Praktikum z polovodičů
|
|
- Adam Horáček
- před 5 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Praktikum z polovodičů Zdeněk Potůček, Jan Aubrecht Praha 0
2 . Stanovení šířky zakázaného pásu, typu mezipásových absorpčních přechodů a tloušťky tenké vrstvy. eoretický úvod.. Optické materiálové parametry K charakterizaci izotropního absorbujícího prostředí z hlediska šíření elektromagnetického záření se používá několik materiálových parametrů, které spolu vzájemně souvisí. V prvé řadě se jedná o komplexní permitivitu definovanou vztahem ε = ε ( ω) + iε ( ω), kde ω je úhlová frekvence elektromagnetické vlny. maginární složka permitivity ε je úměrná energetickým ztrátám elektromagnetické vlny Joulovým teplem v jednotce objemu materiálu. V optické oblasti spektra elektromagnetického záření se pro charakterizaci absorbujícího prostředí spíše užívá komplexní index lomu N zavedený vztahem N = n( ω) ik( ω), kde reálná složka komplexního indexu lomu n určuje fázovou rychlost šíření elektromagnetické vlny ve vodivém prostředí a odpovídá indexu lomu známému pro dielektrika. maginární složka k charakterizuje tlumení elektromagnetické vlny v absorbujícím prostředí a nazývá se index absorpce. Pro danou látku platí mezi složkami komplexního indexu lomu n a k označovanými jako optické parametry a složkami ε a ε komplexní permitivity následující relace ε = n k, ε = nk. Jelikož experimentálně neměříme amplitudu elektromagnetického pole, ale hustotu toku energie elektromagnetického záření, která se ve spektroskopii obvykle označuje jako intenzita, popisuje se její tlumení v absorbujícím prostředí pomocí absorpčního koeficientu α, který souvisí s indexem absorpce k vztahem ωk α =, c kde c je rychlost světla ve vakuu... Absorpce a odraz světla... Absorbující vrstva tloušťky d
3 Prochází-li svazek rovnoběžných paprsků světla o frekvenci ν homogenním prostředím s absorpčním koeficientem α(ν) poklesne jeho intenzita na dráze l z hodnoty 0 (ν) na hodnotu l (ν) pro niž platí l ( ν ) α ( ν ) l = 0 ( ν ) e. Absorpční koeficient α(ν) tak udává tloušťku vrstvy materiálu, v níž intenzita rovnoběžného paprsku světla poklesne na /e. Avšak v reálném případě kolmého průchodu rovnoběžného svazku paprsků planparalelní vrstvou absorbujícího materiálu musíme uvažovat kromě absorpce také odrazy světla na rovinných rozhraních vrstvy s okolním prostředím. Dopadá-li elektromagnetická vlna o amplitudě E 0 z prostředí s indexem lomu N kolmo na rozhraní s prostředím o indexu lomu N, je amplituda E odražené vlny dána vztahem E N + N = E0. N N Poměr amplitudy odražené a dopadající elektromagnetické vlny určuje komplexní reflexní koeficient r E E = =. 0 N N N + N Z praktického hlediska nás však často spíše zajímá poměr intenzity odražené a dopadající elektromagnetické vlny a proto se zavádí reflektivita neboli koeficient odrazu rozhranní R N N = r =. () N + N Poměr intenzity prošlé a dopadající elektromagnetické vlny pak udává transmise neboli propustnost rozhranní. V důsledku spojitosti normálové složky toku energie na rozhranní obou prostředí je + R =. Předpokládejme, že světlo o frekvenci ν a intenzitě 0 dopadá kolmo na povrch vrstvy materiálu s absorpčním koeficientem α(ν) v bodě x = 0, jak je znázorněno na obrázku. Je-li koeficient odrazu rozhraní vrstvy s okolním prostředím R, pak intenzita světla, které projde přes první rozhranní do vrstvy bude ( - R) 0. Po průchodu planparalelní vrstvou o tloušťce d poklesne jeho intenzita v důsledku absorpce na ( - R) 0 e -α(ν)d. Na povrchu se část světla odrazí zpět do vrstvy, takže intenzita světla, které projde druhým rozhranním do okolního prostředí bude ( - R)( - R) 0 e -α(ν)d. Světlo odražené zpět do vrstvy se částečně absorbuje, část jej projde prvním rozhraním zpět do okolního prostředí a část se na něm odrazí zpět do
4 vrstvy. ímto způsobem vznikají v důsledku mnohačetných odrazů na površích vrstvy příspěvky do intenzity světla vystupujícího druhým rozhraním, jejichž velikost klesá geometrickou řadou. Po n průchodech světla vrstvou ve směru od prvního rozhranní k druhému bude jeho intenzita n = R ( n ) ( R) 0 e (n ) α ( ν ) d a pro výslednou intenzitu světla prošlého vrstvou platí αd ( R) 0e = =. αd R e n n= ransmise (propustnost) homogenní planparalelní vrstvy tloušťky d s absorpčním koeficientem α a koeficientem odrazu R, která je definovaná jako poměr intenzity světla prošlého vzorkem ku intenzitě světla na vzorek dopadajícího, je tak dána vztahem αd ( R) e = =. () αd R e 0 ransmise může nabývat hodnot z intervalu 0,. Pokud se vrstva materiálu s komplexním indexem lomu N = n - ik nachází na vzduchu, pro který lze považovat N =, pak pro koeficient odrazu rozhraní vzduch-vrstva ze vztahu () plyne ( n ) + k R =. ( n + ) + k 0 (-R) 0 (-R) 0 e -αd = (-R) 0 e -αd R(-R) 0 e -αd R(-R) 0 e -αd R(-R) 0 e -αd R (-R) 0 e -3αd = R (-R) 0 e -3αd R (-R) 0 e -αd 3 = R 4 (-R) 0 e -5αd n = R (n-) (-R) 0 e -(n-)αd x = 0 x = d Obrázek. Schematické znázornění kolmého průchodu rovnoběžného svazku paprsků světla planparalelní absorbující vrstvou o tloušťce d. 3
5 Je-li součin αd > můžeme druhý člen ve jmenovateli vztahu () zanedbat a pro transmisi vrstvy psát αd ( R) e. Známe-li R a d, můžeme pak ze změřené závislosti (ν) jednoduše určit spektrální závislost absorpčního koeficientu α(ν). Pokud koeficient odrazu R neznáme a nemůžeme odrazy světla na stěnách vrstvy zanedbat, lze absorpční koeficient určit změřením propustnosti dvou vrstev o různých tloušťkách d a d. Podíl propustností a obou vrstev αd = 0 α ( d d ) = e αd (3) 0 R e R e nezávisí na intenzitě 0 dopadajícího světla, takže ji k určení podílu a nepotřebujeme znát. Je-li navíc splněna podmínka αd > a αd > můžeme vztah (3) zapsat ve tvaru ( d d ) e α, z něhož pro výpočet absorpčního koeficientu plyne aproximativní vztah d d α ln. (4)... Absorbující vrstva na podložce Dopadá-li světlo na silně absorbující prostředí je pohlceno na velmi malé vzdálenosti od povrchu. Měření transmise takových materiálů je tudíž nutno provádět na velmi tenkých vrstvách, které jsou obvykle připraveny na vhodné podložce. Při měření pomocí dvoupaprskového spektrofotometru se do jednoho paprsku vkládají měřené vrstvy a do druhého referenční vzorek. Poněvadž koeficient odrazu na rozhraní vzduch-podložka je jiný než na rozhraní absorbující vrstva-podložka, je nutné jako referenční vzorek použít podložku s velmi tenkou vrstvou zkoumaného materiálu o tloušťce d 0, aby se vyloučil nejen vliv podložky ale i vliv rozhranní vrstva-podložka. Předpokládejme, že máme vzorek tvořený planparalelní vrstvou absorbujícího materiálu nanesenou na planparalelní podložce s absorpčním koeficientem α a paprsek světla o frekvenci ν a intenzitě 0 dopadá kolmo na rozhranní vzduch-absorbující vrstva s koeficientem odrazu R. Dále nechť je tloušťka absorbující vrstvy d, její absorpční koeficient 4
6 α, tloušťka podložky d, koeficient odrazu rozhraní podložka-vzduch R a koeficient odrazu rozhraní vrstva-podložka R r. ntenzita světla, které projde celým vzorkem, je αd αd ( R )( Rr ) ( R ) 0e e = αd. (5) αd ( R R e )( R R e ) r r K určení koeficientu absorpce zkoumaného materiálu lze s výhodou využít měření propustnosti dvou různě tlustých vrstev tohoto materiálu nanesených na stejných podložkách, přičemž jako referenční vzorek se použije identická podložka s velmi tenkou vrstvou zkoumaného materiálu o tloušťce d 0. Pomocí dvoupaprskového spektrofotometru se změří podíly P = (d )/(d 0 ) a P = (d )/(d 0 ) propustnosti obou vzorků vůči propustnosti referenčního vzorku, přičemž (d 0 ) je intenzita světla prošlého referenčním vzorkem a (d ) a (d ) intenzita světla prošlého vzorkem s vrstvou o tloušťce d a d. Podíl těchto dvou hodnot P P R R e R R e α ( d d ) r = e αd. (6) r α d závisí pouze na tloušťce a absorpčním koeficientu vrstev a koeficientech odrazu R a R r. Ze vztahu (6) pak pro absorpční koeficient α dostaneme α P R R e αd r = ln + ln αd. (7) d d P d d RRr e Je-li splněna podmínka α d > a α d >, jako například α > 0 4 cm - a d (d ) > 0-4 cm, můžeme druhý člen ve vztahu (7) zanedbat a velikost absorpčního koeficientu α pro danou frekvenci světla ν vypočítat ze vztahu ln P d d P α. (8).3. Určení šířky zakázaného pásu Měření absorpčního spektra, které udává závislost absorpčního koeficientu na frekvenci nebo energii fotonů světla, představuje nejjednodušší způsob studia pásové struktury pevných látek. Při absorpci fotonu s energií hν dojde k přechodu elektronu z nižšího energetického stavu do vyššího. Studiem propustnosti daného materiálu můžeme pozorovat různé elektronové přechody a získat tak informace o rozdělení elektronových stavů. V reálném materiálu existuje celá řada elektronových přechodů jako například mezipásové přechody, přechody uvnitř pásu, přechody mezi hladinami příměsí či mezi hladinami příměsí a pásy. Výsledný tvar absorpčního spektra závisí na typu materiálu a na podmínkách 5
7 experimentu. Slabší přechody mohou být překryty silnějšími a nemusejí se v absorpčním spektru pozorovat. Zde se omezíme se na mezipásové přechody. Závislost αhν na energii fotonů hν je pro jednotlivé typy mezipásových přechodů uvedena v následující tabulce, kde E o je šířka zakázaného pásu pro přímý přechod, E g šířka zakázaného pásu pro nepřímý přechod a E b je energie fononu. přímý přechod nepřímý přechod dovolený zakázaný dovolený zakázaný ( hν E ) o ( h E ) 3 o ν ( hν E ± E ) ( hν E ± E ) 3 g b g b Spektrální závislost absorpčního koeficientu v oblasti, kde je α > 0 cm -, lze pro většinu materiálů aproximovat vztahem α = C ( h ν ) n hν Eg, (9) kde C je konstanta. Ze závislosti (αhν) /n na hν lze extrapolací přímky do (αhν) /n = 0 určit šířku zakázaného pásu E g pro mezipásové přechody (optická šířka zakázaného pásu). Pro uvažované materiály lze energii fononů vzhledem k šířce zakázaného pásu E g zanedbat.. Laboratorní úloha.. Popis experimentálního zařízení SPECORD UV VS je dvoupaprskový spektrofotometr, který umožňuje v ultrafialové a viditelné oblasti spektra měřit podíl m m P = = r r propustnosti m a r měřeného a referenčního vzorku v závislosti na vlnočtu ν vyjádřeném v cm - (ν = /λ = ν/c). m a r je intenzita světla po průchodu měřeným respektive referenčním vzorkem. Spektrofotometr SPECORD UV VS, jehož schéma je na obrázku, má dva zdroje světla a to deuteriovou výbojku () pro ultrafialovou oblast spektra a žárovku s wolframovým vláknem () pro viditelnou oblast spektra. Deuteriová výbojka se používá v rozsahu vlnočtů cm - (λ nm) a žárovka v rozsahu cm - (λ nm). Výměna zdroje světla nastává automaticky posunutím rovinného zrcadla (3) při 6
8 přechodu z ultrafialové do viditelné oblasti spektra. Světlo ze zdroje je soustředěno dutým zrcadlem (4) na vstupní štěrbinu (5) hranolového monochromátoru, kde se rozkládá na spektrum. Část světla z úzké oblasti spektra v okolí zvoleného vlnočtu pak vstupuje skrz výstupní štěrbinu (0) monochromátoru do fotometrické části spektrofotometru. Zde monochromatické světlo soustředěné dutým zrcadlem () dopadá na rotující disk modulátoru (3), který moduluje intenzitu světla s frekvencí 400 Hz. Modulované světlo se potom odráží od rotujícího půlkruhového zrcadla (4) nebo prochází přímo, takže paprsek světla s frekvencí 5 Hz střídavě dopadá na měřený (9) nebo referenční (8) vzorek. Modulátor a rotující zrcadlo jsou navzájem pevně spojeny a poháněny synchronním motorem. Měřící a referenční paprsek střídavě dopadají na fotonásobič (3), který registruje jejich intenzitu, přičemž optické dráhy obou paprsků jsou naprosto symetrické. Analogový výstup spektrofotometru, který představuje odpor vymezený polohou jezdce na přesném lineárním potenciometru, udává podíl intenzit obou paprsků zeslabených průchodem měřeným respektive referenčním vzorkem. ento odpor úměrný podílu transmise měřeného a referenčního vzorku je měřen digitálním ohmmetrem a přes sériovou linku zaznamenáván jako funkce vlnočtu do počítače, který rovněž pomocí krokového motoru ovládaného přes sériovou linku prostřednictvím programovatelné řídící jednotky zajišťuje otáčení hranolu (7) v monochromátoru a tím změnu vlnočtu světla procházejícího vzorky. Obrázek. Schéma optického uspořádání spektrofotometru SPECORD UV VS... Postup měření Spektrofotometr SPECORD UV VS je řízen počítačem pomocí programu, který zajišťuje automatizované měření podílu transmise měřeného a referenčního vzorku v závislosti na vlnočtu světla a grafické znázornění naměřených hodnot. V případě, že není použit žádný referenčního vzorek, je výsledkem měření přímo spektrální závislost transmise 7
9 měřeného vzorku. Jestliže v dráze měřícího a referenčního paprsku není umístěn žádný vzorek, měl by být na výstupu fotonásobiče zaznamenán při dopadu obou paprsků stejný signál. Vznikající odchylky mohou být způsobeny různou reflektivitou zrcadel na dráze měřícího a referenčního paprsku nebo rozdílným osvětlením fotokatody fotonásobiče při dopadu těchto paprsků. Aby se odstranil vliv těchto parazitních jevů na výsledek měření, změří se nejprve bez vzorků tak zvaná stoprocentní linie, pak se dráha měřícího paprsku před fotonásobičem zcela zacloní a změří se tak zvaná nulová linie. Změřené hodnoty podílu transmise měřeného a referenčního vzorku jsou pak řídícím programem vzhledem k těmto liniím automaticky korigovány..3. Zkoumané vzorky křemene. enké vrstvy GeO různé tloušťky nanesené na stejně tlustých podložkách z taveného.4. Pracovní úkol. Seznamte se se spektrofotometrem SPECORD UV VS a programovým vybavením zajištujícím jeho řízení v průběhu měření i zpracování a grafické znázornění naměřených dat.. V oblasti vlnočtů 500 až 9000 cm - změřte s krokem vlnočtu 00 cm - transmisi dvou vrstev GeO různé tloušťky napařených na křemenných podložkách stejné tloušťky. 3. Vypočtěte tloušťky d a d obou vrstev GeO na základě vztahu d = n( ν ν ), (0) kde ν a ν jsou vlnočty odpovídající dvěma po sobě jdoucím interferenčním minimům ve změřené spektrální závislosti transmise v blízkosti ν = 0000 cm - a index lomu n =,570. Vztah (0) odvoďte. 4. V oblasti vlnočtů až 5500 cm - změřte s krokem vlnočtu 00 cm - spektrální závislost transmise (ν ) a (ν ) obou vrstev GeO. 5. Získané závislosti (ν ) a (ν ) vyhlaďte rychlou Fourierovou transformací a na základě vztahu (8) vypočtěte spektrální závislost absorpčního koeficientu α(ν ). 6. Vypočtenou závislost α( ν )hν proložte nelineární metodou nejmenších čtverců křivkou C( hν E ) n g a určete šířku zakázaného pásu E g a hodnotu exponentu n. 8
10 7. Ze závislosti α(ν ) se pokuste určit typ absorpčních mezipásových přechodů, ke kterým v GeO dochází. 9
11 Úloha 3 3. Určování voltampérové charakteristiky a spektrální závislosti odezvy fotovoltaického článku a fotoelektrické diody. eoretický úvod Činnost fotovoltaického článku respektive fotoelektrické diody je založena na fotoelektrickém jevu, jehož podstatou je skutečnost, že na rozhraní dvou materiálů, na něž dopadá světlo, vzniká elektrické napětí a uzavřením obvodu lze získat elektrický proud. Základem těchto fotoelektrických součástek je tenká polovodičová (nejčastěji křemíková) destička s vodivostí typu P. Na ní se při výrobě vytvoří tenká vrstva polovodiče typu N, obě připravené vrstvy jsou odděleny PN přechodem. Fotony slunečního záření dopadající na křemíkovou destičku uvolňují svojí energií z krystalické mřížky vrstvy typu N polovodičového materiálu elektrony. Pokud páry elektron-díra vzniknou ve vzdálenosti menší než je difúzní délka nosičů, elektrony a díry se dostanou do ochuzené oblasti prostorového náboje, kde jsou separovány vnitřním elektrickým polem PN přechodu. V prvním přiblížení lze koncentraci majoritních nosičů v daném typu polovodiče zanedbat a uvažovat pouze zvětšení koncentrace minoritních nosičů. Díry, pro které potenciální bariéra přechodu PN neexistuje, projdou do polovodiče typu P. ímto způsobem vznikne dodatečný fotoelektrický proud ( f ), který je vyvolaný osvětlením. ento proud poruší původní termodynamickou rovnováhu PN přechodu. Polovodič typu P se nabije kladně proti polovodiči typu N a důsledkem toho dojde k posunu energetických hladin. Na PN přechodu dojde ke vzniku potenciálového rozdílu, který se projeví jako vnější fotoelektrické napětí (U f ). Zátěží (elektrospotřebičem) připojenou mezi oba kontakty potom protéká stejnosměrný elektrický proud, jenž je přímo úměrný ploše polovodičové součástky a intenzitě dopadajícího slunečního záření. kde N n, proud děr. Ve stacionárním stavu je celkový proud procházející PN přechodem roven nule, neboli N P N P = 0, f n n p p N p, P n, P p jsou proudy rovnovážných nosičů náboje při osvětlení a f je nadbytečný Jestliže je přechod PN připojen k nějakému vnějšímu obvodu, kterým teče proud, pak musí platit ϕ U k f s ( e -) = U f, R 0
12 Úloha 3 kde S je součet rovnovážných hodnot proudů elektronů a děr a ϕ je energetický rozdíl kvazi- Fermiho hladin při osvětlení. Fotoelektrický proud se rovná proudu vnější zátěží a proudu závěrnou vrstvou.. Laboratorní úloha.. Seznam pomůcek Osvětlovací zařízení, zdroj konstantního proudu k napájení stowattové halogenové žárovky s wolframovým vláknem v osvětlovacím zařízení, ploskovypuklá křemenná čočka s ohniskovou vzdáleností 35 mm a průměrem 5 mm osazená v optickém držáku, irisová clona osazená v optickém držáku, optická lavice, sada interferenčních filtrů o průměru 5 mm propouštějících světlo vždy pouze v úzkém pásu vlnových délek ve viditelné nebo blízké infračervené oblasti spektra, držák interferenčních filtrů, wattmetr s křemíkovým detektorem s kalibrovanou spektrální závislostí citlivosti, digitální multimetr, odporová dekáda, stabilizovaný zdroj stejnosměrného napětí, propojovací vodiče, držák proměřovaného fotovoltaického článku či fotoelektrické diody... Proměřované vzorky Křemíkový fotovoltaický článek, křemíková fotoelektrická dioda..3. Experimentální uspořádání a postup měření Osvícení fotovoltaického článku či fotoelektrické diody zajišťuje speciální stowattová halogenová žárovka s téměř bodovým wolframovým vláknem umístěná v krytu mezi kondenzorem a konkávním zrcadlem, které jsou do něho integrovány. akováto konstrukce osvětlovacího zařízení umožňuje získat ze záření vydávaného halogenovou žárovkou intenzivní rovnoběžný svazek světla. Halogenová žárovka je napájena stejnosměrným proudem o velikosti 6,5 A ze zdroje konstantního proudu. Rovnoběžný svazek světla vystupující z osvětlovacího zařízení nejprve kolmo prochází irisovou clonou umožňující omezit jeho průřez a pak dopadá na křemennou čočku, přičemž osa svazku prochází středem irisové clony a splývá s optickou osou čočky, která svazek světla soustředí na fotovoltaický článek nebo fotoelektrickou diodu tak, že osa svazku prochází kolmo středem okénka v jejich plášti, které je propustné pro světlo. Proměřovaný fotovoltaický článek nebo fotoelektrická dioda jsou stejně jako křemenná čočka a irisová clona připevněny pomocí polohově nastavitelného optického držáku k optické lavici. Zacloněním svazku světla před
13 Úloha 3 fotovoltaickým článkem nebo fotoelektrickou diodou křemíkovým detektorem wattmetru lze wattmetrem monitorovat intenzitu jejich osvitu a prostřednictvím změny světlosti irisové clony nastavit její požadovanou velikost. Při vyšetřování spektrální závislosti velikosti fotoelektrického napětí fotovoltaického článku nebo spektrální závislosti velikosti fotoelektrického proudu fotoelektrické diody prochází rovnoběžný svazek světla vystupující z osvětlovacího zařízení nejprve přes interferenční filtr, čímž je ze spojitého spektra vyzařování halogenové žárovky získáno světlo ve spektrálně úzkém pásu v okolí vlnové délky odpovídající maximální propustnosti interferenčního filtru. Spektrální závislost citlivosti křemíkového detektoru je uložena v paměti wattmetru a po zadání vlnové délky světla dopadajícího na detektor wattmetr udává skutečnou intenzitu jeho osvitu, takže pomocí změny světlosti irisové clony je možné pro všechny interferenční filtry nastavit intenzitu osvitu fotovoltaického článku nebo fotoelektrické diody tak, aby byla nezávislá na vlnové délce dopadajícího světla. Blokové schéma experimentálního uspořádání pro měření jednotlivých charakteristik fotovoltaického článku a fotoelektrické diody je uvedeno u každého pracovního úkolu..4. Pracovní úkol. Změřte závislost velikosti fotoelektrického napětí nezatíženého křemíkového fotovoltaického článku na intenzitě osvětlení. Pomocí irisové clony vždy nastavte intenzitu osvitu, její velikost změřte wattmetrem a pak odečtěte na multimetru velikost fotoelektrického napětí na fotovoltaickém článku. irisová clona V osvětlovací zdroj čočka. Změřte závislost velikosti fotoelektrického napětí nezatíženého křemíkového fotovoltaického článku na vlnové délce dopadajícího světla při konstantní intenzitě osvětlení v celém vyšetřovaném spektrálním oboru. Vlnovou délku světla měňte pomocí interferenčních filtrů. Začněte od nejkratší vlnové délky. Pro každý interferenční filtr měřte
14 Úloha 3 intenzitu osvitu fotovoltaického článku wattmetrem, dokud se vám ji nepodaří pomocí irisové clony nastavit na zvolenou konstantní hodnotu a pak odečtěte na multimetru velikost fotoelektrického napětí na fotovoltaickém článku. irisová clona V osvětlovací zdroj filtr čočka 3. Pro zvolenou intenzitu osvitu změřte voltampérovou charakteristiku křemíkového fotovoltaického článku, která udává závislost velikosti fotoelektrického proudu na velikosti fotoelektrického napětí. Měňte velikost odporu na odporové dekádě a pro každou hodnotu odporu na elektronické zátěži odečtěte na multimetru velikost fotoelektrického napětí na fotovoltaickém článku a velikost fotoelektrického proudu tekoucího obvodem. irisová clona A V odporová dekáda osvětlovací zdroj čočka 4. Pro zvolenou intenzitu osvětlení změřte voltampérovou charakteristiku křemíkové fotoelektrické diody, která udává závislost velikosti proudu diodou na přiloženém závěrném napětí. Na stabilizovaném zdroji stejnosměrného napětí postupně zvyšujte výstupní napětí a pro každou nastavenou hodnotu odečtěte na multimetru velikost napětí na fotoelektrické diodě a velikost proudu tekoucího obvodem. 3
15 Úloha 3 irisová clona A V odporová dekáda osvětlovací zdroj čočka Změřte velikost fotoelektrického proudu pro křemíkovou fotoelektrickou diodu v závislosti na intenzitě osvětlení při konstantním přiloženém závěrném napětí. Na fotoelektrické diodě nastavte zvolené závěrné napětí. Pomocí irisové clony vždy nastavte intenzitu osvitu, její velikost změřte wattmetrem a pak odečtěte na multimetru velikost proudu tekoucího obvodem. Experimentální uspořádání je stejné jako v předchozím pracovním úkolu. 6. Pro konstantní přiložené závěrné napětí změřte závislost velikosti fotoelektrického proudu křemíkovou fotoelektrickou diodou na vlnové délce dopadajícího světla při konstantní intenzitě osvětlení v celém vyšetřovaném spektrálním oboru. Na fotoelektrické diodě nastavte zvolené závěrné napětí. Vlnovou délku světla měňte pomocí interferenčních filtrů. Začněte od nejkratší vlnové délky. Pro každý interferenční filtr měřte intenzitu osvitu fotoelektrické diody wattmetrem, dokud se vám ji nepodaří pomocí irisové clony nastavit na zvolenou konstantní hodnotu a pak odečtěte na multimetru velikost proudu tekoucího obvodem. irisová clona A V odporová dekáda osvětlovací zdroj filtr čočka + - 4
SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE)
SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE) Elektromagnetické vlnění SVĚTLO Charakterizace záření Vlnová délka - (λ) : jednotky: m (obvykle nm) λ Souvisí s povahou fotonu Charakterizace záření
VíceMěření šířky zakázaného pásu polovodičů
Měření šířky zakázaného pásu polovodičů Úkol : 1. Určete šířku zakázaného pásu ze spektrální citlivosti fotorezistoru pro šterbinu 1,5 mm. Na monochromátoru nastavujte vlnovou délku od 200 nm po 50 nm
Více6. STUDIUM SOLÁRNÍHO ČLÁNKU
6. STUDIUM SOLÁRNÍHO ČLÁNKU Měřicí potřeby 1) solární baterie 2) termoelektrická baterie 3) univerzální měřicí zesilovač 4) reostat 330 Ω, 1A 5) žárovka 220 V / 120 W s reflektorem 6) digitální multimetr
VíceZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části
VíceMĚŘENÍ ABSOLUTNÍ VLHKOSTI VZDUCHU NA ZÁKLADĚ SPEKTRÁLNÍ ANALÝZY Measurement of Absolute Humidity on the Basis of Spectral Analysis
MĚŘENÍ ABSOLUTNÍ VLHKOSTI VZDUCHU NA ZÁKLADĚ SPEKTRÁLNÍ ANALÝZY Measurement of Absolute Humidity on the Basis of Spectral Analysis Ivana Krestýnová, Josef Zicha Abstrakt: Absolutní vlhkost je hmotnost
VíceMĚŘENÍ PLANCKOVY KONSTANTY
Úloha č. 14a MĚŘENÍ PLANCKOVY KONSTANTY ÚKOL MĚŘENÍ: 1. Změřte napětí U min, při kterém se právě rozsvítí červená, žlutá, zelená a modrá LED. Napětí na LED regulujte potenciometrem. 2. Nakreslete graf
VíceMěření charakteristik fotocitlivých prvků
Měření charakteristik fotocitlivých prvků Úkol : 1. Určete voltampérovou charakteristiku fotoodporu při denním osvětlení a při osvětlení E = 1000 lx. 2. Určete voltampérovou charakteristiku fotodiody při
VíceSpektrometrické metody. Reflexní a fotoakustická spektroskopie
Spektrometrické metody Reflexní a fotoakustická spektroskopie odraz elektromagnetického záření - souvislost absorpce a reflexe Kubelka-Munk funkce fotoakustická spektroskopie Měření odrazivosti elmg záření
VíceCharakteristiky optoelektronických součástek
FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Ústav fyziky FEKT VUT BRNO Spolupracoval Jan Floryček Jméno a příjmení Jakub Dvořák Ročník 1 Měřeno dne Předn.sk.-Obor BIA 27.2.2007 Stud.skup. 13 Odevzdáno dne Příprava Opravy Učitel
VíceFYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE
FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE Datum měření: 18.4.2012 Jméno: Jakub Kákona Pracovní skupina: 2 Hodina: Po 7:30 Spolupracovníci: Viktor Polák Hodnocení: Měření s polarizovaným světlem Abstrakt V
VíceSvětlo jako elektromagnetické záření
Světlo jako elektromagnetické záření Základní pojmy: Homogenní prostředí prostředí, jehož dané vlastnosti jsou ve všech místech v prostředí stejné. Izotropní prostředí prostředí, jehož dané vlastnosti
VíceFYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE
FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE Datum měření: 18.4.2012 Jméno: Jakub Kákona Pracovní skupina: 2 Hodina: Po 7:30 Spolupracovníci: Viktor Polák Hodnocení: Měření s polarizovaným světlem Abstrakt V
VíceFotoelektrické snímače
Fotoelektrické snímače Úloha je zaměřena na měření světelných charakteristik fotoelektrických prvků (součástek). Pro měření se využívají fotorezistor, fototranzistor a fotodioda. Zadání 1. Seznamte se
VíceFYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE
FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE Datum měření: 1.4.2011 Jméno: Jakub Kákona Pracovní skupina: 4 Ročník a kroužek: Pa 9:30 Spolupracovníci: Jana Navrátilová Hodnocení: Měření s polarizovaným světlem
VíceELEKTRICKÝ PROUD ELEKTRICKÝ ODPOR (REZISTANCE) REZISTIVITA
ELEKTRICKÝ PROD ELEKTRICKÝ ODPOR (REZISTANCE) REZISTIVITA 1 ELEKTRICKÝ PROD Jevem Elektrický proud nazveme usměrněný pohyb elektrických nábojů. Např.:- proud vodivostních elektronů v kovech - pohyb nabitých
VíceMĚŘENÍ ABSORPCE SVĚTLA SPEKOLEM
MĚŘENÍ ABSORPCE SVĚTLA SPEKOLEM Průchodem světla homogenním prostředím se jeho intenzita zmenšuje podle Lambertova zákona. Klesne-li intenzita monochromatického světla po projití vrstvou tloušťky l z hodnoty
VíceCharakteristiky optického záření
Fyzika III - Optika Charakteristiky optického záření / 1 Charakteristiky optického záření 1. Spektrální charakteristika vychází se z rovinné harmonické vlny jako elementu elektromagnetického pole : primární
VíceÚčinky elektrického proudu. vzorová úloha (SŠ)
Účinky elektrického proudu vzorová úloha (SŠ) Jméno Třída.. Datum.. 1. Teoretický úvod Elektrický proud jako jev je tvořen uspořádaným pohybem volných částic s elektrickým nábojem. Elektrický proud jako
VíceSPEKTROMETRIE. aneb co jsem se dozvěděla. autor: Zdeňka Baxová
SPEKTROMETRIE aneb co jsem se dozvěděla autor: Zdeňka Baxová FTIR spektrometrie analytická metoda identifikace látek (organických i anorganických) všech skupenství měříme pohlcení IČ záření (o různé vlnové
VíceMolekulová spektroskopie 1. Chemická vazba, UV/VIS
Molekulová spektroskopie 1 Chemická vazba, UV/VIS 1 Chemická vazba Silová interakce mezi dvěma atomy. Chemické vazby jsou soudržné síly působící mezi jednotlivými atomy nebo ionty v molekulách. Chemická
VícePracovní list žáka (ZŠ)
Pracovní list žáka (ZŠ) Účinky elektrického proudu Jméno Třída.. Datum.. 1. Teoretický úvod Elektrický proud jako jev je tvořen uspořádaným pohybem volných částic s elektrickým nábojem. Elektrický proud
VíceMěření vlnové délky spektrálních čar rtuťové výbojky pomocí optické mřížky
Měření vlnové délky spektrálních čar rtuťové výbojky pomocí optické mřížky Úkol : 1. Určete mřížkovou konstantu d optické mřížky a porovnejte s hodnotou udávanou výrobcem. 2. Určete vlnovou délku λ jednotlivých
VíceABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY
ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY 1 Fyzikální základy spektrálních metod Monochromatický zářivý tok 0 (W, rozměr m 2.kg.s -3 ): Absorbován ABS Propuštěn Odražen zpět r Rozptýlen s Bilance toků 0 = +
VíceElektrodynamika, elektrický proud v polovodičích, elektromagnetické záření, energie a její přeměny, astronomie, světelné jevy
Předmět: Náplň: Třída: Počet hodin: Pomůcky: Fyzika (FYZ) Elektrodynamika, elektrický proud v polovodičích, elektromagnetické záření, energie a její přeměny, astronomie, světelné jevy Kvarta 2 hodiny týdně
Více4. Z modové struktury emisního spektra laseru určete délku aktivní oblasti rezonátoru. Diskutujte,
1 Pracovní úkol 1. Změřte současně světelnou i voltampérovou charakteristiku polovodičového laseru. Naměřené závislosti zpracujte graficky. Stanovte prahový proud i 0. 2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte
VíceBalmerova série. F. Grepl 1, M. Benc 2, J. Stuchlý 3 Gymnázium Havlíčkův Brod 1, Gymnázium Mnichovo Hradiště 2, Gymnázium Šumperk 3
Balmerova série F. Grepl 1, M. Benc 2, J. Stuchlý 3 Gymnázium Havlíčkův Brod 1, Gymnázium Mnichovo Hradiště 2, Gymnázium Šumperk 3 Grepl.F@seznam.cz Abstrakt: Metodou dělených svazků jsme určili lámavý
Více13. Spektroskopie základní pojmy
základní pojmy Spektroskopicky významné OPTICKÉ JEVY absorpce absorpční spektrometrie emise emisní spektrometrie rozptyl rozptylové metody Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
VíceSPEKTRÁLNÍ METODY. Ing. David MILDE, Ph.D. Katedra analytické chemie Tel.: ; (c) David MILDE,
SEKTRÁLNÍ METODY Ing. David MILDE, h.d. Katedra analytické chemie Tel.: 585634443; E-mail: david.milde@upol.cz (c) -2008 oužitá a doporučená literatura Němcová I., Čermáková L., Rychlovský.: Spektrometrické
VíceCZ.1.07/2.2.00/ AČ (RCPTM) Spektroskopie 1 / 24
MĚŘENÍ SPEKTRA SVĚTLA Antonín Černoch Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů CZ.1.07/2.2.00/15.0147 AČ (RCPTM) Spektroskopie 1 / 24 Úvod Obsah 1 Úvod 2 Zobrazovací spektrometry Disperzní
VíceMĚŘENÍ PARAMETRŮ FOTOVOLTAICKÉHO ČLÁNKU PŘI ZMĚNĚ SÉRIOVÉHO A PARALELNÍHO ODPORU
MĚŘENÍ PARAMETRŮ FOTOVOLTAICKÉHO ČLÁNKU PŘI ZMĚNĚ SÉRIOVÉHO A PARALELNÍHO ODPORU Zadání: 1. Změřte voltampérovou charakteristiku fotovoltaického článku v závislosti na hodnotě sériového odporu. Jako přídavné
VíceGeometrická optika. předmětu. Obrazový prostor prostor za optickou soustavou (většinou vpravo), v němž může ležet obraz - - - 1 -
Geometrická optika Optika je část fyziky, která zkoumá podstatu světla a zákonitosti světelných jevů, které vznikají při šíření světla a při vzájemném působení světla a látky. Světlo je elektromagnetické
Více25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory
25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie Bezdotykové měření Pyrometrie (obrázky viz. sešit) Bezdotykové měření teplot je měření povrchové teploty těles na základě elektromagnetického záření mezi tělesem
VíceJméno a příjmení. Ročník. Měřeno dne. 11.3.2013 Příprava Opravy Učitel Hodnocení. Charakteristiky optoelektronických součástek
FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Ústav fyziky FEKT VUT BRNO Jméno a příjmení Petr Švaňa Ročník 1 Předmět IFY Kroužek 38 ID 155793 Spolupracoval Měřeno dne Odevzdáno dne Ladislav Šulák 25.2.2013 11.3.2013 Příprava Opravy
VíceSpektrální charakteristiky
Spektrální charakteristiky Cíl cvičení: Měření spektrálních charakteristik filtrů a zdrojů osvětlení 1 Teoretický úvod Interakcí elektromagnetického vlnění s libovolnou látkou vzniká optický jev, který
Více2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte stupnici monochromátoru SPM 2.
1 Pracovní úkoly 1. Změřte současně světelnou i voltampérovou charakteristiku polovodičového laseru. Naměřené závislosti zpracujte graficky. Stanovte prahový proud i 0. 2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte
VíceFyzika pro chemiky II
Fyzika pro chemiky II P. Klang, J. Novák, R. Štoudek, Ústav fyziky kondenzovaných látek, PřF MU Brno 18. února 2004 1 Optika 1. Rovinná elektromagnetická vlna o frekvenci f = 5.45 10 14 Hz polarizovaná
VíceTECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI
TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Polovodičové zdroje fotonů Přehledový učební text Roman Doleček Liberec 2010 Materiál vznikl v rámci projektu ESF
VíceFyzika. 8. ročník. LÁTKY A TĚLESA měřené veličiny. značky a jednotky fyzikálních veličin
list 1 / 7 F časová dotace: 2 hod / týden Fyzika 8. ročník (F 9 1 01.1) F 9 1 01.1 (F 9 1 01.3) prakticky změří vhodně vybranými měřidly fyzikální veličiny a určí jejich změny elektrické napětí prakticky
VíceUrčení Planckovy konstanty pomocí fotoelektrického jevu
Určení Planckovy konstanty pomocí fotoelektrickéo jevu Související témata: Externí fotoelektrický jev, výstupní práce elektronu z kovu, absorpce, energie fotonu Princip a úkol: Fotocitlivý prvek - fotonka
VíceMěření absorbce záření gama
Měření absorbce záření gama Úkol : 1. Změřte záření gama přirozeného pozadí. 2. Změřte záření gama vyzářené gamazářičem. 3. Změřte záření gama vyzářené gamazářičem přes absorbátor. 4. Naměřené závislosti
VíceFYZIKA II. Petr Praus 6. Přednáška elektrický proud
FYZIKA II Petr Praus 6. Přednáška elektrický proud Osnova přednášky Elektrický proud proudová hustota Elektrický odpor a Ohmův zákon měrná vodivost driftová rychlost Pohyblivost nosičů náboje teplotní
VíceVLNOVÁ OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník
VLNOVÁ OPTIKA Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník Vlnová optika Světlo lze chápat také jako elektromagnetické vlnění. Průkopníkem této teorie byl Christian Huyghens. Některé jevy se dají
VíceTechnická měření v bezpečnostním inženýrství. Elektrická měření proud, napětí, odpor
Technická měření v bezpečnostním inženýrství Čís. úlohy: 6 Název úlohy: Elektrická měření proud, napětí, odpor Úkol měření a) Změřte v propustném i závěrném směru voltampérovou charakteristiku - křemíkové
VíceJaký význam má kritický kmitočet vedení? - nejnižší kmitočet vlny, při kterém se vlna začíná šířit vedením.
Jaký význam má kritický kmitočet vedení? - nejnižší kmitočet vlny, při kterém se vlna začíná šířit vedením. Na čem závisí účinnost vedení? účinnost vedení závisí na činiteli útlumu β a na činiteli odrazu
Vícenano.tul.cz Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL
Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL nano.tul.cz Tyto materiály byly vytvořeny v rámci projektu ESF OP VK: Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na Technické univerzitě v Liberci Experimentální
VíceOdraz světla na rozhraní dvou optických prostředí
Odraz světla na rozhraní dvou optických prostředí Může kulová nádoba naplněná vodou sloužit jako optická čočka? Exponát demonstruje zaostření světla procházejícího skrz vodní kulovou čočku. Pohyblivý světelný
VíceAbstrakt. fotodioda a fototranzistor) a s jejich základními charakteristikami.
Název a číslo úlohy: 9 Detekce optického záření Datum měření: 4. května 2 Měření provedli: Vojtěch Horný, Jaroslav Zeman Vypracovali: Vojtěch Horný a Jaroslav Zeman společnými silami Datum: 4. května 2
VíceSvětlo je elektromagnetické vlnění, které má ve vakuu vlnové délky od 390 nm do 770 nm.
1. Podstata světla Světlo je elektromagnetické vlnění, které má ve vakuu vlnové délky od 390 nm do 770 nm. Vznik elektromagnetických vln (záření): 1. při pohybu elektricky nabitých částic s nenulovým zrychlením
VíceÚloha 15: Studium polovodičového GaAs/GaAlAs laseru
Petra Suková, 2.ročník, F-14 1 Úloha 15: Studium polovodičového GaAs/GaAlAs laseru 1 Zadání 1. Změřte současně světelnou i voltampérovou charakteristiku polovodičového laseru. Naměřenézávislostizpracujtegraficky.Stanovteprahovýproud
VíceFotovodivost. Destička polovodiče s E g a indexem lomu n 1. Dopadající záření o intenzitě I 0 a hν E g. Do polovodiče pronikne záření o intenzitě:
Fotovodivost Destička polovodiče s E g a indexem lomu n 1. Dopadající záření o intenzitě I 0 a hν E g. Do polovodiče pronikne záření o intenzitě: Vznikne g párů díra elektron. Přírůstek koncentrace a vodivosti:
VíceŘešení: Nejdříve musíme určit sílu, kterou působí kladka proti směru pohybu padajícího vědra a napíná tak lano. Moment síly otáčení kladky je:
Přijímací zkouška na navazující magisterské studium - 16 Studijní program Fyzika - všechny obory kromě Učitelství fyziky-matematiky pro střední školy, Varianta A Příklad 1 (5 bodů) Jak dlouho bude padat
VíceÚvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv Pavel Matějka, Vadym Prokopec pavel.matejka@vscht.cz pavel.matejka@gmail.com Vadym.Prokopec@vscht.cz
VíceMěření optických vlastností materiálů
E Měření optických vlastností materiálů Úkoly : 1. Určete spektrální propustnost vybraných materiálů různých typů stavebních skel a optických filtrů pomocí spektrofotometru 2. Určete spektrální odrazivost
VícePRAKTIKUM II Elektřina a magnetismus
Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK PRAKTIKUM II Elektřina a magnetismus Úloha č.: XI Název: Charakteristiky diody Pracoval: Pavel Brožek stud. skup. 12 dne 9.1.2009 Odevzdal
VíceLaboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech
Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Úkoly měření: 1. Odhad rozměrů mikro-objektů z informací uváděných výrobcem. 2. Záznam difrakčních obrazců (difraktogramů) vzniklých interakcí laserového
VíceSpeciální spektrometrické metody. Zpracování signálu ve spektroskopii
Speciální spektrometrické metody Zpracování signálu ve spektroskopii detekce slabých signálů synchronní detekce (Lock-in) čítaní fotonů měření časového průběhu signálů metoda fázového posuvu časově korelované
VíceSvětlo x elmag. záření. základní principy
Světlo x elmag. záření základní principy Jak vzniká a co je to duha? Spektrum elmag. záření Viditelné 380 760 nm, UV 100 380 nm, IR 760 nm 1mm Spektrum elmag. záření Harmonická vlna Harmonická vlna E =
VíceOptika pro mikroskopii materiálů I
Optika pro mikroskopii materiálů I Jan.Machacek@vscht.cz Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha +42-0- 22044-4151 Osnova přednášky Základní pojmy optiky Odraz a lom světla Interference, ohyb a rozlišení optických
VíceFyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky
Fyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky 1. Vysvětlete pojmy kulová a rovinná vlnoplocha. 2. Pomocí Hyugensova principu vysvětlete konstrukci tvaru vlnoplochy v libovolném budoucím
VíceMěření optických vlastností materiálů
E Měření optických vlastností materiálů Úkoly : 1. Určete spektrální propustnost vybraných materiálů různých typů stavebních skel a optických filtrů pomocí spektrofotometru 2. Určete spektrální odrazivost
VíceSpektrální charakteristiky optických komponentů
Úloha č. 5 pro laserová praktika KFE, FJFI, ČVUT Praha, verze 27.2.2014 Spektrální charakteristiky optických komponentů Úvod V laboratorní praxi často řešíme otázku, jak v experimentu použitý optický prvek
Více11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr
11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr Otázky k úloze (domácí příprava): Pro jakou teplotu je U = 0 v případě použití převodníku s posunutou nulou dle obr. 1 (senzor Pt 100,
VíceZÁKLADY OBECNÉ A KLINICKÉ BIOCHEMIE
ZÁKLADY OBECNÉ A KLINICKÉ BIOCHEMIE 2004 Technologie kvantitativních metod Petr Štern kapitola ve skriptech - 4.2.2 Optické zdroje U V V I S I R Spektrální distribuční křivky W žárovky b.t. W ~ 3600 C
VíceMĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM
MĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM Difrakce (ohyb) světla je jedním z několika projevů vlnových vlastností světla. Z těchto důvodů světlo při setkání s překážkou nepostupuje dále vždy
VíceUniverzita Tomáše Bati ve Zlíně
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně Ústav elektrotechniky a měření Optoelektronika Přednáška č. 8 Milan Adámek adamek@ft.utb.cz U5 A711 +420576035251 Optoelektronika 1 Optoelektronika zabývá se přeměnou elektrické
VíceV mnoha běžných případech v optickém oboru je zanedbáváno silové působení magnetické složky elektromagnetického pole na náboje v látce str. 3 6.
Nekvantový popis interakce světla s pasivní látkou Zcela nekvantová fyzika nemůže interakci elektromagnetického záření s látkou popsat, např. atom jako soustava kladných a záporných nábojů by vůbec nebyl
VíceJaký obraz vytvoří rovinné zrcadlo? Zdánlivý, vzpřímený, stejně velký. Jaký obraz vytvoří vypuklé zrcadlo? Zdánlivý, vzpřímený, zmenšený
Jan Olbrecht Jaký obraz vytvoří rovinné zrcadlo? Zdánlivý, vzpřímený, stejně velký Jaký obraz vytvoří vypuklé zrcadlo? Zdánlivý, vzpřímený, zmenšený Jaký typ lomu nastane při průchodu světla z opticky
Více2. Zdroje a detektory světla
2. Zdroje a detektory světla transmitance (%) Spektrální rozsah Krátkovlné limity: Absorpce vzduchu (O 2,N 2,vodní pára) - 190 nm Propustnost optiky Spektrální rozsah zdroje vlnová délka (nm) http://www.hellma-analytics.com/text/283/en/material-and-technical-information.html
VíceMěření koncentrace roztoku absorpčním spektrofotometrem
Měření koncentrace roztoku absorpčním spektrofotometrem Teoretický úvod Absorpční spektrofotometrie je metoda stanovení koncentrace disperzního podílu analytické disperze, založená na měření absorpce světla.
VíceStudium fotoelektrického jevu
Studium fotoelektrického jevu Úkol : 1. Změřte voltampérovou charakteristiku přiložené fotonky 2. Zpracováním výsledků měření určete hodnotu Planckovy konstanty Pomůcky : - Ampérmetr TESLA BM 518 - Školní
VíceIng. Pavel Hrzina, Ph.D. - Laboratoř diagnostiky fotovoltaických systémů Katedra elektrotechnologie K13113
Sluneční energie, fotovoltaický jev Ing. Pavel Hrzina, Ph.D. - Laboratoř diagnostiky fotovoltaických systémů Katedra elektrotechnologie K13113 1 Osnova přednášky Slunce jako zdroj energie Vlastnosti slunečního
Více5.8 Jak se změní velikost elektrické síly mezi dvěma bodovými náboji v případě, že jejich vzdálenost a) zdvojnásobíme, b) ztrojnásobíme?
5.1 Elektrické pole V úlohách této kapitoly dosazujte e = 1,602 10 19 C, k = 9 10 9 N m 2 C 2, ε 0 = 8,85 10 12 C 2 N 1 m 2. 5.6 Kolik elementárních nábojů odpovídá náboji 1 µc? 5.7 Novodurová tyč získala
Více2.POPIS MĚŘENÉHO PŘEDMĚTU Měřeným předmětem je v tomto případě nízkofrekvenční nevýkonový tranzistor KC 639. Mezní hodnoty jsou uvedeny v tabulce:
RIEDL 3.EB 10 1/11 1.ZADÁNÍ a) Změřte statické hybridní charakteristiky tranzistoru KC 639 v zapojení se společným emitorem (při měření nesmí dojít k překročení mezních hodnot). 1) Výstupní charakteristiky
Více2.POPIS MĚŘENÉHO PŘEDMĚTU Měřeným předmětem je v tomto případě zenerova dioda její hodnoty jsou uvedeny v tabulce:
REDL 3.EB 9 1/11 1.ZADÁNÍ a) Změřte voltampérovou charakteristiku zenerovy diody v propustném i závěrném směru. Charakteristiky znázorněte graficky. b) Vypočtěte a graficky znázorněte statický odpor diody
Více2 Nd:YAG laser buzený laserovou diodou
2 Nd:YAG laser buzený laserovou diodou 15. května 2011 Základní praktikum laserové techniky Zpracoval: Vojtěch Horný Datum měření: 12. května 2011 Pracovní skupina: 1 Ročník: 3. Naměřili: Vojtěch Horný,
VíceSada 1 - Elektrotechnika
S třední škola stavební Jihlava Sada 1 - Elektrotechnika 8. Polovodiče - nevlastní vodivost, PN přechod Digitální učební materiál projektu: SŠS Jihlava šablony registrační číslo projektu:cz.1.09/1.5.00/34.0284
VíceÚloha č. 1: CD spektroskopie
Přírodovědecké fakulta Masarykovy univerzity v Brně Předmět: Jméno: Praktikum z astronomie Andrea Dobešová Obor: Astrofyzika ročník: II. semestr: IV. Název úlohy Úloha č. 1: CD spektroskopie Úvod: Koho
VícePetr Šafařík 21,5. 99,1kPa 61% Astrofyzika Druhý Třetí
1 Petr Šafařík Astrofyzika Druhý Třetí 1,5 11 99,1kPa 61% Fyzikální praktika 11 Měření tloušt ky tenkých vrstev Tolanského metodou Průchod světla planparalelní deskou a hranolem Petr Šafařík 0. listopadu
VíceFyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze
Fyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze Úloha 5: Měření teploty wolframového vlákna Datum měření: 1. 4. 2016 Doba vypracovávání: 12 hodin Skupina: 1, pátek 7:30 Vypracoval: Tadeáš Kmenta Klasifikace: 1 Zadání
VíceFyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II
Fyzika II Marek Procházka Vlnová optika II Základní pojmy Reflexe (odraz) Refrakce (lom) jevy na rozhraní dvou prostředí o různém indexu lomu. Disperze (rozklad) prostorové oddělení složek vlnění s různou
VíceSPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK
SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE) Ivona Trejbalová, Petr Šmejkal Elektromagnetické vlnění SVĚTLO Charakterizace záření Vlnová délka - (λ) : jednotky: m (obvykle nm) λ Souvisí s povahou
Více15. Elektrický proud v kovech, obvody stejnosměrného elektrického proudu
15. Elektrický proud v kovech, obvody stejnosměrného elektrického proudu 1. Definice elektrického proudu 2. Jednoduchý elektrický obvod a) Ohmův zákon pro část elektrického obvodu b) Elektrický spotřebič
VíceÚloha 3: Mřížkový spektrometr
Petra Suková, 2.ročník, F-14 1 Úloha 3: Mřížkový spektrometr 1 Zadání 1. Seřiďte spektrometr pro kolmý dopad světla(rovina optické mřížky je kolmá k ose kolimátoru) pomocí bočního osvětlení nitkového kříže.
VícePřednáška č.14. Optika
Přednáška č.14 Optika Obsah základní pojmy odraz a lom světla disperze polarizace geometrická optika elektromagnetické záření Světlo = elektromagnetické vlnění o vlnové délce 390nm (fialové) až 790nm (červené)
VíceTechnická měření v bezpečnostním inženýrství. Elektrická měření proud, napětí, odpor
Technická měření v bezpečnostním inženýrství Čís. úlohy: 6 Název úlohy: Elektrická měření proud, napětí, odpor Úkol měření a) Změřte v propustném i závěrném směru voltampérovou charakteristiku - křemíkové
VícePedagogická fakulta v Ústí nad Labem Fyzikální praktikum k elektronice 2 Číslo úlohy : 1
Pedagogická fakulta v Ústí nad Labem Fyzikální praktikum k elektronice Číslo úlohy : 1 Název úlohy : Vypracoval : ročník : 3 skupina : F-Zt Vnější podmínky měření : měřeno dne : 3.. 004 teplota : C tlak
VícePříklady biochemických metod turbidimetrie, nefelometrie. Miroslav Průcha
Příklady biochemických metod turbidimetrie, nefelometrie Miroslav Průcha Příklady optických technik Atomová absorpční spektrofotometrie Absorpční spektrofotometrie Absorpční spektrofotometrie kinetická
VíceFyzika, maturitní okruhy (profilová část), školní rok 2014/2015 Gymnázium INTEGRA BRNO
1. Jednotky a veličiny soustava SI odvozené jednotky násobky a díly jednotek skalární a vektorové fyzikální veličiny rozměrová analýza 2. Kinematika hmotného bodu základní pojmy kinematiky hmotného bodu
VíceNeživá příroda I. Optické vlastnosti minerálů
Neživá příroda I Optické vlastnosti minerálů 1 Charakter světla Světelný paprsek definuje: vlnová délka (λ): vzdálenost mezi následnými vrcholy vln, amplituda: výchylka na obě strany od rovnovážné polohy,
VíceFyzika II, FMMI. 1. Elektrostatické pole
Fyzika II, FMMI 1. Elektrostatické pole 1.1 Jaká je velikost celkového náboje (kladného i záporného), který je obsažen v 5 kg železa? Předpokládejme, že by se tento náboj rovnoměrně rozmístil do dvou malých
VíceFluorescence (luminiscence)
Fluorescence (luminiscence) Patří mezi luminiscenční metody fotoluminiscence. Luminiscence efekt, kdy excitované molekuly či atomy vyzařují světlo při přechodu z excitovaného do základního stavu. Podle
VíceLaboratorní práce č. 3: Určení voltampérové charakteristiky polovodičové diody
Přírodní vědy moderně a interaktivně FYZIKA 2. ročník šestiletého studia Laboratorní práce č. 3: Určení voltampérové charakteristiky polovodičové diody G Gymnázium Hranice Přírodní vědy moderně a interaktivně
VíceEU PENÍZE ŠKOLÁM NÁZEV PROJEKTU : MÁME RÁDI TECHNIKU REGISTRAČNÍ ČÍSLO PROJEKTU :CZ.1.07/1.4.00/21.0663
EU PENÍZE ŠKOLÁM NÁZEV PROJEKTU : MÁME RÁDI TECHNIKU REGISTRAČNÍ ČÍSLO PROJEKTU :CZ.1.07/1.4.00/21.0663 Speciální základní škola a Praktická škola Trmice Fűgnerova 22 400 04 1 Identifikátor materiálu:
VícePRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne 23.4.2009.
Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK PRAKTIKUM III Úloha č. XXVI Název: Vláknová optika Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne 23.4.2009 Odevzdal dne: Možný počet bodů
VíceManuální, technická a elektrozručnost
Manuální, technická a elektrozručnost Realizace praktických úloh zaměřených na dovednosti v oblastech: Vybavení elektrolaboratoře Schématické značky, základy pájení Fyzikální principy činnosti základních
VíceMěření závislosti indexu lomu kapalin na vlnové délce
Měření závislosti indexu lomu kapalin na vlnové délce TOMÁŠ KŘIVÁNEK Přírodovědecká fakulta Masarykovy univerzity, Brno Abstrakt V příspěvku je popsán jednoduchý experiment pro demonstraci a měření závislosti
VíceZákladní parametry absorpčního spektra, vliv přístrojové funkce (spektrální šířky štěrbiny), vliv polohy kyvety a vlastní fluorescence vzorku
Základní parametry absorpčního spektra, vliv přístrojové funkce (spektrální šířky štěrbiny), vliv polohy kyvety a vlastní fluorescence vzorku A. ZADÁNÍ 1. Naučte se ovládat spektrofotometr Unicam UV55
VíceTEPELNÉ ÚČINKY EL. PROUDU
Univerzita Pardubice Fakulta elektrotechniky a informatiky Materiály pro elektrotechniku Laboratorní cvičení č. 1 TEPELNÉ ÚČINKY EL. POUDU Jméno(a): Mikulka oman, Havlíček Jiří Stanoviště: 6 Datum: 19.
VíceNa základě toho vysvětlil Eisnstein vnější fotoefekt, kterým byla platnost tohoto vztahu povrzena.
Vlnově-korpuskulární dualismus, fotony, fotoelektrický jev vnější a vnitřní. Elmg. teorie záření vysvětluje dobře mnohé jevy v optice interference, difrakci, polarizaci. Nelze jí ale vysvětlit např. fotoelektrický
VíceUrčení čtyřpólových parametrů tranzistorů z charakteristik a ze změn napětí a proudů
Určení čtyřpólových parametrů tranzistorů z charakteristik a ze změn napětí a proudů Tranzistor je elektronická aktivní součástka se třemi elektrodami.podstatou jeho funkce je transformace odporu mezi
Více