio.cz
Pokročilé AFM mody Příprava nosičů a vzorků Verze 20110707 Jan Přibyl, pribyl@nanobio.cz bsah prezentace 1 Pokročilé AFM módy Kontaktní mód - Konstatní výška - Konstantní síla - Chybový profil - Modulace
VíceVIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE (c) -2012 RAMANOVA SPEKTROMETRIE 1 PRINCIP METODY Měří se rozptýlené záření, které vzniká interakcí monochromatického záření z viditelné oblasti s molekulami vzorku za současné změny
VíceNedestruktivní defektoskopie
Nedestruktivní defektoskopie Technologie údržeb a oprav strojů Obsah Vizuální prohlídky Kapilární metody Magnetické práškové metody Ultrazvukové metody Radiodefektoskopické metody Infračervené metody Optická
VíceÚvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál ty i hlavní typy nepružných srážkových proces pr chodu energetických
VíceTypy světelných mikroskopů
Typy světelných mikroskopů Johann a Zacharias Jansenové (16. stol.) Systém dvou čoček délka 1,2 m 17. stol. Typy světelných mikroskopů Jednočočkový mikroskop 17. stol. Typy světelných mikroskopů Italský
VíceSBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH
SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH MECHANIKA MOLEKULOVÁ FYZIKA A TERMIKA ELEKTŘINA A MAGNETISMUS KMITÁNÍ A VLNĚNÍ OPTIKA FYZIKA MIKROSVĚTA ATOM, ELEKTRONOVÝ OBAL 1) Sestavte tabulku: a) Do prvního sloupce
VíceEM, aneb TEM nebo SEM?
EM, aneb TEM nebo SEM? Jiří Šperka Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita, Brno 2. únor 2011 / Prezentace pro studentský seminář Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 1 / 21
VíceAplikovaná optika. Optika. Vlnová optika. Geometrická optika. Kvantová optika. - pracuje s čistě geometrickými představami
Aplikovaná optika Optika Geometrická optika Vlnová optika Kvantová optika - pracuje s čistě geometrickými představami - zanedbává vlnovou a kvantovou povahu světla - elektromagnetická teorie světla -světlo
Vícelaboratorní řád, bezpečnost práce metody fyzikálního měření, chyby měření hustota tělesa
Vyučovací předmět Fyzika Týdenní hodinová dotace 2 hodiny Ročník 1. Roční hodinová dotace 72 hodin Výstupy Učivo Průřezová témata, mezipředmětové vztahy používá s porozuměním učivem zavedené fyzikální
VícePřednáška 5. SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) Martin Kormunda
Přednáška 5 SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) Mikroskopie skenovací sondou Mikroskopie skenující (rastrující) sondou (Scanning Probe
VíceMetody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
Víceení s chemickými látkami. l rní optiky
OPTICKÉ SENSORY Základem je interakce světeln telného zářenz ení s chemickými látkami. l Při i konstrukci katalytických biosensorů se používaj vají: optické techniky: absorbance fluorescence luminiscence
VíceFluorescenční mikroskopie
Fluorescenční mikroskopie Pokročilé biofyzikální metody v experimentální biologii Ctirad Hofr 1 VYUŽITÍ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ A NEPŘÍMA IMUNOFLUORESCENCE, BIOTIN-AVIDINOVÁ METODA IMUNOFLUORESCENCE
VícePřednáška 6. SPM (Scanning Probe Microscopies) - AFM (Atomic Force Microscopy) Martin Kormunda
Přednáška 6 SPM (Scanning Probe Microscopies) - AFM (Atomic Force Microscopy) Jak nahradit měření tunelovacího proudu? Mikroskopie AFM je založena na mapování rozložení atomárních sil na povrchu vzorku.
VíceMikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Jednotlivé komponenty mikroskopu AFM Funkce, obecné nastavení parametrů a jejich vztah ke konkrétním funkcím software Nova Verze 20110706 Jan Přibyl,
Více17. března 2000. Optická lavice s jezdci a držáky čoček, světelný zdroj pro optickou lavici, mikroskopický
Úloha č. 6 Ohniskové vzdálenosti a vady čoček, zvětšení optických přístrojů Václav Štěpán, sk. 5 17. března 2000 Pomůcky: Optická lavice s jezdci a držáky čoček, světelný zdroj pro optickou lavici, mikroskopický
VíceMaturitní okruhy Fyzika 2015-2016
Maturitní okruhy Fyzika 2015-2016 Mgr. Ladislav Zemánek 1. Fyzikální veličiny a jejich jednotky. Měření fyzikálních veličin. Zpracování výsledků měření. - fyzikální veličiny a jejich jednotky - mezinárodní
VíceZÁKLADNÍ EXPERIMENTÁLNÍ
Kurz praktické NMR spektroskopie 10. - 12. říjen 2011, Praha ZÁKLADNÍ EXPERIMENTÁLNÍ POSTUPY NMR ROZTOKŮ A KAPALIN Jana Svobodová Ústav Makromolekulární chemie AV ČR, v.v.i. Bruker 600 Avance III PŘÍSTROJOVÉ
VíceEmisní spektrální čáry atomů. Úvod do teorie a dvě praktické aplikace
Emisní spektrální čáry atomů. Úvod do teorie a dvě praktické aplikace Ing. Pavel Oupický Oddělení optické diagnostiky, Turnov Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v.v.i., Praha Úvod Teorie vzniku a kvantifikace
VíceLasery optické rezonátory
Lasery optické rezonátory Optické rezonátory Optickým rezonátorem se rozumí dutina obklopená odrazovými plochami, v níž je pasivní dielektrické prostředí. Rezonátor je nezbytnou součástí laseru, protože
Více8.1. ELEKTROMAGNETICKÉ ZÁŘENÍ A JEHO SPEKTRUM. Viditelné světlo Rozklad bílého světla:
8. Optika 8.1. ELEKTROMAGNETICKÉ ZÁŘENÍ A JEHO SPEKTRUM Jak vzniká elektromagnetické záření? 1.. 2.. Spektrum elektromagnetického záření: Infračervené záření: Viditelné světlo Rozklad bílého světla:..
VíceZákladní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi
LRR/BUBCV CVIČENÍ Z BUNĚČNÉ BIOLOGIE 1. SVĚTELNÁ MIKROSKOPIE A PREPARÁTY V MIKROSKOPII TEORETICKÝ ÚVOD: Mikroskopie je základní metoda, která nám umožňuje pozorovat velmi malé biologické objekty. Díky
VíceFyzika pro chemiky II. Jarní semestr 2014. Elektromagnetické vlny a optika Fyzika mikrosvěta Fyzika pevných látek. Petr Mikulík. Maloúhlový rozptyl
Fyzika pro chemiky II Jarní semestr 2014 Elektromagnetické vlny a optika Fyzika mikrosvěta Fyzika pevných látek Petr Mikulík Ústav fyziky kondenzovaných látek Přírodovědecká fakulta Masarykova univerzita,
VíceElektronová mikroskopie a mikroanalýza-2
Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2 elektronové dělo elektronové dělo je zařízení, které produkuje elektrony uspořádané do svazku (paprsku) elektrony opustí svůj zdroj katodu- po dodání určité množství
VíceOptické spektroskopie 1 LS 2014/15
Optické spektroskopie 1 LS 2014/15 Martin Kubala 585634179 mkubala@prfnw.upol.cz 1.Úvod Velikosti objektů v přírodě Dítě ~ 1 m (10 0 m) Prst ~ 2 cm (10-2 m) Vlas ~ 0.1 mm (10-4 m) Buňka ~ 20 m (10-5 m)
VíceAnalýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod
1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek
VíceOPTICKÉ VLASTNOSTI OKA. ROZKLAD SVĚTLA HRANOLEM 1. OPTICKÉ VLASTNOSTI OKA
OPTICKÉ VLASTNOSTI OKA. ROZKLAD SVĚTLA HRANOLEM 1. OPTICKÉ VLASTNOSTI OKA Stavbu lidského oka znáte z vyučování přírodopisu. Zopakujte si ji po dle obrázku. Komorová tekutina, oční čočka a sklivec tvoří
Více13. Spektroskopie základní pojmy
základní pojmy Spektroskopicky významné OPTICKÉ JEVY absorpce absorpční spektrometrie emise emisní spektrometrie rozptyl rozptylové metody Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
VíceZáklady světelné mikroskopie
Základy světelné mikroskopie Kotrba, Babůrek, Knejzlík: Návody ke cvičením z biologie, VŠCHT Praha, 2006. zvětšuje max. 2000 max. 1 000 000 cca 0,2 mm stovky nm až desetiny nm rozlišovací mez = nejmenší
Více1. Co je to noční vidění?
1. Co je to noční vidění? Noční vidění je elektro-optický přístroj, který s trochou fantazie vypadá jako běžný monokulární nebo binokulární dalekohled. Přístroje na noční pozorování fungují na principu
VíceSvětlo v multimódových optických vláknech
Světlo v multimódových optických vláknech Tomáš Tyc Ústav teoretické fyziky a astrofyziky, Masarykova univerzita, Kotlářská 2, 61137 Brno Úvod Optické vlákno je pozoruhodný fyzikální systém: téměř dokonalý
Vícevede sice ke zvýšení kontrastu, zároveň se ale snižuje rozlišení a ostrost obrazu (Obr. 46).
4. cvičení Metody zvýšení kontrastu obrazu (1. část) 1. Přivření kondenzorové clony nebo snížení kondenzoru vede sice ke zvýšení kontrastu, zároveň se ale snižuje rozlišení a ostrost obrazu (Obr. 46).
VíceNITON XL3t GOLDD+ Nový analyzátor
Nový analyzátor NITON XL3t GOLDD+ Ruční rentgenový analyzátor NITON XL3t GOLDD+ je nejnovější model od Thermo Fisher Scientific. Navazuje na úspěšný model NITON XL3t GOLDD. Díky špičkovým technologiím
VícePavel Matějka
Pavel Matějka Pavel.Matejka@vscht.cz Pavel.Matejka@gmail.com www.vscht.cz/anl/matejka Strukturní a povrchová analýza Analýza struktury (pevných látek) a analýza povrchu, resp. fázového rozhraní pevných
Více2. kapitola: Přenosová cesta optická (rozšířená osnova)
Punčochář, J: AEO; 2. kapitola 1 2. kapitola: Přenosová cesta optická (rozšířená osnova) Čas ke studiu: 4 hodiny Cíl: Po prostudování této kapitoly budete umět identifikovat prvky optického přenosového
VícePřednášky z lékařské přístrojové techniky
Přednášky z lékařské přístrojové techniky Masarykova univerzita v Brně Endoskopie a lasery Endoskopie Názvem endoskopy označujeme skupinu optických k vyšetřování tělních dutin. Jsou založeny na odrazu
VíceHloubka ostrosti trochu jinak
Hloubka ostrosti trochu jinak Jan Dostál rev. 1.1 U ideálního objektivu platí: 1. paprsek procházející středem objektivu se neláme, 2. paprsek rovnoběžný s optickou osou se láme do ohniska, 3. všechny
VíceÚvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv Pavel Matějka, Vadym Prokopec pavel.matejka@vscht.cz pavel.matejka@gmail.com Vadym.Prokopec@vscht.cz
VíceSpektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS
Spektroskopické é techniky a mikroskopie Spektroskopie metody zahrnující interakce mezi světlem (fotony) a hmotou (elektrony a protony v atomech a molekulách Typy spektroskopických metod IR NMR Elektron-spinová
VíceÈÁST VII - K V A N T O V Á F Y Z I K A
Kde se nacházíme? ÈÁST VII - K V A N T O V Á F Y Z I K A 29 Èásticové vlastnosti elektromagnetických vln 30 Vlnové vlastnosti èástic 31 Schrödingerova formulace kvantové mechaniky Kolem roku 1900-1915
VíceMichal Bílek Karel Johanovský. Zobrazovací jednotky
Michal Bílek Karel Johanovský SPŠ - JIA Zobrazovací jednotky CRT, LCD, Plazma, OLED E-papír papír, dataprojektory 1 OBSAH Úvodem Aditivní model Gamut Pozorovací úhel CRT LCD Plazma OLED E-Paper Dataprojektory
Více