ELEKTRONOVÉ MIKROSKOPY

Rozměr: px
Začít zobrazení ze stránky:

Download "ELEKTRONOVÉ MIKROSKOPY"

Transkript

1 ELEKTRONOVÉ MIKROSKOPY Lucie Chvátalová 1 Úvod: Princip: Rozdělení elektronových mikroskopů: Transmisní elektronový mikroskop: Rastrovací elektronový mikroskop: Enviromentální rastrovací elektronová mikroskopie: Výhody a nevýhody elektronových mikroskopů: Použití: Anglické články Seznam adres : Úvod: Při vědecké práci, ale i jiné praxi často potřebujeme pozorovat předměty, nebo organismy, které jsou pouhým okem neviditelné. Nebo se například potřebujeme podívat na strukturu materiálu nebo různých buněk. Pro takováto pozorování používáme přístroje, které se nazývají mikroskopy. Je známo, že lidské oko nemůže vidět předmět, nebo detail předmětu, jestliže je zorný úhel menší než 1'. Mikroskop je zařízení, které umožňuje zorný úhel opticky zvětšit a tak pozorovat i velmi malé předměty. Mikroskopy se dělí na optické a elektronové. Tato práce je zaměřena pouze na elektronovou mikroskopii. Elektronová mikroskopie je metoda založená na vlnových vlastnostech elektronů a je analogií klasické optické mikroskopie. Místo zdroje světla zde je elektronová tryska, optické čočky jsou nahrazeny zpravidla elektromagnetickými čočkami (cívkami). Narozdíl od optického však elektronový mikroskop musí pracovat ve vakuu - řádově 10-5 Pa (neuvažujeme-li tzv. "environmentální" skenovací elektronové mikroskopy, které pracují s volitelným vakuem). Podle typu elektronového mikroskopu můžeme výsledný zvětšený obraz pozorovat okem (transmisní mikroskopy používají fluorescenční stínítko), případně ve většině případů se používá záznam na film či fotografickou desku nebo se snímá CCD kamerou. Posledně jmenovaný záznam umožňuje digitalizaci obrazu, jeho následnou úpravu a elegantní archivaci v počítači nebo na jiných záznamových médiích. Z vlnové povahy svazku elektronů (podle Luie de Broglieho) vyplývá schopnost elektronových mikroskopů rozlišit detaily řádově v desetinách nm (TEM) až jednotkách nm (SEM). Hodnota teoretické rozlišovací meze při použití elektronového paprsku je m, což je přibližně o 4 řády lepší rozlišení než u světelného mikroskopu.

2 2 Princip: Svazek elektronů z vhodného zdroje (tzv. elektronová tryska např. žhavené wolframové vlákno) urychlený napětím až 50 kv je zaostřen na plošku tuhého vzorku (průměr svazku je 1 5 µ m), kde elektrony proniknou do hloubky několika µ m pod povrch vzorku (proto se tato metoda někdy též nazývá elektronová mikrosonda a používá se zkratka EPMA - Electron Probe Microanalyzer). Zjednodušené schéma elektronové mikrosondy ukazuje obrázek 1. Chyba! Nebyla zadána položka automatického textu.!neočekávaný konec výrazu Ae zařízení na měření absorbovaných elektronů Te - zařízení na měření prošlých elektronů Obr.1 Schéma elektronového mikroskopu s detektory rentgenového záření tzv.mikrosondy Při dopadu elektronů dochází současně k několika procesům: část elektronů je absorbována, část odražena (pružné elektronové srážky), dochází k emisi sekundárních elektronů (nepružné srážky) a k emisi rentgenového záření. Emitované primární rentgenové záření vzniklé ve vzorku je analyzováno v rentgenovém spektrometru (vlnově-disperzní, energiově-disperzní s Si(Li) detektory). Metoda založená na spojení elektronového mikroskopu a lokální rentgenové analýzy je elektronová mikroanalýza (EMA). Absorbované elektrony tvoří 50-90% celkového proudu elektronů. Odražené elektrony mají energii poněkud menší než elektrony dopadající, ale řádově srovnatelnou, zatímco sekundární elektrony mají energii podstatně nižší. Protože oba tyto typy elektronů charakterizují morfologii povrchu vzorku, jsou registrovány a analyticky využívány. Metoda, která umožňuje zobrazování povrchu pomocí sekundárních a odražených elektronů, je rastrovací elektronová mikroskopie (Scanning Electron Microscopy, SEM). Elektronové

3 mikroskopy, které využívají k zobrazení vzorku těchto typů elektronů ve spojení s rastrováním povrchu se nazývají rastrovací (řádkovací) elektronové mikroskopy. Elektronový paprsek urychlený v elektrickém poli je velmi dobře stabilizován a může být vychylován systémem elektromagnetických cívek v osách x, y. Povrch je postupným vychylováním snímán řádek po řádku a takto je postupně skládán obraz vzorku (princip známý z televize) toto je princip rastrovací elektronové mikroskopie. Sekundární elektrony (SE) jsou detekovány scintilačními detektory, jejichž katoda odsává SE z prostoru nad vzorkem (rychlé, velmi energetické, odražené elektrony se tak do scintilátoru nemohou dostat). Vznikající signál se převádí na zobrazovací jednotku a čím větší je počet SE, tím světlejší bod dostáváme. SE se mohou dostat maximálně z hloubky několika nanometrů, proto zobrazení SE přináší informaci pouze o povrchové vrstvě (obr. 2). Obr.2 SEM zobrazení povrchu wolframového atomizátoru (obraz SE) po opakované atomizaci vzorku s vysokým obsahem H 2 SO 4. Odražené elektrony, jejichž počet je závislý na protonovém čísle, jsou detekovány vždy dvěma detektory a vzniklý obraz dává informaci o fázovém složení pevných vzorků. Fáze s vyšším průměrným protonovým číslem odrážejí elektrony více a odpovídají jim tak na obrazovce světlejší plochy (obr. 3).

4 Obr.3 SEM fázového složení wolframového atomizátoru (obraz odražených elektronů) po 100 atomizačních cyklech. Obraz detekuje vznik nehomogenit uvnitř materiálu. Do oblasti elektronové mikroskopie patří i metoda prozařovací elektronové mikroskopie TEM (Transmission Electron Microscopy). Prozařovací elektronové mikroskopy využívají k zobrazení vzorku prošlých elektronů. Metoda TEM se používá při analýzách velmi tenkých vzorků. 3 Rozdělení elektronových mikroskopů: Elektronová mikroskopie je provozována v mnoha režimech, z nichž nejvýznamnější jsou: 1. transmisní elektronová mikroskopie (TEM), kdy se "prozařuje" celý vzorek najednou a detekují se elektrony na fluorescenčním stínítku po průchodu vzorkem. Je zřejmé, že vzorek musí být dostatečně tenký (ultratenké řezy asi 50 nm), aby elektrony nebyly vzorkem zcela pohlceny. Při vysokých urychlovacích napětích (několik set kv) se rozlišení této varianty při splnění dalších podmínek blíží rozlišení jednotlivých atomů (HRTEM - TEM s vysokým rozlišením); 2. skenovací (rovněž známá pod názvem rastrovací) elektronová mikroskopie (REM). Metoda se používá nejčastěji pro zobrazení "tlustých" vzorků. Primární elektronový paprsek skenuje (rastruje) povrch vzorku řádek po řádku synchronně s elektronovým paprskem v pozorovací obrazovce. Podle režimu zobrazení se tak bod po bodu vytváří celkový obraz. Z každého bodu jsou primárním svazkem vybuzeny signály, které přináší užitečné informace o topografii (sekundární elektrony * ), materiálovém složení (zpětně odražené elektrony ** ) případně chemickém složení (charakteristické rtg. záření *** ) analyzovaného vzorku; 3. STEM je metodou kombinující oba předchozí režimy (transmisní i rastrovací); 4. rastrovací elektronové mikroskopy s volitelným vakuem (environmentální) jsou určeny pro biologické aplikace, kdy je možné pozorovat biologické vzorky in vivo, tedy v původním stavu. Vakuový systém tohoto elektronového mikroskopu umožňuje ponechat v preparátové komoře přirozené prostředí biologických vzorků (dostatečnou relativní vlhkost) při tlacích nad 660 Pa (tlak trojného bodu vody); * ) Sekundární elektrony jsou elektrony uvolněné po dopadu primárního svazku, avšak mají mnohem menší energii (asi 50 ev). Mohou být uvolněny některými nepřímými procesy. Sekundární elektrony jsou uvolňovány z tenké povrchové vrstvy a přináší perfektní informaci o povrchové topografii (prostorový obraz s velkou hloubkou ostrosti). ** ) Zpětně odražené elektrony mají energii srovnatelnou s energií primárního elektronového svazku. Vystupují z větší hloubky (řádově desítky mikrometrů) a přináší tedy informaci o lokálních změnách materiálu. Hovoříme o materiálovém kontrastu. *** ) Charakteristické rentgenové záření je buzeno vysokoenergetickými elektronovými svazky a nese informaci o chemickém složení. Detekcí rtg. záření buď s rozkladem podle energie (polovodičové detektory) nebo vlnové délky (krystalové detektory) je možná kvalitativní i

5 kvantitativní mikroanalýza vzorku (objem řádově desítky až stovky krychlových mikrometrů). 3.1 Transmisní elektronový mikroskop: Viditelný obraz se vytváří na fluorescenčním stínítku svazkem elektronů, které prošly studovaným vzorkem, nebo které ve vzorku difraktovaly. Zdrojem proudu elektronů je kovová katoda, která po rozžhavení vysílá elektrony urychlované elektrickým polem o napětí kV. Proud elektronů prochází tzv. elektronovou čočkou, kterou tvoří el. pole zvláštního kondenzátoru, nebo mag. pole cívky. Tato elektronová čočka soustřeďuje elektrony na pozorovaný předmět (preparát). elektrony. Vrstva preparátu musí být velmi tenká, přibližně 1µm, aby nepohlcovala Proud elektronů pak prochází další elektronovou čočkou objektivem a vytvoří první elektronový obraz. Část tohoto obrazu se elektronovou čočkou projektivem znovu zvětší a výsledný obrazec se promítá buď na stínítko pokryté vrstvou luminoforu, nebo se zachytí na fotografické desce či filmu. Tyto, a samozřejmě i další součásti elektronového mikroskopu jsou uloženy ve vzduchotěsné válcové nádobě, z níž je vyčerpán vzduch, aby se proud elektronů nezeslaboval. K přípravě vzorků pro transmisní elektronový mikroskop se používá několik metod: metoda obtisků (replik) - povrch silnější než nm se pokrývá replikou. To může být např. roztok celulózy, který se nakápne na pozorovaný povrch a nechá se roztéct. Po zaschnutí repliku sejmeme a pozorujeme.

6 příprava ultratenkých řezů - používá se zařízení zvané ultramikroton. Obsahuje fixní skleněný nůž a masivní ocelovou tyč, na níž je upevněn vzorek. Tyč se otáčí a je ohřívána průchodem proudu, čímž dojde k jejímu prodloužení a uříznutí části vzorku. elektrochemické leptání - vzorek (cca 100µm) je elektrochemicky leptán nebo iontově poprašován. V místě, kde se vzorek proleptá jej pozorujeme Princip: Transmisní elektronový mikroskop zdroj el paprsku katoda vakuum anoda + kondenzor objekt objektiv projektiv obrazovka zdroj VN, ř. 100kV _

7 3.2 Rastrovací elektronový mikroskop: Rastrovací elektronový mikroskop pracuje tak, že na vzorek dopadá tenký svazek elektronů, který dopadá postupně na všechna místa vzorku. Odražený (emitovaný) paprsek se převádí na viditelný obraz. Mech. clona - vybírá pouze část elektronů, které dopadnou na preparát. Projekční čočka - způsobí, aby zaostřený svazek elektronů dopadl na preparát. Zaostřený svazek elektronů musí po povrchu preparátu rastrovat synchronně s TV. Rozlišujeme čtyři skupiny elektronů opouštějící povrch vzorku: zpětně odražené elektrony - poskytují informaci o topografii (reliéfu) vzorku a o materiálovém složení. Jejich rozlišovací schopnost je nm. sekundární elektrony - poskytují informaci převážně topografickou. Rozlišovací schopnost je 5-15 nm. augerovy elektrony - jsou vyráženy z materiálu a zjištěním jejich energie lze provádět prvkovou (kvalitativní) analýzu. primární elektrony - detekují se jako u transmisního elektronového mikroskopu (0,5 nm). Dále pak můžeme detekovat i RTG záření nebo i viditelné světlo, což nám umožní získat další informace o zkoumaném vzorku. Vzorek může být 2-3 cm tlustý a 15 cm dlouhý a musí být kvalitně pokoven. Rastrovací elektronová mikroskopie umožňuje pozorování kovových nebo pokovených suchých vzorků s výraznou morfologií povrchu nebo částic až do 100 tisícinásobného zvětšení. K dosažení obrazu v REM musí být vzorek zbaven organických nečistot a umístěn

8 ve vakuové komoře, aby dopadající elektronový svazek i odražené nebo vyražené elektrony nebyly rozptylovány srážkami s molekulami vzduchu. Informace o struktuře a složení látek z povrchu vzorků lze získat detekcí elektronů různých druhů a pro jejich zachycení jsou mikroskopy vybavovány různými typy detektorů, nejčastější pro odražené a vyražené elektrony. Detektor vyražených elektronů poskytuje informaci o materiálovém složení látek, jež se projevuje jako materiálový kontrast. Ke studiu mokrých vzorků jsou vyráběny speciální rastrovací elektronové mikroskopy Enviromental Scanning Electron Microscopes - ESEM, u nichž je vakuový prostor vytvářen fyzikálně pouze v oblasti pozorování. Mikroskopická laboratoř FSv ČVUT je vybavena rastrovacím elektronovým mikroskopem TESLA BS 340 s obrazovým procesorem Tescan TS 1201 umožňujícím volbu rozlišení, t.j. velikost obrazu v pixelech do rozměru 2048x2048 při zvětšení až do 50-ti tisíc. Kvalita snímků je podmíněna jak seřízením mikroskopu tak i přípravou vzorků. Laboratoř má též zařízení pro napařování povrchu vzorků kovy.

9 Rastrovací elektronový mikroskop Princip: vakuum zdroj el. paprsku snimač el. obvody elektrony čas. základna objekt obraz povrchu monitor Rastrovací elektronová mikroskopie využívá k analýze struktury látek elektronového svazku. Působením těchto, tzv. primárních, elektronů jsou z povrchu preparátu emitovány sekundární elektrony za současného vzniku elektronů odražených elektronů, Augerových elektronů, fotonů a charakteristického rentgenového záření. Primární paprsek je přitom rozmítán po povrchu preparátu a vzniklé elektrony jsou v detektorech zpracovávány a převáděny na signál, který je zobrazován na stínítku obrazovky (v současné době spíše na monitoru počítače). Vynález rastrovacího elektronového mikroskopu je znám poměrně dlouho. Je uplatňován v mnoha vědeckotechnických oborech a mezi jeho hlavní přednosti je počítána možnost přímého pozorování objektů nepropustných pro elektrony, jednoduchá příprava preparátů, vysoká rozlišovací schopnost a rozsah zvětšení, vynikající hloubka ostrosti a plastičnost obrazu. Počátek výzkumů a vývoje rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM - scanning electron microscope), je datován do 50. let 20. století, kdy byl zahájen výzkum v laboratořích univerzity v Cambridgi v Anglii. V roce 1965 pak spatřil světlo světa první rastrovací elektronový mikroskop STEREOSCAN firmy Cambridge Instr. Co. V České republice začíná výroba těchto přístrojů v roce 1976, kdy byl uveden do života rastrovací elektronový mikroskop TESLA BS 300. Všechny tyto přístroje pracují za vysokého vakua 10-2 Pa. Tato skutečnost znamená jistou nevýhodu pro pozorování biologických preparátů obsahujících vodu, kdy pro pozorování vzorků v nezměněném tvaru musí být voda vytěsněna a nahrazena jinou látkou (např. glutaraldehydem). Zároveň se biologické preparáty a vzorky izolantů pro zamezení nabíjení jejich povrchu opatřují iontovým naprašováním vrstvičkou kovu (Au, Ag, Cr), popř. uhlíku. Tloušťka vrstvy se pohybuje v řádech 10 1 nm.

10 Výrobci rastrovacích elektronových mikroskopů věnují v současnosti značnou pozornost přístrojům, u kterých je možno umístit a pozorovat vzorek při vyšším tlaku, např. 300 Pa. Použitý tlak je limitován typem detektorů. Tyto rastrovací elektronové mikroskopy jsou označovány jako environmentální (ESEM)α. Výhodou těchto přístrojů je možnost pozorovat biologické vzorky a vzorky izolantů bez složité přípravy a dokonce je možno pozorovat preparáty vlhké. Výsledkem výzkumných prací Ústavu přístrojové techniky v Brně a Ústavu elektrotechnologie Fakulty elektrotechniky a informatiky VUT v Brně je realizace environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu AQUASEM se speciálním detektorem, který byl připraven ve spolupráci s firmami PRECIOSA CRYTUR, s.r.o a TESCAN, s.r.o. (nyní LEO). Kromě klasického rastrovacího elektronového mikroskopu (Scanning Electron Microscope - SEM) jsou vyvíjeny přístroje schopné pracovat za vyšších tlaků (Low Vacuum adaptations of CSEM - LV CSEM). V odborné literatuře se v současné době můžeme setkat s termíny jako: SEM - Scanning Electron Microscopes (rastrovací elektronová mikroskopie všeobecně) CSEM - Conventional High Vacuum SEM s (konvenční rastrovací elektronové mikroskopy pracující s vysokým vakuem) ESEMα - The Environmental SEM s (environmentální rastrovací elektronové mikroskopy LV CSEM - Low Vacuum adaptations of CSEM s (rastrovací elektronové mikroskopy pracující s nízkým vakuem, t.j. s vyšším tlakem) Činnost rastrovacího elektronového mikroskopu (CSEM) je založena na použití úzkého svazku elektronů emitovaných ze žhavené katody a urychlovaných v elektronové trysce tvořené systémem katoda - Wehneltův válec - anoda. Paprsek je dále zpracován elektromagnetickými čočkami a je rozmítán po povrchu pozorovaného objektu. Synchronně s tímto svazkem elektronů je rozmítán elektronový svazek paprsku v pozorovací obrazovce. Interakcí elektronového svazku s povrchem pozorovaného objektu vznikají sekundární elektrony (zároveň s fotony, odraženými elektrony, aj.) - viz obr 1. Tyto po detekci a zesílení modulují jas elektronového paprsku v pozorovací obrazovce, takže na obrazovce vznikne obraz odpovídající povrchu pozorovaného vzorku.

11 Obr. 1 Interakce primárního elektronového paprsku (PE) a atomů povrchu vzorku - generování různých druhů signálů Rozlišovací schopnost mikroskopu je dána známou rovnicí = λ n sinα [ nm] kde λ je vlnová délka použitého záření [ nm] n. sinα je numerická apertura Rozlišovací schopnost se u SEM pohybuje podle použitého urychlovacího napětí a zvětšení řádově v 10 1 nm. Zvětšení mikroskopu Z m je přitom dáno poměrem rozlišení na obrazovce a rozlišení vztaženého na předmět (stopy elektronového paprsku na preparátu). Z m = d d 0 p kde d o [ m] je rozlišení na obrazovce d p [ m] je rozlišení vztažené na předmět. Užitečné zvětšení mikroskopu vychází řádově Jak již bylo řečeno v úvodu, klasický SEM pracuje s vakuem min Pa a proto je nutno použít speciální přípravy preparátů, zejména jeho naprášení kovem. V mnoha případech nejde jen o pouhé zobrazení studovaných objektů. V souvislosti s tím je potřeba znát, s jakou přesností lze měřit geometrické rozměry při vysokých zvětšeních. Analýzou bylo zjištěno, že maximální relativní chyba se pohybuje u klasického SEM. Klasický rastrovací elektronový mikroskop (CSEM) pracující s vysokým vakuem v režimu sekundárních elektronů vyžaduje povrchovou úpravu těch preparátů, které se vlivem dopadajících primárních elektronů nabíjejí, popř. je jejich povrch energií elektronů narušován.

12 Známá úprava povrchu preparátu je jeho iontové povrstvení kovy (Ag, Au, Cr, Pt), popř. uhlíkem. Další problémy nastávají u preparátů, které obsahují vodu, popř. jiné kapaliny, plyny, a pod. U těchto preparátů by vložením do vakua došlo k odpaření kapalin a plynů a ke zborcení struktury, vzniku artefaktů, a pod. Kapaliny jsou proto vytěsňovány a nahrazovány jinými substancemi, struktura je složitým způsobem zpevňována. Problémy vznikající při analýze povrchu různých typů materiálů a jejich možná řešení jsou uvedeny přehledně v tabulce (Tab.I.) Tab. I. Problematika preparace pro rastrovací elektronovou mikroskopii Preparát Problém Řešení Kovy a ostatní vodivé materiály - žádný - malý kontrast - CSEM - naprášení preparátu Izolanty (sklo, polymery, prášky, atp.) - nabíjení - CSEM + naprášení - použití ESEM (AQUASEM) Preparáty s členitým povrchem, u nichž nedochází k řádnému - nabíjení - použití ESEM (AQUASEM) naprášení povrchu Preparáty s nebezpečím odlupování naprášené vrstvy Pórovité preparáty obsahující velké množství plynů (vzduchu) - vznik artefaktů - použití ESEM (AQUASEM) - změny preparátu v čase - použití ESEM (AQUASEM) - použití LV SEM Preparáty obsahující vlhkost, tekutiny, vodu, oleje (biologické preparáty) - deformace po úniku vody, par, - vznik artefaktů - použití ESEM (AQUASEM) - použití LV SEM Preparáty, které se nesmějí povrstvit (naprášit) - nabíjení - použití ESEM (AQUASEM)

13 Vzácné preparáty - použití LV SEM Enviromentální rastrovací elektronová mikroskopie: U environmentální rastrovací elektronové mikroskopie jde o pozorování vzorků při vyšším tlaku ( Pa). Tím je umožněno pozorování vlhkých vzorků a izolantů, které není nutno pro mikroskopii speciálně připravovat. Výsledkem prací na výzkumu možností oddělení prostoru komory vzorku a tubusu systémem diferenciálního čerpání a speciálního dvojitého párového scintilačního detektoru zpětně odražených elektronů je realizace mikroskopu AQUASEM. Tento přístroj umožňuje pozorování vzorků při tlaku v komoře vzorku do Pa. Experimenty s pozorováním elektricky nevodivých vzorků potvrdily, že při tlacích v komoře vzorku nad 100 Pa dochází k odstranění tzv. nabíjecího jevu, který by u klasického SEM bez speciální úpravy jejich pozorování znemožnil. Během činnosti ESEM dochází při vyšším tlaku v komoře vzorku kromě běžné interakce primárního paprsku ( PE ) s atomy povrchu preparátu rovněž k vzniku iontů. Tyto jsou poté detekovány ionizačním detektorem ( ID ) - viz obr. 2 Přístroj AQUASEM je řízen počítačem. Počítačová podpora systému umožňuje získání obrazu v bitové mapě (*.bmp) a jeho další zpracování v systémech obrazové analýzy. Kromě toho odpadá celý fotografický proces zpracování obrazu a tím se zpřesňuje měření na ESEM. Obr. 2 Detekce iontů ionizačním detektorem (ID) Environmentální rastrovací elektronový mikroskop AQUASEM umožňuje pracovat ve více režimech:

14 jako klasický rastrovací elektronový mikroskop v režimu sekundárních elektronů jako environmentální rastrovací elektronový mikroskop v režimu odražených elektronů a detekce iontů pro izolanty, vlhké vzorky a biologické preparáty Aplikační úlohy environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu AQUASEM v oboru zkoumání textilních struktur lze rozdělit do několika oblastí: oblast textilních materiálů (polymery, vlákna přírodní, chemická, anorganická, nadvlákenné útvary, příze, zkaniny, pleteniny, atp.) oblast biologických preparátů (přírodní vlákna, vlhké vzorky, roztoči, atp.) oblast ostatních (mezioborových) aplikací s překrývající se problematikou (oblast životního prostředí, kontaminace vody barvivy po barvení textilií, apod.) oblast měření a analýzy struktur, zejména po spojení s obrazovou analýzou. Na pracovišti je používán výkonný systém obrazové analýzy LUCIA (výrobce Laboratory Imaging, Praha). Environmentální rastrovací elektronový mikroskop je výkonným pomocníkem při analýzách ve všech technických a rovněž v textilních oborech. Jako každá moderní metoda je i environmentální rastrovací elektronová mikroskopie dále rozvíjena. Lze ji použít pro rutinní ověřování kvality i pro rozšiřování poznání ve vědeckých bádáních. Umožňuje digitální zpracování obrazu, měření a analýzu struktur. RASTROVACÍ ELEKTRONOVÉ MIKROSKOPY VEGA Rastrovací elektronové mikroskopy patřící do rodiny mikroskopů VEGA jsou mikroskopy plně řízené počítačem, jejichž typickými vlastnostmi jsou: vynikající elektronově optické vlastnosti promyšlená konstrukce tubusu bez mechanických centrovacích prvků umožňující pohodlnou obsluhu a snadnou údržbu rychlé a snadné dosažení čistého pracovního vakua pomocí turbomolekulární a rotační vývěvy; pracuje bez chladící vody

15 neblikavý obraz s vysokým jasem a brilancí jako výsledek digitálního způsobu pořízení a zpracování obrazu důmyslný software pro řízení mikroskopu a pořizování snímků a dokonalý systém pro jejich archivaci, zpracování a vyhodnocování, dálkové ovládání mikroskopu s možností diagnostiky na dálku, která snižuje servisní náklady minimální nároky na instalaci a provoz mikroskopu (nevyžaduje tekoucí vodu a zabírá malý prostor) VEGA TS základní model řady VEGA, konvenční vysokovakuový mikroskop s manuálními posuvy vzorku. VEGA TS 5130 MM - vysokovakuový mikroskop se středně velkou komorou a motorovými posuvy vzorku

16 VEGA Plus TS mikroskop pracující v těchto oblastech: vysoké vakuum (typicky 5*10-3 Pa) a střední vakuum (5 až 50 Pa) - vhodné pro suché nevodivé vzorky. Vakuum v komoře vzorku lze snadno měnit. VEGA Plus TS 5135 MM- mikroskop se středně velkou komorou a motorovými posuvy vzorku, pracující v těchto oblastech: vysoké vakuum (typicky 5*10-3 Pa) a střední vakuum (5 až 50 Pa) - vhodné pro suché nevodivé vzorky. Vakuum v komoře vzorku lze snadno měnit. VEGA UniVac TS mikroskop pracující v oblastech: vysoké vakuum (typicky 5*10-3 Pa) a nízké vakuum (5 až 500 Pa) - vhodné pro nevodivé vzorky obsahující vodu. Tubus je diferenciálně čerpán v místě, kde u předchozích modelů je umístěna mezičočka - nelze tedy dosáhnout některých speciálních režimů optické soustavy základního modelu VEGA. Vakuum v komoře vzorku lze snadno měnit. VEGA UniVac TS 5140 MM- mikroskop pracující v oblastech: vysoké vakuum (typicky 5*10-3 Pa) a nízké vakuum (5 až 500 Pa) - vhodné pro nevodivé vzorky obsahující vodu. Tubus je diferenciálně čerpán v místě, kde u modelů VEGA a VEGA Plus je umístěna mezičočka - nelze tedy dosáhnout některých speciálních režimů optické soustavy základního modelu VEGA. Vakuum v komoře vzorku lze snadno měnit. Mikroskop je vybaven středně velkou komorou a motorovými posuvy vzorku. Modernizace elektronových mikroskopů VEGA EOScan a MV 2300 Přehled typů mikroskopů VEGA a jejich specifikace je uveden na následující stránce. Dále jsou uvedeny požadavky na pracovní prostředí a minimální plochu potřebnou pro instalaci mikroskopu.

17 4 Výhody a nevýhody elektronových mikroskopů: Mezi největší výhody patří velmi velké zvětšení - řádově až ,což umožňuje pozorovat i opravdu velmi malé částice. U transmisních el. mikroskopů je nutné, aby vzorek byl velmi tenký, což lze považovat za nevýhodu. Další podstatná nevýhoda je to, že preparát musí být umístěn ve vakuu, což neumožňuje pozorovat živé organismy. El. mikroskop má také velké rozlišení (0,1 nm) a velkou hloubku ostrosti (několik mm). Pohyb svazku elektronů lze řídit pomocí počítače, což umožňuje využít veškerý komfort, který tato technika poskytuje (zobrazit pouze výřez, odstranit šum snížením rastrovací rychlosti, tisknout obraz...) Výhoda je také to, že elektronový mikroskop může dát informaci nejen o topografii vzorku, ale i o jeho materiálovém složení. Za nevýhody lze dále považovat i velké nároky na prostor a vysokou pořizovací cenu. 5 Použití: Elektronová mikroskopie se používá při studiu velmi malých částic, například v lékařství při studiu bakterií a virů. Jiné uplatnění nalézá např. v mikroelektronice, kde se využívá při vývoji a studiu čipů a polovodičových materiálů. Vzhledem k tomu, že dráhy elektronů ovlivňují také případné mag. pole povrchové vrstvy vzorku, můžeme např. pozorovat mag. pole, které vytváří pracující polovodičová součástka. Mikroskop lze využít i ke kvalitativní (prvkové) analýze např. v chemii, biologii atd. Aplikační možnosti SEM a ESEM sahají od pozorování povrchu vláken a vnitřních struktur vláken (lomové plochy, struktury získané sloupnutím povrchové vrstvy vláken), defekty a poškození vláken, přes struktury přízí, nití, plošných textilií (tkaniny, pleteniny, netkané textilie) až po možnosti analýzy příčin různých vad v textiliích (mrtvá vlákna bavlny, zašpinění, oděr, atd.). SEM a ESEM umožňují nedestruktivní analýzu poruch textilních struktur, kdy není nutno strukturu rozebírat na jednotlivé konstrukční elementy (příze, nitě, vlákna). Jako příklad lze uvést analýzu struktury povrchu vlněného vlákna v surovém stavu a po aplikaci různých metod úpravy vlny. Kromě struktur textilií jsou na katedře textilních materiálů TUL pomocí SEM a ESEM zkoumány struktury využívající vláken jako konstrukčních prvků v kompozitech. Pomocí metod rastrovací elektronové mikroskopie jsou analyzovány např. lomové plochy C-C kompozitů. 6 Anglické články

18 Electron Microscopy What are Electron Microscopes? Electron Microscopes are scientific instruments that use a beam of highly energetic electrons to examine objects on a very fine scale. This examination can yield the following information: Topography The surface features of an object or "how it looks", its texture; direct relation between these features and materials properties (hardness, reflectivity...etc.) Morphology The shape and size of the particles making up the object; direct relation between these structures and materials properties (ductility, strength, reactivity...etc.) Composition The elements and compounds that the object is composed of and the relative amounts of them; direct relationship between composition and materials properties (melting point, reactivity, hardness...etc.) Crystallographic Information How the atoms are arranged in the object; direct relation between these arrangements and materials properties (conductivity, electrical properties, strength...etc.) Where did Electron Microscopes Come From? Electron Microscopes were developed due to the limitations of Light Microscopes which are limited by the physics of light to 500x or 1000x magnification and a resolution of 0.2 micrometers. In the early 1930's this theoretical limit had been reached and there was a scientific desire to see the fine details of the interior structures of organic cells (nucleus, mitochondria...etc.). This required 10,000x plus magnification which was just not possible using Light Microscopes. The Transmission Electron Microscope (TEM) was the first type of Electron Microscope to be developed and is patterned exactly on the Light Transmission Microscope except that a focused beam of electrons is used instead of light to "see through" the specimen. It was developed by Max Knoll and Ernst Ruska in Germany in The first Scanning Electron Microscope (SEM) debuted in 1942 with the first commercial instruments around Its late development was due to the electronics involved in "scanning" the beam of electrons across the sample. An excellent article was just published in Scanning detailing the history of SEMs and I would encourage those interested to read it. How do Electron Microscopes Work? Electron Microscopes(EMs) function exactly as their optical counterparts except that they use a focused beam of electrons instead of light to "image" the specimen and gain information as to its structure and composition. The basic steps involved in all EMs: 1. A stream of electrons is formed (by theelectron Source) and accelerated toward the specimen using a positive electrical potential 2. This stream is confined and focused using metal apertures and magnetic lenses into a thin, focused, monochromatic beam. 3. This beam is focused onto the sample using a magnetic lens

19 4. Interactions occur inside the irradiated sample, affecting the electron beam These interactions and effects are detected and transformed into an image The above steps are carried out in all EMs regardless of type. A more specific treatment of the workings of two different types of EMs are described in more detail: Transmission Electron Microscope Scanning Electron Microscope Transmission Electron Microscope (TEM) TEMs are patterned after Transmission Light Microscopes and will yield similar information. Morphology The size, shape and arrangement of the particles which make up the specimen as well as their relationship to each other on the scale of atomic diameters. Crystallographic Information The arrangement of atoms in the specimen and their degree of order, detection of atomic-scale defects in areas a few nanometers in diameter Compositional Information (if so equipped) The elements and compounds the sample is composed of and their relative ratios, in areas a few nanometers in diameter A TEM works much like a slide projector. A projector shines a beam of light through (transmits) the slide, as the light passes through it is affected by the structures and objects on the slide. These effects result in only certain parts of the light beam being transmitted through certain parts of the slide. This transmitted beam is then projected onto the viewing screen, forming an enlarged image of the slide. TEMs work the same way except that they shine a beam of electrons (like the light) through the specimen(like the slide). Whatever part is transmitted is projected onto a phosphor screen for the user to see. A more technical explanation of a typical TEMs workings is as follows (refer to the diagram below): 1. The "Virtual Source" at the top represents the electron gun, producing a stream of monochromatic electrons. 2. This stream is focused to a small, thin, coherent beam by the use of condenser lenses 1 and 2. The first lens (usually controlled by the "spot size knob") largely determines the "spot size"; the general size range of the final spot that strikes the sample. The second lens(usually controlled by the "intensity or

20 brightness knob" actually changes the size of the spot on the sample; changing it from a wide dispersed spot to a pinpoint beam. 3. The beam is restricted by the condenser aperture (usually user selectable), knocking out high angle electrons (those far from the optic axis, the dotted line down the center) 4. The beam strikes the specimen and parts of it are transmitted 5. This transmitted portion is focused by the objective lens into an image 6. Optional Objective and Selected Area metal apertures can restrict the beam; the Objective aperture enhancing contrast by blocking out high-angle diffracted electrons, the Selected Area aperture enabling the user to examine the periodic diffraction of electrons by ordered arrangements of atoms in the sample 7. The image is passed down the column through the intermediate and projector lenses, being enlarged all the way 8. The image strikes the phosphor image screen and light is generated, allowing the user to see the image. The darker areas of the image represent those areas of the sample that fewer electrons were transmitted through (they are thicker or denser). The lighter areas of the image represent those areas of the sample that more electrons were transmitted through (they are thinner or less dense) Scanning Electron Microscope (SEM) SEMs are patterned after Reflecting Light Microscopes and yield similar information: Topography The surface features of an object or "how it looks", its texture; detectable features limited to a few manometers Morphology The shape, size and arrangement of the particles making up the object that are lying on the surface of the sample or have been exposed by grinding or chemical etching; detectable features limited to a few manometers Composition The elements and compounds the sample is composed of and their relative ratios, in areas ~ 1 micrometer in diameter Crystallographic Information The arrangement of atoms in the specimen and their degree of order; only useful on single-crystal particles >20 micrometers A detailed explanation of how a typical SEM functions follows (refer to the diagram below):

21 1. The "Virtual Source" at the top represents the electron gun, producing a stream of monochromatic electrons. 2. The stream is condensed by the first condenser lens (usually controlled by the "coarse probe current knob"). This lens is used to both form the beam and limit the amount of current in the beam. It works in conjunction with the condenser aperture to eliminate the high-angle electrons from the beam 3. The beam is then constricted by the condenser aperture (usually not user selectable), eliminating some high-angle electrons 4. The second condenser lens forms the electrons into a thin, tight, coherent beam and is usually controlled by the "fine probe current knob" 5. A user selectable objective aperture further eliminates high-angle electrons from the beam 6. A set of coils then "scan" or "sweep" the beam in a grid fashion (like a television), dwelling on points for a period of time determined by the scan speed (usually in the microsecond range) 7. The final lens, the Objective, focuses the scanning beam onto the part of the specimen desired. 8. When the beam strikes the sample (and dwells for a few microseconds) interactions occur inside the sample and are detected with various instruments 9. Before the beam moves to its next dwell point these instruments count the number of interactions and display a pixel on a CRT whose intensity is determined by this number (the more reactions the brighter the pixel). 10. This process is repeated until the grid scan is finished and then repeated, the entire pattern can be scanned 30 times per second. The Transmission Electron Microscope The transmission electron microscope (TEM) operates on the same basic principles as the light microscope but uses electrons instead of light. What you can see with a light microscope is limited by the wavelength of light. TEMs use electrons as "light source" and their much lower wavelength makes it possible to get a resolution a thousand times better than with a light microscope. You can see objects to the order of a few angstrom (10-10 m). For example, you can study small details in the cell or different materials down to near atomic levels. The possibility for high magnifications has made the TEM a valuable tool in both medical, biological and materials research.

22 Magnetic Lenses Guide the Electrons A "light source" at the top of the microscope emits the electrons that travel through vacuum in the column of the microscope. Instead of glass lenses focusing the light in the light microscope, the TEM uses electromagnetic lenses to focus the electrons into a very thin beam. The electron beam then travels through the specimen you want to study. Depending on the density of the material present, some of the electrons are scattered and disappear from the beam. At the bottom of the microscope the unscattered electrons hit a fluorescent screen, which gives rise to a "shadow image" of the specimen with its different parts displayed in varied darkness according to their density. The image can be studied directly by the operator or photographed with a camera. 7 Seznam adres : speciální mikroskop. techniky mikroskopy využití elektronové mikroskopie v AAS obrázek el. mikr. TESLA Morgagni(FEI) SEM Quanta(FEI) rast. el.m. VEGA

23 využití přístroje Aquasem pro zkoumání vlákenných a nadvlákenných struktur enviroment. rastr. mikroskopy jiné metody studia povrchu látek elektronová mikroskopie transmisní a rastrovací elektronové mikroskopy - anglický článek transmisní elektronový mikroskop - anglický článek rastrovací elektronový mikroskop - anglický článek transmisní elektronový mikroskop - anglický článek obrázek el. mikr. TESLA

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první

Více

Proč elektronový mikroskop?

Proč elektronový mikroskop? Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční

Více

Techniky mikroskopie povrchů

Techniky mikroskopie povrchů Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní

Více

Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček

Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie

Více

ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII

ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25

Více

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Mikroskopie Rozlišovací schopnost lidského oka cca 025 0,25mm Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

Více

EM, aneb TEM nebo SEM?

EM, aneb TEM nebo SEM? EM, aneb TEM nebo SEM? Jiří Šperka Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita, Brno 2. únor 2011 / Prezentace pro studentský seminář Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 1 / 21

Více

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová

Více

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod 1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek

Více

Elektronová Mikroskopie SEM

Elektronová Mikroskopie SEM Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne

Více

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

METODY ANALÝZY POVRCHŮ METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější

Více

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX / 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)

Více

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek / 1 ZPRACOVAL Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL PhDr. Margaréta Musilová Mestský ústav ochrany pamiatok Uršulínska 9 811 01 Bratislava OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Energiově-disperzní

Více

Testování nanovlákenných materiálů

Testování nanovlákenných materiálů Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů

Více

Základní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi

Základní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi LRR/BUBCV CVIČENÍ Z BUNĚČNÉ BIOLOGIE 1. SVĚTELNÁ MIKROSKOPIE A PREPARÁTY V MIKROSKOPII TEORETICKÝ ÚVOD: Mikroskopie je základní metoda, která nám umožňuje pozorovat velmi malé biologické objekty. Díky

Více

Elektronová mikroanalýza trocha historie

Elektronová mikroanalýza trocha historie Elektronová mikroanalýza trocha historie 1949 - Castaing postavil první mikrosondu s vlnově disperzním spektrometrem a vypracoval teorii 1956 počátek výroby komerčních mikrosond (Cameca) 1965 - počátek

Více

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4.1 Mikrostruktura stavebních hmot 4.1.1 Úvod Vlastnosti pevných látek, tak jak se jeví při makroskopickém zkoumání, jsou obrazem vnitřní struktury materiálu. Vnitřní

Více

Laboratoř charakterizace nano a mikrosystémů: Elektronová mikroskopie

Laboratoř charakterizace nano a mikrosystémů: Elektronová mikroskopie : Jitka Kopecká ÚVOD je užitečný nástroj k pozorování a pochopení nano a mikrosvěta. Nachází své uplatnění jak v teoretickém výzkumu, tak i v průmyslu (výroba polovodičových součástek, solárních panelů,

Více

Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2

Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2 Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2 elektronové dělo elektronové dělo je zařízení, které produkuje elektrony uspořádané do svazku (paprsku) elektrony opustí svůj zdroj katodu- po dodání určité množství

Více

Testování nanovlákenných materiálů. Eva Košťáková KNT, FT, TUL

Testování nanovlákenných materiálů. Eva Košťáková KNT, FT, TUL Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů

Více

Gymnázium, Brno, Slovanské nám. 7 WORKBOOK. Mathematics. Teacher: Student:

Gymnázium, Brno, Slovanské nám. 7 WORKBOOK.   Mathematics. Teacher: Student: WORKBOOK Subject: Teacher: Student: Mathematics.... School year:../ Conic section The conic sections are the nondegenerate curves generated by the intersections of a plane with one or two nappes of a cone.

Více

M I K R O S K O P I E

M I K R O S K O P I E Inovace předmětu KBB/MIK SVĚTELNÁ A ELEKTRONOVÁ M I K R O S K O P I E Rozvoj a internacionalizace chemických a biologických studijních programů na Univerzitě Palackého v Olomouci CZ.1.07/2.2.00/28.0066

Více

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Zobrazovací metody v nanotechnologiích Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší

Více

Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu

Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus

Více

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá

Více

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů Ondřej Ticháček, PORG, ondrejtichacek@gmail.com Eva Korytiaková, Gymnázium Nové Zámky, korpal@pobox.sk Abstrakt: Jak vypadá vnitřek hmoty? Lze spatřit

Více

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce Metody využívající rentgenové záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 Rentgenovo záření 2 Rentgenovo záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá se v lékařství a krystalografii.

Více

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková Mikroskopie V M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Hloubka ostrosti problém m velkých zvětšen ení tloušťka T vrstvy vzorku kolmé k optické ose, kterou vidíme ostře zobrazenou Objektiv

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY KONTRAST V OBRAZE ZÍSKANÉM POMOCÍ IONIZAČNÍHO DETEKTORU VE VP SEM

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY KONTRAST V OBRAZE ZÍSKANÉM POMOCÍ IONIZAČNÍHO DETEKTORU VE VP SEM VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ SCINTILAČNÍ DETEKTOR SEKUNDÁRNÍCH ELEKTRONŮ PRO REM PRACUJÍCÍ PŘI VYŠŠÍM TLAKU V KOMOŘE VZORKU BAKALÁŘSKÁ PRÁCE

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ SCINTILAČNÍ DETEKTOR SEKUNDÁRNÍCH ELEKTRONŮ PRO REM PRACUJÍCÍ PŘI VYŠŠÍM TLAKU V KOMOŘE VZORKU BAKALÁŘSKÁ PRÁCE VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické). PŘEDMĚTY KE STÁTNÍM ZÁVĚREČNÝM ZKOUŠKÁM V BAKALÁŘSKÉM STUDIU SP: CHEMIE A TECHNOLOGIE MATERIÁLŮ SO: MATERIÁLOVÉ INŽENÝRSTVÍ POVINNÝ PŘEDMĚT: NAUKA O MATERIÁLECH Ing. Alena Macháčková, CSc. 1. Souvislost

Více

VÍCEELEKTRODOVÝ SYSTÉM IONIZAČNÍHO DETEKTORU PRO ENVIRONMENTÁLNÍ RASTROVACÍ ELEKTRONOVÝ MIKROSKOP

VÍCEELEKTRODOVÝ SYSTÉM IONIZAČNÍHO DETEKTORU PRO ENVIRONMENTÁLNÍ RASTROVACÍ ELEKTRONOVÝ MIKROSKOP VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

HODNOCENÍ VRYPOVÉ ZKOUŠKY SVĚTELNOU A ŘÁDKOVACÍ ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

HODNOCENÍ VRYPOVÉ ZKOUŠKY SVĚTELNOU A ŘÁDKOVACÍ ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY HODNOCENÍ VRYPOVÉ ZKOUŠKY SVĚTELNOU A ŘÁDKOVACÍ ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY Martina Sosnová a - sosnova@kmm.zcu.cz. Antonín Kříž a

Více

SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony

Více

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, UP Olomouc 4.12.2009 Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah konstrukce transmisního elektronového mikroskopu

Více

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ T. Jeřábková Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 ter.jer@seznam.cz V. Košař Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 vlastik9a@atlas.cz G. Malenová Gymnázium Třebíč malena.vy@quick.cz

Více

METODA NAPĚŤOVÉHO KONTRASTU PŘI DETEKCI SEKUNDÁRNÍCH ELEKTRONŮ SCINTILAČNÍM DETEKTOREM VE VP SEM

METODA NAPĚŤOVÉHO KONTRASTU PŘI DETEKCI SEKUNDÁRNÍCH ELEKTRONŮ SCINTILAČNÍM DETEKTOREM VE VP SEM VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

Videosignál. A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. Před. A3M38VBM, 2015 J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha

Videosignál. A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. Před. A3M38VBM, 2015 J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha Videosignál A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer 1 Základ CCTV Základ - CCTV (uzavřený televizní okruh) Řetězec - snímač obrazu (kamera) zobrazovací jednotka (CRT monitor) postupné

Více

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Mikroskopické techniky MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Slouží k vizualizaci mikroorganismů Antoni van Leeuwenhoek (1632-1723) Čočka zvětšující 300x Různé druhy mikroskopů, které se liší

Více

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15 Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15 Hodnocení transparentních materiálů pomocí vizualizační techniky Vlastimil Hotař, Ondřej Matúšek Katedra sklářských strojů a robotiky Fakulta

Více

Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic

Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic PES (fotoelektronová spektroskopie) XPS (rentgenová fotoelektronová spektroskopie), ESCA (elektronová spektroskopie pro chemickou analýzu) UPS (ultrafialová

Více

Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí

Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí Doc. Ing. Eva Nezbedová, CSc. Polymer Institute Brno Ing. Zdeňka Jeníková, Ph.D. Ústav materiálového inženýrství, Fakulta strojní, ČVUT

Více

TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU

TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU Hystorie Alexander Bain (Skot) 1843 vynalezl fax (na principu vodivé desky s napsaným textem nevodivým, který se snímal kyvadlem opatřeným jehlou s posunem po malých

Více

LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií)

LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií) LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií) RHEED (Reflection High-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s vysokou energií na odraz) Úvod Zkoumání povrchů pevných

Více

Mikroskopické techniky

Mikroskopické techniky Mikroskopické techniky Světelná mikroskopie Elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou Zkráceno z přednášky doc. RNDr. R. Kubínka, CSc. Zdroj informací: http://apfyz.upol.cz/ucebnice/elmikro.html

Více

Přírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop

Přírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop Přírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop Přístroj v hodnotě několika milionů korun zapůjčí Přírodovědecké fakultě Masarykovy univerzity (MU) společnost FEI Czech Republic, výrobce elektronových

Více

Typy světelných mikroskopů

Typy světelných mikroskopů Typy světelných mikroskopů Johann a Zacharias Jansenové (16. stol.) Systém dvou čoček délka 1,2 m 17. stol. Typy světelných mikroskopů Jednočočkový mikroskop 17. stol. Typy světelných mikroskopů Italský

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ. Ionizační detektor pro ESEM Ionization detector for ESEM DIPLOMOVÁ PRÁCE MASTER S THESIS

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ. Ionizační detektor pro ESEM Ionization detector for ESEM DIPLOMOVÁ PRÁCE MASTER S THESIS VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

Tento materiál byl vytvořen v rámci projektu Operačního programu Vzdělávání pro konkurenceschopnost.

Tento materiál byl vytvořen v rámci projektu Operačního programu Vzdělávání pro konkurenceschopnost. Tento materiál byl vytvořen v rámci projektu Operačního programu Vzdělávání pro konkurenceschopnost. Projekt MŠMT ČR Číslo projektu Název projektu školy Klíčová aktivita III/2 EU PENÍZE ŠKOLÁM CZ.1.07/1.4.00/21.2146

Více

Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)

Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) -přenesení dané struktury na povrch strukturovaného substrátu Princip - interakce

Více

Vybrané spektroskopické metody

Vybrané spektroskopické metody Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky

Více

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm

Více

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených

Více

Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm

Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm Rtg. záření: Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm Vznik rtg. záření: 1. Rtg. záření se spojitým spektrem vzniká při prudkém zabrzdění urychlených elektronů.

Více

Bioimaging rostlinných buněk, CV.2

Bioimaging rostlinných buněk, CV.2 Bioimaging rostlinných buněk, CV.2 Konstrukce mikroskopu (optika, fyzikální principy...) Rozlišení - kontrast Live cell microscopy Modulace kontrastu (Phase contrast, DIC) Videomikroskopia Nízký kontrast

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda

Více

Zobrazovací zařízení. Základní výstupní zařízení počítače, které slouží k zobrazování textových i grafických informací.

Zobrazovací zařízení. Základní výstupní zařízení počítače, které slouží k zobrazování textových i grafických informací. Zobrazovací zařízení Základní výstupní zařízení počítače, které slouží k zobrazování textových i grafických informací. Hlavní částí každého monitoru je obrazovka, na jejímž stínítku se zobrazují jednotlivé

Více

Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie

Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. rentgenová spektroskopická metoda k určen

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE TENTO MATERIÁL SLOUŽÍ JAKO PRACOVNÍ TEXT (DOPLNĚK K PRAKTICKÝM ÚLOHÁM) TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Transmisní elektronová mikroskopie je jednou z experimentálních metod, bez kterých se v současné

Více

Testování nanovlákenných materiálů

Testování nanovlákenných materiálů Testování nanovlákenných materiálů Vizualizace Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných

Více

10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita

10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita K. Záruba Optická mikroskopie Elektronová mikroskopie (SEM, TEM) Fotoelektronová

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů T. Sýkora 1, M. Lanč 2, J. Krist 3 1 Gymnázium Českolipská, Českolipská 373, 190 00 Praha 9, tomas.sykora@email.cz 2 Gymnázium Otokara Březiny a SOŠ Telč,

Více

Integrovaná střední škola, Hlaváčkovo nám. 673, Slaný

Integrovaná střední škola, Hlaváčkovo nám. 673, Slaný Označení materiálu: VY_32_INOVACE_STEIV_FYZIKA2_12 Název materiálu: Elektrický proud v plynech. Tematická oblast: Fyzika 2.ročník Anotace: Prezentace slouží k výkladu elektrického proudu v plynech. Očekávaný

Více

ÚVOD POROVNÁNÍ VLASTNOSTÍ LEXT, SEM A KONVENČNÍCH SYSTÉMŮ

ÚVOD POROVNÁNÍ VLASTNOSTÍ LEXT, SEM A KONVENČNÍCH SYSTÉMŮ Mikroskop LEXT a jeho využití v materiálových vědách J. Řeboun, A. Hamáček Katedra technologií a měření, Fakulta elektrotechnická, ZČU v Plzni, Univerzitní 26, Plzeň E-mail : jreboun@ket.zcu.cz, hamacek@ket.zcu.cz

Více

Obrazovkový monitor. Antonín Daněk. semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky. Téma č. 7: princip, blokově základní obvody

Obrazovkový monitor. Antonín Daněk. semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky. Téma č. 7: princip, blokově základní obvody Obrazovkový monitor semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky Antonín Daněk Téma č. 7: princip, blokově základní obvody Základní princip proud elektronů Jedná se o vakuovou elektronku.

Více

Charakterizace materiálů I KFY / P224. Martin Kormunda

Charakterizace materiálů I KFY / P224. Martin Kormunda Charakterizace materiálů I KFY / P224 Přednáška 3 SEM (Scanning Electron Microscopy) TEM (Transmition Electron Microscopy) Mikroskopy http://www.paru.cas.cz/lem/book/podkap/pic/7.1/1.gif Konstrukční princip

Více

Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka

Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů Pavel Matějka Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů 1. sekundárních iontů - SIMS 1. Princip metody 2. Typy bombardování 3. Analyzátory iontů

Více

EXACT DS OFFICE. The best lens for office work

EXACT DS OFFICE. The best lens for office work EXACT DS The best lens for office work EXACT DS When Your Glasses Are Not Enough Lenses with only a reading area provide clear vision of objects located close up, while progressive lenses only provide

Více

SCINTILAČNÍ DETEKTOR SE PRO EREM

SCINTILAČNÍ DETEKTOR SE PRO EREM VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV MIKROELEKTRONIKY FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

Measurement of fiber diameter by laser diffraction Měření průměru vláken pomocí laserové difrakce

Measurement of fiber diameter by laser diffraction Měření průměru vláken pomocí laserové difrakce Progres in textile science and technology TUL Liberec 24 Pokroky v textilních vědách a technologiích TUL v Liberci 24 Sec. 9 Sek. 9 Measurement of fiber diameter by laser diffraction Měření průměru vláken

Více

CÍLE CHEMICKÉ ANALÝZY

CÍLE CHEMICKÉ ANALÝZY ANALYTICKÉ METODY CÍLE CHEMICKÉ ANALÝZY Získat maximum informací dostupným přírodovědným průzkumem o památce. Posoudit poruchy a poškození materiálů. Navrhnout nejvhodnější technologii restaurování. Určit

Více

STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ. Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b

STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ. Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b a UNIVERZITA PARDUBICE, Fakulta chemicko-technologická, Katedra anorganické

Více

Metody analýzy povrchu

Metody analýzy povrchu Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení

Více

WORKSHEET 1: LINEAR EQUATION 1

WORKSHEET 1: LINEAR EQUATION 1 WORKSHEET 1: LINEAR EQUATION 1 1. Write down the arithmetical problem according the dictation: 2. Translate the English words, you can use a dictionary: equations to solve solve inverse operation variable

Více

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj DOUTNAVÝ VÝBOJ Další technologie využívající doutnavý výboj Plazma doutnavého výboje je využíváno v technologiích depozice povlaků nebo modifikace povrchů. Jedná se zejména o : - depozici povlaků magnetronovým

Více

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova

Více

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části

Více

ACOUSTIC EMISSION SIGNAL USED FOR EVALUATION OF FAILURES FROM SCRATCH INDENTATION

ACOUSTIC EMISSION SIGNAL USED FOR EVALUATION OF FAILURES FROM SCRATCH INDENTATION AKUSTICKÁ EMISE VYUŽÍVANÁ PŘI HODNOCENÍ PORUŠENÍ Z VRYPOVÉ INDENTACE ACOUSTIC EMISSION SIGNAL USED FOR EVALUATION OF FAILURES FROM SCRATCH INDENTATION Petr Jiřík, Ivo Štěpánek Západočeská univerzita v

Více

Metody analýzy povrchu

Metody analýzy povrchu Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. 2 Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení

Více

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289 OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17

Více

K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ

K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ ČESKOSLOVENSKÁ SOCIALISTICKÁ R E P U B L I K A ( 19 ) POPIS VYNÁLEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ (Ы) (23) Výstavní priorita (22) Přihlášeno 03 11 82 (21) pv 7798-82 229 332 ('i) (Bl) (51) Int. Cľ G 01 N 1/20,

Více

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Úkoly měření: 1. Odhad rozměrů mikro-objektů z informací uváděných výrobcem. 2. Záznam difrakčních obrazců (difraktogramů) vzniklých interakcí laserového

Více

DC circuits with a single source

DC circuits with a single source Název projektu: utomatizace výrobních procesů ve strojírenství a řemeslech egistrační číslo: Z..07/..0/0.008 Příjemce: SPŠ strojnická a SOŠ profesora Švejcara Plzeň, Klatovská 09 Tento projekt je spolufinancován

Více

Fluorescenční mikroskopie

Fluorescenční mikroskopie Fluorescenční mikroskopie Pokročilé biofyzikální metody v experimentální biologii Ctirad Hofr 1 VYUŽITÍ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ A NEPŘÍMA IMUNOFLUORESCENCE, BIOTIN-AVIDINOVÁ METODA IMUNOFLUORESCENCE

Více

Zobrazovací soustava pro spektrograf s vícekanálovým Šolcovým filtrem. Daniel Jareš, Vít Lédl, Zdeněk Rail. 2. Varianty zobrazovacích soustav

Zobrazovací soustava pro spektrograf s vícekanálovým Šolcovým filtrem. Daniel Jareš, Vít Lédl, Zdeněk Rail. 2. Varianty zobrazovacích soustav Zobrazovací soustava pro spektrograf s vícekanálovým Šolcovým filtrem Daniel Jareš, Vít Lédl, Zdeněk Rail Při řešení slunečního spektrografu s vícekanálovým filtrem Šolcova typu byl proveden rozbor možných

Více

VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ

VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ P. Novák, J. Novák Katedra fyziky, Fakulta stavební, České vysoké učení technické v Praze Abstrakt V práci je popsán výukový software pro

Více

Spektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE

Spektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE Spektroskopie Augerových elektronů AES KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE Spektroskopie Augerových elektronů AES Jev Augerových elektronů objeven 1923 - Lise Meitner

Více

Metody charakterizace

Metody charakterizace Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:

Více

lní mikroskop LEXT OLS 3100

lní mikroskop LEXT OLS 3100 Moderní technologie ve studiu aplikované fyziky reg. č.: CZ.1.07/2.2.00/07.0018. Laserový rastrovací konfokáln lní mikroskop LEXT OLS 3100 Hana Šebestová Společná laboratoř optiky Univerzity Palackého

Více

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ CHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ Lukáš ZUZÁNEK Katedra strojírenské technologie, Fakulta strojní, TU v Liberci, Studentská 2, 461 17 Liberec 1, CZ,

Více

SCINTILAČNÍ DETEKTOR SEKUNDÁRNÍCH ELEKTRONŮ PRO ESEM SCINTILLATION SECONDARY ELECTRONS DETECTOR FOR ESEM

SCINTILAČNÍ DETEKTOR SEKUNDÁRNÍCH ELEKTRONŮ PRO ESEM SCINTILLATION SECONDARY ELECTRONS DETECTOR FOR ESEM VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

MTP-7-optické materiály. Optické vlastnosti materiálů

MTP-7-optické materiály. Optické vlastnosti materiálů MTP-7-optické materiály Optické vlastnosti materiálů Barva, teplota světla Draper point 525 C Žárovka a výbojka - spektra Světlo pod vodou LASER (light amplification by stimulated emission of radiation)

Více

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky předmětu veřejné zakázky Příloha č. 1c Zadavatel požaduje, aby předmět veřejné zakázky, resp. přístroje odpovídající jednotlivým částem veřejné zakázky splňovaly minimálně níže uvedené parametry. Část

Více

Principy a instrumentace

Principy a instrumentace Průtoková cytometrie Principy a instrumentace Ing. Antonín Hlaváček Úvod Průtoková cytometrie je moderní laboratorní metoda měření a analýza fyzikálních -chemických vlastností buňky během průchodu laserovým

Více

Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis

Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis (Foto)elektronová spektroskopie (pro chemickou analýzu) ESCA, XPS X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Any technique in which the sample is bombarded

Více

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem Optické přístroje a soustav Geometrická optika převážně jsou založen na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fzikálním polem Důsledkem této t to interakce je: změna fzikáln lních vlastností

Více

VYUŽITÍ COSMOS FLOWORKS VE VÝUCE PŘI NÁVRHU DIFERENCIÁLNĚ ČERPANÉ KOMORY

VYUŽITÍ COSMOS FLOWORKS VE VÝUCE PŘI NÁVRHU DIFERENCIÁLNĚ ČERPANÉ KOMORY VYUŽITÍ COSMOS FLOWORKS VE VÝUCE PŘI NÁVRHU DIFERENCIÁLNĚ ČERPANÉ KOMORY MAXA Jiří NEDĚLA Vilém, ČR Resumé: V předloženém článku je popsáno využití systému Cosmos FloWorks ve výuce při řešení problematiky

Více