2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu.



Podobné dokumenty
1. Proveďte energetickou kalibraci gama-spektrometru pomocí alfa-zářiče 241 Am.

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Proč elektronový mikroskop?

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek

2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná.

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

Elektronová Mikroskopie SEM

Graf I - Závislost magnetické indukce na proudu protékajícím magnetem. naměřené hodnoty kvadratické proložení. B [m T ] I[A]

Tabulka I Měření tloušťky tenké vrstvy

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)

2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte stupnici monochromátoru SPM 2.

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

1. Změřte modul pružnosti v tahu E oceli z protažení drátu. 2. Změřte modul pružnosti v tahu E oceli a duralu nebo mosazi z průhybu trámku.

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II

Úloha č.: I Název: Studium relativistických jaderných interakcí. Identifikace částic a určování typu interakce na snímcích z bublinové komory.

PRAKTIKUM II Elektřina a magnetismus

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

1. Změřit metodou přímou závislost odporu vlákna žárovky na proudu, který jím protéká. K měření použijte stejnosměrné napětí v rozsahu do 24 V.

3. Vypočítejte chybu, které se dopouštíte idealizací reálného kyvadla v rámci modelu kyvadla matematického.

Krystalografie a strukturní analýza

Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie

Theory Česky (Czech Republic)

magnetizace M(t) potom, co těsně po rychlé změně získal vzorek magnetizaci M 0. T 1, (2)

I Mechanika a molekulová fyzika

Vlnové vlastnosti světla. Člověk a příroda Fyzika

1. Změřte průběh intenzity magnetického pole na ose souosých kruhových magnetizačních cívek

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Metody charakterizace

PRAKTIKUM IV Jaderná a subjaderná fyzika

METALOGRAFIE II. Oceli a litiny

Teorie elektromagnetického pole Laboratorní úlohy

PRAKTIKUM II Elektřina a magnetismus

Měření zeslabení těžkých nabitých částic při průchodu materiálem pomocí detektorů stop

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

5.2.3 Duté zrcadlo I. Předpoklady: 5201, 5202

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

Elektronová mikroskopie v materiálovém výzkumu

Fyzika II, FMMI. 1. Elektrostatické pole

Analýza obrazu II. Jan Macháček Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha

Chemicko-technologický průzkum barevných vrstev. Arcibiskupský zámek, Sala Terrena, Hornická Grotta. štuková plastika horníka

Nauka o materiálu. Přednáška č.2 Poruchy krystalické mřížky

- zabývá se pozorováním a zkoumáním vnitřní stavby neboli struktury (slohu) kovů a slitin

PŘÍNOS METALOGRAFIE PŘI ŘEŠENÍ PROBLÉMŮ TEPELNÉHO ZPRACOVÁNÍ NÁSTROJOVÝCH OCELÍ. Antonín Kříž

1. Změřte závislost indukčnosti cívky na procházejícím proudu pro tyto případy:

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec

Praktikum III - Optika

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů

1 Teoretický úvod. 1.2 Braggova rovnice. 1.3 Laueho experiment

Optické spektroskopie 1 LS 2014/15

Měření absorbce záření gama

1 Švédská proužková metoda (Pettersonova / Felleniova metoda; 1927)

Světlo je elektromagnetické vlnění, které má ve vakuu vlnové délky od 390 nm do 770 nm.

Petr Šafařík 21,5. 99,1kPa 61% Astrofyzika Druhý Třetí

Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.

3. Totéž proveďte pro 6 8 hodnot indukce při pozorování ve směru magnetického pole. Opět určete polarizaci.

1. Zadání Pracovní úkol Pomůcky

Jaký obraz vytvoří rovinné zrcadlo? Zdánlivý, vzpřímený, stejně velký. Jaký obraz vytvoří vypuklé zrcadlo? Zdánlivý, vzpřímený, zmenšený

Fyzikální veličiny a jednotky, přímá a nepřímá metoda měření

Oblasti průzkumu kovů

Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Praktikum IV

Řešení: Nejdříve musíme určit sílu, kterou působí kladka proti směru pohybu padajícího vědra a napíná tak lano. Moment síly otáčení kladky je:

MŘÍŽKY A VADY. Vnitřní stavba materiálu

Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm

1. Změřte momenty setrvačnosti kvádru vzhledem k hlavním osám setrvačnosti.

1. Ze zadané hustoty krystalu fluoridu lithného určete vzdálenost d hlavních atomových rovin.

Úkoly. 1 Teoretický úvod. 1.1 Mikroskop

1. Z přiložených objektivů vyberte dva, použijte je jako lupy a změřte jejich zvětšení a zorná pole přímou metodou.

2. Difrakce elektronů na krystalu

DRUHY A UTVÁŘENÍ TŘÍSEK

5.2.8 Zobrazení spojkou II

Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil

Relativní chybu veličiny τ lze určit pomocí relativní chyby τ 1. Zanedbáme-li chybu jmenovatele ve vzorci (2), platí *1+:

2. Prostudovat charakter interakcí různých částic v hadronovém kalorimetru

5.0 STĚNY PŮDORYSNĚ ZALOMENÉ A ZAKŘIVENÉ

Světlo jako elektromagnetické záření

Slunce zdroj energie pro Zemi

Metody analýzy povrchu

Materiály 1 (K618MRI1)

Závislost odporu kovového vodiče na teplotě

Metodika hodnocení strukturních změn v ocelích při tepelném zpracování

Systém vykonávající tlumené kmity lze popsat obyčejnou lineární diferenciální rovnice 2. řadu s nulovou pravou stranou:

Techniky mikroskopie povrchů

Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)

Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí

Charakteristika a mrtvá doba Geiger-Müllerova počítače

Využití radionuklidové rentgenfluorescenční analýzy při studiu památek

Jádro se skládá z kladně nabitých protonů a neutrálních neutronů -> nukleony

Praktikum I Mechanika a molekulová fyzika

PRAKTIKUM II Elektřina a magnetismus

PRAKTIKUM I. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Pracoval: Pavel Ševeček stud. skup.: F/F1X/11 dne:

Inovativní výrobky a environmentální technologie (reg. č. CZ.1.05/3.1.00/ ) ENVITECH

c) vysvětlení jednotlivých veličin ve vztahu pro okamžitou výchylku, jejich jednotky

Úloha č. 1: CD spektroskopie

Šum v obraze CT. Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předmět: lékařská přístrojová fyzika

Transkript:

1 Pracovní úkoly 1. Změřte střední velikost zrna připraveného výbrusu polykrystalického vzorku. K vyhodnocení snímku ze skenovacího elektronového mikroskopu použijte kruhovou metodu. 2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu. 2 Teoretický úvod Skenovací elektronový mikroskop (SEM) se používá pro zkoumání povrchů materiálů, případně pro zkoumání objemu blízko k povrchu materiálu. K tomu se používá elektronový svazek, který interakcí s materiálem dává za vznik různým druhům signálů, které se pak registrují pomocí detektorů a podle nichž se rekonstruuje povrch vzorku či zjišťuje jeho složení. Pro mikroskop použitý v praktiku mají význam hlavně tři kanály záření, které se detekují. Jednak odražené elektrony primárního svazku. Ty nám podávají informaci hlavně o členitosti povrchu vzorku. V místech, kde jsou nerovnosti, je odražených elektronů více. Dalším kanálem jsou sekundární elektrony, které vznikají vyražením elektronů z elektronových slupek atomů při povrchu. Sekundární elektrony se dokáží ze vzorku dostat pouze z určité hloubky a poskytují nám informaci pouze jen o několika atomových vrstvách povrchu vzorku. Třetím kanálem je charakteristické rentgenové záření, kterým se dá nejlépe určit chemické složení vzorku, protože každý prvek má svoje charakteristické spektrum, které vyzařuje. Pokud tyto tři detekční systémy spojíme, pak můžeme získat komplexní informaci po povrchové vrstvě zkoumaného vzorku. 2.1 Určování střední velikosti zrna Pro určování střední velikosti zrna d v pozorovaném vzorku je vhodné použít kruhovou metodu, kdy si na snímku vytvoříme několik kružnic a u každé pak určíme pomocí vzorce střední velikost zrna proťatého danou kružnicí d = 3π D 2 n, (1) kde D je průměr nakreslené kružnice a n je počet proťatých zrn. Z takto získaných hodnot pro jednotlivé kružnice pak určíme statisticky střední velikost zrna d. 3 Měření Pro měření laboratorní práce byl použit elektronový mikroskop, jehož urychlovací napětí bylo napevno nastaveno na 15kV. Výstup mohl být nastaven přímo na obrazovku ovládacího panelu mikroskopu, ale pro vysokou obnovovací frekvenci 50Hz neposkytoval podrobný obraz, který by bylo možné sledovat prostým okem. Naopak pokus jsme nastavili výstup na počítačovou obrazovku, kde počítač statisticky obraz korigoval, mohlo být dosaženo vysokého zvětšení s vysokým rozlišením. 3.1 Lom intermetalického materiálu Nejprve jsme zkoumali rozdíl mezi lomem intermetalika Fe 3 Al při pokojové teplotě a při vysoké teplotě (700 C). Při pokojové teplotě dochází k lomu procházejícímu po hranicích zrn - tzv. interkrystalickému (křehkému) lomu, jak je vidět na obrázku č. 1. Naopak za vysoké teploty dochází k lomu, který přechází přes zrna - jedná se o transkrystalický lom - viz obrázek č. 2. 1 / 6

Obrázek 1: Snímek z elektronového mikroskopu - lom Fe 3 Al vzniklý při pokojové teplotě Obrázek 2: Snímek z elektronového mikroskopu - lom Fe 3 Al vzniklý při 700 C 2 / 6

Tabulka 1: Určování střední velikosti zrna kruhovou metodou Kružnice č. R D µm µm n d µm 1 45,6 91,2 58 7,41 2 47,1 94,2 56 7,93 3 45,0 90,0 58 7,31 4 42,6 85,2 52 7,72 5 57,5 115,0 69 7,85 3.2 Určování velikosti zrna Pro určování velikosti zrn je potřeba vzorek nejprve připravit a pro mikroskop hranice mezi zrny zvýraznit. Toho lze docílit tím, že se původně hladký vyleštěný výbrus neleptá chemickou látkou. Tím se jednak vyvolá struktura tak, že u hranic mezi zrny dojde k výraznějšímu odleptání látky. A navíc bývají orientace krystalů v látce rozmístěny náhodně a leptání probíhá jinou rychlostí pokud je krystal orientovaný rovnoběžně s výbrusem a jinou rychlostí, pokud je umístěný kolmo. Tím se vytvoří výškové rozdíly mezi sousedními zrny. Jak již bylo zmíněno v teorii, pro určení střední velikosti zrna materiálu, byla použita kruhová metoda. Snímek, na kterém jsou zakreslené kružnice, podél nichž byla počítána zrna, je č. 3. Pro správné určení střední velikosti zrna by ovšem bylo potřeba provést tuto metodu na dvou snímcích, které by byla provedeny kolmo na sebe, protože je možné, že zrna v materiálu mohou mít podlouhlý tvar. A také by by bylo potřeba udělat více snímků z různých míst povrchu, abychom potvrdili, že zrna mají v rámci celého vzorku stejnou velikost a tedy, že materiál, který studujeme, bude mít vlastnosti, které na základě našeho pozorování budeme očekávat. V našem případě ovšem vyjdeme z předpokladu izotropie a homogenity materiálu a velikost zrna budeme určovat z jednoho předem připraveného snímku. Naměřené hodnoty poloměrů kružnic R a počtu proťatých zrn n jsou v tabulce č. 1. Velikost kružnic byl určena pomocí počítačového programu, ve kterém bylo zadáno správně zvětšení snímku a počet zrn jsem určoval prostým okem. Do počtu zrn jsem nezapočítával oblasti s eutektickou fází a počítal jsem pouze zrna. Kružnice jsou jak v obrázku, tak v tabulce označeny číslem. Odhad mé chyby určení počtu zrn je ±2 zrna na kružnici s ohledem na to, že jsem při sčítání zrn mohl nějaké vynechat, protože mělo nevýrazné okraje a splývalo se sousedním, nebo naopak jsem jedno započítal dvakrát, pokud mělo na snímku členitější povrch. také jsem mohl špatně určit počet zrn v oblasti, kde se kružnice protínaly a mohl jsem mylně předpokládat, že v určité oblasti je pouze jedno zrno, nebo naopak zrna dvě, i když tomu mohlo být právě naopak. Ve skutečnosti je pravděpodobné, že takovéto chyby nastaly, tak se nejspíše také vyrušily a proto je můj odhad chyby tak nízký. Po započítání této chyby a chyby statistické vychází střední velikost zrna jako d = (7, 6 ± 0, 4) µm. 3.3 Určení frakčního objemu dendritických částic Další úkol byl spojen s pozorováním eutektické slitiny Mg-Cu-Zn. Na obrázku č. 4 je snímek, který byl zpracováván dále pomocí binarizace, tj. byl převeden na černobílý snímek s tím, že byla nastavena hranice pro to, v jak silně šedá ještě bude převedena na bílou a jaké úrovně bude již převedena na černou. Takto získaný snímek pomocí binarizace je označen číslem 5. Celková plochy tvořená dendritickými částicemi (bílá barva) byla pomocí počítačového programu pak určena jako S d = 0, 0010 mm 2. Oba dva rozměry snímku byly určeny jako a = b = 0, 0785 mm. Potom frakční poměr dendritických částic ve vzorku vůči celému vzorku je S d 16%. (2) ab Vzhledem k tomu, že hranice toho, jaký odstín šedé bude považován za dendritickou částici 3 / 6

Obrázek 3: Snímek pro určování střední velikosti zrna kruhovou metodou Obrázek 4: Snímek s dendritickými částicemi 4 / 6

Obrázek 5: Upravený snímek pro výpočet poměrné plochy zabrané dendritickými částicemi Tabulka 2: Rozdělení dendritických částic do tříd dle velikosti Skupina Počet částic ve skupině Celková plocha Podíl plochy Průměrná plocha µm 2 µm 2 1 153 825,5 82,3% 5,4 2 2 72,4 7,2% 36,2 3 1 105,5 10,5% 105,5 a jaký odstín za ni již nebude považován, je určena pouze subjektivně, pak lze i těžko odhadovat chyba, které se při měření dopustilo. Měla by ovšem být v řádu % a proto nemá smysl udávat frakční poměr na více platných cifer, nežli na dvě. Na snímku 5 byly pak také rozděleny částice do skupin podle velikosti. V mém případě na 3 skupiny - malé, střední a velké dendritické částice. Počty částic v jednotlivých skupinách, jejich průměrné plochy a podíl plochy který mezi všemi dendritickými částicemi jednotlivé skupiny zabírají, jsou uvedeny v tabulce č. 2. Opět se jedná o subjektivní určení. Je totiž možné částice rozdělit do více, či méně skupin a podle toho, na kolik skupin se rozdělení provede, se bude měnit počet částic v jednotlivých skupinách. 5 / 6

4 Diskuse Při zkoumání lomu se povedlo pozorovat lomy F e 3 Al provedené při pokojové teplotě a při teplotě 700 C a pozorovat signifikantní rozdíly mezi jednotlivými lomy. Při určování střední velikosti zrna jsme se mohli dopustit chyby v tom, že jsme předpokládali, že přiložený snímek pochází z homogenního a izotropního materiálu. Tento předpoklad jsme si nemohli ověřit na více snímcích a proto nemusí být úplně pravdivý. Další chybou při určování střední velikosti zrna mohlo být špatné určení počtu proťatých zrn kružnicemi, protože hranice mezi zrny nebyly vždy úplně jasné a navíc v místě protínání kružnic je těžké rozeznat, kolik zrn přesně kružnice proťala. Také ve vzorku byla přítomna frakce, která byla tvořena velmi malými zrníčky, která se nezapočítávala a mohla ovlivnit měření. A to minimálně tak, že v případě, že s nimi napočítáme a na základě naměřené velikosti zrna budeme usuzovat něco u vlastnostech měřené látky, pak ve skutečnosti budou nejspíše vlastnosti vzorku výrazně horší než předpovězené (např. bude docházet k rychlejší korozi, bude mít menší odolnost vůči kyselinám a zásadám, protože na menších částečkách dochází k rychlejším chemickým reakcím než na velkých částicích). Při určování frakčního poměru dendritických částic jsme vycházeli z binarizace snímku, která byla vytvořena čistě subjektivně - v tom mohla vniknout největší chyba měření. Dále pak pomocí provedené binarizace počítač určil plochu zabranou dendritickými částicemi, což je ovšem již relativně přesné, protože snímek má rozlišení 512x512 pixelů. Platí totiž, že čím vyšší rozlišení máme k dispozici, tím menší chyba vznikne kvůli středování hodnoty pixelu. I počet různých skupin částic, do kterých je můžeme rozdělit, je subjektivní měřítko. Navíc i u tohoto měření jsme předpokládali určitou homogenitu a izotropii, ale přitom na různých místech můžou vypadat řezy různě a dendritické částice na některých výbrusech mohou být spojené a některých jich naopak může být více jednotlivých. 5 Závěr Pomocí snímku z elektronového mikroskopu za použití kruhové metody jsem určil střední velikost zrna materiálu jako d = (7, 6 ± 0, 4) µm. Určil jsem frakční objem dendritických částic zhruba jako 16 %. 6 Literatura [1] Studijní text k fyzikálnímu praktiku: Určení strukturních parametrů krystalických látek metodami skenovací elektronové mikroskopie (SEM) http://physics.mff.cuni.cz/vyuka/zfp/txt_418.pdf 6 / 6