icro-xrf Rychlé nedestruktivní stanovení tlouštěk vrstev a jejich prvkového složení metodou XRF Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý
X-S t : Zvýšení kvality produktů a zlepšen SAC Ag Keramika Vrchní vrstva: Složení SAC (SnAg) pájek a měření tlouštěk Druhá vrstva: tloušťka povlaku Třetí vrstva: Ag tloušťka povlaku Čtvrtá vrstva: Základní materiál Elektronika SAC Ag Keramika Au slitiny P Al Au Epoxy Au/Ag Pd Ag Epoxy Povrchová úprava Elektrické a elektronické součástky Zvýšení produktivity díky lepšímu řízení výrobního procesu Záruka spolehlivosti jednotlivých komponent Simultánní stanovení chemického složení pájek a tloušťky jejich vrstev Záruka životnosti výrobku díky optimalizovanému řízení kvality Analýza zlaté a paladiové vrstvy na elektrických kontaktech Tloušťka povlaku P vrstvy na počítačových pevných discích Pájitelnost Elektrické kontakty Pokovování ZnFe Fe TiN Ocel ZrCN Mosaz Cr Zn Fe TiAlN Karbid W Cr Al P Fe Cr Fe AuCd Pokovování Minimalizace výrobních nákladů při procesu pokovení a maximalizace produkce Rychlost a jednoduchost analýzy Stanovení tlouštěk jednoprvkových i slitinových vrstev včetně analýzy jejich chemického složení Analýza až 4 vrstev (plus základní materiál) Analýza pokovovacích lázní Korozní odolnost Odolnost proti povětrnostním a teplotním vlivům Dekorativní úprava povrchů Analýza velmi tenkých vrstev (např. Au/Pd vrstvy pod 0,1 μm)
rata980 í procesu řízení a kontroly Testy shody Kovové slitiny Alternativní energie ppm Pb ppm Hg ppm Cd ppm Cr ppm Br ppm Pb Nebezpečné materiály % Au % % % Zn % Cr % Fe % % Mo % Au % Ag % % Zn Chemické složení a identifikace % % In % Ga % Se Mo % % In % Ga Fotovoltaické články % Cd % Te Sklo Keramika Sklo Au SnPb Au PPb Vysoká věrohodnost testů Testování shody dle požadavků směrnic RoHS/WEEE/ELV* Zvýšení kontroly kvality pro dosažení shody výrobků s produktovou specifikací Stanovení nebezpečných prvků v rozsahu obsahů od ppm až po vysoká % Kvantifikace toxických prvků jako např. Cd, Hg, Pb atd. pro ověření shody * Směrnice EU 2002/95/ES o omezení užívání některých nebezpečných látek v elektrických a elektronických zařízeních Rozbor chemického složení a identifikace kovových slitin Rychlá a nedestruktivní analýza šperků, bižuterie a jiných speciálních (např. dentálních) slitin Analýza drahých kovů Stanovení ryzosti Materiálová identifikace Stanovení nečistot Solární panely a palivové články Zabezpečení uniformity a efektivity produktů Analýza složení tenkovrstvých absorbérů (např. CIS, CIGS, CdTe) ve fotovoltaických článcích Optimalizace elektrické vodivosti díky stanovení tloušťky vrstvy
Mikro-XRF analýza je snadná: 1 Umístěte vzorek do velké měřicí komory Nedestruktivní analýza: Žádná úprava vzorku Snadné vkládání a manipulace se vzorkem díky velkému vstupnímu otvoru Bezpečná a bezriziková práce: Uzavřená měřicí komora Velikost měřicí komory: 580mm x 510mm x 230mm š/d/v 2 Zaostřete kameru jedním kliknutím tlačítka Nezaostřeno Zaostřeno Zaměření vzorku nezávislé na subjektivním vjemu operátora: Zaměřte a klikněte na laserovou fokusaci Jasně vymezená bodová analýza: Barevná kamera s vysokým rozlišením a zvětšením Bezobslužný provoz: Jednobodová nebo vícenásobná analýza díky měřicímu stolku programovatelnému ve všech osách (X, Y i Z) Jednoduchá a rychlá vícebodová analýza: Uživatelsky předdefinované vzory a programy 3 a pro spuštění analýzy klikněte na Go Zobrazení výsledku během několika sekund Rychlé a barevně zvýrazněné vyhodnocení shody Vyhovuje/ Nevyhovuje podle uživatelem nadefinovaných kriterií Uložení, tisk nebo odeslání výsledků Flexibilita měřicích protokolů díky software SRG pro uživatelskou tvorbu protokolů Výsledky
X-Strat Pozoruhodná přesnost a správnost měření a dlouhodobá stabilita přístroje: Rychlá a přesná analýza: Vysoká citlivost díky 100 W rtg lampě Oxford Instruments Jednoduchá identifikace a odlišení prvků: Velkoplošný polovodičový Si PIN detektor s vysokým rozlišením, chlazený Peltierovým článkem Optimalizace výkonu pro široký prvkový rozsah: Použití vícenásobných primárních filtrů Měření vzorků o velikosti 150 µm: Vícenásobný kolimátor Nízké detekční limity i v takových matricích jako např. plasty: Speciální měřicí podložka s nízkým pozadím Pevné a odolné provedení: Nezávislý přístroj: Pouze jeden přívod elektrické energie Kompaktní pracoviště: Vynikající ergonomika přístroje a malý půdorys Provoz možný v laboratorních i provozních podmínkách Odolný průmyslový design
a980analýza velkých a tvarově rozličných dílů DETEKTOR KOLIMÁTOR VZOREK 4 STOLEK Vzorky mohou být měřeny při různé fokální vzdálenosti (od 12,7 mm do 101 mm): Metody připravené pro různé fokální vzdálenosti a různé tvary a velikosti vzorků Měření DIM (nezávislé na fokální vzdálenosti): S touto volitelnou univerzální kalibrací je možné měřit nepravidelné vzorky bez ohledu na fokální vzdálenost (měřitelný fokální rozsah 12,7 101 mm) Rychlé a přesné nastavení vzorku pomocí automatického nastavení rozsahu (ARF) Flexibilní měřicí protokoly: Široké možnosti exportu dat K dispozici kompletní statistická data jako průměr, standardní odchylka, histogramy a kontrolní diagramy Export dat v reálném čase nebo export do Microsoft ExcelTM pro rychlý tiskový výstup Aplikační zástupci umožňují uživateli vybrat kalibrace pro specifické vzorky jedním kliknutím Uživatelské prostředí dostupné v devíti jazycích
Komplexní analýza Jednoduché kalibrační nastavení pro optimalizovanou analýzu chemického složení a stanovení tloušťky vrstev Zvolte nejlepší analytickou metodu pro Vaši aplikaci: I když nejsou k dispozici žádné standardy, poskytnou metody fundamentálních parametrů FP věrohodné kvantitativní výsledky. Tyto metody využívají komplexní spektrální databázi a pokrývají široký rozsah koncentrací a tlouštěk. Připravit aplikační metodu je tak otázkou několika málo minut Jestliže jsou dostupné standardy, které odpovídají měřeným vzorkům (např. matrice, analyty, rozsah koncentrace), poskytne větší přesnost empirická kalibrace. Uživatel může díky intuitivnímu průvodci i po krátkém zaškolení vytvořit vlastní empirickou kalibraci Mapovací software pro identifikaci problémových ploch vzorku Pb Br Kvantitativní analýza nadefinované plochy vzorku během jednoho měřicího cyklu pomocí speciální funkce Mapping Zobrazení vzorku s překrytou mapou prvků Mapa barevně odlišených prvků usnadní zjištění problémových míst na vzorku Provedení plné kvantitativní analýzy pro zjištění neshody
SUPPORT Oxford Instruments Naše globální síť poskytuje široký rozsah zákaznické podpory, který zahrnuje: Technická podpora po telefonu Firemní proškolení obsluhy Profesionální zaškolení Aplikační podpora Celosvětové zajištění dodávky náhradních dílů Podpora v národním jazyku Záruční i pozáruční servis prostřednictvím lokálních národních servisních zastoupení Dodávky spotřebního materiálu, recertifikace a rekalibrace Dlouholeté vynikající výsledky Firma Oxford Instruments patří již mnoho let k předním celosvětovým průkopníkům v mnoha vědních oborech a to jak v základním tak i aplikovaném výzkumu. Oxford Instruments, který se před padesáti lety oddělil jako první komerční pobočka od Univerzity v Oxfordu, je na špici rtg. technologií od roku 1970. je posledním modelem řady pro rtg. měření povrchových vrstev a spojuje zkušenosti firmy Oxford Instruments spolu s flexibilitou, spolehlivostí a snadným používáním. Image: Oxford Spires Pro více informací navštivte stránky www.oxford-instruments.com/xstrata Oxford Instruments Industrial Analysis For more information please email industrial@oxinst.com UK High Wycombe Tel: +44 (0) 1494 442255 China Shanghai Tel: +86 21 6132 9688 Finland Espoo Tel: +358 9 329 411 Germany Uedem Tel: +49 (0) 2825 93 83-0 Latin America Concord MA Tel: +1 978 369 9933 Ext. 220 Singapore Tel: +65 6337 6848 North America Concord MA TOLLFREE: +1 800 447 4717 Tel: +1 978 369 9933 www.oxford-instruments.com Autorské právo k této publikaci má Oxford Instruments plc. Tato publikace poskytuje pouze rámcové informace, které (pokud není písemně dohodnuto jinak) nesmí být použity nebo zkopírovány k žádnému účelu ani být součástí jakékoli objednávky nebo smlouvy nebo být použity pro prezentaci odkazující na tyto produkty nebo služby. Strategií firmy Oxford Instruments je stále se zlepšovat. Firma si vyhrazuje právo měnit bez upozornění specifikaci, vzhled nebo podmínky dodávky jakéhokoli výrobku nebo služby. Oxford Instruments uznává všechny ochranné známky a registrace. Oxford Instruments plc, 2010. Všechna práva vyhrazena. Part no: OIIA/029/C/0610 Zastoupení pro ČR a SR PCS spol. s r.o. Na Dvorcích 18, 140 00 Praha 4 Tel./Fax:+420 296 796 444/777 analytika@pcs.cz www.pcs.cz