Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)

Podobné dokumenty
TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ I. APLIKACE LITOGRAFIE

Nanolitografie a nanometrologie

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Proč elektronový mikroskop?

Nanolitografie a nanometrologie

Hydrofóbní a hydrofilní části: - hydrofóbní: originální obraz (voskem) - hydrofilní: acidická arabská guma (penetruje vápenec)

Výroba mikrostruktur metodou UV litografie a mechanickým obráběním

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Techniky mikroskopie povrchů

Glass temperature history

Vybrané spektroskopické metody

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Praktická elektronová litografie

Přehled metod depozice a povrchových

Přednáška 11. Litografie, maskování, vytváření nanostruktur.

TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ II.

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil

- Uvedeným způsobem získáme obraz na detektoru (v konvenční radiografii na radiografickém filmu).

Mikroskopie rastrující sondy

Lidský vlas na povrchu čipu Více než tranzistorů v 45nm technologii může být integrováno na plochu tečky za větou.

Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský

Měření absorbce záření gama

Úvod. Povrchové vlastnosti jako jsou koroze, oxidace, tření, únava, abraze jsou často vylepšovány různými technologiemi povrchového inženýrství.

Mikro a nanotribologie materiály, výroba a pohon MEMS

Elektronová Mikroskopie SEM

Spin coating. Jiří Frydrych. Tato prezentace je spolufinancována Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky.

Co všechno umí urychlovač TANDETRON a jak vlastně funguje?

Technologie CMOS. Je to velmi malý svět. Technologie CMOS Lokální oxidace. Vytváření izolačních příkopů. Vytváření izolačních příkopů

Dualismus vln a částic

Lasery v mikroelektrotechnice. Soviš Jan Aplikovaná fyzika

Lasery optické rezonátory

Nanotechnologie a Nanomateriály na PřF UJEP Pavla Čapková

MODERNÍ METODY CHEMICKÉ FYZIKY I lasery a jejich použití v chemické fyzice Přednáška 5

RTG difraktometrie 1.

1 Teoretický úvod. 1.2 Braggova rovnice. 1.3 Laueho experiment

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

Nanokrystalické tenké filmy oxidu železitého pro solární štěpení vody

Metody analýzy povrchu

Iradiace tenké vrstvy ionty

Využití iontových svazků pro analýzu materiálů

Seznam otázek pro zkoušku z biofyziky oboru lékařství pro školní rok

V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů

U BR < 4E G /q -saturační proud ovlivňuje nárazovou ionizaci. Šířka přechodu: w Ge 0,7 w Si (pro N D,A,Ge N D,A,Si ); vliv U D.

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

Bezpečnost práce s lasery

Metody analýzy povrchu

STANOVENÍ KŘIVEK CITLIVOSTI PRO LITOGRAF S GAUSSOVSKÝM SVAZKEM

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

Nano a mikrotechnologie v chemickém inženýrství. Hi-tech VYSOKÁ ŠKOLA CHEMICKO-TECHNOLOGICKÁ V PRAZE ÚSTAV CHEMICKÉHO INŽENÝRSTVÍ

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).

PRINCIPY ZAŘÍZENÍ PRO FYZIKÁLNÍ TECHNOLOGIE (FSI-TPZ-A)

Nedestruktivní defektoskopie

F7030 Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách

STŘEDOŠKOLSKÁ ODBORNÁ ČINNOST

Navrhované a skutečné rozměry. Návrhová pravidla pro návrh topologie (layoutu) čipu. Základní parametry návrhových pravidel

RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry) + ERDA (Elastic Recoil Detection) PIXE (Particle Induced X-ray Emission)

5 Monolitické integrované obvody

Úvod do laserové techniky KFE FJFI ČVUT Praha Michal Němec, Plynové lasery. Plynové lasery většinou pracují v kontinuálním režimu.

Krystalografie a strukturní analýza

Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY

Nauka o materiálu. Přednáška č.2 Poruchy krystalické mřížky

Plazma. magnetosféra komety. zbytky po výbuchu supernovy. formování hvězdy. slunce

Základní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi

SPEKTROMETRIE. aneb co jsem se dozvěděla. autor: Zdeňka Baxová

V Rmax 3500 V T = 125 o C I. no protons

Fyzika II, FMMI. 1. Elektrostatické pole

Příprava vrstev metodou sol - gel

Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček

PRINCIP MĚŘENÍ TEPLOTY spočívá v porovnání teploty daného tělesa s definovanou stupnicí.

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

Chemické metody plynná fáze

Víceúrovňové zobrazovací difraktivní struktury připravované elektronovou litografií

LŠVT Mechanické vlastnosti: jak a co lze měřm. ěřit na tenkých vrstvách. Jiří Vyskočil, Andrea Mašková HVM Plasma, Praha

Radioterapie. X31LET Lékařská technika Jan Havlík Katedra teorie obvodů

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

optické vlastnosti polymerů

Vakuová technika. Výroba tenkých vrstev vakuové naprašování

VÝROBA MEMBRÁN POMOCÍ ANIZOTROPNÍHO LEPTÁNÍ

Energie,výkon, příkon účinnost, práce. V trojfázové soustavě

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka

Využití technologie Ink-jet printing pro přípravu mikro a nanostruktur II.

Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál

Chemie a fyzika pevných látek l

Přírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop

Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm

TECHNOLOGIE OPTICKÝCH VLÁKEN A KABELŮ

Katedra materiálu.

Metody charakterizace

MŘÍŽKY A VADY. Vnitřní stavba materiálu

NANOELEKTRODY PRO BIOFYZIKÁLNÍ MĚŘENÍ NANOELECTRODES FOR BIOPHYSICAL MEASUREMENTS

Tenká vrstva - aplikace

13. Spektroskopie základní pojmy

Výukové texty pro předmět Měřící technika (KKS/MT) na téma Podklady k principu měření a detekce záření (radiové vlny, neviditelné záření)

Transkript:

Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) -přenesení dané struktury na povrch strukturovaného substrátu Princip - interakce elektromagnetického záření se světlocitlivou složkou vymezené části fotorezistu naneseného na povrch substrátu. (Rezist - tenká vrstva polymerního materiálu, kterou se pokryje substrát. Modifikací je možné tuto vrstvu z určitých oblastí relativně snadno odstranit) - následné odstranění exponovaných (pozitivní rezist), nebo neexponovaných (negativní rezist) částí fotorezistu

Typický sled procesů v litografii Příprava substrátu Pokrytí substrátu fotorezistem Vysoušení Návrh masky a expozice Poexpoziční vysoušení (vypalování) Vývoj (pro případ pozitivního rezistu Leptání, implantace Odstranění zbývajícího fotorezistu

Nejdůležitější parametry při procesu litografie - rozlišovací schopnost - kvalita struktury - rychlost vytváření struktur

Provedení expozice rezistu -zářením určité vlnové délky, na které je rezist citlivý, - částicemi. Typy expozice - Expozice přes masku rezist je exponován elektromagnetickým zářením přes litografickou masku. -Přímé psaní fokusované elektrony nebo ionty přímo rastrují rezist

Litografie z hlediska rozměrů vytvářených struktur mikrometrová litografie sub-mikrometrová litografie sub-0,5-mikrometrová litografie sub-100 nm nanolitografie sub-50 nm nanolitografie sub-10 nm nanolitografie metody bottom-up

Litografie (konvenční) rozdělení podle použité vlnové délky, či typu částic pro expozici - Fotolitografie (optická litografie), typické vlnové délky elektromagnetického záření (430 160) nm -RTG litografie (X-ray Lithography), typické vlnové délky elektromagnetického záření (5 0,4) nm -Elektronová litografie, typické energie (10 100) kev - Iontová litografie (0,05 3) MeV

Skenovací sondová litografie Konstruktivní vzor je utvářen přenosem chemických částic do povrchu substrátu (Dip Pen Nanolithography). Destruktivní vzor je utvářen dodáním energie (mechanické, tepelné, elektromagnetické) do substrátu a jeho následnou deformací zapříčiněnou touto energií (local oxidation nanolithography, nanoimprint lithography ).

Procesy uplatňující se při litografii: - Nanášení materiálu depozice - Odstranění materiálu leptání, odpaření - Modifikace materiálu implantace, difúze, atd. - Exponování materiálu

Optická litografie rozdělení podle módu - kontaktní 2b d 1 ( λ / ) 2 min 3 2 = d - šířka fotorezistu - hlavní nedostatek: časté defekty masky λ - vlnová délka použitého záření b min teoretická rozlišovací schopnost - bezkontaktní maska se nedotýká fotorezistu, 1 1 ( λs + 1 2 d ) 2 ( λ ) 2 2b s min = 3 3 pro s >> d, s - vzdálenost mezi maskou a rezistem (~ desítky mikrometrů), - hlavní nedostatek: malé rozlišení -projekční - obsahuje soustavu čoček vzdálenou několik centimetrů od masky - nižší hustota defektů - zlepšený záznam - nižší teoretická rozlišovací schopnost

Fotolitografie technologický postup 1. čištění substrátu odstranění nečistot z povrchu substrátu 2. nanesení rezistu (fotosenzitivního povlaku - polymeru) na substrát (spin coating) 3. vytvoření masky se vzorem, generátory obrazců 4. expozice vlastní ozáření fotosenzitivního povlaku přes masku s požadovaným vzorem (selektivní interakce elektromagnetického záření se světlocitlivou složkou vymezené části fotorezistu naneseného na povrch substrátu) 5. odstranění (vyvolání) fotorezistu odstranění nebo odleptání (chemické = odleptání, fyzikální = vypařování). Positivní fotorezist ve vývojce odstraněna exponovaná část. Negativní fotorezist odstraněna neexponovaná část.

Fotorezist typy a vlastnosti -materiály, které mění svoje vlastnosti po interakci s některými druhy elektromagnetického záření Pozitivní rezisty elektromagnetické záření rozbíjí, či porušuje v exponovaných částech rezistu chemické vazby, tyto exponované části se odleptají (ozářením dochází k porušení vazeb polymerních řetězců) příklad: FOTURAN -některé polymery na bázi DNQ-Novolakči polyimidové Negativní rezisty exponované části zůstávají záření způsobuje fotochemické reakce, po nichž dochází k vytvrzení např. SU8 - rezistyna bázi epoxidů, DNQ-Novolak, některé polyimidové

Příklady rezistů a oblast využití Typ rezistu Pozitivní Negativní PMMA Poly(methyl methacrylate) PMMA PMMA Způsob expozice (záření, částice) oblast UV oblast UV oblast UV rentgenové záření elektronový paprsek Hustota energie záření nebo částic 50-150 mj/cm 2 20-30 mj/cm 2 500-1500 mj/cm 2 500-1200 mj/cm 2 2 10-4C/cm 2

Rentgenová litografie (X-ray Lithography) - kolineárního svazek paprsků RTG záření - rezist citlivý na rentgenové záření je vystaven tomuto záření přes masku s požadovaným vzorem - nižší vlnová délka RTG záření znamená vyšší rozlišení

Elektronová litografie -založena na netermické interakci svazku urychlených elektronů s vrstvou vhodné látky elektronovým rezistem. -rozměry řízeného svazku elektronů ažv několika jednotkách nanometrů - výsledné rozlišení při této technice je nepříznivě ovlivněno rozptylovými mechanizmy elektronů ve vrstvě rezistu a interakcí těchto elektronů s podložkou, na které je rezist umístěn (zpětně odražené elektrony) - proximity effect. - Uvedené rozptylové a interakční jevy jsou funkcí energie elektronů, penetrační hloubky a materiálových vlastností rezistu i podložky. - urychlovací napětí ~ 100 kv

Elektronová litografie - Elektrony předávají energii skrze elastické a při průchodu fotorezistem ozařovanému materiálu

- AFM litografie Sondové litografické techniky - kontaktní mód - mechanické vtlačování jehly do materiálu, -přesné nastavení polohy, - v porovnání se strukturními procesy používajícími svazek iontů, nebo elektronů - není třeba dalších technologických kroků jako leptání substrátu. - polokontaktní mód použití elektrického pole

Sondové litografické techniky -STM litografie - desorpce z povrchu elektrickým polem - odpaření z jehly