Nanotechnologie pro společnost, KAN400480701 NANOSTRUKTURY NA BÁZI UHLÍKU A POLYMERU PRO VYUŽITÍ V BIOELEKTRONICE A V MEDICÍNE Řež, březen 2007
Graduates with B.S. in Chemical Engineering ( universal engineers ) are the highest paid engineers in the US (starting $56K annually)
Temata řešená v rámci projektu na VŠCHT A4 Nanostruktury vytvořené ozářením nízkoenergetickými ionty 1. příprava uspořádaných nanostruktur na povrchu polymerů 2. jejich aplikace pro studium adheze a proliferace buněk Cíl: příspěvek k oboru tkáňové inženýrství B1 Nanostruktury polymerů a uhlíku pro tkáňové inženýrství 1. příprava bioaktivních nanostruktur na povrchu (naprašování, napařování, CVD) 2. studium adheze C nanostruktur na polymerním substrátu 3. studium adheze a proliferace buněk Cíl: příprava polymerních filmů aktivovaných uhlíkovou nanostrukturou vhodných pro léčbu ztráty kožního krytu a konstrukci cévních protéz C2 Nanostruktury karboranových mono-vrstev Roubování kovových nanočástic na modifikovaný polymer 1. zvýšit adhezi kovových nanovrstev pro elektroniku 2. zvýšit adhezi a proliferaci buněk pro tkáňové inženýrství Cíl: příspěvek k oborům materiálové a tkáňové inženýrství
Spoluřešitelský tým na VŠCHT spoluřešitel: spolupracovníci: spolupracovníci: doktorandi: diplomant: V.Švorčík (zaměstnaní) V.Bejšovec, K.Kolářová, V.Rybka (50%) P.Sajdl, M.Novotná, V.Kotál, J.Siegel, N.Kasálková R.Nožička
Zařízení na Ústav inženýrství pevných látek,všcht v Praze depozice struktur: naprašování, napařování, CVD ( Uni Linz) modifikace povrchu: plasma, excimerová lampa (Uni Linz) analytika : SEM, AFM, goniometrie, el. měření, refraktometrie kooperace: spektroskopie (FTIR, UV-Vis, Raman, XPS, ), nanoindentace
HEC SMC 3T3 RDG DGEA REDV YIGSR IKVAV RDG KRSR J.Heitz, V.Švorčík, et al., J.Biomed.Mater.Res. 67A, 130 (2003). T.Gumpenberger, V.Švorčík, et al., Biomaterials 24, 5139 (2003).
HDPE HDPE/plasma HDPE/plasma/Au
Adheze Au na polymer V.Kotál, V.Švorčík, et al., Plasma Proc.Polym. 4, 69 (2007). 500 µm
X-Ray structure parameters of Au layers deposited (50 nm) on pristine and plasma treated polymers PE Line (h k l) Grain size [nm] Lattice stress [GPa] PET Line (h k l) Grain size [nm] Lattice stress [MPa] PE/Au (1 1 1) (2 0 0) 17 13 1.244 0.763 Au/PET (1 1 1) (2 0 0) 19 45 943 708 PE/240/n/Au (1 1 1) (2 0 0) 13 9 0.950 0.346 Au/n/180/PET (1 1 1) (2 0 0) 40 6 918 846 PE/240/o/Au (1 1 1) (2 0 0) 10 6 0.748 0.058 Au/o/180/PET (1 1 1) (2 0 0) 33 5 804 709 V.Švorčík et al., Polym.Eng.Sci.46, 1326 (2006). V.Kotál, V.Švorčík, et al., Plasma Proc.Polym. 4, 69 (2007).
C layers on PTFE modified by 172 nm Xe-lamp in NH3 from acetylene Thickness [nm] 140 130 120 110 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 SEM Profilometer 0 5 10 15 20 25 30 35 Deposition time [min] O.Kubová, V.Švorčík. et al., Thin Solid Films, přijato.
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT v Praze 250000 2 DENSITY [cells/cm ] 200000 80 60 5 10 15 20 25 30 35 150000 0.6 100000 0.4 50000 0.2 Deposition time [min] 0 F C O PTFE/C30 C PTFE 650 450 Bonding energy [ev] PTFE10 PTFE20 PTFE30 PS 0.0 1 mm PTFE Intensity [a.u.] 0 0.8 250 O.Kubová, V.Švorčík, et al., Thin Solid Films, přijato. MTS Int. [a.u.] Contact angle [ ] 100 1.0 Day1 Day3 Day7 120
Pardubice, leden 2007 Děkuji Vám za pozornost