TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ III.

Podobné dokumenty
Iradiace tenké vrstvy ionty

Plazmové metody Materiály a technologie přípravy M. Čada

TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ II.

Využití plazmových metod ve strojírenství. Metody depozice povlaků a tenkých vrstev

Přehled metod depozice a povrchových

Studijní opora pro předmět Technologie elektrotechnické výroby

TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ I. APLIKACE LITOGRAFIE

Přednáška 3. Napařování : princip, rovnovážný tlak par, rychlost vypařování.

VY_32_INOVACE_ELT-1.EI-20-VYROBA INTEGROVANEHO OBVODU. Střední odborná škola a Střední odborné učiliště, Dubno

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj

5. Vedení elektrického proudu v polovodičích

Fyzikální metody nanášení tenkých vrstev

Technologie CMOS. Je to velmi malý svět. Technologie CMOS Lokální oxidace. Vytváření izolačních příkopů. Vytváření izolačních příkopů

ELEKTRONICKÉ PRVKY TECHNOLOGIE VÝROBY POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ

Vakuové metody přípravy tenkých vrstev

Lasery v mikroelektrotechnice. Soviš Jan Aplikovaná fyzika

PRINCIP MĚŘENÍ TEPLOTY spočívá v porovnání teploty daného tělesa s definovanou stupnicí.

VY_32_INOVACE_ENI_3.ME_18_Technologie polovodičových součástek. Střední odborná škola a Střední odborné učiliště, Dubno Ing.

Vybrané technologie povrchových úprav. Metody vytváření tenkých vrstev Doc. Ing. Karel Daďourek 2008

6 Hybridní integrované obvody, tenkovrstvé a tlustovrstvé technologie a jejich využití

Základní typy článků:

Fyzikální vzdělávání. 1. ročník. Učební obor: Kuchař číšník Kadeřník. Implementace ICT do výuky č. CZ.1.07/1.1.02/ GG OP VK

VAKUOVÁ TECHNIKA VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ. Semestrální projekt FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ

ANALÝZA POVLAKOVANÝCH POVRCHŮ ŘEZNÝCH NÁSTROJŮ

Zvyšování kvality výuky technických oborů

III/2 Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT. Pracovní list č.3 k prezentaci Křivky chladnutí a ohřevu kovů

Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně

Anomální doutnavý výboj

VY_32_INOVACE_06_III./2._Vodivost polovodičů

Tenké vrstvy (TV ) Hybridní Integrované Obvody (HIO)

U BR < 4E G /q -saturační proud ovlivňuje nárazovou ionizaci. Šířka přechodu: w Ge 0,7 w Si (pro N D,A,Ge N D,A,Si ); vliv U D.

Vakuová technika. Výroba tenkých vrstev vakuové naprašování

5 Monolitické integrované obvody

galvanicky chemicky plazmatem ve vakuu Vrstvy ve vakuu MBE Vakuová fyzika 2 1 / 39

1/64 Fotovoltaika - základy

Mikro a nanotribologie materiály, výroba a pohon MEMS

Fotovoltaika - základy

Chemické metody plynná fáze

Tenká vrstva - aplikace

Technologie a vlastnosti tenkých vrstev, tenkovrstvé senzory

r W. Shockley, J. Bardeen a W. Brattain, zahájil epochu polovodičové elektroniky, která se rozvíjí dodnes.

Elektřina a magnetizmus polovodiče

2.3 Elektrický proud v polovodičích

SEZNAMTE SE S FIRMOU PUREON. Čištění stroj. součástí a výr. zařízení Recyklace drahých kovů Rafinace drahých kovů.

Polovodičovéové čipy. - aktivní součástky stky elektronických obvodů a systémů

Elektrický proud v polovodičích

Tenké vrstvy pro lékařství 1. Laserové vrstvy ( metody přípravy vrstev, laser, princip metody pulzní laserové depozice PLD, růst vrstev, )

TECHNOLOGIE OPTICKÝCH VLÁKEN A KABELŮ

Úvod polovodičové čipy

Mikrosenzory a mikroelektromechanické systémy. Odporové senzory

Plazma v technologiích

Zvyšování kvality výuky technických oborů

Monika Fialová VAKUOVÁ FYZIKA II. ZÍSKÁVÁNÍ NÍZKÝCH TLAKŮ

Chemické metody depozice z plynné fáze

Senzorika a senzorické soustavy

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Magnetronové naprašování

Mgr. Ladislav Blahuta

Fyzikální metody přípravy tenkých vrstev. Martin Kormunda

Plazmatické metody pro úpravu povrchů

Fyzikální metody depozice KFY / P223

Základy mikroelektronických technologií

EU peníze středním školám digitální učební materiál

Výstupní práce Materiály a technologie přípravy M. Čada

Nové materiály a technologie

Polovodičové čipy a integrované obvody (4)

Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/

Plazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého

VY_32_INOVACE_6/15_ČLOVĚK A PŘÍRODA. Předmět: Fyzika Ročník: 6. Poznámka: Vodiče a izolanty Vypracoval: Pták

RŮST POLOVODIČOVÝCH HETEROSTRUKTUR METODOU ORGANOKOVOVÉ EPITAXE Z PLYNNÉ FÁZE

zařízení 2. přednáška Fakulta elektrotechniky a informatiky prof.ing. Petr Chlebiš, CSc.

REAKTIVNÍ MAGNETRONOVÉ NAPRAŠOV. Jan VALTER HVM Plasma s.r.o.

DOUTNAVÝ VÝBOJ. 1. Vlastnosti doutnavého výboje 2. Aplikace v oboru plazmové nitridace

TENKÉ VRSTVY. 1. Modifikací povrchu materiálu (teplem, okysličením, laserem,.. 2. Depozicí (nanášením)

Nauka o materiálu. Přednáška č.10 Difuze v tuhých látkách, fáze a fázové přeměny

SPECIÁLNÍ METODY OBRÁBĚNÍ SPECIÁLNÍ METODY OBRÁBĚNÍ

Principy chemických snímačů

SKUPENSTVÍ LÁTEK Prima - Fyzika

SPOLUPRÁCE WESTINGHOUSE S ČVUT A FZÚ AV ČR

Přednáška 8. Chemické metody a fyzikálně-chemické metody : princip CVD, metody dekompozice, PE CVD

Plazmové svařování a dělení materiálu. Jaromír Moravec

Chemické metody přípravy tenkých vrstev

Určeno studentům středního vzdělávání s maturitní zkouškou, druhý ročník, polovodiče

TECHNOLOGIE PŘÍPRAVY EPITAXNÍCH VRSTEV KŘEMÍKU

Jméno autora: Mgr. Zdeněk Chalupský Datum vytvoření: Číslo DUM: VY_32_INOVACE_16_ZT_E

Adresa místa konání: Na Slovance 2, Praha 8 Cukrovarnická 10, Praha 6

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Mol. fyz. a termodynamika

VEDENÍ ELEKTRICKÉHO PROUDU V LÁTKÁCH

Tenké vrstvy. metody přípravy. hodnocení vlastností

Základy elektrotechniky

VY_32_INOVACE_F 18 16

FYZIKA VE FIRMĚ HVM PLASMA

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

b) nevodiče izolanty nevedou el. proud plasty, umělé hmoty, sklo, keramika, kámen, suché dřevo,papír, textil

TOPNÁ MEMBRÁNA TYPU MEMS S NÍZKÝM PŘÍKONEM

Otázka č. 3 - BEST Aktivní polovodičové součástky BJT, JFET, MOSFET, MESFET struktury, vlastnosti, aplikace Vypracovala Kristýna

ELEKTROTERMICKÁ ATOMIZACE. Electrothermal atomization AAS (ETA-AAS)

Glass temperature history

Polovodičové prvky. V současných počítačových systémech jsou logické obvody realizovány polovodičovými prvky.

Transkript:

TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ III.

NANÁŠENÍ VRSTEV V mikroelektronice se nanáší tzv. tlusté a tenké vrstvy. a) Tlusté vrstvy: Používají se v hybridních integrovaných obvodech. Nanáší se obvykle ve formě past na nosný substrát pro vytváření vodivých, odporových a dielektrických součástí. Pro získání konečných vlastností jsou vypalovány při vysokých teplotách. Je o nich pojednáno v prezentaci hybridních int.obvodů b) Tenké vrstvy: Dělíme je na - epitaxní na monokrystalický materiál narůstá nová monokrystalická vrstva, - neepitaxní na monokrystalický, polykrystalický nebo sklovitý materiál narůstá polykrystalická nebo amorfní vrstva. Metody vytváření tenkých vrstev používané v technologii mikroelektroniky se rozdělují na metody fyzikální a metody chemické (včetně elektrochemických). Z fyzikálních se nejčastěji používají: vakuové napařování katodové naprašování iontově plazmové nanášení

Z chemických metod jsou užívány: chemické depozice z par (CVD procesy) elektrochemické metody chemické metody založené na reakci materiálu podložky s vnější fází Jiný způsob rozdělení metod vytváření tenkých vrstev je podle výchozí fáze, ze které příslušná vrstva narůstá. Podle výchozí fáze pak rozlišujeme: metody z plynné (resp. parní) fáze metody z kapalné fáze Volba metody pro vytvoření konkrétní vrstvy závisí jednak na možnostech metody s ohledem na typ látky vrstvu vytvářející, jednak na technologických požadavcích. 1. Vakuové napařování Pevná látka se ve vakuu zahřeje na takovou teplotu, aby z ní vznikla pára. Tato vypařená látka se pak nechá zkondenzovat na chladné podložce. Jako zdroj par se obvykle používá odporově vyhřívaná lodička z odolného kovu, na níž je umístěn odpařovaný materiál.

Vakuovým napařováním se vytvářejí především kovové spoje integrovaných obvodů. Princip planetového napařovacího přípravku: Princip vypařování a kondenzace ve vakuu:

2. Vakuové naprašování Principem je obdobné iontovému leptání. Katoda slouží jako zdroj rozprašovaného materiálu. Katoda je bombardována ionty netečného plynu (argon). Ionty vznikají v doutnavém výboji mezi katodou a anodou. Oddělené atomy dopadají na naprašovanou podložku. Děj probíhá ve vakuu: Katodové naprašování lze realizovat více metodami, které rozlišujeme dle: druhu výboje, způsobu vytváření plazmatu - přítomnosti magnetického pole, druhu pracovního plynu Naprašované desky jsou umisťovány na planetově otočný přípravek podobně jako u napařování.

3. Chemické nanášení (CVD) Jedná se o chemické nanášení vrstev z par a plynů za různých tlaků a teplot. Nanesené vrstvy se používají jako: maskovací materiál, pro izolaci mezi vodivými vrstvami, materiál hradel pro struktury MOS, zdroje pro dotaci aktivních oblastí tranzistorů, vytváření spojů na čipu, ochrana součástek po ukončení technologických procesů. Principiálně jde o: a) vzájemnou reakci přiváděných plynů nad objektem produkt reakce dopadá na chladnější objekt a kondenzuje na něm, b) reakci plynu s materiálem desky plyny tryskají na vyhřátý objekt, kde reagují. 4. Epitaxní růst Je to nanášení monokrystalické vrstvy na monokrystalický materiál. Atomy nanášeného materiálu sledují rozložení atomu v podložce narůstající vrstva je tedy krystalografickým pokračováním podložky.

Jestliže je vrstva ukládána na substrát stejného složení, mluvíme o homoepitaxi, v opačném případě o heteroepitaxi. - Homoepitaxe je druh epitaxe prováděný pouze s jedním materiálem. Při homoepitaxi tenká vrstva roste na substrátu stejného materiálu. Toho se využívá, pokud chceme čistější vrstvu než je substrát nebo pokud má být nová vrstva jinak dotovaná. - Heteroepitaxe je druh epitaxe prováděný s navzájem odlišnými materiály. Při heteroepitaxi se tenká vrstva ukládá na substrát z jiného materiálu. Toto se často používá při růstu vrstev materiálů, u nichž nelze jinak získat monokrystal nebo k výrobě integrovaných krystalických vrstev různých materiálů. Například se jedná o galium nitrid GaN na safíru nebo aluminium galium indium fosfid AlGaInP na azsenidu galia GaAs. Z praktického hlediska jsou důležité tyto metody vytváření epitaxních vrstev: a) Epitaxe z plynné fáze (VPE) Je speciálním případem chemického nanášení vrstev CVD (vysokoteplotní, 1200 C). Jako výchozí zdroj pro růst Si se používají plynné látky (silan, trichlórsilan): SiCl4 + 2H2 Si + 4HCl

Blokové schéma zařízení pro epitaxní růst metodou CVD: b) Epitaxe z kapalné fáze (LPE) Je to klasická metoda přípravy epitaxních vrstev binárních polovodičů. Vytváří polovodičové vrstvy na styku povrchu podložky s příslušnou taveninou jako následek přechlazení. To se děje při teplotách hluboko pod bodem tání ukládaného polovodiče. Polovodič je rozpuštěn v tavenině jiného materiálu. Tato metoda se používá zejména pro růst sloučeninových polovodičů na substrátech z galium arsenidu GaAs nebo fosfidu india InP. Pro zvláštní účely se používají jako substráty sklo nebo keramika. Nedostatkem této metody je nízká produktivita procesu.

c) Epitaxe z molekulárních svazků (MBE) Jde o napařování v ultravakuu z několika oddělených zdrojů, kdy na monokrystalické podložce dochází k reakci molekulárních svazků a vzniká požadovaná vrstva (růst krystalů kondenzací par dané látky). Princip zařízení pro molekulární svazkovou epitaxi: Dotační příměsi, které určují elektrické vlastnosti epitaxních vrstev, jsou přidávány do molekulárního svazku z dalších pícek. Metoda MBE umožňuje vytvářet dokonalé epitaxní vrstvy. Její nevýhodou je potřeba ultravakua a vysoká cena zařízení.

Zdroje: Šavel J., Materiály, technologie a výroba v elektronice a elektrotechnice Szendiuch a kol., Výroba součástek a konstrukčních prvků Szántó L., Integrované obvody Wikipedia Archiv autora Zpracoval ing. František Stoklasa