Spektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE
|
|
- Marek Sedlák
- před 8 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Spektroskopie Augerových elektronů AES KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE
2 Spektroskopie Augerových elektronů AES Jev Augerových elektronů objeven Lise Meitner (později s Otto Hahnem jaderný rozpad) Pierre Victor Auger
3 Spektroskopie Augerových elektronů AES E-AES excitace pomocí elektronů - vyšší úroveň signálu i pozadí X-AES excitace pomocí RTG fotonů - menší riziko poškození povrchu není nutné monochromatické záření Obecně uvolnění sekundárního elektronu celkově dvojnásobná ionizace atomu, nejčastěji uvolnění Augerova elektronu ze stejné slupky odkud byla zaplněna vakance Využíváno spíš pro lehčí prvky Augerovo spektrum je registrováno jako závislost proudu Augerových elektronů na jejich kinetické energii AES K L 1 L 2 L 3 M 1 M 2 M 3 M 4 M 5 N 1... XPS 1s 2s 2p 1/2 2p 3/2 3s 3p 1/2 3p 3/2 3d 3/2 3d 5/2 4s... E KL1L2 = E b (K) E b (L 1 ) E b (L 23 ) -Φ
4 Spektroskopie Augerových elektronů AES Využíváno spíš pro lehčí prvky low-mass elements
5 Spektroskopie Augerových elektronů AES SAM scanning Auger microscopy Silné stránky - Strengths Velmi malé plochy (desítky nm), mapování Extrémně tenká povrchová vrstva od cca 2 nm Možnost hloubkového profilu Široká škála prvků Li - U Slabé stránky - Weaknesses Nutné použití standardů pro spolehlivou kvantifikaci Vzorky musí snést vysoké vakuum Horší mez stanovitelnosti nad úrovní 0,1 at. %, spíš okolo 1 % Nutné speciální postupy pro nevodivé vzorky
6 Augerova elektronová spektroskopie Spektra intenzivní KVV přechody V valenční pás (valence band) u látek v pevné fázi (solid state) Příklad sodík Na - 1s 2 2s 2 2p 6 3s 1 single atom electron configuration
7 Augerova elektronová spektroskopie Instrumentace - Augerova spektroskopie / mikrosonda - detekce analogická jako pro ESCA
8 otázka doby analýzy otázka plošného/prostorového rozlišení otázka rizika destrukce povrchu volba proudu elektronového svazku A Augerova elektronová spektroskopie termoemisní Instrumentace - elektronové dělo zdroj a fokusace e - (wolframové vlákno, LaB 6, FEG field emission gun wolframový hrot, Schottky emitor, magnetické či elektrostatické čočky) autoemisní
9 Augerova elektronová spektroskopie - AES Instrumentace - analyzátory energie elektronů magnetické, elektrostatické cylindrický (zrcadlový) - CMA souosé válce - potenciálový rozdíl mezi válci koncentrický, hemisférický - CHA dvě koncentrické hemisféry potenciál rozdíl mezi nimi (ochrana před vnějším, mj. zemským polem)
10 Spektroskopie Augerových elektronů AES Možnost rastrování (skenování) povrchu Zaostřený elektronový paprsek až k cca 10 nm Extrémní plošné rozlišení Možnost hloubkové profilu v kombinaci s iontovým odprašováním (obdobně jako u XPS) Aplikace Analýza povrchových defektů Analýza částic, povrchů a tenkých vrstev Letectví, biomedicína, ukládání dat, elektronika, fotonika, polovodiče, telekomunikace, obrana
11 Augerova elektronová spektroskopie Spektra (~ ev) vysoká úroveň pozadí od fotoelektronů přirozená šíře linií větší než v případě XPS méně detailní informace o chemickém stavu výnos spekter první derivace korekce průběhu základní linie přesnější určení poloh pásů problematická kvantitativní informace
12 Augerova elektronová spektroskopie Spektra - interpretace charakteristická poloha linií - vztah energie Augerových elektronů a atomového čísla
13 Augerova elektronová spektroskopie Spektra intenzivní KLL/KVV přechody Z = 3-14 LMM přechody Z = MNN přechody Z = NOO přechody těžší prvky
14 Augerova elektronová spektroskopie Příklad
15 Augerova elektronová spektroskopie Příklad
16 Augerova elektronová spektroskopie Příklad
17 Techniky prvkové (povrchové) analýzy XRF - PODSTATA JEVU - 1) VZNIK VAKANCE ELEKTRONY - povrchy
18 Techniky prvkové (povrchové) analýzy XRF - PODSTATA JEVU - 2) ZAPLNĚNÍ VAKANCE
19 PODSTATA JEVU - 2 ) ZAPLNĚNÍ VAKANCE XRF
20 XRF Využíváno spíš pro těžší prvky
21 Techniky prvkové (povrchové) analýzy Rentgenová fluorescenční analýza XRF, EDX, WDX EDX, WDX integrace se SEM, TEM, STEM EDX (EDS) energio dispersní, SEM-EDAX, SEM-EDX, SEM-EDS Buzení elektrony, RTG emise, detekce WDX (WDS) vlnově dispersní, SEM-WDX, TEM-WDX Buzení elektrony, RTG emise, krystalový analyzátor, detektor Lepší rozlišení píků než v případě EDX Přesnější kvantitativní analýza Delší doba akumulace dat Větší riziko poškození vzorku nutná vyšší intenzita buzení (zářivý tok větší o dva až tři řády) Vyšší cena
22 Techniky prvkové (povrchové) analýzy Rentgenová fluorescenční analýza XRF, EDX, WDX EDX, WDX integrace se SEM, TEM
23 WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky Zdroj elektronů např. LaB 6,W, FEG Vzorková komora EDS detekční systém Si(Li) krystal či silicon drift detektory - SSD
24 XRF WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky EDS detekční systém Si(Li) krystal (vyžaduje chlazení kapalným dusíkem) silicon drift detektory SSD chlazení termoelektrické (Peltierův jev) dobrá odezva na lehké prvky vhodné i pro mapování
25 XRF WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky EDS detekční systém FWHM cca 150eV, WDS - cca 5eV Si(Li) krystal či SSD
26 WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky Zdroj elektronů např.lab 6 Vzorková komora WDS detekční systém
27 WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky Zdroj elektronů např.lab 6, urychlené e kv Vzorková komora WDS detekční systém různé geometrie
28 WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky Silné stránky Plocha - cca několik µm 2 Detekce ppm (lepší u WDS, detekce i stopových prvků) Od atomového čísla 5 B Pestrá škála materiálů Možnost současného mapování řady prvků Slabé stránky Nelze měřit lehké prvky (především H, Li, Be) Probém překryvů čar především EDS Nelze rozlišit oxidační stav, vazebné uspořádání
29 WDX, EDX - 90% prvků periodické tabulky Elektronová mikrosonda electron microprobe
30 Elektronová mikroanalýza Historie prototyp elektronového mikroskopu Ernst Ruska ( ) Nobelova cena 1986, Max Knoll 1939 první komerční TEM 1949 mikrosonda s vlnově-dispersním spektrometrem, teorie Raymond Castaing Application of electron probes to metallographic analysis, at the First International Congress of Electron Microscopy held in Delft, the Netherlands 1956 počátek výroby komerčních mikrosond 1965 komerční SEM 1968 energiově dispersní detektory
31 Spektroskopie elektronů a další jevy generované elektronovým svazkem
32 Spektroskopie elektronů a další jevy generované elektronovým svazkem Interakční objem klesá s rostoucí hmotností atomů
33 Spektroskopie elektronů a další jevy generované elektronovým svazkem Velmi orientační
34 XRF - spektra a jejich interpretace WD-XRF, ED-XRF - 90% prvků periodické tabulky
35 XRF - spektra a jejich interpretace WD-XRF, ED-XRF - 90% prvků periodické tabulky
36 XRF - spektra a jejich interpretace WD-XRF, ED-XRF - 90% prvků periodické tabulky
37 XRF - spektra a jejich interpretace WD-XRF, ED-EXRF - 90% prvků periodické tabulky
38 XRF - spektra a jejich interpretace WDX, EDX příklad identifikace skla
39 XRF - spektra a jejich interpretace WDX, EDX - ukázky
40 XRF - spektra a jejich interpretace WDX, EDX mapy prvků a PCA mapy PCA Map
41 WDX, EDX Oblasti aplikací Letectví, automobilový průmysl, biomedicína, biotechnologie, polovodičová technika, elektronika, obrana, světelné zdroje, fotonika, polymery, telekomunikace EDS rychlé, relativně levné, kvantifikace WDS pomalejší, dražší, leštěný povrch, kvalitnější spektrální rozlišení, přesnější kvantifikace, detekce i složek s nižším obsahem Nutná kompatibilita vzorku s vakuem
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová
Fotoelektronová spektroskopie ESCA, UPS spektroskopie Augerových elektronů. Pavel Matějka
Fotoelektronová spektroskopie ESCA, UPS spektroskopie Augerových elektronů Pavel Matějka Fotoelektronová spektroskopie 1. XPS rentgenová fotoelektronová spektroskopie 1. Princip metody 2. Instrumentace
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis (Foto)elektronová spektroskopie (pro chemickou analýzu) ESCA, XPS X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Any technique in which the sample is bombarded
METODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
Metody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
Metody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. 2 Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm
Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic
Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic PES (fotoelektronová spektroskopie) XPS (rentgenová fotoelektronová spektroskopie), ESCA (elektronová spektroskopie pro chemickou analýzu) UPS (ultrafialová
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál ty i hlavní typy nepružných srážkových proces pr chodu energetických
Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II
Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda
Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie
Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. rentgenová spektroskopická metoda k určen
Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod
1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek
Analytické metody využívané ke stanovení chemického složení kovů. Ing.Viktorie Weiss, Ph.D.
Analytické metody využívané ke stanovení chemického složení kovů. Ing.Viktorie Weiss, Ph.D. Rentgenová fluorescenční spektrometrie ergiově disperzní (ED-XRF) elé spektrum je analyzováno najednou polovodičovým
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
Vybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
Proč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm
Rtg. záření: Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm Vznik rtg. záření: 1. Rtg. záření se spojitým spektrem vzniká při prudkém zabrzdění urychlených elektronů.
Elektronová Mikroskopie SEM
Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne
METODY - spektrometrické
Analýza Analýza - prvková METODY - spektrometrické atomová emisní/absorpční spektrometrie rentgenová fluorescenční analýza emise elektronů - povrchová analýza ESCA (elektronová spektroskopie pro chemickou
Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka
Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů Pavel Matějka Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů 1. sekundárních iontů - SIMS 1. Princip metody 2. Typy bombardování 3. Analyzátory iontů
Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Mikroskopie Rozlišovací schopnost lidského oka cca 025 0,25mm Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
Pavel Matějka
Pavel Matějka Pavel.Matejka@vscht.cz Pavel.Matejka@gmail.com www.vscht.cz/anl/matejka Strukturní a povrchová analýza Analýza struktury (pevných látek) a analýza povrchu, resp. fázového rozhraní pevných
3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).
PŘEDMĚTY KE STÁTNÍM ZÁVĚREČNÝM ZKOUŠKÁM V BAKALÁŘSKÉM STUDIU SP: CHEMIE A TECHNOLOGIE MATERIÁLŮ SO: MATERIÁLOVÉ INŽENÝRSTVÍ POVINNÝ PŘEDMĚT: NAUKA O MATERIÁLECH Ing. Alena Macháčková, CSc. 1. Souvislost
Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2
Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2 elektronové dělo elektronové dělo je zařízení, které produkuje elektrony uspořádané do svazku (paprsku) elektrony opustí svůj zdroj katodu- po dodání určité množství
SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony
ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX
/ 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)
Obsah. Analýza povrchu (Nadpis 1) Shrnutí (Nadpis 2) Úvod (Nadpis 2)
Obsah Analýza povrchu (Nadpis 1)... 1 Shrnutí (Nadpis 2)... 1 Úvod (Nadpis 2)... 1 Povrch, vakuum (Nadpis 2)... 2 Vzorky... 2 Principy (Nadpis 2)... 5 XPS (Nadpis 3)... 5 Kvantifikace a určování vazebných
ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY
ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY 1 Fyzikální základy spektrálních metod Monochromatický zářivý tok 0 (W, rozměr m 2.kg.s -3 ): Absorbován ABS Propuštěn Odražen zpět r Rozptýlen s Bilance toků 0 = +
ANALÝZA POVRCHU (NADPIS 1) 2 SHRNUTÍ (NADPIS 2) 2. Úvod (Nadpis 2) 2. Povrch, vakuum (Nadpis 2) 2 VZORKY 3. Principy (Nadpis 2) 6 XPS (Nadpis 3) 6
Obsah Obsah ANALÝZA POVRCHU (NADPIS 1) 2 SHRNUTÍ (NADPIS 2) 2 Úvod (Nadpis 2) 2 Povrch, vakuum (Nadpis 2) 2 VZORKY 3 Principy (Nadpis 2) 6 XPS (Nadpis 3) 6 Kvantifikace a určování vazebných posunů (Nadpis
Metody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek
/ 1 ZPRACOVAL Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL PhDr. Margaréta Musilová Mestský ústav ochrany pamiatok Uršulínska 9 811 01 Bratislava OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Energiově-disperzní
METODY ATOMOVÉ SPEKTROMETRIE PRO ANALÝZU PRVKOVÉHO SLOŽENÍ
METODY ATOMOVÉ SPEKTROMETRIE PRO ANALÝZU PRVKOVÉHO SLOŽENÍ Jan Polák Crytur s.r.o. Turnov Prvkové složení představuje nejzákladnější vlastnost zkoumaného materiálu - krystalu. Přesto, že často známe zastoupení
Metody spektrální. Základní pojmy a metody prvkové analýzy. Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
Metody spektrální Základní pojmy a metody prvkové analýzy Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Spektrální analýza elektromagnetické záření vlnový model x částicový model elektrická
Auger Electron Spectroscopy (AES)
Auger Electron Spectroscopy (AES) Přehledná tabulka a. tech. Princip Obvyklý popis hladin viz diagram čísla komponent KLM.. např. L23 representuje L2 i L3 spin. štěpení Nelze pro H a He, ale lze hydridy
Základy Mössbauerovy spektroskopie. Libor Machala
Základy Mössbauerovy spektroskopie Libor Machala Rudolf L. Mössbauer 1958: jev bezodrazové rezonanční absorpce záření gama atomovým jádrem 1961: Nobelova cena Analogie s rezonanční absorpcí akustických
Elektronová mikroanalýza trocha historie
Elektronová mikroanalýza trocha historie 1949 - Castaing postavil první mikrosondu s vlnově disperzním spektrometrem a vypracoval teorii 1956 počátek výroby komerčních mikrosond (Cameca) 1965 - počátek
ELEKTRONOVÁ MIKROANALÝZA. Vítězslav Otruba
ELEKTRONOVÁ MIKROANALÝZA Vítězslav Otruba 2011 prof. Otruba 2 Elektronová mikroanalýza trocha historie 1949 Castaing postavil první mikrosondu s vlnově disperzním spektrometrem a vypracoval teorii 1956
Konfokální XRF. Ing. Radek Prokeš Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze
Konfokální XRF Ing. Radek Prokeš Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze Obsah Od klasické ke konfokální XRF Princip konfokální XRF Polykapilární
Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka
Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova
Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv Pavel Matějka, Vadym Prokopec pavel.matejka@vscht.cz pavel.matejka@gmail.com Vadym.Prokopec@vscht.cz
HMOTNOSTNÍ SPEKTROMETRIE - kvalitativní i kvantitativní detekce v GC a LC - pyrolýzní hmotnostní spektrometrie - analýza polutantů v životním
HMOTNOSTNÍ SPEKTROMETRIE - kvalitativní i kvantitativní detekce v GC a LC - pyrolýzní hmotnostní spektrometrie - analýza polutantů v životním prostředí - farmakokinetické studie - kvantifikace proteinů
Metody charakterizace nanomaterálů I
Vybrané metody spektráln lní analýzy Metody charakterizace nanomaterálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Molekulová spektroskopie atomy a molekuly mohou měnit svůj energetický stav přijetím nebo vyzářením
- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence
ROZPTYLOVÉ a EMISNÍ metody - Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl - fluorescence - fosforescence Ramanova spektroskopie Každá čára Ramanova spektra je svými vlastnostmi závislá
Elektronová mikroskopie (jemný úvod do SEM, TEM) Rostislav Medlín NTC, ZČU
Elektronová mikroskopie (jemný úvod do SEM, TEM) Rostislav Medlín NTC, ZČU Motivace Dynamická difrakce v TEM Kinematická a dynamická difrakce dvousvazková aproximace v ideálním krystalu intenzity přímého
Referát z atomové a jaderné fyziky. Detekce ionizujícího záření (principy, technická realizace)
Referát z atomové a jaderné fyziky Detekce ionizujícího záření (principy, technická realizace) Měřicí a výpočetní technika Šimek Pavel 5.7. 2002 Při všech aplikacích ionizujícího záření je informace o
Přednáška IX: Elektronová spektroskopie II.
Přednáška IX: Elektronová spektroskopie II. 1 Försterův resonanční přenos energie Pravděpodobnost (rychlost) přenosu je určená jako: k ret 1 = τ 0 D R r 0 6 0 τ D R 0 r Doba života donoru v excitovaném
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4.1 Mikrostruktura stavebních hmot 4.1.1 Úvod Vlastnosti pevných látek, tak jak se jeví při makroskopickém zkoumání, jsou obrazem vnitřní struktury materiálu. Vnitřní
13. Spektroskopie základní pojmy
základní pojmy Spektroskopicky významné OPTICKÉ JEVY absorpce absorpční spektrometrie emise emisní spektrometrie rozptyl rozptylové metody Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
Rentgenová difrakce a spektrometrie
Rentgenová difrakce a spektrometrie RNDr.Jaroslav Maixner, CSc. VŠCHT v Praze Laboratoř rentgenové difraktometrie a spektrometrie Technická 5, 166 28 Praha 6 224354201, 24355023 Jaroslav.Maixner@vscht.cz
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části
Chemie a fyzika pevných látek p2
Chemie a fyzika pevných látek p2 difrakce rtg. záření na pevných látkch, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie Kratochvíl
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY DLE 156 ZÁKONA Č. 137/2006 SB., O VEŘEJNÝCH ZAKÁZKÁCH
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY DLE 156 ZÁKONA Č. 137/2006 SB., O VEŘEJNÝCH ZAKÁZKÁCH V SOULADU S VYHL. Č. 232/2012 SB., O PODROBNOSTECH ROZSAHU ODŮVODNĚNÍ ÚČELNOSTI VEŘEJNÉ ZAKÁZKY A ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY
Využití metod atomové spektrometrie v analýzách in situ
Využití metod atomové spektrometrie v analýzách in situ Oto Mestek Úvod Termínem in situ označujeme výzkum prováděný na místě původního výskytu analyzovaného vzorku nebo jevu (opakem je analýza ex situ,
CZ.1.07/2.2.00/ AČ (SLO/RCPTM) Detekce a zpracování optického signálu 1 / 30
DETEKCE A ZPRACOVÁNÍ OPTICKÉHO SIGNÁLU Antonín Černoch Společná laboratoř optiky UP a FZÚ AV ČR Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů CZ107/2200/070018 AČ (SLO/RCPTM) Detekce a zpracování
Studium elektronové struktury povrchu elektronovými spektroskopiemi
Studium elektronové struktury povrchu elektronovými spektroskopiemi Autor: Petr Blumentrit Ve své disertační práci se zabývám Augerovou elektronovou spektroskopií ve speciálním uspořádání, ve kterém jsou
Molekulová spektroskopie 1. Chemická vazba, UV/VIS
Molekulová spektroskopie 1 Chemická vazba, UV/VIS 1 Chemická vazba Silová interakce mezi dvěma atomy. Chemické vazby jsou soudržné síly působící mezi jednotlivými atomy nebo ionty v molekulách. Chemická
Stručný úvod do spektroskopie
Vzdělávací soustředění studentů projekt KOSOAP Slunce, projevy sluneční aktivity a využití spektroskopie v astrofyzikálním výzkumu Stručný úvod do spektroskopie Ing. Libor Lenža, Hvězdárna Valašské Meziříčí,
Program XPS XRD XRF. Martin Kormunda
Program XPS XRD XRF XPS Základní rovnice X-Ray photoelectron spectroscopy nebo také někdy ESCA (Electron spectroscopy for chemical analyses) ( E W ) E = E + binding photon kinetic W výstupní práce Princip
Techniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
Kosmické záření a jeho detekce stanicí CZELTA
Kosmické záření a jeho detekce stanicí CZELTA Jiří Slabý slabyji2@fjfi.cvut.cz 30.10.2008, Fyzikální seminář, Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Českého vysokého učení technického v Praze Co nás čeká
Zobrazovací metody v nanotechnologiích
Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší
Fotonásobič. fotokatoda. typicky: - koeficient sekundární emise = počet dynod N = zisk: G = fokusační elektrononová optika
Fotonásobič vstupní okno fotokatoda E h fokusační elektrononová optika systém dynod anoda e zesílení G N typicky: - koeficient sekundární emise = 3 4 - počet dynod N = 10 12 - zisk: G = 10 5-10 7 Fotonásobič
V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron
V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron Údaje o provozu urychlovačů v ÚJF AV ČR ( hodiny 2009/hodiny 2008) Urychlovač Celkový počet hodin Analýzy Implantace
ELEKTRONOVÁ SPEKTROSKOPIE
ELEKTRONOVÁ SPEKTROSKOPIE ÚVODEM Principem elektronové spektroskopie (ES) v celém prakticky dostupném rozsahu energií (10-3 10 4 ev) jsou kvantové přechody v rámci elektronických a vibračních (rotačních)
2. FYZIKÁLNÍ ZÁKLADY ANALYTICKÉ METODY RBS
RBS Jaroslav Král, katedra fyzikální elektroniky FJFI, ČVUT. ÚVOD Spektroskopie Rutherfordova zpětného rozptylu (RBS) umožňuje stanovení složení a hloubkové struktury tenkých vrstev. Na základě energetického
INTERPRETACE HMOTNOSTNÍCH SPEKTER
INTERPRETACE HMOTNOSTNÍCH SPEKTER Hmotnostní spektrometrie hmotnostní spektrometrie = fyzikálně chemická metoda založená na rozdělení hmotnosti iontů v plynné fázi podle jejich poměru hmotnosti a náboje
Stanovení prvků pomocí přenosného rentgenově fluorescenčního analyzátoru. Oto Mestek
ÚSTAV ANALYTICKÉ CHEMIE Stanovení prvků pomocí přenosného rentgenově fluorescenčního analyzátoru pracovní text pro Podzemní výukové středisko JOSEF Oto Mestek 2010 1 Obecné základy Rentgenové záření, jeho
Radioterapie. X31LET Lékařská technika Jan Havlík Katedra teorie obvodů xhavlikj@fel.cvut.cz
Radioterapie X31LET Lékařská technika Jan Havlík Katedra teorie obvodů xhavlikj@fel.cvut.cz Radioterapie je klinický obor využívající účinků ionizujícího záření v léčbě jak zhoubných, tak nezhoubných nádorů
10. Tandemová hmotnostní spektrometrie. Princip tandemové hmotnostní spektrometrie
10. Tandemová hmotnostní spektrometrie Princip tandemové hmotnostní spektrometrie Informace získávané při tandemové hmotnostní spektrometrii Možné způsoby uspořádání tandemové HS a/ scan fragmentů vzniklých
C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289
OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17
Testování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
Hmotnostní spektrometrie
Hmotnostní spektrometrie Princip: 1. Ze vzorku jsou tvořeny ionty na úrovni molekul, nebo jejich zlomků (fragmentů), nebo až volných atomů dodáváním energie, např. uvolnění atomů ze vzorku nebo přímo rozštěpení
Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka
Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití
CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II
CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II Vyučující a zkoušející Ing. Martin Kormunda, Ph.D. - CN320 Konzultační hodiny: Po 10-12, St 13 14 nebo dle dohody Doc. RNDr. Jaroslav Pavlík, CS.c. - CN Konzultační hodiny:
Chemie a fyzika pevných látek l
Chemie a fyzika pevných látek l p2 difrakce rtg.. zářenz ení na pevných látkch,, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie
Detektory. požadovaná informace o částici / záření. proudový puls p(t) energie. čas příletu. výstupní signál detektoru. poloha.
Detektory požadovaná informace o částici / záření energie čas příletu poloha typ citlivost detektoru výstupní signál detektoru proudový puls p(t) E Q p t dt účinný průřez objem vnitřní šum vstupní okno
Příloha č. 1 - Technické podmínky Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí
Příloha č. 1 - Technické podmínky Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí 1. Kupující v zadávacím řízení poptal dodávku zařízení vyhovujícího následujícím technickým požadavkům: Číslo Technické
SPEKTRÁLNÍ METODY. Ing. David MILDE, Ph.D. Katedra analytické chemie Tel.: ; (c) David MILDE,
SEKTRÁLNÍ METODY Ing. David MILDE, h.d. Katedra analytické chemie Tel.: 585634443; E-mail: david.milde@upol.cz (c) -2008 oužitá a doporučená literatura Němcová I., Čermáková L., Rychlovský.: Spektrometrické
Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření
Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá
ZADAVATEL: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Sídlem: Na Slovance 2, Praha 8 doc. Jan Řídký, DrSc., ředitel IČ:
ZADAVATEL: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Sídlem: Na Slovance 2, 182 21 Praha 8 Jednající: doc. Jan Řídký, DrSc., ředitel IČ: 68378271 VEŘEJNÁ ZAKÁZKA: Multifunkční fotoelektronový spektrometr s rychlým
Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce
Metody využívající rentgenové záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 Rentgenovo záření 2 Rentgenovo záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá se v lékařství a krystalografii.
Fluorescence (luminiscence)
Fluorescence (luminiscence) Patří mezi luminiscenční metody fotoluminiscence. Luminiscence efekt, kdy excitované molekuly či atomy vyzařují světlo při přechodu z excitovaného do základního stavu. Podle
FOTOAKUSTIKA. Vítězslav Otruba
FOTOAKUSTIKA Vítězslav Otruba 2010 prof. Otruba 2 The spectrophone 1881 A.G. Bell návrh a Spektrofonu (spectrophone) pro účely posouzení absorpčního spektra subjektů v těch částech, které jsou neviditelné.
TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI
TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Polovodičové zdroje fotonů Přehledový učební text Roman Doleček Liberec 2010 Materiál vznikl v rámci projektu ESF
Hmotnostní spektrometrie
Hmotnostní spektrometrie Podstatou hmotnostní spektrometrie je studium iontů v plynném stavu. Tato metoda v sobě zahrnuje tři hlavní části:! generování iontů sledovaných atomů nebo molekul! separace iontů
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE DEPARTMENT OF
DOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj
DOUTNAVÝ VÝBOJ Další technologie využívající doutnavý výboj Plazma doutnavého výboje je využíváno v technologiích depozice povlaků nebo modifikace povrchů. Jedná se zejména o : - depozici povlaků magnetronovým
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE (c) -2012 RAMANOVA SPEKTROMETRIE 1 PRINCIP METODY Měří se rozptýlené záření, které vzniká interakcí monochromatického záření z viditelné oblasti s molekulami vzorku za současné změny
ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII
ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25
ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE SUBVALENČNÍCH ELEKTRONŮ
ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE SUBVALENČNÍCH ELEKTRONŮ Atomic X-Ray Spectrometry (c) -2010 Rentgenové záření Elektromagnetické záření krátkých vlnových délek (analytické využití od 0,01 do 100 nm). E potřebná k
ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE
ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE doc. Ing. David MILDE, Ph.D. tel.: 585634443 E-mail: david.milde@upol.cz (c) -017 Doporučená literatura Černohorský T., Jandera P.: Atomová spektrometrie. Univerzita Pardubice 1997.
Úvod do laserové techniky KFE FJFI ČVUT Praha Michal Němec, 2014. Plynové lasery. Plynové lasery většinou pracují v kontinuálním režimu.
Aktivní prostředí v plynné fázi. Plynové lasery Inverze populace hladin je vytvářena mezi energetickými hladinami některé ze složek plynu - atomy, ionty nebo molekuly atomární, iontové, molekulární lasery.
OPTICK SPEKTROMETRIE
OPTICK TICKÁ EMISNÍ SPEKTROMETRIE Optical Emission Spectrometry (OES) ATOMOVÁ EMISNÍ SPEKTROMETRIE (AES) (c) -2010 OES je založena na registrování fotonů vzniklých přechody valenčních e - z vyšších energetických
Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)
Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Praktikum z pevných látek (F6390) Zpracoval: Michal Truhlář Naměřeno: 6. března 2007 Obor: Fyzika Ročník: III Semestr:
Infračervená spektroskopie
Infračervená spektroskopie 1 Teoretické základy Podstatou infračervené spektroskopie je interakce infračerveného záření se studovanou hmotou, kdy v případě pohlcení fotonu studovanou hmotou mluvíme o absorpční
Luminiscenční spektroskopické metody
Luminiscenční spektroskopické metody Luminiscence zahrnuje jevy, kdy látka l odpovídá na dopad elektromagnetického zářenz ení nebo elementárn rních částic emisí viditelného světla v množstv ství větším,
Elektronová mikroskopie
Elektronová mikroskopie Princip elektronové mikroskopie Optické přístroje podobně jako světelné mikroskopy. Místo světelného svazku používají elektrickým polem urychlené elektrony. Místo skleněných čoček