CMI900. Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků a jejich prvkového složení metodou XRF. Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý

Transkript

1 COATINGS Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků a jejich prvkového složení metodou XRF Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý

2 CMI9 : Garantovaná kvalita a snížené náklady Elektronika Pokovování Au Pd Vrchní vrstva: Au (zlato) tloušťka povlaku Druhá vrstva: Pd (paladium) tloušťka povlaku Třetí vrstva: (nikl) tloušťka povlaku Čtvrtá vrstva: Základní materiál Au Epoxy SnPb Epoxy Au Pd P Al Elektrické a elektronické součástky Zvýšení produktivity s lepším řízením procesu Záruka spolehlivosti komponent Složení pájecích slitin a měření tloušťek Záruka životnosti výrobku díky optimalizovanému řízení kvality Např.: Sn Ag Keramika Au slitiny Ag Epoxy Povrchová úprava Analýza zlaté a paladiové vrstvy na elektrických kontaktech Pájitelnost Elektrické kontakty Tloušťka povlaku vrstvy P na počítačových pevných discích ZnFe Fe TiN Ocel ZrCN Mosaz Cr Zn Fe TiAlN Karbid W Cr Al Pokovování Minimalizace výrobních nákladů při procesu pokovení a maximalizace produkce Rychlost a jednoduchost analýzy Stanovení tlouštěk jednoprvkových i slitinových vrstev včetně analýzy jejich chemického složení Analýza až 4 vrstev P Fe Cr Fe AuCd Analýza pokovovacích lázní Korozní odolnost Odolnost proti povětrnostním vlivům/teplu Dekorativní úprava povrchů

3 00 Rtg. fluorescence (XRF) Kovové slitiny Rtg. paprsky tvoří část elektromagnetického spektra a jsou charakterizovány jejich energií (v kiloelektronvoltech - kev) nebo vlnovou délkou (v nanometrech - nm). Rtg. fluorescence je důsledek změn, které nastanou uvnitř atomu. Stabilní atom obsahuje jádro, které obklopují elektrony. Obklopující elektrony jsou z hlediska své energie uspořádány do slupek. Každá slupka obsahuje elektrony se stejnou energií. Jestliže na atom dopadne primární rtg. záření s vysokou energií, poruší se jeho stabilita. Elektron je vyražen z hladiny s nízkou energií (viz diagram) a vytvoří se prázdné místo (vakance). Důsledkem je, že elektron z vyšší energetické hladiny přeskočí do této vakance. Energetický rozdíl odpovídající přechodu elektronu mezi těmito hladinami se uvolní ve formě sekundárního záření, které je charakteristické pro daný atom (prvek). Tento jev se nazývá rentgenová fluorescence. Rtg. lampa % Au % % % Zn % Cr % Fe % % Mo % Au % Ag % % Zn Chemický rozbor a identifikace Rtg. lampa Detektor Detektor Fluorescenční rtg. paprsky Primární rtg. paprsky Jádro Vyražený elektron Složení kovových slitin a identifikace Rychlá a nedestruktivní analýza bižuterie, šperků a jiných slitin Analýza drahých kovů Stanovení ryzosti Materiálová identifikace Jak využívá rentgenovou fluorescenci? Rtg. lampa ozařuje zkoumaný vzorek a excituje fotony Detektor měří sekundární neboli fluorescenční rtg. záření Vzorek Intenzita vybuzeného rtg. záření určuje tloušťku a/nebo složení vrstvy Výhody analýzy rtg. fluorescencí Minimální nebo žádná příprava vzorku Nedestruktivní analýza Široký rozsah prvkového rozboru, Ti22 až U 92 Analýza pevných látek a roztoků Rychlost analýzy: výsledky během několika sekund Kvalitativní, semi-kvantitativní a úplná kvantitativní analýza Snadné používání s minimálním zaškolením o metodě rtg. fluorescence (XRF)

4 Analýza tloušťky povlaku je jednoduchá... 1 Umístěte vzorek na měřicí stolek v analyzátoru Nedestruktivní analýza: žádná příprava vzorku Velký měřicí stolek umožňuje měření velkých Snadné vložení/umístění vzorku: štěrbinová komora plochých vzorků 2 Zaostřete kameru kliknutím na tlačítko Nezaostřeno Zaostřeno Zaměření vzorku nezávislé na subjektivním vjemu operátora: Zamiřte a klikněte na laserový zaměřovač Jasně vymezená bodová analýza: barevná kamera s vysokým rozlišením a zvětšením Bezobslužný provoz: jednobodová nebo vícebodová analýza díky programovatelnému stolku v osách XY (volitelná položka) a Z Jednoduchá a rychlá vícebodová analýza: podle uživatelsky předdefinovaného vzoru 3 Spusťte měření kliknutím na Go Během několika vteřin se zobrazí výsledky Výsledky uložte, vytiskněte, přepošlete Flexibilita zobrazení výsledků pomocí předdefinovaných/uživatelských formulářů Výsledky

5 Vysoce výkonný XRF spektrometr Rychlá a přesná analýza: proporcionální detektor a 50wattová mikrofokusovaná rtg. lampa zajišťují vysokou citlivost Jednoduché prvkové rozlišení: sekundární terčíkové filtry zajišťují spektrální rozlišení překrývajících se prvků Optimalizovaná výkonnost v širokém prvkovém rozsahu: optimalizované metody s přednastavenými parametry. je dodáván s předinstalovanými parametry pro více než 800 rozličných aplikací Vynikající dlouhodobá stabilita: Automatická teplotní kompenzace měří teplotu zařízení a generuje korekce pro získání stabilních výsledků Jednoduchý a rychlý spektrální kalibrační postup ověřuje parametry zařízení (jako je např. citlivost) a aplikuje potřebné korekce Pevné a odolné provedení Provoz v laboratoři nebo ve výrobě Odolné průmyslové provedení Technologie ověřená v praxi více než 3000 prodanými přístroji po celém světě Jednoduché nastavení kalibrace Nejsou-li k dispozici žádné standardy, dociluje se spolehlivých výsledků jednoduchým nastavením bezstandardní analýzy (metodou fundamentálních parametrů FP), platným pro široký rozsah tlouštěk a koncentrací Jsou-li k dispozici standardy (typicky 1 až 3), docílí se nejlepší přesnosti empirickou kalibrací K vytvoření metody stačí pouze pár minut Pro nejlepší přesnost dodává firma Oxford Instruments certifikované standardy (akreditace A2LA a ISO/IEC 17025)

6 Odstranění kolísání výsledků způsobeného rozdílným zaměřováním operátorů Laserové zaměřování vzorku Jednoduchá operace zaměř a klikni zajistí zaostření bodu na Fixní ohnisková vzdálenost je 12,7 mm, 0,5 Analýzy různých tvarů a velikostí vzorků Rtg. paprsky Vzorek Rtg. lampa Kolimátor Multikolimátory Optimální výkonnosti se dociluje pomocí flexibilního výběru kolimátorů Nejlepší citlivost a rychlost analýzy K dispozici je multikolimátor s až 6 kolimátory pro rozšíření aplikačního rozsahu Pokročilý bezpečnostní systém Evidovaný víceúrovňový přístup do systému pomocí osobních hesel Úroveň Operátor pro snadné používání systému v provozu bez možnosti zásahu do přístrojového nastavení Úroveň Supervisor pro kalibrování, správu a údržbu systému Úroveň Technik pro systémová servisní nastavení

7 Tři volitelné konfigurace Pro vaše analytické požadavky CMI 900 Mini well Měřicí komora s nastavitelnou výškou po krocích 12,7 mm, lze vkládat díly až 160 mm vysoké CMI 900 s fixním měřicím stolkem Poloha stolku je fixní Ekonomické a praktické Tato plochá základna poskytuje ideální platformu pro díly, které nejsou více než 33 mm (1,30 ) vysoké Každá ze tří volitelných přístrojových variant má vstupní štěrbinu uzpůsobenou pro zakládání nadměrných vzorků, např. nadměrné desky plošných spojů CMI 900 s programovatelným měřicím stolkem Tato konfigurace umožňuje uživateli automatický programovatelný výběr části, která má být analyzována Jednoduché navádění stolku do pozice pro prohlédnutí oblasti na vzorku a k přesnému zaměření bodu, který má být změřen Standardní velikost stolku je 560 mm x 600 mm (22 -D x 24 -W) Posun je 177,8 mm x 177,8 mm (7 x 7 ) Výkonný a flexibilní software SRG pro tvorbu měřicích protokolů Dovoluje vytvořit uživatelský formát protokolu Umožňuje integrovat uživatelská statistická data včetně grafického znázornění Vkládá obrázek vzorku do protokolu

8 Servis Support i a celosvětová zákaznická podpora Firma Oxford Instruments se pyšní těsnou partnerskou spoluprací se svými zákazníky. Našim cílem je poskytovat komplexní technickou podporu a přístrojový servis během celé životnosti produktů. Tým specialistů z oddělení zákaznické podpory předává základní technické znalosti o údržbě a servisu jak zákazníkům, tak naší globální distributorské síti za účelem udržení hladkého chodu vašich analyzátorů. Naše globální síť poskytuje široký rozsah podpory zákazníkům: Základní a pokročilé uživatelské kurzy Podpora a servisní kontrakty pro minimalizaci odstávek, audit ISO a certifikační procedury Přístrojová expertní technická poradna Oxford Instruments Podpora během záruky a opravy přístrojů Software i hardware aktualizace přístroje (Přístrojový upgrade) Náhradní díly (dostupné přes vyškolené distributory) Spotřební materiály Recertifikace a rekalibrace V pozadí vašeho úspěchu Na vaši investici do našeho přístroje se vztahuje globální a lokální podpora na nejvyšší úrovni s cílem poskytnout vám její komplexní rozsah k zajištění vašeho úspěchu. Pro více informací navštivte stránky Oxford Instruments Industrial Analysis For more information please industrial@oxinst.com UK High Wycombe Tel: +44 (0) China Shanghai Tel: Finland Espoo Tel: Germany Uedem Tel: +49 (0) Latin America Concord MA Tel: Ext. 220 Singapore Tel: North America Concord MA TOLLFREE: Tel: Autorské právo k této publikaci má Oxford Instruments plc. Tato publikace poskytuje pouze rámcové informace, které (pokud není písemně dohodnuto jinak) nesmí být použity nebo zkopírovány k žádnému účelu ani být součástí jakékoli objednávky nebo smlouvy nebo být použity pro prezentaci odkazující na tyto produkty nebo služby. Strategií firmy Oxford Instruments je stále se zlepšovat. Firma si vyhrazuje právo měnit bez upozornění specifikaci, vzhled nebo podmínky dodávky jakéhokoli výrobku nebo služby. Oxford Instruments uznává všechny ochranné známky a registrace. Oxford Instruments plc, Všechna práva vyhrazena. Part no: OIA/098/D/1210 Zastoupení pro ČR a SR: PCS spol. s r.o. Na Dvorcích 18, Praha 4 Tel: , Fax: analytika@pcs.cz