Nahlédnutí pod pokličku vývoje SHM: Magnetronové naprašování. Počítačová simulace procesu

Podobné dokumenty
Vakuové metody přípravy tenkých vrstev

Využití plazmových metod ve strojírenství. Metody depozice povlaků a tenkých vrstev

FYZIKA VE FIRMĚ HVM PLASMA

Vybrané technologie povrchových úprav. Metody vytváření tenkých vrstev Doc. Ing. Karel Daďourek 2008

Plazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého

REAKTIVNÍ MAGNETRONOVÉ NAPRAŠOV. Jan VALTER HVM Plasma s.r.o.

Anotace přednášek LŠVT 2015 Česká vakuová společnost. Téma: Plazmové technologie a procesy. Hotel Racek, Úštěk, 1 4. června 2015

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Magnetronové naprašování


Tenká vrstva - aplikace

Plazmatické metody pro úpravu povrchů


Gas Discharges. Overview of Different Types. 14. listopadu 2011

Metody depozice povlaků - CVD

Přehled metod depozice a povrchových

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií Ústav mikroelektroniky

Centrum základního výzkumu LC Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením. Jaroslav Pavlík, KF PřF UJEP, Ústí n. L.

Dodávka vakuové komory s p íslušenstvím

Optimalizace regulačního algoritmu MR tlumiče

PRINCIPY ZAŘÍZENÍ PRO FYZIKÁLNÍ TECHNOLOGIE (FSI-TPZ-A)

Vytržení jednotlivých atomů, molekul či jejich shluků bombardováním terče (targetu) ionty s vysokou energií (~kev)

galvanicky chemicky plazmatem ve vakuu Vrstvy ve vakuu MBE Vakuová fyzika 2 1 / 39

Optimalizace regulačního algoritmu MR tlumiče

Nové metody monitorování provozu ventilátorů/ New methods for monitoring of the fans

Vzdělávání výzkumných pracovníků v Regionálním centru pokročilých technologií a materiálů reg. č.: CZ.1.07/2.3.00/

Rost Marek, Záruba Lukáš školitelé: Z. Sekerešová, J. Šonský. Cesta k vědě

Fyzikální metody depozice KFY / P223

ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY

Plazmové metody Materiály a technologie přípravy M. Čada

SYSTÉM TENKÁ VRSTVA SUBSTRÁT V APLIKACI NA ŘEZNÝCH NÁSTROJÍCH

Ochrana obalem před změnami teploty a úloha obalu při tepelných procesech v technologii potravin. Sdílení tepla sáláním. Balení pro mikrovlnný ohřev

Nanogrant KAN ( )

Typy interakcí. Obsah přednášky

Fyzikální metody přípravy tenkých vrstev. Martin Kormunda

Tenké vrstvy. metody přípravy. hodnocení vlastností

Aerodynamika vozu, vnější proudění

Modelování hrozeb. Hana Vystavělová AEC, spol. s r.o.

Všechno, co jste chtěli vědět o Gridech, ale báli jste se zeptat

ÈÁST VII - K V A N T O V Á F Y Z I K A

Plazma v technologiích

Přednáška 8. Chemické metody a fyzikálně-chemické metody : princip CVD, metody dekompozice, PE CVD

F7030 Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách

Depozice uhlíkových nanotrubek metodou PECVD a jejich analýza

Vytváření tenkých speciálních vrstev metodou plazmochemické depozice z plynné fáze

TECHNOLOGICKÉ PROCESY PŘI VÝROBĚ POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ III.

Využití plazmochemické redukce pro konzervaci archeologických nálezů

Úvod do fyziky plazmatu

Plazmové depozice povlaků. Plazmový nástřik Plasma Spraying

Návod pro Laboratoř oboru Výroba léčiv

Rozhodování. s více účastníky. Miroslav. school@utia

Naprašování nanokompozitních vrstev Ti-Si-O-N a jejich vlastnosti

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II

DOUTNAVÝ VÝBOJ. Další technologie využívající doutnavý výboj

Korozní experimenty konstrukčních materiálů pro technologie CCS

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE (v UV a Vis oblasti spektra)

Princip naprašování. Rozdíly proti napařování: 1. metoda získávání par 2. nutnost použití pracovního plynu 3. ionizace par a prac. plynu.


CEPLANT Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy

Metodika hodnocení opotřebení povlaků

Nanokrystalické tenké filmy oxidu železitého pro solární štěpení vody

PVD povlaky pro nástrojové oceli

OD NÁPADU K VÝROBKU ANEB APLIKOVANÝ VÝZKUM V PRAXI

Publications in Refereed Journals

OPTIKA Fotoelektrický jev TENTO PROJEKT JE SPOLUFINANCOVÁN EVROPSKÝM SOCIÁLNÍM FONDEM A STÁTNÍM ROZPOČTEM ČESKÉ REPUBLIKY.

ABSORPČNÍ SPEKTROSKOPIE VÝBOJE V PULZNÍM MAG- NETRONU NELINEÁRNÍ FITACE SIGNÁLU

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II

NÁSTROJ NEFUNGUJE, KDO ZA TO MŮŽE?

České vysoké učení technické v Praze. Katedra fyzikální elektroniky. Témata studentských prací pro školní rok

UZAVÍRACÍ KLAPKY S JEDNOU EXCENTRICITOU TYP L32.6

Optický emisní spektrometr Agilent 725 ICP-OES

SEZNAM PŘÍLOH 11. SEZNAM PŘÍLOH

člen švýcarské skupiny BCI

Technické vzdělávání na Jihočeské univerzitě

OPTICKÁ EMISNÍ SPEKTROMETRIE

Depozice tenkých vrstev I.


Nové trendy vývoje tenkých vrstev vytvořených PVD a CVD technologií v aplikaci na řezné nástroje Antonín Kříž

Optická vlákna. Laboratoř optických vláken. Ústav fotoniky a elektroniky, AVČR, v.v.i.

Využití fotonických služeb e-infrastruktury pro přenos ultrastabilních optických frekvencí

Monitorování svazku elektronů a zvýšení jeho stability na mikrotronu MT 25

Domácí úlohy ke kolokviu z předmětu Panorama fyziky II Tomáš Krajča, , Jaro 2008

Sestrojení voltampérové charakteristiky diody (experiment)

Analýza emisních čar ve výboji v napařovacím stroji

VYUŽITÍ MATLABU PRO MODELOVÁNÍ INTERFEROGRAMŮ PROUDÍCÍHO PLYNU S RŮZNÝM INDEXEM LOMU. Jiří Olejníček Pedagogická fakulta, Jihočeská univerzita

Základní typy článků:

Nanotechnologie a Nanomateriály na PřF UJEP Pavla Čapková

Laboratorní návod pro práci s naprašovačkou Denton DESK V HP TSC

Tenké vrstvy nitridů kovů výroba, aplikace, vlastnosti

Turnaj mladých fyziků 2014

Centrum základního výzkumu LC Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením. Jaroslav Pavlík, KF PřF UJEP, Ústí n. L.

Vakuová technika. Výroba tenkých vrstev vakuové naprašování

Zkoušky vnitřním přetlakem > 100 bar

Technologie konstrukce smart oděvů. Jana Drašarová

Tenké vrstvy pro lékařství 1. Laserové vrstvy ( metody přípravy vrstev, laser, princip metody pulzní laserové depozice PLD, růst vrstev, )

Optogalvanick{ spektrometrie Vítězslav Otruba

OPTICK SPEKTROMETRIE

Projekt PilsenCUBE. Hledání rozumného řešení velkého množství otázek. Lze zajistit dlouhodobě spolehlivou funkci satelitu?

jsou nemísitelné. U vrstev, které byly poprvé připraveny v SHM představují krystalickou složku krystaly TiAlN a amorfní složku Si 3

Anihilace pozitronů v letu

TENKÉ VRSTVY. 1. Modifikací povrchu materiálu (teplem, okysličením, laserem,.. 2. Depozicí (nanášením)

Transkript:

Nahlédnutí pod pokličku vývoje SHM: Magnetronové naprašování Počítačová simulace procesu

Magnetronové naprašování princip metody vývoj technologie

Magnetronové naprašování princip metody Zdroj: Jan Valter, HVM Plasma s.r.o.

Magnetronové naprašování princip metody - substráty Zdroj: Jan Valter, HVM Plasma s.r.o.

Magnetronové naprašování princip metody - target Zdroj: Jan Valter, HVM Plasma s.r.o.

Magnetronové naprašování princip metody Zdroj: Jan Valter, HVM Plasma s.r.o.

Rychlost růstu (au) Magnetronové naprašování princip metody 1 0.8 0.6 0.4 Hysteresis region 0.2 1 2 3 4 Průtok N2 (sccm) Zdroj: S.Berg

Magnetronové naprašování Process monitoring (OES) výboj v plazmatu

Magnetronové naprašování Process monitoring (OES) foton výboj v plazmatu

Magnetronové naprašování Process monitoring (OES) výboj v plazmatu

Relativní intensita Magnetronové naprašování Process monitoring (OES) OES-TiAl/Ar hranol rozklad světla??? Spectrum analyzer výboj v plazmatu 300 400 500 600 700 800 Vlnová délka [nm]

Magnetronové naprašování OES Spectrum Analyzer (freeware!) Z. Navrátil, D. Trunec, R. Šmíd and L. Lazar (2006). A software for optical emission spectroscopy - problem formulation and application to plasma diagnostics. Czechoslovak Journal of Physics 56, Suppl. B, B944-951. DOI: http://dx.doi.org/10.1007/s10582-006-0308-y

Relative intensty Magnetronové naprašování OES Target poisoning odtrávení otrávení Ar 20 70 120 170 220 N2 flow

Relative intensty Magnetronové naprašování OES Target poisoning N2+ Ar 20 70 120 170 220 N2 flow

Relative intensty Magnetronové naprašování OES Target poisoning N2+ Ar N2/Ar 20 70 120 170 220 N2 flow

Relative intensty Magnetronové naprašování OES Target poisoning N2/Ar tlak 20 70 120 170 220 N2 flow

Magnetronové naprašování Algoritmus regulace

Magnetronové naprašování Algoritmus regulace

Magnetronové naprašování Algoritmus regulace unstable metallic stable

N2 Flow Magnetronové naprašování Algoritmus regulace Metallic Stable Unstable Total Process Pressure (regulated)

Magnetronové naprašování Algoritmus regulace N2 flow Pressure set Time Patent presents algorithm how to find this optimal process pressure

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Myšlenka Simulace MP (FEMM)

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Myšlenka Simulace MP (FEMM)

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Myšlenka Simulace MP (FEMM)

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Myšlenka Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Myšlenka Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem Návrh

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Myšlenka Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem Návrh Výroba - subdodavatel

Myšlenka Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem Návrh Výroba Prototyp

Myšlenka Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem Návrh Výroba Prototyp Experiment

Myšlenka Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem Návrh Výroba Prototyp Experiment Parametry vrstvy -> laboratoř

Myšlenka Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody Simulace MP (FEMM) Konzultace s konstruktérem Návrh Výroba Prototyp Experiment Parametry vrstvy -> laboratoř

Magnetronové naprašování vývoj magnetického pole katody

Počítačová simulace procesu data z depozic popis algoritmu postprocessing praktické využití

Počítačová simulace procesu ~ druh katody ~ proud oblouku ~ proud do cívky

Relative deposition rate - (um/hod) Počítačová simulace procesu Data z depozic 1 Deposition rate TiN vs Iarc 0.9 0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 Imac = -3A I mac = 0 A Imac = 3A 0.3 0.2 0.1 0 y=-0,183 + 0,00535 x Iarc - 0,00332 x Imac + 0,00026 x Iarc x Imac 0 50 100 150 200 250 Iarc (A)

Počítačová simulace procesu Popis algoritmu 1. pohyb rotace (~1 O )

Počítačová simulace procesu Popis algoritmu 1. pohyb rotace (~1 O ) 2. Monte Carlo depozice (~10 000x) h = random (min, hmax)

Počítačová simulace procesu Popis algoritmu 1. pohyb rotace (~1 O ) 2. Monte Carlo depozice = random (0, 2 )

Počítačová simulace procesu Popis algoritmu 1. pohyb rotace (~1 O ) 2. Monte Carlo depozice = random (0, )

Počítačová simulace procesu Popis algoritmu 1. pohyb rotace (~1 O ) 2. Monte Carlo depozice = random (0, ) = random (0, )

Počítačová simulace procesu Popis algoritmu 1. pohyb rotace (~1 O ) 2. Monte Carlo depozice jednohodinový proces 1 hodina simulace (3GHz IntelCore2Duo)

Počítačová simulace procesu Postprocessing

Počítačová simulace procesu Postprocessing vodorovný řez

Počítačová simulace procesu Postprocessing svislý řez vodorovný řez 400 mm

Počítačová simulace procesu Praktické využití různá naložení Vzdálenost = 10mm Vzdálenost = 20mm Bez krytů-> Vzdálenost = Délka nástroje = 100mm Délka nástroje = 100mm Délka nástroje = 100mm Tloušťka vrstvy na konci nástroje = 4,1 nm Tloušťka vrstvy na konci nástroje = 4,4 nm Tloušťka vrstvy na konci nástroje = 5,0 nm

Počítačová simulace procesu Praktické využití nevhodné převodové poměry *100 mm x Tvorba multivrstev *100 mm x Nerovnoměrná distribuce po obvodu

Děkujeme za pozornost