Transmisní elektronová mikroskopie Skenovací elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou. Mikroskopické metody SEM, TEM, AFM
|
|
- Zdeněk Sedláček
- před 7 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Mikroskopické metody SEM, TEM, AFM
2 Rozlišení v optické mikroskopii důvod pro vyvíjení nových technik omezení rozlišení světelné mikroskopie nejmenší vzdálenost dvou bodů, kterou ještě rozlišíme závisí na vlnové délce světla λ a indexu lomu n na vzduchu přibližně d min = 0,61λ, tj. asi 200 nm zvýšení rozlišení lze dosáhnout: snížením λ např. elektronová mikroskopie zvýšením n imerze (jen zanedbatelné) existuje ještě jeden způsob blízké pole uvedené vztahy platí pro vzdálenost d λ Bude-li d < λ, informace se nestihne rozmáznout a můžeme získat úplnou informaci o vzorku. Používá se ostrý hrot a skenování postupný sběr světelné informace lokálně po jednotlivých bodech.
3 Konstrukce Příprava vzorků Aplikace Transmisní elektronová mikroskopie vysoké urychlovací napětí 100 kv odpovídá d min = 2,35 pm (λ h 2meU )
4 Zdroje elektronů Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace různé typy termoemisní zdroje wolframové vlákno C LaB C autoemisní zdroje (FEG) základní požadavky: jas, stálost, doba života, monochromatičnost
5 Zobrazovací soustava TEM Konstrukce Příprava vzorků Aplikace čočky elektrostatické nebo elektromagnetické čočky lze ovládat napětím či proudem nedokonalé prvky zkreslení (sférická, chromatická vada) citlivé na vnější magnetické pole
6 Další konstrukční části Konstrukce Příprava vzorků Aplikace držák vzorku posun v osách x, y a z rychlá výměna vzorku (předčerpání) clony zachycení mimoosových paprsků vakuový systém prostor katody: Pa prostor preparátu: 10 5 Pa prostor záznamu obrazu: 10 3 Pa
7 Pozorování obrazu Konstrukce Příprava vzorků Aplikace luminiscenční stínítko fotografická emulze speciální kamery různé možnosti pozorování obraz je okamžitý
8 Příprava vzorků Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace vzorek musí být průhledný pro elektrony (omezení tloušťky) uchycení na nosné mřížky (Cu) případný povlak (formvar, uhlík) vzorek musí oddolat vakuu
9 Příprava vzorků Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace práškové vzorky dispergace ve vhodném médiu (voda, líh,... ), UZ nanesení na mřížku s povlakem vysušení biologické vzorky fixace konzervace struktury tkáně odvodnění nahrazení volné vody kontrastování biovzorky s nízkým Z mají malý kontrast zalití do bločku krájení ultratenkých řezů další vzorky zajištění vhodné tloušťky (odleptání, zpracování iontovým svazkem apod.) repliky vzorků pro jinak nezobrazitelné vzorky kontrast ovlivní: orientace krystalů, protonové číslo, hustota
10 Základní režimy Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace zobrazení ve světlém poli aperturní clona ponechá pouze hlavní svazek zobrazení v temném poli aperturní clona se posune mimo osu soustavy prochází difraktované svazky zvýšení konstrastu krystalů difrakční obraz je nutno přeostřit projektiv na obrazovou ohniskovou rovinu lze posuzovat krystalickou strukturu Si
11 Informace z TEMu Konstrukce Příprava vzorků Aplikace laterální velikosti objektů morfologie vizualizace povrchových vrstev a modifikací určení fázového složení potvrzení krystalického/amorfního charakteru
12 Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace Informace o rozměrech
13 Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace Informace o morfologii
14 Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace Zviditelnění struktur a objektů
15 Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Příprava vzorků Aplikace Analýza atomární struktury
16 Konstrukce Aplikace detekce jiných než primárních elektronů (analogie mikroskopie v odraženém světle) obraz se sestavuje postupně (skenování) vzorek není prozářen najednou, ale jen bod po bodu typické napětí do 50 kv rozsah zvětšení od 5 do rozlišení až 0,5 nm (typicky jednotky nm) obraz může mít prostorovou informaci při interakci svazku se vzorkem vzniká další záření
17 Konstrukce Aplikace Interakce elektronů se vzorkem interakce elektronů s energií E 0 vybudí různá záření sekundární elektrony excitované z vnějších slupek, 50 ev zpětně odražené elektrony energie cca 0,8E 0 Augerovy elektrony vyražené z vnitřních slupek rentgenové záření interakční objem závisí na Z, úhlu dopadu, energii E 0
18 Režimy detekce Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Aplikace zpětně odražených elektronů topografický kontrast neobsahuje detaily (přímočarý pohyb) materiálový konstrast pro větší Z je signál silnější, mapování prvků magnetický kontrast doménové stěny, změna B ovlivní pohyb elektronů sekundárních elektronů pochází z hloubky max. 50 nm, vytváří je jak primární, tak zpětně odražené elektrony topografický kontrast je silný intenzita závisí na úhlu dopadu 1/ cos β napěťový kontrast malá energie vede ke snadnému ovlivnění, studium funkce IO rozlišení průměr svazku, typ interakce, stabilita vzorku doba měření sekundy až minuty
19 Konstrukce Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Aplikace zdroj elektronů jako v TEM jiný typ zobrazovací soustavy: svazek je na vzorku zaostřen do jednoho bodu zařazení vychylovací soustavy generátor skenování synchronizace s monitorem (CRT) opět ve vakuu podstatným prvkem je detektor zvětšení Z = l obr l vz
20 Konstrukce Aplikace Detekce sekundárních elektronů požadavky: vysoká citlivost: signál cca na pa ( e /s) široký dynamický rozsah (změna při přechodu mezi body až 1 : 100) účinnost: detektor registruje slabý signál v neideální pozici odolnost: detektor pracuje ve vakuu, světlo při výměně vzorku nejčastější konfigurace: scintilátor s vodivou folií na povrchu (potenciál 10 kv) světlovod (odvod signálu mimo vakuum) fotonásobič polovodičové detektory
21 Konstrukce Aplikace Everhart-Thornleyova konstrukce detektoru detekce sekundárních elektronů kladné napětí +400 V odsaje elektrony ze vzorku napětí 10 kv je urychlí před dopadem na scintilátor detekce zpětně odražených elektronů záporné napětí 100 V zbrzdí zpětně odražené elektrony a odpuzuje sekundární
22 Příprava vzorků Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Aplikace požadavky na vzorky: minimální podíl cizorodých částic stabilita ve vakuu i pod elektronovým svazkem minimální efekt nabíjení maximální odvod tepla lze zkoumat i velké vzorky, není podmínka na tloušťku (polo)vodivé vzorky nevyžadují zvláštní zpracování pro nevodivé vzorky je třeba: je pokovit zobrazovat s nižším urychlovacím napětím (1 kv) použít environmentální SEM biologické vzorky připravit podobně jako pro TEM
23 Problémy při měření Konstrukce Aplikace nabíjení vzorku náboj odchyluje elektrony, dopadají na detektor a zahlcují ho pohyb volných částí vlivem nabíjení vhodná volba napětí: vysoké napětí zvyšuje rozlišení nízké napětí snižuje efekt nabíjení nedokonalost zobrazovací soustavy okolní vlivy vibrace, elektromagnetické pole
24 Aplikace v biologii Konstrukce Aplikace Pyl
25 Transmisní elektronová mikroskopie Konstrukce Aplikace Aplikace na částice
26 Historie Transmisní elektronová mikroskopie první návrhy Synge, 1928, světelný princip časově srovnatelné s EM, ale bez využití experimentální ověření jeho závěrů O Keefe, 1956, centimetrové vlny první mikroskop Young, Topografiner, 1972, elektrický princip první úspěšná realizace G. Binnig a H. Rohrer, 1981, tunelování STM nejvýznamnější metoda AFM, 1986
27 Charakteristické vlastnosti SPM trojrozměrný obraz až s atomárním rozlišením měření bod po bodu skenování působení lokálních interakcí, rozlišení nezávisí na λ sběr informace jednotky až stovky nm od vzorku citlivost na povrch vzorků měření jen upevněných vzorků měření v různých prostředích (vzduch, vakuum, kapaliny) necitlivost na chemickou podstatu prezentace v pseudobarvách
28 historicky první technika SPM využívá průchodu elektrického proudu mezi hrotem a vzorkem není kontakt dochází k tunelování elektronů pravděpodobnost tunelování E F Vzorek φ Vzorek d Vakuum Hrot Hrot E F P e 2 2m(E V) d v případě shodných kovů a nulového napětí je P = P po přiložení napětí V prochází měřitelný proud pa
29 Princip měření Transmisní elektronová mikroskopie využívá se skenování (bod po bodu), obraz se sestavuje postupně počítačem měří se proud režim s konstantní výškou ukládá se trojice (x, y, I) velice rychlý, velké změny proudu možnost poškození hrotu režim s konstantním proudem udržuje konstantní proud I 0 ukládá se trojice (x, y, z) pomalejší, vyžaduje zpětnou vazbu nepožaduje extrémně rovný povrch
30 Konstrukce STM mikroskopu hrot vodivý a ostrý drát, až jeden atom na špičce nejčastěji wolfram nebo Pt-Ir důležitým parametrem je koncový poloměr a čistota hrotu skener pohybové zařízení musí mít dobrou přesnost piezokeramický různé konstukční typy, často trubičkové detektor ampérmetr elektronika zdroj napětí, řídicí počítač pevná mechanická konstrukce tlumení vibrací
31 Skener Transmisní elektronová mikroskopie skener pohybové zařízení musí mít dobrou přesnost piezokeramický různé konstukční typy, často trubičkové velké rozlišení pohybu v ose z až 0,001 nm v osách x a y až 0,01 nm nutnost nezávislého pohybu ve všech třech osách rozsahy pohybu laterálně do 100 µm, vertikálně do 20 µm relativně pomalé 250 µm/s lze také na jiných principech
32 Aplikace STM Transmisní elektronová mikroskopie Si vzorek musí být (polo)vodivý HOPG
33 Problematika STM výsledek měření závisí na velikosti napětí závisí i na polaritě napětí důležité typicky pro polovodiče možnost tunelovací spektroskopie
34 využívá silového působení mezi atomy nevyžaduje vodivý vzorek měří ohnutí nosníku vlivem působících sil Nosník Síla kontaktní režim r 0 Vzdálenost Hrot bezkontaktní režim
35 Kontaktní režim Transmisní elektronová mikroskopie hrot je v přímém kontaktu se vzorkem nosník se ohýbá od povrchu nutná malá tuhost nosníku režimy měření režim s konstantní výškou velice rychlý vhodný pro vysoké rozlišení velké změny ohnutí, projev nelinearit nosníku možnost poškození hrotu režim s konstantním ohnutím pomalejší, vyžaduje zpětnou vazbu nepožaduje extrémně rovný povrch
36 Problémy kontaktního režimu kontakt hrotu se vzorkem může vést k poškození vzorku laterálním pohybem uvolnění vzorku deformaci vzorku přítlačnou silou poškození vrcholu hrotu (otupení) kontaminace hrotu v případě biologických vzorků statická detekce může být citlivější na některé rušivé vlivy (např. interference)
37 Dynamické režimy bez stálého kontaktu řešení problémů měření ve větší vzdálenosti slabé síly slabý signál dynamické režimy Síla kontaktní režim r 0 Vzdálenost bezkontaktní režim
38 Dynamické režimy bez stálého kontaktu řešení problémů měření ve větší vzdálenosti slabé síly slabý signál dynamické režimy nosník je nuceně rozkmitáván (piezokeramika) volný nosník má rezonanční frekvenci ω r = k m vlivem vzorku se mění rezonanční frekvence nosníku ( ) ω r keff k F = m = z ( r) ω 0 1 F z( r) m 2k registruje se změna stavu (A, f, φ) vlivem gradientu síly
39 Dynamické režimy bez stálého kontaktu detekce poklesu amplitudy A frekvence f bud je konstantní setpoint r = A A 0 velikost r určuje sílu interakce f 0 f bud A A0 f robustní technika s jednoduchou konstrukcí (oscilátor, lock-in detektor) obtížné získání informace o F z (mění se f 0 i A)
40 Bezkontaktní režim parametry režimu vzdálenost hrotu 10 nm využití přitažlivých sil amplituda kmitů je menší než vzdálenost hrotu ( 1 nm) síly pn nn interakci zprostředkovávají síly dlouhého dosahu (van der Waalsovy, elektrostatické apod.) chemické s krátkým dosahem v ideálním případě nedojde ke kontaktu se vzorkem nosník musí být hodně tuhý, aby nedošlo k zachycení ve vrstvě vody (energie 1 2 ka2 ) při malých amplitudách problémy s nestabilitou snadná linearizace teorie
41 Semikontaktní režim princip podobný jako u nekontaktního režimu kmitání na volné rezonanční frekvenci amplituda kmitů tak velká, že dochází k periodickému kontaktu hrotu se vzorkem velká amplituda zabraňuje zachycení hrotu působí i odpudivé interakce laterální posuv nezpůsobí poškození silná interakce může vést k deformaci povrchu složitější teorie než u bezkontaktního režimu Vzorek
42 Semikontaktní a bezkontaktní režim semikontaktní režim je citlivý i na lokální elastické vlastnosti může zobrazit i podpovrchové struktury silná interakce může deformovat povrch vzorku bezkontaktní režim může zobrazovat vodní vrstvu místo vzorku problémy se stabilitou při malých amplitudách
43 Způsoby měření Transmisní elektronová mikroskopie Obdobně jako v kontaktním režimu: s konstantní amplitudou využívá zpětnou vazbu ke změně výšky hrotu, uchovává trojici (x, y, z V piezo ) možnost měření chybového signálu běžný setpoint 50 % s konstantní výškou stálá výška hrotu, uchovává trojici typu (x, y, A )
44 Konstrukce AFM mikroskopu složitější elektronika (detekce) hrot nejčastěji je integrovaný s nosníkem materiály Si, Si 3 N 4, příp. opatřené vrstvou koncové poloměry 10 nm, lepší jen dalším zpracováním využití nanotrubiček potřeba detektoru ohnutí laserová páka Laser Detektor Zrcátko Skener Nosník Hrot
45 Příprava vzorků Transmisní elektronová mikroskopie pevné materiály jen vhodné rozměry a vyhovující pevnost, nelepivé, očištěné práškové materiály nutnost částice nanést na vhodný povrch volba roztoku (nejlépe voda) vliv podmínek vysoušení teplota, doba deformace částic na podložce dispergace částic, použití UZ selekce velikostí způsobem přípravy selekce výběrem místa měření (velké shluky obtížně měřitelné) možnost ovlivnění i upevněním (magnetické částice)
46 Podložky Transmisní elektronová mikroskopie je třeba velmi hladkých podložek nejčastěji sloupnutá slídová destička, sklo, Si lze použít chemickou fixaci (APTES, poly-l-lysin a další) drsnost vrstvy musí být znatelně menší než velikost částic vrstva nesmí ovlivňovat hrot
47 Aplikace AFM Transmisní elektronová mikroskopie griphywaldense Nanočástice Fe 2 O 3 Magnetospirillum
48 Monovrstvy částic latexu kalibrační kuličky 1,1 µm velmi snadno tvoří monovrstvy
49 Semikontaktní a kontaktní režim tkanina z nanovláken
50 Semikontaktní a kontaktní režim tkanina z nanovláken
51 Atomární a subatomární rozlišení Si 7 7, NC-AFM obrácené role vzorek HOPG, hrot W, vakuum, 4,2 K rozlišení 77 pm
52 Artefakty zobrazení prostorová konvoluce zkreslení vlivem konečné tloušťky hrotu ovlivňuje i výsledné rozlišení projeví se vznikem opakujících se struktur
53 Rozlišení AFM Transmisní elektronová mikroskopie schopnost atomárního rozlišení skutečné at. rozlišení v současnosti v nekontaktním režimu často jen atomární periodicita i rozlišení různých atomů zvětšení laterálních rozměrů
54 Srovnání EM a AFM trojrozměrné a dvojrozměrné zobrazení vertikální a laterální ohodnocení shlukování částic při přípravě, podložky velikost zobrazované plochy energie elektronového svazku interakce s hrotem rozdílnost atomárních zobrazení požadavky na vzorky a snadnost přípravy okolní prostředí, in-situ možnost měření dalších parametrů
55 Odvozené metody založené na STM skenovací kapacitní mikroskopie (SCM) teplotní skenovací mikroskopie (SThM) mikroskopie šumového napětí (SNM) založené na AFM mikroskopie laterálních sil (LFM) mikroskopie magnetických sil (MFM) mikroskopie modulovaných sil (FMM) vodivostní AFM (C-AFM) mikroskopie chemických sil
56 Mikroskopie laterálních sil vychází z AFM, detekuje zkrut nosníku je citlivá na laterální síly tření umožňuje materiálový kontrast nežádoucí projevy topografie ideální rovinný vzorek
57 Optická mikroskopie v blízkém poli řada měřicích režimů rozlišení nm sondy z leptaných optických vláken
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil M. Vůjtek Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky v rámci projektu Vzdělávání výzkumných
VíceTechniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
VíceElektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
VíceMikroskopie rastrující sondy
Mikroskopie rastrující sondy Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Metody mikroskopie rastrující sondy SPM (scanning( probe Microscopy) Metody mikroskopie rastrující sondy soubor
VíceMikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka
Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití
VíceProč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
VíceZobrazovací metody v nanotechnologiích
Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší
VíceMikroskopické techniky
Mikroskopické techniky Světelná mikroskopie Elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou Zkráceno z přednášky doc. RNDr. R. Kubínka, CSc. Zdroj informací: http://apfyz.upol.cz/ucebnice/elmikro.html
VíceElektronová Mikroskopie SEM
Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne
VíceMikroskop atomárních sil
Mikroskop atomárních sil ÚVOD, VYUŽITÍ Patří do skupiny nedestruktivních metod se skenovacím čidlem Ke zobrazení není zapotřebí externí zdroj částic Zobrazuje strukturu povrchu v atomárním rozlišení ve
Více3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).
PŘEDMĚTY KE STÁTNÍM ZÁVĚREČNÝM ZKOUŠKÁM V BAKALÁŘSKÉM STUDIU SP: CHEMIE A TECHNOLOGIE MATERIÁLŮ SO: MATERIÁLOVÉ INŽENÝRSTVÍ POVINNÝ PŘEDMĚT: NAUKA O MATERIÁLECH Ing. Alena Macháčková, CSc. 1. Souvislost
VíceMikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Jednotlivé komponenty mikroskopu AFM Funkce, obecné nastavení parametrů a jejich vztah ke konkrétním funkcím software Nova Verze 20110706 Jan Přibyl,
VíceMetody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce
Metody využívající rentgenové záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 Rentgenovo záření 2 Rentgenovo záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá se v lékařství a krystalografii.
VíceMetody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie
VíceMetody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření
Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá
VíceVěra Mansfeldová. vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
Mikroskopie, která umožnila vidět Feynmanův svět Věra Mansfeldová vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. Richard P. Feynman 1918-1988 1965 - Nobelova
VíceMorfologie částic Fe 2 O 3. studium pomocí AFM
Morfologie částic Fe 2 O 3 studium pomocí AFM 25. 1. 2001 Plán přednášky Mikroskopie atomárních sil Artefakty důležité pro studium částic Oxidy železa, příprava vzorků Výsledky Diskuze Mikroskopie atomárních
VíceZákladem AFM je velmi ostrý hrot, který je upevněn na ohebném nosníku (angl. cantilever, tento termín se používá i v češtině).
AFM mikroskop Obsah: AFM mikroskop... 1 Režimy snímání povrchu... 1 Konstrukce AFM... 3 Vlastnosti AFM... 3 Rozlišení AFM... 3 Historie AFM... 4 Využití AFM... 4 Modifikace AFM... 5 Závěr... 5 Literatura
VíceMetody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
VíceSKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony
VíceElektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová
VíceCo je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)
Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) -přenesení dané struktury na povrch strukturovaného substrátu Princip - interakce
VíceELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII
ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25
VíceC Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289
OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17
VíceTRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, UP Olomouc 4.12.2009 Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah konstrukce transmisního elektronového mikroskopu
VíceVlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Mikroskopie Rozlišovací schopnost lidského oka cca 025 0,25mm Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VíceAnalýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod
1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek
VíceINTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
VíceNanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou
Nanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Katedra experimentální fyziky Přírodovědecké fakulty, Univerzita Palackého v Olomouci Elektronová
VíceDIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ
DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ T. Jeřábková Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 ter.jer@seznam.cz V. Košař Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 vlastik9a@atlas.cz G. Malenová Gymnázium Třebíč malena.vy@quick.cz
VíceM I K R O S K O P I E
Inovace předmětu KBB/MIK SVĚTELNÁ A ELEKTRONOVÁ M I K R O S K O P I E Rozvoj a internacionalizace chemických a biologických studijních programů na Univerzitě Palackého v Olomouci CZ.1.07/2.2.00/28.0066
VíceMETODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
VíceZákladní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi
LRR/BUBCV CVIČENÍ Z BUNĚČNÉ BIOLOGIE 1. SVĚTELNÁ MIKROSKOPIE A PREPARÁTY V MIKROSKOPII TEORETICKÝ ÚVOD: Mikroskopie je základní metoda, která nám umožňuje pozorovat velmi malé biologické objekty. Díky
VíceMĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT
MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT Teoretická část: 1. Co je podstatou měření v Semikontaktním režimu. Na křivce zobrazující průběh silového působení mezi hrotem a povrchem vzorku
VíceMikroskopické metody Přednáška č. 3. Základy mikroskopie. Kontrast ve světelném mikroskopu
Mikroskopické metody Přednáška č. 3 Základy mikroskopie Kontrast ve světelném mikroskopu Nízký kontrast biologických objektů Nízký kontrast biologických objektů Metodika přípravy objektů pro světelnou
VíceDifrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů T. Sýkora 1, M. Lanč 2, J. Krist 3 1 Gymnázium Českolipská, Českolipská 373, 190 00 Praha 9, tomas.sykora@email.cz 2 Gymnázium Otokara Březiny a SOŠ Telč,
VíceFyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)
Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Praktikum z pevných látek (F6390) Zpracoval: Michal Truhlář Naměřeno: 13. března 2007 Obor: Fyzika Ročník: III Semestr:
VíceElektronová mikroskopie a mikroanalýza-2
Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2 elektronové dělo elektronové dělo je zařízení, které produkuje elektrony uspořádané do svazku (paprsku) elektrony opustí svůj zdroj katodu- po dodání určité množství
VíceNejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku
Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku V tomto článku uvádíme shrnutí poznatků učiva II. ročníku
VíceOptická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická
VíceDifrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů Ondřej Ticháček, PORG, ondrejtichacek@gmail.com Eva Korytiaková, Gymnázium Nové Zámky, korpal@pobox.sk Abstrakt: Jak vypadá vnitřek hmoty? Lze spatřit
VíceNanolitografie a nanometrologie
Nanolitografie a nanometrologie 1 Nanolitografie 2 Litografie svazkem 3 Softlitografie 4 Skenovací nanolitografie Nanolitografie Poznámky k tvorbě nanostruktur tvorba užitečných nanostruktur vyžaduje spojení
VíceGeometrická optika. předmětu. Obrazový prostor prostor za optickou soustavou (většinou vpravo), v němž může ležet obraz - - - 1 -
Geometrická optika Optika je část fyziky, která zkoumá podstatu světla a zákonitosti světelných jevů, které vznikají při šíření světla a při vzájemném působení světla a látky. Světlo je elektromagnetické
Více4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4.1 Mikrostruktura stavebních hmot 4.1.1 Úvod Vlastnosti pevných látek, tak jak se jeví při makroskopickém zkoumání, jsou obrazem vnitřní struktury materiálu. Vnitřní
VíceLaboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech
Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Úkoly měření: 1. Odhad rozměrů mikro-objektů z informací uváděných výrobcem. 2. Záznam difrakčních obrazců (difraktogramů) vzniklých interakcí laserového
VíceUltrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský
Ultrazvuková defektoskopie Vypracoval Jan Janský Základní principy použití vysokých akustických frekvencí pro zjištění vlastností máteriálu a vad typické zařízení: generátor/přijímač pulsů snímač zobrazovací
VíceElektronová mikroskopie II
Elektronová mikroskopie II Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Transmisní elektronová mikroskopie TEM Informace zprostředkována prošlými e - (TE, DE) Umožň žňuje studium vnitřní
VícePřednáška 5. SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) Martin Kormunda
Přednáška 5 SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) Mikroskopie skenovací sondou Mikroskopie skenující (rastrující) sondou (Scanning Probe
VíceOptika pro mikroskopii materiálů I
Optika pro mikroskopii materiálů I Jan.Machacek@vscht.cz Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha +42-0- 22044-4151 Osnova přednášky Základní pojmy optiky Odraz a lom světla Interference, ohyb a rozlišení optických
VíceFyzika II, FMMI. 1. Elektrostatické pole
Fyzika II, FMMI 1. Elektrostatické pole 1.1 Jaká je velikost celkového náboje (kladného i záporného), který je obsažen v 5 kg železa? Předpokládejme, že by se tento náboj rovnoměrně rozmístil do dvou malých
VíceFotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát
Michal Veselý, 00 Základní části fotografického aparátu tedy jsou: tělo přístroje objektiv Pochopení funkce běžných objektivů usnadní zjednodušená představa, že objektiv jako celek se chová stejně jako
VíceFotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm
VíceMIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ
Mikroskopické techniky MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Slouží k vizualizaci mikroorganismů Antoni van Leeuwenhoek (1632-1723) Čočka zvětšující 300x Různé druhy mikroskopů, které se liší
VícePrincip rastrovacího konfokálního mikroskopu
Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus
VíceMikroskopie atomárních sil
Mikroskopie atomárních sil Roman Kubínek, Milan Vůjtek, Renata Holubová Katedra experimentální fyziky přírodovědecké fakulty Univerzity Palackého v Olomouci 1 Úvod V řadě oblastí vědy a techniky se usiluje
VíceJ = S A.T 2. exp(-eφ / kt)
Vakuové součástky typy a využití Obrazovky: - osciloskopické - televizní + monitory Elektronky: - vysokofrekvenční (do 1 GHz, 1MW) - mikrovlnné elektronky ( až do 20 GHz, 10 MW) - akustické zesilovače
VíceStudentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012
Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012 MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE Josef KUDĚLKA, Tomáš MARTÍNEK Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně Fakulta aplikované informatiky Nad Stráněmi 4511 760 05 Zlín
VíceSNÍMAČE PRO MĚŘENÍ TEPLOTY
SNÍMAČE PRO MĚŘENÍ TEPLOTY 10.1. Kontaktní snímače teploty 10.2. Bezkontaktní snímače teploty 10.1. KONTAKTNÍ SNÍMAČE TEPLOTY Experimentální metody přednáška 10 snímač je připevněn na měřený objekt 10.1.1.
VíceStudium vybraných buněčných linií pomocí mikroskopie atomárních sil s možným využitím v praxi
Studium vybraných buněčných linií pomocí mikroskopie atomárních sil s možným využitím v praxi Petr Kolář, Kateřina Tománková, Jakub Malohlava, Hana Kolářová, ÚLB Olomouc 2013 atomic force microscopy mikroskopie
VíceANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX
/ 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)
VíceTestování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
Více2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu.
1 Pracovní úkoly 1. Změřte střední velikost zrna připraveného výbrusu polykrystalického vzorku. K vyhodnocení snímku ze skenovacího elektronového mikroskopu použijte kruhovou metodu. 2. Určete frakční
VíceMĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT
MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT Teoretická část: 1. Vysvětlete piezoelektrický jev, kde nejvíce a proč je využíván v SPM mikroskopii. 2. Co je podstatou měření v Kontaktním režimu.
VíceTRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
TENTO MATERIÁL SLOUŽÍ JAKO PRACOVNÍ TEXT (DOPLNĚK K PRAKTICKÝM ÚLOHÁM) TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Transmisní elektronová mikroskopie je jednou z experimentálních metod, bez kterých se v současné
VíceChemie a fyzika pevných látek p2
Chemie a fyzika pevných látek p2 difrakce rtg. záření na pevných látkch, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie Kratochvíl
VíceElektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II
Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda
VíceProfilová část maturitní zkoušky 2017/2018
Střední průmyslová škola, Přerov, Havlíčkova 2 751 52 Přerov Profilová část maturitní zkoušky 2017/2018 TEMATICKÉ OKRUHY A HODNOTÍCÍ KRITÉRIA Studijní obor: 78-42-M/01 Technické lyceum Předmět: FYZIKA
Vícelní mikroskop LEXT OLS 3100
Moderní technologie ve studiu aplikované fyziky reg. č.: CZ.1.07/2.2.00/07.0018. Laserový rastrovací konfokáln lní mikroskop LEXT OLS 3100 Hana Šebestová Společná laboratoř optiky Univerzity Palackého
VíceElektromagnetické vlnění
Elektromagnetické vlnění kolem vodičů elmag. oscilátoru se vytváří proměnné elektrické i magnetické pole http://www.walter-fendt.de/ph11e/emwave.htm Radiotechnika elmag vlnění vyzářené dipólem můžeme zachytit
VíceZákladní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje
Optické zobrazování Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje Základní pojmy Optické zobrazování - pomocí paprskové (geometrické) optiky - využívá model světelného
VíceOptická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka
Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova
VíceMaturitní témata fyzika
Maturitní témata fyzika 1. Kinematika pohybů hmotného bodu - mechanický pohyb a jeho sledování, trajektorie, dráha - rychlost hmotného bodu - rovnoměrný pohyb - zrychlení hmotného bodu - rovnoměrně zrychlený
VíceMikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace
Mikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace Úvod SPM scanning probe microscopy mikroskopie skenující sondou Soubor experimentálních metod určených ke studiu struktury povrchu s atomárním rozlišením
VíceIonizační manometry. Při ionizaci plynu o koncentraci n nejsou ionizovány všechny molekuly, ale jenom část z nich n i = γn ; γ < 1.
Ionizační manometry Princip: ionizace molekul a měření počtu nabitých částic Rozdělení podle způsobu ionizace: Manometry se žhavenou katodou Manometry se studenou katodou Manometry s radioaktivním zářičem
VíceChemie a fyzika pevných látek l
Chemie a fyzika pevných látek l p2 difrakce rtg.. zářenz ení na pevných látkch,, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie
VíceVETERINÁRNÍ A FARMACEUTICKÁ UNIVERZITA BRNO ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE PRO PŘEDMĚT INSTRUMENTÁLNÍ ANALYTICKÉ METODY VE FARMACEUTICKÉ TECHNOLOGII
VETERINÁRNÍ A FARMACEUTICKÁ UNIVERZITA BRNO FARMACEUTICKÁ FAKULTA ÚSTAV TECHNOLOGIE LÉKŮ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE PRO PŘEDMĚT INSTRUMENTÁLNÍ ANALYTICKÉ METODY VE FARMACEUTICKÉ TECHNOLOGII Studijní materiál
Více- Ideálně koherentním světelným svazkem se rozumí elektromagnetické vlnění o stejné frekvenci, stejném směru kmitání a stejné fázi.
P7: Optické metody - V klasické optice jsou interferenční a difrakční jevy popisovány prostřednictvím ideálně koherentních, ideálně nekoherentních, později také částečně koherentních světelných svazků
VíceMikroskopie a zobrazovací technika. Studentská 1402/ Liberec 1 tel.: cxi.tul.cz
Mikroskopie a zobrazovací technika Oddělení vozidel a motorů Vizualizační technika Sledování dějů ve spalovacím motoru Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení
VíceModerní mikroskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou
Moderní mikroskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Katedra experimentální fyziky Přírodovědecké fakulty, Univerzita Palackého v Olomouci Elektronová
VíceRentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm
Rtg. záření: Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm Vznik rtg. záření: 1. Rtg. záření se spojitým spektrem vzniká při prudkém zabrzdění urychlených elektronů.
VíceANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek
/ 1 ZPRACOVAL Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL PhDr. Margaréta Musilová Mestský ústav ochrany pamiatok Uršulínska 9 811 01 Bratislava OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Energiově-disperzní
VíceTypy světelných mikroskopů
Typy světelných mikroskopů Johann a Zacharias Jansenové (16. stol.) Systém dvou čoček délka 1,2 m 17. stol. Typy světelných mikroskopů Jednočočkový mikroskop 17. stol. Typy světelných mikroskopů Italský
VíceOptické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí
Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí Doc. Ing. Eva Nezbedová, CSc. Polymer Institute Brno Ing. Zdeňka Jeníková, Ph.D. Ústav materiálového inženýrství, Fakulta strojní, ČVUT
VíceMikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 tel.: +420 485 353 006 cxi.tul.cz
Mikroskopie, zobrazovací technika Vizualizační technika Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení je optické měřící zařízení pro měření teplot (VISIOFEM Temperature
VíceFyzika, maturitní okruhy (profilová část), školní rok 2014/2015 Gymnázium INTEGRA BRNO
1. Jednotky a veličiny soustava SI odvozené jednotky násobky a díly jednotek skalární a vektorové fyzikální veličiny rozměrová analýza 2. Kinematika hmotného bodu základní pojmy kinematiky hmotného bodu
VíceTeorie rentgenové difrakce
Teorie rentgenové difrakce Vlna primárního záření na atomy v krystalu. Jádra atomů zůstanou vzhledem ke své velké hmotnosti v klidu, ale elektrony jsou rozkmitány se stejnou frekvencí jako má primární
VíceSpeciální spektrometrické metody. Zpracování signálu ve spektroskopii
Speciální spektrometrické metody Zpracování signálu ve spektroskopii detekce slabých signálů synchronní detekce (Lock-in) čítaní fotonů měření časového průběhu signálů metoda fázového posuvu časově korelované
VíceVÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ
VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ P. Novák, J. Novák Katedra fyziky, Fakulta stavební, České vysoké učení technické v Praze Abstrakt V práci je popsán výukový software pro
VíceČeské vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. Příloha formuláře C OKRUHY
Příloha formuláře C OKRUHY ke státním závěrečným zkouškám BAKALÁŘSKÉ STUDIUM Obor: Studijní program: Aplikace přírodních věd Základy fyziky kondenzovaných látek 1. Vazebné síly v kondenzovaných látkách
VíceSNÍMAČE PRO MĚŘENÍ DEFORMACE
SNÍMAČE PRO MĚŘENÍ DEFORMACE 8.1. Odporové tenzometry 8.2. Optické tenzometry 8.3. Bezkontaktní optické metody 8.1. ODOPROVÉ TENZOMETRY 8.1.1. Princip měření deformace 8.1.2. Kovové tenzometry 8.1.3. Polovodičové
VíceSpektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS
Spektroskopické é techniky a mikroskopie Spektroskopie metody zahrnující interakce mezi světlem (fotony) a hmotou (elektrony a protony v atomech a molekulách Typy spektroskopických metod IR NMR Elektron-spinová
VíceViková, M. : MIKROSKOPIE II Mikroskopie II M. Viková
II Mikroskopie II M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Osvětlovac tlovací soustava I Výsledkem Köhlerova nastavení je rovnoměrné a maximální osvětlení průhledného preparátu, ležícího
VíceDOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj
DOUTNAVÝ VÝBOJ Další technologie využívající doutnavý výboj Plazma doutnavého výboje je využíváno v technologiích depozice povlaků nebo modifikace povrchů. Jedná se zejména o : - depozici povlaků magnetronovým
VíceKatedra geotechniky a podzemního stavitelství
Katedra geotechniky a podzemního stavitelství Geotechnický monitoring učební texty, přednášky Způsoby monitoringu doc. RNDr. Eva Hrubešová, Ph.D. Inovace studijního oboru Geotechnika CZ.1.07/2.2.00/28.0009.
VíceFOTOAKUSTIKA. Vítězslav Otruba
FOTOAKUSTIKA Vítězslav Otruba 2010 prof. Otruba 2 The spectrophone 1881 A.G. Bell návrh a Spektrofonu (spectrophone) pro účely posouzení absorpčního spektra subjektů v těch částech, které jsou neviditelné.
VíceKrystalografie a strukturní analýza
Krystalografie a strukturní analýza O čem to dneska bude (a nebo také nebude): trocha historie aneb jak to všechno začalo... jak a čím pozorovat strukturu látek difrakce - tak trochu jiný mikroskop rozptyl
VíceRTG difraktometrie 1.
RTG difraktometrie 1. Difrakce a struktura látek K difrakci dochází interferencí mřížkou vychylovaných vln Když dochází k rozptylu vlnění na různých atomech molekuly či krystalu, tyto vlny mohou interferovat
VíceÚvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál ty i hlavní typy nepružných srážkových proces pr chodu energetických
VíceJak měřit NANO Nástroje pro měření a vyhodnocování nanostruktur
Roman Kubínek Jak měřit NANO Nástroje pro měření a vyhodnocování nanostruktur Projedeme li se nanotechnologickou laboratoří, nalezneme celou řadu přístrojů, které slouží k detailnímu popisu, zpravidla
VíceSpolečná laboratoř optiky. Skupina nelineární a kvantové optiky. Představení vypisovaných témat. bakalářských prací. prosinec 2011
Společná laboratoř optiky Skupina nelineární a kvantové optiky Představení vypisovaných témat bakalářských prací prosinec 2011 O naší skupině... Zařazení: UP PřF Společná laboratoř optiky skupina nelin.
Více