ZADÁVACÍ DOKUMENTACE

ZADÁVACÍ DOKUMENTACE ZADÁVACÍ PODMÍNKY NADLIMITNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY NA DODÁVKY dle zákona o veřejných zakázkách č. 137/2006 Sb. ve znění pozdějších předpisů (dále jen zákon nebo ZVZ ) Název veřejné zakázky: Nákup skenovacího elektronového mikroskopu s autoemisním zdrojem elektronů (FEG), kombinovaného s iontovým skenovacím mikroskopem (FIB) Druh veřejné zakázky: nadlimitní zakázka otevřené řízení dle 21 odst. 1 písm. a) a 27 a násl. ZVZ (dodávky) Identifikační údaje zadavatele: Obch. název zadavatele: Univerzita Karlova v Praze sídlo, místo podnikání: Ovocný trh 3/, 116 36 Praha 1 týká se: Matematicko-fyzikální fakulta sídlo: Ke Karlovu 2027/3, 121 16 Praha 2 IČ: 00216208 DIČ: CZ00216208 stát: CZ právní forma zadavatele: 601 kód obce dle ZÚJ: 00089 osoba oprávněná za zadavatele jednat: Prof. RNDr. Jan Kratochvíl, CSc., děkan, nebo Ing. Antonín Líska, tajemník kontaktní osoba zadavatele: doc. RNDr. Miloš Janeček, CSc., vedoucí Katedry fyziky materiálů nebo doc. RNDr. Josef Pešička CSc., vědecký pracovník nebo RNDr. Petr Harcuba, vědecký pracovník, nebo RNDr. Josef Stráský, vědecký pracovník. tel.: +420 221 911 38 fax: +420 221 911 490 e-mail: janecek@met.mff.cuni.cz, pesicka@met.mff.cuni.cz Administrace zadávacího řízení společnost, zastupující zadavatele v zadávacím řízení podle 11 ZVZ (dále jen administrátor) na základě plné moci identifikační a kontaktní údaje: Obch. název: ORGAMET s.r.o. Vedená Městským soudem v Praze, oddíl C, vložka 131649 sídlo, místo podnikání: Vaníčkova 31/7, 169 00 Praha 6, Břevnov IČ: 281 88 98 DIČ: CZ2818898 osoba oprávněná za společnost jednat: Ing. Miloslav Široký, jednatel GSM: +420 723 363 087 e-mail: siroky@orgamet.cz

OBSAH: 1. Klasifikace předmětu veřejné zakázky... 3 2. Vymezení předmětu veřejné zakázky... 3 3. Specifikace, technické podmínky... 3 4. Poskytnutí zadávací dokumentace... 7. Požadavky na varianty nabídek... 7 6. Termíny plnění... 7 7. Místo plnění... 7 8. Dodatečné informace k zadávacím podmínkám... 7 9. Prohlídka místa plnění... 7 10. Požadavky na způsob zpracování nabídkové ceny... 8 11. Podmínky, při jejichž splnění je možno překročit výši nabídkové ceny... 8 12. Obchodní podmínky... 8 13. Platební podmínky... 8 14. Jistota... 8 1. Způsob hodnocení nabídek... 8 16. Požadavky na prokázání kvalifikace... 12 17. Subdodavatelský systém... 1 18. Podmínky a požadavky na zpracování nabídky... 1 19. Obsah, závazná struktura nabídky... 1 20. Lhůta a místo pro podání nabídek... 16 21. Zadávací lhůta... 17 22. Ostatní podmínky zadávacího řízení... 17 Přílohy: příloha č. 1 příloha č. 2 příloha č. 3 příloha č. 4 příloha č. VZOR č. 1 Krycí list nabídky VZOR č. 2 Čestné prohlášení podle 3, odst. 1, písm. c) až e), a g), i) až k) ZVZ VZOR č. 3 Čestné prohlášení o ekonomické a finanční způsobilosti dle 0, odst. 1, písm. b) ZVZ VZOR č. 4 Informace o uchazeči podle 68, odst. 3 ZVZ VZOR č. Návrh smlouvy V Praze dne 19.07.2013 Strana 2 (celkem 17)

1. KLASIFIKACE PŘEDMĚTU VEŘEJNÉ ZAKÁZKY Popis: CPV: Měr. jednotka Rozsah: Elektronové mikroskopy 3811000-0 ks 1 2. VYMEZENÍ PŘEDMĚTU VEŘEJNÉ ZAKÁZKY Předmětem výběrového řízení je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s FEG katodou se sloupcem s iontovým svazkem (FIB) a analytickými detektory. 3. SPECIFIKACE, TECHNICKÉ PODMÍNKY 3.1. POUŽITÍ: Předmětem zakázky je nový kompletní skenovací elektronový mikroskop s termoemisní FEG katodou. Mikroskop musí být vhodný pro špičkové aplikace v oblasti studia kovových, keramických a kompozitních materiálů. Musí umožňovat zobrazení magnetických a nevodivých vzorků při vysokých zvětšeních. Mikroskop musí být vybaven kvalitním analyzátorem pro stanovení chemického složení mikroobjemů materiálů pomocí energiově-dispersní mikroanalýzy rtg-záření (EDS) typu SDD. Dále musí být vybaven kvalitním analyzátorem signálu difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD). Mikroskop musí být vybaven fokusovaným iontovým svazkem, který umožňuje odprašování materiálu za účelem výroby lamely pro transmisní elektronovou mikroskopii a také 3D zobrazování pomocí EDS a EBSD. Mikroskop musí poskytovat kvalitní zobrazení povrchů při vysokých zvětšeních pomocí standardních detektorů umístěných v komoře vzorku, i detektorů umístěných v čočkách nebo sloupci mikroskopu. Dále musí být vybaven detektorem pro pozorování v prošlých elektronech (STEM). Musí umožňovat zobrazování při velmi nízké energii dopadajících elektronů. Součástí mikroskopu musí být zařízení pro čištění povrchu vzorků pomocí plazmového výboje přímo v komoře mikroskopu. Mikroskop musí být vybaven dvěma kvalitními PC systémy, jedním pro řízení SEM a druhým pro EDS+EBSD. Přístroj musí být dodán včetně periferních zařízení nutných k jeho nezávislému provozu (např. vodní chlazení, kompresor pro tlakový vzduch, UPS, atd.). Podrobněji je předmět zakázky specifikován v čl. 3.2. této zadávací dokumentace a v obchodních podmínkách (viz vzor kupní smlouvy). Informace a údaje uvedené v jednotlivých částech této zadávací dokumentace vymezují závazné požadavky zadavatele na plnění veřejné zakázky. Tyto požadavky je uchazeč povinen respektovat při zpracování své nabídky a ve své nabídce je plně a bezvýjimečně akceptovat. V případě, že předmět plnění této veřejné zakázky obsahuje odkazy na specifická označení výrobků a služeb, která platí pro určitého podnikatele za příznačná, umožňuje zadavatel použití i jiných, kvalitativně a technicky obdobných řešení. 3.2. MINIMÁLNÍ TECHNICKÉ POŽADAVKY, KTERÉ MUSÍ MIKROSKOP SPLŇOVAT: Elektronový zdroj: 1. Elektronová tryska FEG typu Schottky s vysokým jasem, schopná poskytnout proud svazku v rozsahu minimálně 4 pa až 100 na. 2. Rozsah urychlovacího napětí ve standardním módu minimálně 00 V až 30 kv. Elektronová optika: 1. Garantované rozlišení ve standardním módu (tj. v režimu vysokého vakua bez Beam Deceleration ) bez plasmového čištění. Rozlišení vypočítáno metodou obrazové analýzy, která bere v úvahu kvalitu celé plochy obrazu - preferována je metoda detekující strmost změny jasu na hranicích objektů (derivační metoda): a. při 30 kv ne horší než 1, nm, Strana 3 (celkem 17)

b. při 1 kv ne horší než 2 nm, c. při 1 kv ne horší než 6 nm. 2. Možnost uložení nastavení mikroskopu pro různé uživatele. 3. Možnost rotace skenování, tj. možnost měnit úhel řádkování při rotaci obrazu. Fokusovaný iontový svazek - FIB: 1. Fokusovaný autoemisní zdroj iontů galia v tekutém stavu. 2. Rozlišení 7 nm nebo lepší při 30 kv v koincidenčním bodě SEM-FIB. 3. Rozsah napětí nejméně 1 30 kv. 4. Rozsah proudů nejméně 2pA 40 na.. Ovládání FIB plně integrované v základním uživatelském rozhraní (indikace všech parametrů zdroje a možnost jejich nastavování). 6. Motorizovaná změna apertury. 7. Možnost přípravy lamely pro transmisní elektronovou mikroskopii (TEM). Možnost přenesení lamely na držák pro TEM. 8. Možnost odprašování (vyčištění) povrchu vzorku pomocí FIBového svazku pod nízkým úhlem. 9. Automatizované odprašování pro simultánní 3D pozorování EDS+EBSD. Detektory a součásti komory: 1. Standardní detektor sekundárních elektronů SE umístěný v komoře. 2. Standardní retraktabilní detektor zpětně odražených elektronů BSE (polovodičový nebo YaG) umístěný v komoře a po zasunutí v ose elektronového svazku pro materiálový a orientační (chanelling) kontrast. 3. Detektor sekundárních elektronů umístěný v čočce nebo sloupci elektronového tubusu. 4. Detektor prošlých elektronů umožňující zobrazení ve světlém a tmavém poli s rozlišením 1 nm nebo lepším při napětí 30 kv.. Nejméně jedna kamera pro zobrazení vnitřního prostoru komory pohledem ze strany pro kontrolu vzdálenosti vzorku od pólového nástavce/detektorů. 6. Nanomanipulátor umístěný na stropě komory s nejmenším krokem menším než 20nm pro přesunutí TEM lamely. 7. Zařízení pro depozici platinového prekurzoru (GIS) s ovládáním integrovaném v základním uživatelském rozhraní. 8. Možnost přehledového zobrazení držáku se vzorky pohledem shora (možnost získat obrázek celého stolku s velmi malým zvětšením, přípustné jsou metody pomocí přídavné CCD kamery nebo snímání stolku elektronovým svazkem v režimu fish-eye ). Zpracování signálů a obrazu: 1. Automatické nastavení jas-kontrast (ACB) a zaostření (AF). 2. Vypínatelné kontinuální přeostřování při skenování skloněného vzorku (dynamický fokus). 3. Softwarová korekce náklonu vzorku. 4. Současné zobrazení alespoň dvou živých obrazů, možnost současné akvizice signálu z SE a BSE detektorů.. Obrazové formáty přinejmenším TIF, BMP a JPG. 6. Software pro základní obrazovou analýzu (měření délek), vkládání měřítek do snímků a vytváření protokolu o pozorování. 7. Možnost 3D tomografie s využitím zobrazovacích detektorů (SE nebo BSE) automatický software zajišťující opakované odřezávání plátků pomocí FIB a akvizici dat pomocí SE nebo BSE. 8. Korekce driftu při akvizici signálu SE nebo BSE. 9. Možnost nahrávání videa ve formátu *.avi. Komora a stolek vzorku: 1. Velká komora, vybavená dostatečným počtem portů, možnost do budoucna rozšíření mikroskopu o AFM, deformační a vyhřívací stolek, další mikromanipulátory, atd. 2. Akustické upozornění a přerušení pohybů při dotyku vzorku či držáku a části komory nebo detektoru (ochrana komory a detektorů). 3. Aktivní nebo pasivní odpružení komory. 4. Dosažitelné vakuum v komoře lepší než 9e-4 Pa.. Dekontaminátor (plasmový čistič) umožňující čištění povrchu vzorku přímo v komoře mikroskopu. 6. Stolek vzorku s motorickým ovládáním nejméně v -ti osách. 7. Minimální rozsah pohybu vzorku v jednotlivých osách: X 100 mm, Y 100 mm, Z 40 mm, Rotace 360, Náklon -4 až 70 8. Zobrazovaná oblast se zachovává při náklonu i rotaci vzorku (tj. eucentrická osa, kompucentrická rotace). Strana 4 (celkem 17)

9. Maximální rozměry vzorku pro rutinní zakládání do komory min. (šxhxv) 80x80x40 mm. 10. Možnost současné analýzy EDS a EBSD (tj. při náklonu 70 ). 11. Zavzdušňování komory dusíkem (stlačený dusík zajistí kupující). 12. Možnost měřit proud procházející vzorkem. 13. Součástí nabídky musejí být vhodné držáky vzorků pro SEM pozorování, výrobu TEM lamely, uchycení TEM lamely pro přenesení do TEM, 2D EDS a EBSD pozorování, 3D EDS a EBSD pozorování, pozorování pomocí detektoru STEM. Doplňkové přístroje k SEM: 1. Multifunkční kontrolní panel s možností ovládání základních prvků mikroskopu (ostření, zvětšení, kontrast, jas, posun svazku a stigmátor). 2. Zařízení pro ochranu mikroskopu pro případ výpadku síťového napětí po dobu nejméně 6 hodin. Mikroskop musí být možné oživit bez zásahu servisního technika. 3. Kvalitní matný LCD displej s úhlopříčkou alespoň 21 určený pro nepřetržité profesionální nasazení. 4. Řídící PC (kvalitní komponenty určené pro trvalý provoz - tj. pro servery a pracovní stanice): a. vnitřní paměť RAM alespoň 8 GB, b. HDD s kapacitou alespoň 1TB a SATA III rozhraním, c. kvalitní motherboard se SATA III rozhraním, d. síťová karta pro připojení na místní LAN, e. operační systém Windows 7 nebo vyšší, f. aktuální verze Microsoft Word a Excel, g. optická mechanika s možností záznamu (alespoň DVD) a čtečka paměťových karet (alespoň typu SD). Detektor EDS: 1. Dodávka musí obsahovat detektor EDS typu SDD, bez nutnosti chlazení kapalným dusíkem. 2. Aktivní plocha snímacího čipu minimálně 30 mm2. 3. Schopnost kvalitativní a kvantitativní analýzy prvků od Be po Pu. 4. Garantované rozlišení na manganu (Mn K-alfa) 130 ev nebo lepší. Detektor EBSD: 1. Dodávka musí obsahovat detektor difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) s vysokým rozlišením CCD kamery minimálně 1300 x 1000 pixelů. 2. Motorické zasunování a vysunování detektoru do pracovní pozice se snadnou kalibrací pracovní vzdálenosti. 3. Garantovaný framerate kamery EBSD (za ideálních podmínek) alespoň 100 fps. 4. Součástí EBSD systému musí být detektor dopředu odražených elektronů (FSD).. Možnost snímání při nízkých urychlovacích napětích až do kv a nízkých proudech až do 100pA. EDS+EBSD: 1. EDS a EBSD detektory plně kompatibilní, od jednoho výrobce. 2. Možnost simultánní EDS a EBSD analýzy spolu se snímáním alespoň jednoho obrazového signálů z elektronového mikroskopu. 3. Software musí zahrnovat všechny funkce nutné pro akvizici, zpracování a zobrazení 3D EDS a 3D EBSD. 4. Zajištění plnohodnotného ovládání EDS a EBSD detektorů v režimu automatického a programovatelného snímání 3D dat ve spolupráci s ovládáním mikroskopu.. Zpracování 2D EDS a EBSD měření v jednom programu. 6. Zpracování 3D EDS a EBSD měření v jednom programu. 7. Kompenzace driftu vzorku v průběhu analýzy. 8. Alespoň 1 licence pro samostatně stojící počítače (nebo hardlock/ síťové licence) softwaru ke všem dodaným analytickým EDS-EBSD metodám, umožňující re-analýzu EDS a EBSD dat a re-export map, grafů a jiných datových interpretací umožňující práci na jiném než dodaném PC bez nutnosti přístupu k operačnímu PC, které je součástí analytického systému. 9. Aktualizace EDS-EBSD softwaru alespoň 3 roky zdarma. Software - EDS 1. Bezstandardová kvalitativní i kvantitativní analýza EDS. 2. Možnost práce se standardy, vytváření vlastních knihoven standardů. 3. Možnost exportu spektra. 4. Modelování EDS spekter na základě chemického složení.. Bodová, čarová a síťová analýza. Strana (celkem 17)

6. Vytváření map prvků s možností získání rozložení prvků v libovolné oblasti a podél čáry zvolené v nasnímané mapě (tedy po akvizici dat, pro každý pixel musí být uložené celé spektrum). 7. Možnost vytvářet kvantitativní mapy rozložení prvků. 8. Minimální rozlišení prvkové distribuční mapy EDS nejméně 2000 x 2000 bodů. 9. Vytváření kvantitativních linescanů s rozlišením až 4000 bodů. 10. Automatická detekce fází, tvorba fázových map na základě složení. Software EBSD 1. Automatizované snímání difrakčních záznamů, automatické odečtení pozadí. 2. Automatická indexace difrakčního záznamu. 3. Možnost uložení všech difrakčních záznamů. 4. Automatické vytvoření orientační mapy.. Během akvizice dat lze převést již naměřenou část orientační mapy do samostatného programu, který umožňuje pokročilou analýzu naměřených dat. 6. Schopnost automatického rozpoznání a indexace různých fází, vytvoření fázové mapy. 7. Možnost automatizované úpravy a čištění orientační mapy alespoň na základě obrazové analýzy. 8. Určení misorientace zrn. 9. Možnost zobrazení a exportu mapy vystihující kvalitu nasnímaných difrakčních záznamů (image/pattern quality map). 10. Možnost akvizice dat z obdélníkové oblasti, z oblasti s libovolně zvoleným tvarem a také automaticky z více oblastí. 11. Schopnost rozlišení hranic na základě misorientací, určení speciálních hranic, určení Schmidova a Taylorova faktoru. 12. Pokročilá analýza textury výpočty ODF, PF, IPF. 13. Dodání alespoň jedné mezinárodně uznávané krystalografická databáze, integrované a přístupné z prostředí SW pro EBSD. 14. Možnost ruční tvorby nových záznamů v databázi zadáním krystalografických údajů. 1. Sešívání EDS/EBSD map pro mapování velkých oblastí se zachováním analytických funkcí. Doplňkové přístroje k EDS a EBSD: 1. kvalitní matný LCD displej s úhlopříčkou alespoň 21 určený pro nepřetržité profesionální nasazení. 2. řídící PC (kvalitní komponenty určené pro trvalý provoz - tj. pro servery a pracovní stanice): a. vnitřní paměť RAM alespoň 8 GB, b. HDD s kapacitou alespoň 1TB a SATA III rozhraním, c. kvalitní motherboard se SATA III rozhraním, d. síťová karta pro připojení na místní LAN, e. operační systém Windows 7 nebo vyšší, f. aktuální verze Microsoft Word a Excel, g. optická mechanika s možností záznamu (alespoň DVD) a čtečka paměťových karet (alespoň typu SD). 3. Možnost současného měření EDS a EBSD, a to ve 2D i 3D módu. Instalace a zaškolení 1. Součástí nabídky musí být specifikace požadavků na prostory pro instalaci mikroskopu. 2. Součástí dodávky musí být doprava, instalace a zaškolení u zákazníka (vč. základního zaškolení pro FIB, EDS a EBSD a 3D měření EDS+EBSD) v celkovém minimálním rozsahu pracovních dní. Servis zařízení 1. Záruční doba minimálně 1 rok od podpisu předávacího protokolu. 2. Přístroj umožňuje vzdálenou diagnostiku ze servisního centra. 3. Dosažitelnost servisního technika (od okamžiku kontaktu do začátku práce) do 3 pracovních dnů. 4. Oprava nevyžadující náhradní díl do 7 pracovních dní.. Oprava vyžadující náhradní díl do 21 pracovních dní. 6. Garance servisní odpovědnosti na veškeré součásti nabízeného systému. 7. Dálková diagnostika činnosti přístroje v době záruky do 2 pracovních dní. 8. Aktualizace softwaru mikroskopu a softwaru pro řízení FIBu systému alespoň 3 roky zdarma (v případě, že není nutný upgrade hardwaru). 9. Dodavatel pro účely hlášení závad poskytne jedno telefonní číslo, jednu e-mailovou adresu a jedno faxové číslo. Všechny tyto komunikační prostředky budou platné nonstop 36 dnů v roce. Strana 6 (celkem 17)

4. POSKYTNUTÍ ZADÁVACÍ DOKUMENTACE Textová část zadávací dokumentace v souladu s 48 ZVZ je umístěná na Profilu zadavatele, viz http://zakazky.orgamet.cz/profil/00412830. Jedná se o kompletní zadávací dokumentaci, která je umístěna na profilu zadavatele a umožňuje neomezený dálkový přístup dle požadavků ZVZ, resp. příslušných vyhlášek. Zájemci mohou zaslat svoje identifikační údaje a kontaktní informace na e-mailovou adresu administrátora ORGAMET s.r.o.: siroky@orgamet.cz. V takovém případě jim budou na uvedené kontakty zasílány případné dodatečné informace.. POŽADAVKY NA VARIANTY NABÍDEK Zadavatel v souladu s 70 ZVZ nepřipouští varianty nabídek. 6. TERMÍNY PLNĚNÍ Začátek plnění: podpis kupní smlouvy - předpoklad 01.10.2013 Termín dodání: 31.0.2014 Ukončení zakázky: nejpozději 31.07.2014 7. MÍSTO PLNĚNÍ Univerzita Karlova v Praze, Matematicko-fyzikální fakulta, Ke Karlovu 2026/, 121 16 Praha 2. 8. DODATEČNÉ INFORMACE K ZADÁVACÍM PODMÍNKÁM Dodavatel je oprávněn dle 49 odst. 1 ZVZ po zadavateli požadovat písemně dodatečné informace k zadávacím podmínkám. Písemná žádost musí být zadavateli doručena nejpozději 6 pracovních dnů před uplynutím lhůty pro podání nabídek. Dotaz musí být doručen písemně (poštou, osobně nebo elektronicky) na adresu administrátora veřejné zakázky (kontakt viz titulní list). Dle 49, odst. 2 ZVZ zadavatel odešle dodatečné informace k zadávacím podmínkám, případně související dokumenty, nejpozději do 4 pracovních dnů po doručení žádosti. Dodatečné informace, včetně přesného znění požadavku, odešle zadavatel prostřednictvím administrátora současně všem dodavatelům, kteří požádali o poskytnutí zadávací dokumentace nebo kterým byla zadávací dokumentace poskytnuta. Zadavatel žádá zájemce o veřejnou zakázku, aby formulovali své dotazy s ohledem na výše uvedené. Zadavatel vždy uveřejní dodatečné informace včetně přesného znění žádosti stejným způsobem, jakým uveřejnil textovou část zadávací dokumentace nebo kvalifikační dokumentaci, tj. na profilu zadavatele. Zadavatel může poskytnout dodavatelům dodatečné informace k zadávacím podmínkám i bez předchozí žádosti. 9. PROHLÍDKA MÍSTA PLNĚNÍ Prohlídka místa plnění podle 49, odst. 4 ZVZ nebude ze strany zadavatele organizována, jedná se o dodávky a není tedy pro plnění veřejné zakázky nezbytné. Strana 7 (celkem 17)

10. POŽADAVKY NA ZPŮSOB ZPRACOVÁNÍ NABÍDKOVÉ CENY Zadavatel stanovil předpokládanou hodnotu zakázky v souladu s 14 ZVZ na 18.200.000,00 Kč (CZK) bez DPH včetně dopravy, instalace. Zadavatel současně stanovuje tuto hodnotu jako nepřekročitelnou. Nabídková cena bude stanovena za celou dodávku. Nabídková cena bude stanovena v Kč (CZK) jako nejvýše přípustná. Nabídková cena bude uvedena na krycím listu nabídky (uchazeč závazně použije vzor krycího listu uvedený v příloze č. 1) ve skladbě: - nabídková cena celkem bez DPH - samostatně DPH - nabídková cena celkem včetně DPH 11. PODMÍNKY, PŘI JEJICHŽ SPLNĚNÍ JE MOŽNO PŘEKROČIT VÝŠI NABÍDKOVÉ CENY Zadavatel připouští překročení nabídkové ceny pouze v případě změny právních předpisů ovlivňujících změnu výše zákonné sazby DPH v České republice, a to pouze v průběhu realizace této veřejné zakázky. V ostatních případech je překročení nabídkové ceny nepřípustné. 12. OBCHODNÍ PODMÍNKY Nabídka musí obsahovat návrh kupní smlouvy podle vzoru č.. Návrh kupní smlouvy musí být doplněn o identifikační údaje uchazeče, cenu a podepsán v souladu se způsobem podepisování. Součástí smlouvy, podepsané s vybraným dodavatelem bude rovněž příloha, ve které budou uvedeny technické parametry zařízení, deklarované v nabídce. Zadavatel dále stanovil ve vzoru kupní smlouvy sankce za nedodržení deklarovaných technických parametrů uvedených v nabídce vybraného dodavatele, a to v souladu s čl. VII tohoto vzoru. 13. PLATEBNÍ PODMÍNKY Zadavatel se zavazuje uhradit min. 0% kupní ceny dodávky přístroje po podpisu smlouvy na základě faktury (daňového dokladu) a zbytek kupní ceny po uskutečnění dodávky na základě faktury. Platby budou probíhat výhradně v korunách českých (CZK). Rovněž veškeré cenové údaje budou uváděny v CZK. Splatnost daňových dokladů odsouhlasených pověřeným pracovníkem zadavatele bude 21 dní od data jejich doručení zadavateli. 14. JISTOTA Zadavatel nepožaduje, aby uchazeči k zajištění plnění svých povinností vyplývajících z účasti v zadávacím řízení poskytli jistotu dle 67 ZVZ. 1. ZPŮSOB HODNOCENÍ NABÍDEK Zadavatel zvolil v souladu s 78 odst. 1, písm. a) ZVZ ekonomickou výhodnost nabídky. Popis způsobu hodnocení: Název hodnotícího kritéria: váha: 1. Technické parametry 2,36 % 2. Cena celkem bez DPH 47,64 % Strana 8 (celkem 17)

y elektr onov ého NÁKUP SKENOVACÍHO ELEKTRONOVÉHO MIKROSKOPU S FEG, KOMBINOVANÉHO S FIB Při hodnocení budou hodnocena dílčí kvalitativní kritéria (dále jen hodnocená kritéria ) a cena. Celkově lze (teoreticky) získat 382 bodů. Z toho 200 bodů za hodnocená kritéria a 182 bodů za cenu. Vítězem tendru je nabídka, která získá v prostém součtu nejvíce bodů za hodnocená kritéria a cenu. V případě rovnosti celkového počtu bodů bude upřednostněna nabídka s vyšším bodový ziskem za technické parametry. Hodnocená kritéria jsou tří typů - ano/ne podkritérium, preference nejnižší číselné hodnoty a preference nejvyšší číselné hodnoty. je vyhodnoceno následujícím způsobem: pokud nabídka zcela splňuje uvedené kritérium, pak získává nabídka uvedený maximální počet bodů. Pokud uvedené kritérium nabídka nesplňuje či jej nesplňuje zcela, pak nezískává žádný bod. Preference nejnižší číselné hodnoty je vyhodnocena následujícím způsobem: Pro každé kritérium je uvedena tzv. základní hodnota (např. 2 nm), údaj "body/jednotka" (např. 10bodů/1 nm) a maximum udělovaných bodů (např. 10 bodů). Bodový zisk se vypočítává následovně: ("základní hodnota" - (mínus) "nabízená hodnota")* (krát) "body/jednotka". Údaj "nabízená hodnota" se nezaokrouhluje, bodová hodnota v každém kritériu se zaokrouhluje na desetinu bodu. Za každé kritérium lze ovšem získat nejvýše "maximum udělovaných bodů", a to i v případě, že by výsledkem výpočtu byla vyšší bodová hodnota. Příklad: kritérium: Rozlišení SEM 1 kv, základní hodnota: 2 nm, body/jednotka: 10 bodů/1 nm, nabízená hodnota: 1, nm. Získané body = (2 nm - 1, nm)*10 bodů/nm = bodů. Preference nejvyšší číselné hodnoty se vyhodnocuje analogicky. Pro každé kritérium je uvedena tzv. základní hodnota (např. 40 na), údaj "body/jednotka" (např. 0,2 bodu/1 na) a maximum udělovaných bodů (např. bodů). Bodový zisk se vypočítává následovně: ("nabízená hodnota" - (mínus) "základní hodnota")* (krát) "body/jednotka". Údaj "nabízená hodnota" se nezaokrouhluje, bodová hodnota v každém kritériu se zaokrouhluje na desetinu bodu. Za každé kritérium lze ovšem získat nejvýše "maximum udělovaných bodů", a to i v případě, že by výsledkem výpočtu byla vyšší bodová hodnota. Příklad 1: kritérium: Délka záruční doby, základní hodnota: 1 rok, body/jednotka: bodů/1 rok, nabízená hodnota: 2 roky. Získané body = (2 roky - 1 rok)* bodů/rok = bodů. Příklad 2: kritérium: Délka záruční doby, základní hodnota: 1 rok, body/jednotka: bodů/1 rok, nabízená hodnota: 4 roky. Vypočtené body = (4 roky - 1 rok)* bodů/rok = 1 bodů, ale maximální hodnota je jen 10 bodů, tudíž nabídka získává 10 bodů. Cena je hodnocena stejným způsobem jako kritéria, u nichž je preferována nejnižší hodnota. Základní hodnotou je maximální přípustná cena. Při nabídnutí nižší ceny se do hodnocení započítává 1 bod za každých 100 tis. Kč o něž je nabízená cena nižší než cena maximální. 1 Popis způsobu hodnocení: Název kritéria Způsob hodnocení Upřesnění Maximum bodů udělovaných Zákl. hodnota Body/jednotka 1 Rozlišení SEM 1kV Preferující nejnižší číselnou hodnotu Rozlišení v SE při 1 kev ve standardním módu (definice viz. požadované parametry,bez použití 1 Z toho plyne, že každý bod odpovídá hodnotě 100 tis. Kč bez DPH. Strana 9 (celkem 17)

Parametry komory Vlastnosti zobrazovacích detektorů NÁKUP SKENOVACÍHO ELEKTRONOVÉHO MIKROSKOPU S FEG, KOMBINOVANÉHO S FIB 2 3 Rozlišení SEM 1kV Minimální napětí 10 2 nm 10 bodů/1 nm Preferující nejnižší číselnou hodnotu 20 6 nm bodů/1 nm 20 0,2 kev Preferující nejnižší číselnou hodnotu 100 bodů / 1 kev plazmového čištění). Hodnota ověřitelná po instalaci mikroskopu. Rozlišení v SE při 1 kev ve standardním módu (definice viz požadované parametry,bez použití plazmového čištění). Hodnota ověřitelná po instalaci mikroskopu. Minimální urychlovací napětí dopadajících elektronů ve standardním režimu, tj. bez přikládání napětí na vzorek ("Beam deceleration mód") 4 Beam deceleration Přístroj umožňuje přivést na vzorek záporné napětí až 4 kv Snížení energie dopadajících elektronů na konci tubusu 10 Možnost snížení energie elektronů z nejméně 6 kev na nejvýše 200 ev na konci elektronového tubusu. 6 Detekce "Low-loss BSE" In-lens detektor umožňující energetickou separaci zpětně odražených elektronů. 10 Detekovány jsou jen tzv. "Low-loss BSE". 7 Detektor SI Přístroj umožňuje detekci sekundárních iontů (SI). Přípustný je i kombinovaný detektor SE a SI. 8 Retraktabilní STEM 10 STEM detektor lze nasunout pod vzorek a opět jej vysunout automaticky bez otevření komory 9 Segmentace STEM Detektor je segmentovaný nejméně na tři koncentrické prstence umožňující snímání v 10 režimech BF, DF a HADF. 10 Rozlišení detektoru STEM Preferující nejnižší číselnou hodnotu 1 nm 10 bodů/1 nm Rozlišení zobrazení pomocí detektoru prošlých elektronů ve světlém a tmavém poli při napětí 30 kv. Hodnota ověřitelná po instalaci mikroskopu. 11 12 In-beam BSE detektor Možnost detekce BSE v tubusu při velmi malých pracovních vzdálenostech. Přípustná je i možnost kombinace in-lens detektoru SE nebo 4 BSE. Rozsah využití detektoru umístěného v tubusu Detekor umístěný v tubusu poskytuje snímky ve vysokém rozlišení v plném rozsahu napětí, a to i bez použití 'beam deceleration'. 13 6-ti osý pohyb stolku z-posuv stolku musí být svislý i při nakloněném vyorku, aby změna pracovní vzdálenosti nevyžadovala posun v rovině x,y. Současně musí být možné, aby osa náklonu vzorku byla vždy na povrchu vzorku. Strana 10 (celkem 17)

Pokročilé vytvoření a zpracování EBSD záznamu FIB EDS NÁKUP SKENOVACÍHO ELEKTRONOVÉHO MIKROSKOPU S FEG, KOMBINOVANÉHO S FIB 14 Druhá IR kamera v komoře 4 Druhá kamera snímá prostor ve vodorovném směru v komoře pod jiným úhlem (90 ) vzhledem k primární, což umožňuje lepší přehled o situaci v komoře. 1 16 Možnost analýzy nevodivých vzorků 10 2D EBSD bez přednaklopeného držáku Možnost analyzovat nevodivé vzorky při napětí vyšším než 1 kv. K tomu je potřeba technologie zajišťující odvod náboje z povrchu vzorku. Přípustné řešení je pomocí modu umožňujícího práci ve sníženém vakuu ("Low- Vac mód) nebo lokální kompenzace náboje přivedením vhodného media k povrchu vzorku. Přístroj umožňuje pozorování pomocí BSE bez použití přednaklopeného držáku následované plnohodnotným 2D měření EBSD se vzorkem skloněným o 70 bez nutnosti otevřít komoru. 17 18 Rozlišení EDS na Mn Kα 130 ev Kvantitativní EDS analýza na tenké fólii pro TEM 2 Preferující nejnižší číselnou hodnotu 0, bodu /1 ev Hodnota garantovaného energiového rozlišení EDS detektoru (FWHM) na čáře manganu (Mn Kα) při 20 kcps, ověřitelná po instalaci detektoru. Přístroj musí umožňovat optimalizaci parametrů pro pro přesnou kvantitativní analýzu pomocí EDS při měření na tenké fólii pro TEM. 19 20 21 22 Nejvyšší proud FIB Geometrie pro 3D EBSD dosažitelný Preferující nejvyšší číselnou hodnotu Nejvyšší dosažitelný proud fokusovaného 0,2 bodu /1 iontového svazku (FIB). 40 na na odprašování Provádíme-li odprašování a 3D EBSD měření na vzorku tvaru kvádru, pak musí být možné umístit vzorek tak, aby průmět iontového svazku do roviny povrchu na němž je prováděna EBSD analýza byl kolmý na hranu vzorku a zároveň aby jedna ze stěn analyzované 3D oblasti byla Vícekrokové odprašování při 3D analýze Rozlišení FIB 30 kv Preferující nejnižší číselnou hodnotu 10 7 nm 2 body/1 nm rovnoběžná s boční stěnou vzorku. Při automatické 3D analýze EDS+EBSD je v každé fázi odprašování provedeno odprašování nejprve při vyšším napětí FIB a následně při nižším napětí FIB pro dosažení lepší kvality povrchu pro následný krok EDS+EBSD analýzy. Rozlišení fokusovaného iontového svazku při 30 kv v koincidenčním bodě SEM-FIB. Hodnota ověřitelná po instalaci mikroskopu. 23 24 Parametr jistoty indexace Pokročilé čištění EBSD záznamu Při vyhdonocení difrakčního záznamu software určí nejvhodnější indexace pro různé kombinace píků v Houghově prostoru. Následně určí celkovou nejvhodnější indexaci a četnost kombinací, pro které je tato indexace nejlepší. Tím je určen parametr, který odpovídá jistotě správného určení indexace. Pro čištění orientační mapy (určení indexace neindexovaných či nesprávně indexovaných bodů) software dokáže využít tyto informace: indexace daného bodu, indexace okolních bodů, kvalita difrakčnícho záznamu daného Strana 11 (celkem 17)

Záruka NÁKUP SKENOVACÍHO ELEKTRONOVÉHO MIKROSKOPU S FEG, KOMBINOVANÉHO S FIB 2 26 27 Přirozená síť bodů Úspěšné instalace 3D EDS+EBSD Délka záruční doby Preferující nejvyšší číselnou hodnotu 10 1 rok bodů/rok bodu a okolních bodů, parametr jistoty indexace daného bodu a okolních bodů, krystalografickou fázi daného bodu a okolních bodů. Software využívá šestiúhelníkovou síť bodů (včelí plástev), která lépe odpovídá charakteru záznamu (šestiúhelník lépe vystihuje rotační symetrii oblasti akvizice signálu než čtverec) a usnadňuje čištění orientační mapy (každý bod má šest ekvivalentních sousedů). Výrobce prokáže, že u nejméně tří různých zákazníků provedl instalaci mikroskopu, který umožňuje simultánní automatické 3D EDS a 3D EBSD analýzy s detektory od výrobce uvedeného v nabídce a společným vyhodnocovacím softwarem. Výrobce poskytne kontakty pro ověření těchto referencí. Min. 12měsíců Maximum bodů za hodnocená kritéria 200 Cena bez DPH 182 18,2 MKč Preferující nejnižší číselnou hodnotu 10 bodů/1 MKč Uchazeč na krycím listu uvede vypočtené získané body v každém kritériu. U splněných hodnocených kritérií pak v nabídce uvede stručný popis technického řešení nebo protokol z měření, z nichž jednoznačně plyne, že uchazeč je schopen dostát deklarovaným parametrům. Zadavatel rozhodne v souladu s 81, odst. 1, písm. b) ZVZ o výběru nejvhodnější nabídky toho uchazeče, jehož nabídka bude vyhodnocena jako ekonomicky nejvýhodnější nabídka. 16. POŽADAVKY NA PROKÁZÁNÍ KVALIFIKACE Zadavatel požaduje prokázání kvalifikace dle 0 a násl. ZVZ ve lhůtě pro podání nabídek, předložením dále požadovaných dokladů společně s nabídkou, nejpozději však s podáním nabídky, a to jako nedílnou součást nabídky v jedné obálce. Kvalifikace musí být prokázána v celém dále požadovaném rozsahu. Základní kvalifikační předpoklady splňuje dodavatel, a) který nebyl pravomocně odsouzen pro trestný čin spáchaný ve prospěch organizované zločinecké skupiny, trestný čin účasti na organizované zločinecké skupině, legalizace výnosů z trestné činnosti, podílnictví, přijetí úplatku, podplacení, nepřímého úplatkářství, podvodu, úvěrového podvodu, včetně případů, kdy jde o přípravu nebo pokus nebo účastenství na takovém trestném činu, nebo došlo k zahlazení odsouzení za spáchání takového trestného činu; jde-li o právnickou osobu, musí tento předpoklad splňovat jak tato právnická osoba, tak její statutární orgán nebo každý člen statutárního orgánu, a je-li statutárním orgánem dodavatele či členem statutárního orgánu dodavatele právnická osoba, musí tento předpoklad splňovat jak tato právnická osoba, tak její statutární orgán nebo každý člen statutárního orgánu této právnické osoby; podává-li nabídku či žádost o účast zahraniční právnická osoba prostřednictvím své organizační složky, musí předpoklad podle tohoto písmene splňovat vedle Strana 12 (celkem 17)

uvedených osob rovněž vedoucí této organizační složky; tento základní kvalifikační předpoklad musí dodavatel splňovat jak ve vztahu k území České republiky, tak k zemi svého sídla, místa podnikání či bydliště, b) který nebyl pravomocně odsouzen pro trestný čin, jehož skutková podstata souvisí s předmětem podnikání dodavatele podle zvláštních právních předpisů nebo došlo k zahlazení odsouzení za spáchání takového trestného činu; jde-li o právnickou osobu, musí tuto podmínku splňovat jak tato právnická osoba, tak její statutární orgán nebo každý člen statutárního orgánu, a je-li statutárním orgánem dodavatele či členem statutárního orgánu dodavatele právnická osoba, musí tento předpoklad splňovat jak tato právnická osoba, tak její statutární orgán nebo každý člen statutárního orgánu této právnické osoby; podává-li nabídku či žádost o účast zahraniční právnická osoba prostřednictvím své organizační složky, musí předpoklad podle tohoto písmene splňovat vedle uvedených osob rovněž vedoucí této organizační složky; tento základní kvalifikační předpoklad musí dodavatel splňovat jak ve vztahu k území České republiky, tak k zemi svého sídla, místa podnikání či bydliště, c) který v posledních 3 letech nenaplnil skutkovou podstatu jednání nekalé soutěže formou podplácení podle zvláštního právního předpisu, d) vůči jehož majetku neprobíhá nebo v posledních 3 letech neproběhlo insolvenční řízení, v němž bylo vydáno rozhodnutí o úpadku nebo insolvenční návrh nebyl zamítnut proto, že majetek nepostačuje k úhradě nákladů insolvenčního řízení, nebo nebyl konkurs zrušen proto, že majetek byl zcela nepostačující nebo zavedena nucená správa podle zvláštních právních předpisů, e) který není v likvidaci, f) který nemá v evidenci daní zachyceny daňové nedoplatky, a to jak v České republice, tak v zemi sídla, místa podnikání či bydliště dodavatele, g) který nemá nedoplatek na pojistném a na penále na veřejné zdravotní pojištění, a to jak v České republice, tak v zemi sídla, místa podnikání či bydliště dodavatele, h) který nemá nedoplatek na pojistném a na penále na sociální zabezpečení a příspěvku na státní politiku zaměstnanosti, a to jak v České republice, tak v zemi sídla, místa podnikání či bydliště dodavatele, i) který nebyl v posledních 3 letech pravomocně disciplinárně potrestán či mu nebylo pravomocně uloženo kárné opatření podle zvláštních právních předpisů, je-li podle 4, písm. d) ZVZ požadováno prokázání odborné způsobilosti podle zvláštních právních předpisů; pokud dodavatel vykonává tuto činnost prostřednictvím odpovědného zástupce nebo jiné osoby odpovídající za činnost dodavatele, vztahuje se tento předpoklad na tyto osoby, j) který není veden v rejstříku osob se zákazem plnění veřejných zakázek a k) kterému nebyla v posledních 3 letech pravomocně uložena pokuta za umožnění výkonu nelegální práce podle zvláštního právního předpisu. a) Základní kvalifikační předpoklady ( 3, odst. 3 ZVZ): Dodavatel prokáže splnění základních kvalifikačních předpokladů předložením: 1. výpisu z evidence Rejstříku trestů od všech osob dle předchozího, tj. včetně právnické osoby [odst. 1, písm. a) a b) ZVZ] 2. potvrzení příslušného finančního úřadu a ve vztahu ke spotřební dani čestným prohlášením [odst. 1 písm. f) ZVZ] 3. potvrzení příslušného orgánu či instituce (ve vztahu k pojistnému na sociální zabezpečení) [odst. 1 písm. h) ZVZ] 4. čestného prohlášení [odst. 1 písm. c) až e) a g) i) až k) ZVZ] možno použít vzorové prohlášení viz vzor č. 2, příloha č. 2 těchto zadávacích podmínek, včetně doložení příslušných požadovaných prohlášení či seznamů, pokud mají být předloženy. b) Profesní kvalifikační předpoklady ( 4 ZVZ): Dodavatel prokáže splnění profesních kvalifikačních předpokladů předložením: 1. výpisu z obchodního rejstříku, pokud je v něm zapsán, či výpisu z jiné obdobné evidence [písm. a) ZVZ] 2. dokladu o oprávnění k podnikání, na základě kterého je oprávněn provádět požadované činnosti [písm. b) ZVZ] Strana 13 (celkem 17)

c) Čestné prohlášení o ekonomické a finanční způsobilosti dodavatele splnit veřejnou zakázku ( 0, odst. 1, písm. b) ZVZ): Zadavatel požaduje, aby každý dodavatel, který se účastní této veřejné zakázky, předložil čestné prohlášení o své ekonomické a finanční způsobilosti splnit veřejnou zakázku možno použít vzorové prohlášení viz příloha č. 3, vzor č. 3. d) Technické kvalifikační předpoklady ( 6, odst. 1 ZVZ): Zadavatel nepožaduje prokázání splnění technických kvalifikačních předpokladů v tomto zadávacím řízení. Pokud není dodavatel schopen prokázat splnění určité části kvalifikace požadované zadavatelem podle 0 odst. 1 písm. b) nebo d) ZVZ v plném rozsahu, je oprávněn splnění kvalifikace v chybějícím rozsahu prokázat prostřednictvím subdodavatele. Dodavatel je v takovém případě povinen veřejnému zadavateli předložit a) doklady prokazující splnění základního kvalifikačního předpokladu podle 3 odst. 1 písm. j) ZVZ a profesního kvalifikačního předpokladu podle 4 písm. a) ZVZ subdodavatelem a b) smlouvu uzavřenou se subdodavatelem, z níž vyplývá závazek subdodavatele k poskytnutí plnění určeného k plnění veřejné zakázky dodavatelem či k poskytnutí věcí či práv, s nimiž bude dodavatel oprávněn disponovat v rámci plnění veřejné zakázky, a to alespoň v rozsahu, v jakém subdodavatel prokázal splnění kvalifikace podle 0 odst. 1 písm. b) a d) ZVZ Dodavatel není oprávněn prostřednictvím subdodavatele prokázat splnění kvalifikace podle 4 písm. a) ZVZ. Má-li být předmět veřejné zakázky plněn několika dodavateli společně a za tímto účelem podávají či hodlají podat společnou nabídku, je každý z dodavatelů povinen prokázat splnění základních kvalifikačních předpokladů podle 0 odst. 1 písm. a) ZVZ a profesního kvalifikačního předpokladu podle 4 písm. a) ZVZ v plném rozsahu. Splnění kvalifikace podle 0 odst. 1 písm. b) a d) ZVZ musí prokázat všichni dodavatelé společně. V případě prokazování splnění kvalifikace v chybějícím rozsahu prostřednictvím subdodavatele se postupuje podle výše uvedeného odstavce. V případě, že má být předmět veřejné zakázky plněn společně několika dodavateli, jsou veřejnému zadavateli povinni předložit současně s doklady prokazujícími splnění kvalifikačních předpokladů smlouvu, ve které je obsažen závazek, že všichni tito dodavatelé budou vůči veřejnému zadavateli a třetím osobám z jakýchkoliv právních vztahů vzniklých v souvislosti s veřejnou zakázkou zavázáni společně a nerozdílně, a to po celou dobu plnění veřejné zakázky i po dobu trvání jiných závazků vyplývajících z veřejné zakázky. Zahraniční dodavatel prokazuje splnění kvalifikace způsobem podle právního řádu platného v zemi jeho sídla, místa podnikání nebo bydliště, a to v rozsahu požadovaném zákonem a veřejným zadavatelem. Pokud se podle právního řádu platného v zemi sídla, místa podnikání nebo bydliště zahraničního dodavatele určitý doklad nevydává, je zahraniční dodavatel povinen prokázat splnění takové části kvalifikace čestným prohlášením. Není-li povinnost, jejíž splnění má být v rámci kvalifikace prokázáno, v zemi sídla, místa podnikání nebo bydliště zahraničního dodavatele stanovena, učiní o této skutečnosti čestné prohlášení. Doklady prokazující splnění kvalifikace předkládá zahraniční dodavatel v původním jazyce s připojením jejich úředně ověřeného překladu do českého jazyka. Uchazeč zapsaný v seznamu kvalifikovaných dodavatelů dle 127 a násl. ZVZ může prokázat splnění základních kvalifikačních předpokladů dle 3 odst. 1 ZVZ a profesních kvalifikačních předpokladů dle 4 ZVZ v rozsahu ve výpisu uvedeném výpisem ze seznamu kvalifikovaných dodavatelů ne starším než 3 měsíce. Uchazeč může prokázat kvalifikaci certifikátem vydaným v rámci systému certifikovaných dodavatelů (viz 133 142 ZVZ), který obsahuje náležitosti uvedené v 139 ZVZ. Tento certifikát nahrazuje prokázání splnění kvalifikace v rozsahu v něm uvedených údajů, ne starším než 1 rok od jeho vydání. Kvalifikační předpoklady v certifikátu neuvedené je povinen uchazeč prokázat požadovaným způsobem. Dodavatel předloží doklady prokazující splnění kvalifikace v kopiích. Strana 14 (celkem 17)

Doklady prokazující splnění základních kvalifikačních předpokladů a výpis z obchodního rejstříku (viz 7 ZVZ) nesmí být ke dni podání nabídky starší než 90 kalendářních dnů. Dodavatel, který nesplní kvalifikaci v požadovaném rozsahu, bude vyloučen z účasti v zadávacím řízení. Zadavatel rovněž bezodkladně vyloučí uchazeče, zapsaného v rejstříku osob se zákazem plnění veřejných zakázek (viz 3, odst. 1, písm. j) ZVZ). 17. SUBDODAVATELSKÝ SYSTÉM Zadavatel nepožaduje, aby uchazeči ve své nabídce specifikovali části veřejné zakázky, které mají v úmyslu zadat jednomu či více subdodavatelům. 18. PODMÍNKY A POŽADAVKY NA ZPRACOVÁNÍ NABÍDKY Nabídky budou předloženy v českém jazyce, v jednom vyhotovení a budou obsahovat všechny požadované doklady v kopiích a prohlášení resp. čestná prohlášení v originálech. Prokázání splnění kvalifikace bude předloženo v prostých kopiích. Nabídku podá uchazeč v písemné formě v členění dle požadavků zadavatele uvedených dále. Nabídka nebude obsahovat přepisy a opravy, které by mohly zadavatele uvést v omyl. Nabídka, včetně veškerých požadovaných dokladů, bude podepsána statutárním orgánem uchazeče nebo osobou pověřenou zastupováním statutárního orgánu podpisem na krycím listu nabídky. V případě podpisu nabídky osobou pověřenou k tomuto úkonu, doloží uchazeč v nabídce příslušnou úředně ověřenou plnou moc, či jiný platný úředně ověřený pověřovací dokument v kopii. Nabídka by měla být z důvodu právní jistoty svázána nebo jinak zabezpečena proti manipulaci s jednotlivými listy do jednoho svazku včetně všech příloh a zapečetěna provlečením celého svazku provázkem, který může být na titulní straně zavázán na uzlík, přelepen papírovou páskou a opatřen razítkem a podpisem. Z téhož důvodu by měly být všechny listy nabídky v pravém dolním rohu očíslovány souvislou číselnou řadou, počínaje číslem 1 na titulní straně. V nabídce (na Krycím listu) bude uvedeno prohlášení o celkovém počtu listů. Očíslovány budou kompletně všechny listy, a to i včetně veškerých přiložených kopií dokladů a oddělovacích stránek. Požadovaná struktura nabídky je uvedena dále: 19. OBSAH, ZÁVAZNÁ STRUKTURA NABÍDKY Jednotlivé dále uvedené části (kapitoly) nabídky budou od sebe zřetelně odděleny např. barevnými papíry se záložkou: 1. Titulní list Název veřejné zakázky. 2. Obsah Nabídka bude opatřena obsahem s uvedením čísel stránek u jednotlivých kapitol. 3. Krycí list nabídky viz příloha č. 1, vzor č. 1. Pro sestavení krycího listu nabídky bude použita příloha č. 1, vzor č. 1 Krycí list nabídky vzor. V případě, že bude krycí list podepsán pověřenou osobou, bude za tento krycí list přiložena plná moc pro tuto osobu. Strana 1 (celkem 17)

V případě že nabídku podává více dodavatelů společně, bude za krycí list rovněž přiložen doklad o smluvním vztahu viz 1, odst. 6 ZVZ (např. smlouva o sdružení ) Zároveň bude v tomto dokladu stanoven jeden dodavatel, který je v zadávacím řízení pověřen zastupováním ostatních dodavatelů vůči zadavateli. 4. Doklady a prohlášení dle 68, odst. 3 ZVZ Uchazeč předloží v souladu s 68, odst. 3 ZVZ: a) seznam statutárních orgánů nebo členů statutárních orgánů, kteří v posledních 3 letech od konce lhůty pro podání nabídek byli v pracovněprávním, funkčním či obdobném poměru u zadavatele, b) má-li dodavatel formu akciové společnosti, seznam vlastníků akcií, jejichž souhrnná jmenovitá hodnota přesahuje 10 % základního kapitálu, vyhotovený ve lhůtě pro podání nabídek, c) prohlášení uchazeče o tom, že neuzavřel a neuzavře zakázanou dohodu podle zvláštního právního předpisu (zákon č. 143/2001 Sb. o ochraně hospodářské soutěže ve znění pozdějších předpisů) v souvislosti se zadávanou veřejnou zakázkou. K tomu může použít přílohu č. 4 vzor č. 4.. Prokázání splnění kvalifikace Zadavatel požaduje prokázání kvalifikace dle 0 a násl. ZVZ předložením požadovaných dokladů a prohlášení do konce lhůty pro podání nabídek, v nabídce. Uchazeči mohou pro prokázání výše specifikovaných základních kvalifikačních předpokladů použít přílohu č. 2 a č. 3. 6. Cenová nabídka Oceněný předmět plnění, který plně odpovídá specifikaci dle čl. 2 těchto zadávacích podmínek. 7. Technické náčrty s hrubými rozměry systému a specifikace nabízeného zařízení Uchazeči předloží technické náčrty s hrubými rozměry systému a specifikace nabízeného zařízení dle čl. 2 těchto zadávacích podmínek. 8. Podepsaný návrh smluvního vztahu Uchazeči předloží návrh kupní smlouvy podle vzoru č., podepsaný osobou, oprávněnou k těmto úkonům (v nabídce bude doloženo příslušné oprávnění). 9. Obrazové reference, atd. podle potřeby uchazeče (nepovinné) Nemusí být použito. 20. LHŮTA A MÍSTO PRO PODÁNÍ NABÍDEK Lhůta pro podání nabídek začíná dnem po zahájení zadávacího řízení (otevřeného řízení), tj. dnem následujícím po odeslání formuláře Oznámení o zakázce k uveřejnění do informačního systému (Věstník veřejných zakázek - VVZ) a končí dne 12.09.2013 v 10:00 hod. odevzdáním nabídek. Nabídky musí být podány v písemné formě, elektronická forma podání nabídek se nepřipouští. Každá nabídka musí být podána v jedné, řádně uzavřené obálce označené názvem veřejné zakázky, tj. NÁKUP SKENOVACÍHO ELEKTRONOVÉHO MIKROSKOPU S AUTOEMISNÍM ZDROJEM ELEKTRONŮ (FEG), KOMBINOVANÉHO S IONTOVÝM SKENOVACÍM MIKROSKOPEM (FIB), na obálce musí být rovněž uvedena adresa, na kterou je možné zaslat oznámení podle 71, odst. 6 ZVZ. Kromě toho musí být obálka označená nápisem SOUTĚŽ, NEOTEVÍRAT! Strana 16 (celkem 17)

Nabídky je možno podávat poštou na adrese Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta, Ke Karlovu 3, 121 16 Praha 2, nebo osobně v podatelně zadavatele na výše uvedené adrese, a to v pracovní době od 09:00 do 1:30 hod. Uchazeč je odpovědný i v případě poštovního podání za včasné doručení zásilky. V poslední den lhůty pro podání nabídek je možné odevzdat nabídky pouze na výše uvedené adrese zadavatele, a to od 09:00 do 10:00 hodin do podatelny. Uchazeč je odpovědný i v případě poštovního podání za včasné doručení zásilky! Na nabídky podané po uplynutí lhůty pro podání nabídek se pohlíží, jako by nebyly podány, viz 71, odst. 6 ZVZ. Zadavatel bezodkladně vyrozumí dodavatele o tom, že jeho nabídka byla podána po uplynutí lhůty pro podání nabídek. Otevírání obálek s nabídkami bude zahájeno ihned po uplynutí lhůty pro podání nabídek, tj. dne 12.09.2013 od 10:00 hod. na adrese Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta, Ke Karlovu 3, Praha 2, v zasedací místnosti v suterénu. Otevírání obálek s nabídkami se zúčastní zadavatelem jmenovaná komise a administrátor, dále se mohou zúčastnit zástupci uchazečů, kteří podali nabídky (max. 1 osoba za každého uchazeče, který podal nabídku). 21. ZADÁVACÍ LHŮTA Zadavatel stanovuje délku zadávací lhůty, tj. dobu, po kterou jsou uchazeči svými nabídkami vázáni, na 90 dnů. Tato lhůta začíná běžet okamžikem skončení lhůty pro podání nabídek a končí dnem doručení oznámení zadavatele o výběru nejvhodnější nabídky. 22. OSTATNÍ PODMÍNKY ZADÁVACÍHO ŘÍZENÍ - Zadavatel si vyhrazuje právo posunout termín zahájení plnění zakázky v souvislosti s termínem ukončení zadávacího řízení. - Uchazeči nemají právo na náhradu nákladů, spojených s účastí v zadávacím řízení. - Zadavatel nepřipouští rozdělení veřejné zakázky na části. - Zadavatel si nevyhrazuje opční právo. Strana 17 (celkem 17)