Měření topografie povrchu interferometrickými metodami
|
|
- Sára Lišková
- před 5 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Měření topografie povrchu interferometrickými metodami ng. Petr Šperka VYSOKÉ UČENÍ TECHNCKÉ v BRNĚ FAKULTA STROJNÍHO NŽENÝRSTVÍ 009
2 Obsah Přehled metod 3D snímání povrchu Úvod do interferometrických metod nterferometrie s řízenou změnou fáze nterferometrie s vužitím bílého světla Komerční přístroje Naše měřicí aparatura Příklad měření Možnosti vužití
3 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE OPTCKÉ SKENERY 3D MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)
4 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)
5 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)
6 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)
7 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)
8 Úvod do interferometrických metod NTERFEROMETRCKÉ METODY nterferometrie s řízenou změnou fáze nterferometrie s vužitím bílého světla Holografická interferometrie Skvrnová interferometrie a další
9 nterferometrie s řízenou změnou fáze OBECNĚ phase shifting interferometr PS optická bezkontaktní metoda monochromatické světlo HSTORE teoretické základ polovina 60. let praktické nasazení s příchodem kvalitních CCD čipů a výkonných PC 80. a 90. let rozšíření a zpřesnění metod v současnosti běžná měřicí metoda HLAVNÍ VÝHODY vertikální rozlišitelnost na úrovni Å(01 nm) HLAVNÍ NEVÝHODY omezený vertikální skok ma. λ/ (150 nm) nutný phase unwrapping
10 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
11 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
12 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
13 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
14 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
15 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
16 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
17 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
18 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h
19 nterferometrie s řízenou změnou fáze PHASE UNWRAPPNG vertikální zabalení povrchu do jedné vlnové délk světla v místech pomslných hranic vlnových délek skok o π phase unwrapping analýza těchto míst a jejich korekce
20 nterferometrie s vužitím bílého světla OBECNĚ Vertical scanning interferometr VS CPS CPM WLS bílé světlo skenování celého měřeného rozsahu HLAVNÍ VÝHODY umožňuje měřit velké skok (až jednotk mm) není nutný phase unwrapping téměř totožná konfigurace aparatur jako u PS HLAVNÍ NEVÝHODY vertikální rozlišitelnost na úrovni jednotek nm
21 Komerční přístroje VEECO TAYLOR HOBSON ZYGO POLYTEC HELOTS SENSOFAR A DALŠÍ
22 Naše měřicí aparatura SCHÉMA MĚŘCÍ APARATURY PROČ VLASTNÍ ZAŘÍZENÍ?
23 Naše měřicí aparatura KALBRACE standard SHS 880 QC VLS skupina struktur v podobě výstupků opatřená tenkou vrstvou chrómu kalibrovaná výška prahu 867±1 nm
24 Příklad měření
25 Příklad měření PEVNÝ DSK POČÍTAČE (cca rok 1990) Rq = 70 nm
26 Možnosti vužití MEMS a NANOTECHNOLOGE VÝPOČETNÍ TECHNKA HDD LCD NTEGROVANÉ OBVODY STROJÍRENSTVÍ VÝVOJ A KONSTRUKCE
27 Děkuji za pozornost
Laboratorní úloha. Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD
Laboratorní úloha Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD Ing. Petr Šperka 2009 Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD OBSAH Úvod Metoda měření Postup měření Parametry povrchu Vyhodnocení Závěr 2/20 ÚVOD HDD disky»»»»»
Více3D optický profilometr pro mapování inženýrských povrchů
3D optický profilometr pro mapování inženýrských povrchů vypracoval: Petr Šperka vedoucí práce: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Ústav konstruování, obor aplikovaná mechanika, specializace 04 počítačová
VíceKonstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení
Konstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení Technický seminář Centra digitální optiky Vedoucí balíčku (PB4): prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. Zpracoval: Petr Bouchal Řešitelské organizace:
VíceEXPERIMENTÁLNÍ METODY I 17. Optické vizualizační metody
FSI VUT v Brně, Energetický ústav Odbor termomechaniky a techniky prostředí prof. Ing. Milan Pavelek, CSc. EXPERIMENTÁLNÍ METODY I 17. Optické vizualizační metody OSNOVA 17. KAPITOLY Úvod do optických
VíceModerní trendy měření Radomil Sikora
Moderní trendy měření Radomil Sikora za společnost RMT s. r. o. Členění laserových měřičů Laserové měřiče můžeme členit dle počtu os na 1D, 2D a 3D: 1D jsou tzv. dálkoměry, které měří vzdálenost pouze
VíceStudium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektrometrií
Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektrometrií Pojednání ke státní doktorské zkoušce. ng. Vladimír Čudek Ústav konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně
VícePRIMA Bilavčík, s. r. o., 9. května 1182, Uherský Brod, tel.: ,
- Měřicí přístroje - Zakázková měření - Centrum počítačové tomografie - Akreditovaná kalibrační laboratoř - Vzdělávací centrum PRIMA AKADEMIE - Servis měřicí techniky PRIMA Bilavčík, s. r. o., 9. května
VícePOČÍTAČOVÁ ANALÝZA OBRAZU (oblast optických měřicích technik)
Univerzita Palackého v Olomouci Přírodovědecká fakulta Katedra experimentální fyziky POČÍTAČOVÁ ANALÝZA OBRAZU (oblast optických měřicích technik) Olomouc 2004 Doc., ing. Luděk Bartoněk, Ph.D. Obrazové
VíceAnalýza a ověření metody měření indexu lomu vzduchu pro laserovou interferometrii
Analýza a ověření metody měření indexu lomu vzduchu pro laserovou interferometrii Vedoucí práce: Ing. Zdeněk Buchta, Ph.D. Bc. Tomáš Pikálek 21. června 216 Obsah 1. Cíle práce 2. Motivace 3. Metody měření
Více- Ideálně koherentním světelným svazkem se rozumí elektromagnetické vlnění o stejné frekvenci, stejném směru kmitání a stejné fázi.
P7: Optické metody - V klasické optice jsou interferenční a difrakční jevy popisovány prostřednictvím ideálně koherentních, ideálně nekoherentních, později také částečně koherentních světelných svazků
VíceStruktura povrchů vybraných strojních součástí
Struktura povrchů vybraných strojních součástí Ing. Petr Šperka 2009 STRUKTURA POVRCHŮ VYBRANÝCH STROJNÍCH SOUČÁSTÍ OBSAH Rozdělení Parametry povrchů Příklady povrchů reálných strojních součástí Porovnání
VíceMikroelektronika a technologie součástek
FAKULTA ELEKTROTECHNKY A KOMUNKAČNÍCH TECHNOLOGÍ VYSOKÉ UČENÍ TECHNCKÉ V BRNĚ Mikroelektronika a technologie součástek laboratorní cvičení Garant předmětu: Doc. ng. van Szendiuch, CSc. Autoři textu: ng.
VíceAplikace barevného vidění ve studiu elastohydrodynamického mazání
Ústav fyzikálního inženýrství Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně Aplikace barevného vidění ve studiu elastohydrodynamického mazání Ing. Radek Poliščuk 1/16 Cíle disertační práce
VíceProblematika disertační práce a současný stav řešení
Problematika disertační práce a současný stav řešení Školitel: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Everything should be made as simple as possible, but not one bit simpler. Albert Einstein 2/8 OBSAH Téma disertační
VíceJIŘÍ HÁJEK, ANTONÍN KŘÍŽ
SLEDOVÁNÍ TRIBOLOGICKÝCH TENKÝCH VRSTEV JIŘÍ HÁJEK, ANTONÍN KŘÍŽ VLASTNOSTÍ MOTIVACE EXPERIMENTU V SOUČASNÉ DOBĚ: PIN-on-DISC velmi důležitá analýza z hlediska správného využití příslušného typu systému
VíceNapínání řetězů a řemenů / Pružné elementy Nástroje pro montáž řemenů
Elektronický měřič napnutí řemene Sonic 308C Pro kontrolu napnutí řemene měřením frekvence Správné montážní napnutí pohonných řemenů je základem pro jejich optimální výkon a dlouhou životnost. Elektronický
VíceAplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání
Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání Vladimír Čudek Ústav konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně Úvod Úvod Vlivem nedostatečného
VíceKrátká teorie. Monochromatická elektromagnetická vlna Intenzita světla Superpozice elektrických polí. Intenzita interferenčního obrazce.
Interference 1 Krátká teorie Monochromatická elektromagnetická vlna Intenzita světla Superpozice elektrických polí Intenzita interferenčního obrazce 2 ), ( ), ( t r E t r I 2 E r E p I r p r p E E E E
VíceStudium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií
Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií Ing. Vladimír Čudek Ústav konstruování Odbor metodiky konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně OBSAH EHD mazání
VíceMĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT
MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT Teoretická část: 1. Vysvětlete piezoelektrický jev, kde nejvíce a proč je využíván v SPM mikroskopii. 2. Co je podstatou měření v Kontaktním režimu.
VíceSkenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil M. Vůjtek Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky v rámci projektu Vzdělávání výzkumných
VíceTeorie bezkontaktního měření rozměrů
Teorie bezkontaktního měření rozměrů Zpracoval: Petr Zelený Pracoviště: KVS Tento materiál vznikl jako součást projektu In-TECH 2, který je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem
VíceJednopaprskové spektrofotometry
Jednopaprskové spektrofotometry Spektrofotometr V-5000 > Jednopaprskový VIS spektrofotometr s ručním nastavením > Tlačítko pro nastavení nuly a 100% T > LCD displej se zobrazením hodnoty transmitance,
VíceAutomatický optický interferometrický měřící systém
Automatický optický interferometrický měřící systém CCI MP: jednotný režim měření,. interferometrie další generace Pokročilá optická interferometrie 2,2 mm vertikální rozsah skenování s patentovaným, robustním
VíceVYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PRODUCTION MACHINES,
VíceKatedra fyzikální elektroniky. Jakub Kákona
České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Katedra fyzikální elektroniky Bakalářská práce Jakub Kákona Praha 2012 Vzor titulní strany na pevných deskách Jméno autora a
VíceMĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT
MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT Teoretická část: 1. Co je podstatou měření v Semikontaktním režimu. Na křivce zobrazující průběh silového působení mezi hrotem a povrchem vzorku
Více1.1 Povrchy povlaků - mikrogeometrie
1.1 Povrchy povlaků - mikrogeometrie 1.1.1 Požadavky na povrchy povlaků [24] V případě ocelových plechů je kvalita povrchu povlaku určována zejména stavem povrchu hladících válců při finálních úpravách
VíceMěření hustoty plazmatu interferometrickou metodou na Tokamaku GOLEM.
Měření hustoty plazmatu interferometrickou metodou na Tokamaku GOLEM. Ondřej Grover 3. minikonference projektu Cesta k vědě, 11.1.2011 Osnova prezentace 1 Motivace Jaderná fúze Jak udržet plazma Měření
Víceé č í é ě í ž ý Ú á í ž ý í ý Á Í ÁŘ É Á áš í ý á ář é í á í ž ý í Ř ú á á č ý š á í š í řá ě č á í í é ář é á é á í í ó á í é č á ú ě ý á í ý žň á í í é ó ó é í á ěř í č í á ů ř ě é ář é á í ář é á á
VíceZávěr, shrnutí a výstupy pro další předměty projektu EduCom
Tento materiál vznikl jako součást projektu EduCom, který je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem ČR. Závěr, shrnutí a výstupy pro další předměty projektu EduCom Ing. Petr Keller,
VíceKatedra fyzikální elektroniky. Jakub Kákona
České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Katedra fyzikální elektroniky Bakalářská práce Jakub Kákona Praha 2012 Vzor titulní strany na pevných deskách Jméno autora a
VíceProfilová část maturitní zkoušky 2015/2016
Střední průmyslová škola, Přerov, Havlíčkova 2 751 52 Přerov Profilová část maturitní zkoušky 2015/2016 TEMATICKÉ OKRUHY A HODNOTÍCÍ KRITÉRIA Studijní obor: 26-41-M/01 Elektrotechnika Zaměření: technika
VíceIntegrita povrchu a její význam v praktickém využití
Integrita povrchu a její význam v praktickém využití Michal Rogl Obsah: 7. Válečkování články O. Zemčík 9. Integrita povrchu norma ANSI B211.1 1986 11. Laserová konfokální mikroskopie Válečkování způsob
VíceFotonické sítě jako médium pro distribuci stabilních signálů z optických normálů frekvence a času
Fotonické sítě jako médium pro distribuci stabilních signálů z optických normálů frekvence a času Ondřej Číp, Šimon Řeřucha, Radek Šmíd, Martin Čížek, Břetislav Mikel (ÚPT AV ČR) Josef Vojtěch a Vladimír
VíceSlide 1. užívanými ke stanovení hodnoty indexu lomu vzduchu. interferometrie. Nepostradatelným parametrem pro stanovení takto měřené
FS004 Státní závěřečná zkouška Bc Průvodní text k obhajobě Petr Šafařík Slide 1 Vážení členové komise, vážení přátelé; dovolte mi, abych se zde v krátkosti pokusil prezentovat svou bakalářskou práci Metody
VíceProfilová část maturitní zkoušky 2014/2015
Střední průmyslová škola, Přerov, Havlíčkova 2 751 52 Přerov Profilová část maturitní zkoušky 2014/2015 TEMATICKÉ OKRUHY A HODNOTÍCÍ KRITÉRIA Studijní obor: 26-41-M/01 Elektrotechnika Zaměření: technika
VíceVÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ
VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ P. Novák, J. Novák Katedra fyziky, Fakulta stavební, České vysoké učení technické v Praze Abstrakt V práci je popsán výukový software pro
VíceMetody digitální holografické interferometrie ve fyzice dielektrik
Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Metody digitální holografické interferometrie ve fyzice dielektrik Pavel Mokrý Otázka!? 11mm 15mm Tloušťka 1mm 10. 2. 2017 TESEUS udržitelné a efektivní
VíceSeznámení s moderní přístrojovou technikou Totální stanice a digitální nivelační přístroje
Prohloubení nabídky dalšího vzdělávání v oblasti zeměměřictví a katastru nemovitostí ve Středočeském kraji CZ.1.07/3.2.11/03.0115 Projekt je finančně podpořen Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem
Více1 3D snímání: Metody a snímače
1 3D snímání: Metody a snímače Nejprve je potřeba definovat, že se v rámci tohoto předmětu budeme zabývat pouze bezkontaktními metodami zisku hloubkové informace. Metody pro 3D snímání lze dělit v podstatě
VíceMěření charakterizace profilu a tloušťky vrstev optickou metodou
I. Úvod Měření charakterizace profilu a tloušťky vrstev optickou metodou Tloušťku vzorků materiálů lze měřit pomocí mechanických měřidel, jako je posuvné měřidlo nebo mikrometr. Jejich prostorové rozlišení
VíceZáklady logického řízení
Základy logického řízení 11/2007 Ing. Jan Vaňuš, doc.ing.václav Vrána,CSc. Úvod Řízení = cílené působení řídicího systému na řízený objekt je členěno na automatické a ruční. Automatickéřízení je děleno
Více11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr
11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr Otázky k úloze (domácí příprava): Pro jakou teplotu je U = 0 v případě použití převodníku s posunutou nulou dle obr. 1 (senzor Pt 100,
VícePříloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)
Příloha C zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013 TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) 1. část VZ: Laboratorní mikroskop s digitální kamerou a PC Položka č.1
VíceUčební plán M/01 Dopravní prostředky
23-45-M/01 Dopravní prostředky Školní vzdělávací program Dopravní prostředky Tento učební plán byl schválen pedagogickou radou a ředitelem školy s platností od 1. září 2013 Cizí jazyk 3 3 3 3 12 Matematika
VíceInterference na tenké vrstvě
Úloha č. 8 Interference na tenké vrstvě Úkoly měření: 1. Pomocí metody nterference na tenké klínové vrstvě stanovte tloušťku vybraného vlákna nebo vašeho vlasu. 2. Pomocí metody, vz bod 1, stanovte ndex
VíceNová koncepční a konstrukční řešení pro zobrazení s PMS
Nová koncepční a konstrukční řešení pro zobrazení s PMS P. Bouchal (FSI VUT Brno) a Z. Bouchal (KO PřF UP Olomouc) PB 4 Zobrazování s podporou technologie PMS Garant: R. Chmelík Program PB4: Metody a systémy
VíceVYUŽITÍ MATLABU PRO MODELOVÁNÍ INTERFEROGRAMŮ PROUDÍCÍHO PLYNU S RŮZNÝM INDEXEM LOMU. Jiří Olejníček Pedagogická fakulta, Jihočeská univerzita
VYUŽITÍ MATLABU PRO MODELOVÁNÍ INTERFEROGRAMŮ PROUDÍCÍHO PLYNU S RŮZNÝM INDEXEM LOMU Jiří Olejníček Pedagogická fakulta, Jihočeská univerzita Abstrakt: Příspěvek se zabývá využitím Matlabu pro modelování
VíceObecný funkční povrch součásti lze rozdělit na tři části, které odlišuje vlnová délka viz obr. 1. Obr. 1. Obecný povrch a jeho části
Drsnost povrchu Na každý funkční povrch strojní součásti jsou kladeny nejen požadavky na rozměrovou a geometrickou přesnost, ale i na jakost povrchu. Správně předepsaná jakost povrchu zajišťuje dlouhou
VícePodle studijních textů k úloze [1] se divergence laserového svaku definuje jako
Úkoly 1. Změřte divergenci laserového svazku. 2. Z optické stavebnice sestavte Michelsonův interferometr. K rozšíření svazku sestavte Galileův teleskop. Ze známých ohniskových délek použitých čoček spočtěte,
VíceProblematika disertační práce a současný stav řešení
Problematika disertační práce a současný stav řešení Otakar Šamánek "Myslím si, že na celosvětovém trhu je místo maximálně pro 5 počítačů." Thomas Watson, ředitel společnosti IBM, 1943 2 /13 OSNOVA Formulace
Více3D MĚŘÍCÍ STŮL ŘADA MIRACLE
3D MĚŘÍCÍ STŮL ŘADA MIRACLE 1 Miracle (zázrak) CMM - reprezentuje plně automatizované CMM Všechna tři vodící tělesa jsou vyrobena z vysoce kvalitního granitu, zachovávají si své vlastnosti a tvrdost i
VíceÚSPĚŠNÉ A NEÚSPĚŠNÉ INOVACE LED MODRÁ DIODA. Hana Šourková 15.10.2013
1 ÚSPĚŠNÉ A NEÚSPĚŠNÉ INOVACE LED MODRÁ DIODA Hana Šourková 15.10.2013 1 Osnova LED dioda Stavba LED Historie + komerční vývoj Bílé světlo Využití modré LED zobrazovací technika osvětlení + ekonomické
VíceŠABLONY INOVACE OBSAH UČIVA
ŠABLONY INOVACE OBSAH UČIVA Číslo a název projektu CZ.1.07/1.5.00/34. 0185 Moderní škola 21. století Číslo a název šablony III/2 Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT klíčové aktivity Název vzdělávací
VíceI N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í. Počet: 30
Příloha č. 1 - Technické podmínky I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í Technické zadání zakázky na dodávku výpočetní techniky pro Střední odbornou školu a Střední odborné učiliště, Moravské
VíceDálkový průzkum země v mikrovlnné části spektra
Pasivní mikrovlnné snímání Dálkový průzkum země v mikrovlnné části spektra Pasivní mikrovlnné snímání Těmito metodami je měřena přirozená dlouhovlnná energie vyzářená objekty na zemském povrchu. Systémy
VíceMetal Magnetic Memory Method
Metal Magnetic Memory Method MMM - Metoda NDT Autor: Ing. Václav Svoboda, Ing. Zdislav Olmr Abstrakt: Metoda Magnetické paměti materiálu je NDT metoda založená na měření a analýze rozložení zbytkových
VíceMožnosti rtg difrakce. Jan Drahokoupil (FZÚ) Zdeněk Pala (ÚFP) Jiří Čapek (FJFI)
Možnosti rtg difrakce Jan Drahokoupil (FZÚ) Zdeněk Pala (ÚFP) Jiří Čapek (FJFI) AdMat 13. 3. 2014 Aplikace Struktura krystalických látek Fázová analýza Mřížkové parametry Textura, orientace Makroskopická
VíceJak ovlivňují parametry měřicích přístrojů výsledky měření optických tras?
Jak ovlivňují parametry měřicích přístrojů výsledky měření optických tras? aneb zkušenosti s měřením tras a kalibrací přístrojů Martin Hájek, Karel Dvořák MIKROKOM s.r.o. Faktory ovlivňující naměřené výsledky
VíceFyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II
Fyzika II Marek Procházka Vlnová optika II Základní pojmy Reflexe (odraz) Refrakce (lom) jevy na rozhraní dvou prostředí o různém indexu lomu. Disperze (rozklad) prostorové oddělení složek vlnění s různou
VíceMETODICKÝ NÁVOD. Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové bilance optické trasy. Ing. Bc. Ivan Pravda, Ph.D.
METODICKÝ NÁVOD Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové bilance optické trasy Ing. Bc. Ivan Pravda, Ph.D. AUTOR Ivan Pravda NÁZEV DÍLA Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové
VíceIn-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém
In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu Pojednání ke státní závěrečné zkoušce Autor: Petr Šperka Školitel: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Ústav konstruování Fakulta
VíceElektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
VícePočítačová grafika a vizualizace I
Počítačová grafika a vizualizace I PŘENOSOVÁ MÉDIA - KABELÁŽ Mgr. David Frýbert david.frybert@gmail.com SKENERY princip Předlohu pro digitalizaci ozařuje zdroj světla a odražené světlo je vedeno optickým
VíceRegionální centrum speciální optiky a optoelektronických systémů TOPTEC
Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i. Regionální centrum speciální optiky a optoelektronických systémů TOPTEC 1/15 ředitelství ÚFP TOPTEC Ústí n. Labem Praha Liberec Turnov Ostrava Plzeň České Budějovice
VíceVybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
VíceFotoelektrická měření magnetických a rychlostních polí. Miroslav Klvaňa, Astronomický ústav Akademie věd, observatoř Ondřejov
Fotoelektrická měření magnetických a rychlostních polí Miroslav Klvaňa, Astronomický ústav Akademie věd, observatoř Ondřejov Zdroj našich informací Podle místa vzniku poskytují spektrální čáry informace
VíceProč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
VíceOptické měřicí 3D metody
Univerzita Palackého v Olomouci Přírodovědecká fakulta Optické měřicí 3D metod Michal Pochmon Olomouc 212 Oponent: RNDr. Tomáš Rössler Ph.D. Publikace bla připravena v rámci projektu Investice do rozvoje
VíceMetody zvýšení rozlišovací obrazů
XXVI. ASR '21 Semnar, Instruments and Control, Ostrava, Aprl 26-27, 21 Paper 7 Metody zvýšení rozlšovací obrazů BRADÁČ, Frantšek Ing., Ústav výrobních strojů, systémů a robotky, Vysoké učení techncké v
VíceMěření emisí motorových vozidel
1 Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola technická Brno, Sokolská 1 Šablona: Název: Téma: Autor: Číslo: Anotace: Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT Kontrola a měření strojních zařízení
VíceTECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií
TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Kalibrace zařízení pro posun fáze Projekt Jan Vojčiniak Liberec 2010 Materiál vznikl v rámci projektu ESF (CZ.1.07/2.2.00/07.0247)
VíceTESTOVACÍ SYSTÉM PRO MEMS VOA
TESTOVACÍ SYSTÉM PRO MEMS VOA Ing. Petr Hliněný Ústav automatizace a měřící techniky, FEKT, VUT v Brně Kolejní 4, 612 00, Brno Email: xhline00@stud.feec.vutbr.cz V článku je představen nový způsob měření
VíceÚloha č.3 Interferometry a vlastnosti laserového záření
Úloha č.3 Interferometry a vlastnosti ového záření 1 Teoretický úvod Vyskytují-li se ve stejném prostoru a čase současně dvě (nebo více) optických vln, dochází k interferenci světla, kdy je výsledná vlnová
VíceFyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky
Fyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky 1. Vysvětlete pojmy kulová a rovinná vlnoplocha. 2. Pomocí Hyugensova principu vysvětlete konstrukci tvaru vlnoplochy v libovolném budoucím
VícePřejímací zkouška linearita měřičů aktivity
Přejímací zkouška linearita měřičů aktivity FAKULTNÍ NEMOCNICE OLOMOUC 10/2017 - dokončení přestavby farmaceutická laboratoře - dodávka a instalace: 4 ks nových měřičů aktivity 11/2017 - fyzikální provoz
VíceElektronický přepínač rezistorů, řízený PC
Elektronický přepínač rezistorů, řízený PC Miroslav Luňák, Zdeněk Chobola Úvod Při měření VA charakteristiky polovodičových součástek dochází v řadě případů ke změně proudu v rozsahu až deseti řádů (10
VíceDetektor kouře FireGuard. Aplikace Včasné varování před studeným kouřem v silničních tunelech Detekce kouře v prostředích s korosivní atmosférou
Aplikace Včasné varování před studeným kouřem v silničních tunelech Detekce kouře v prostředích s korosivní atmosférou Výhody Spojité měření koncentrace kouře Žádné pohyblivé části Eliminace vlivu mlhy
VíceKALIBRACE PRACOVNÍCH MĚŘIDEL Z OBORU DÉLKA NEJISTOTY MĚŘENÍ. Ing. Václav Duchoň ČMI OI Brno
KALIBRACE PRACOVNÍCH MĚŘIDEL Z OBORU DÉLKA NEJISTOTY MĚŘENÍ Ing. Václav Duchoň ČMI OI Brno Skupiny měřidel úkol technického rozvoje PRM 2012 č. VII/4/12 velké množství jednotlivých měřidel délky 11 skupin,
VíceOBSAH. Metoda 3D laserového skenování Výhody Důvody a cíle použití Pilotní projekt Postup prací Výstupy projektu Možnosti využití Závěry a doporučení
OBSAH Metoda 3D laserového skenování Výhody Důvody a cíle použití Pilotní projekt Postup prací Výstupy projektu Možnosti využití Závěry a doporučení METODA LASEROVÉHO SKENOVÁNÍ Laserové skenovací systémy
VíceElektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze. CCD vs CMOS. Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc.
Elektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze CCD vs CMOS Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc. 0 Multimedia Technology Group, K13137, FEE CTU 0 Historie snímání obrazu 1884 Paul Nipkow mechanický
VíceScanStation P20 uživatelská kalibrace (procedura Check & Adjust)
ScanStation P20 uživatelská kalibrace (procedura Check & Adjust) ScanStation P20 and Cyclone 8.0 Introduction Meeting, 02 05 Oct 2012, Heerbrugg Bianca Gordon, překlad do češtiny Daniel Šantora Přehled
VíceSoupravy pro měření útlumu optického vlákna přímou metodou
Jednosměrné měřicí soupravy: Tyto měřící soupravy měří pouze v jednom směru. Pro měření v druhém směru je nutné přemístění. Výhodou těchto souprav je nízká cena. Schéma zapojení těchto měřicích soustav
VíceDotykové technologie dotkněte se budoucnosti...
Mgr. Petr Jelínek Ing. Michal Bílek Ing. Karel Johanovský Dotykové technologie dotkněte se budoucnosti... O co se vlastně jedná? dotykové obrazovky (displeje) jsou vstupní i výstupní zařízení dvě nesporné
VíceKomplexní soubor měření optických tras při nasazování vysokorychlostních systémů xwdm
Komplexní soubor měření optických tras při nasazování vysokorychlostních systémů xwdm Miroslav Švrček, Martin Hájek MIKROKOM, s.r.o. Nové nároky vysokorychlostních DWDM a CWDM systémů na optickou trasu
VíceBezdrátový přenos signálu v reálné aplikaci na letadle.
Bezdrátový přenos signálu v reálné aplikaci na letadle. Jakub Nečásek TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Tento materiál vznikl v rámci projektu ESF
VíceZobrazovací metody v nanotechnologiích
Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší
VíceTémata doktorského studia pro akademický rok 2011/2012
Prezentace Ústavu konstruování 2011 Témata doktorského studia pro akademický rok 2011/2012 Proč jít na doktorské studium na Ústav konstruování? Kolektiv mladých lidí se zájmem o věc Záruka získání PhD
VíceAnalýza profilu povrchů pomocí interferometrie nízké koherence
Analýza profilu povrchů pomocí interferometrie nízké koherence Vedoucí bakalářské práce Ing. Zdeněk Buchta, Ph.D. Tomáš Pikálek 26. června 214 1 / 11 Cíle práce Cíle práce Cíle práce seznámit se s laserovou
VíceMATLAB GUI PRO MĚŘENÍ DEFORMACÍ DIGITÁLNÍ HOLOGRAFICKOU INTERFERENCÍ
MATLAB GUI PRO MĚŘENÍ DEFORMACÍ DIGITÁLNÍ HOLOGRAFICKOU INTERFERENCÍ Pavel Psota, Vít Lédl, Jan Václavík Technická univerzita v Liberci, Ústav řízení systémů a spolehlivosti Abstrakt Holografická interferometrie
VíceIn-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu
In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu Ing. Petr Šperka Školitel: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Ústav konstruování Odbor konstruování strojů Fakulta strojního
VíceGeometrická přesnost Schlesingerova metoda
TECHNIKU A TECHNOLOGII České vysoké učení technické v Praze, fakulta strojní Horská 3, 128 00 Praha 2, tel.: +420 221 990 900, fax: +420 221 990 999 www.rcmt.cvut.cz metoda Pavel Bach 2009 2 Příklad měření
VíceZajímavé vlastnosti sluneční atmosféry: magnetická a rychlostní pole
Zajímavé vlastnosti sluneční atmosféry: magnetická a rychlostní pole Spektroskopie (nejen) ve sluneční fyzice LS 2011/2012 Michal Švanda Astronomický ústav MFF UK Astronomický ústav AV ČR Vliv na tvar
VícePOKROČILÉ METODY VYHODNOCOVÁNÍ TOPOGRAFIE POVRCHU
POKROČILÉ METODY VYHODNOCOVÁNÍ TOPOGRAFIE POVRCHU ADVANCED METHODS OF SURFACE TOPOGRAPHY EVALUATION BAKALÁŘSKÁ PRÁCE BACHELOR THESIS AUTOR PRÁCE AUTHOR Jitka METELKOVÁ VEDOUCÍ PRÁCE SUPERVISOR prof. Ing.
VíceNázev práce: Skenery prezentace
Datum: 26. května 2013 Projekt: Využití ICT techniky především v uměleckém vzdělávání Registrační číslo: CZ.1.07/1.5.00/34.1013 Číslo DUM: VY_32_INOVACE_590 Škola: Akademie VOŠ, Gymn. a SOŠUP Světlá nad
VíceEXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA 2
EXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA 2 2. přednáška Jan Krystek 28. února 2018 EXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA Experiment slouží k tomu, abychom pomocí experimentální metody vyšetřili systém veličin nutných k řešení problému.
VíceModulace vlnoplochy. SLM vytváří prostorově modulovaný koherentní optický signál
OPT/OZI L06 Modulace vlnoplochy prostorové modulátory světla (SLM) SLM vytváří prostorově modulovaný koherentní optický signál řízení elektronicky adresovaný SLM opticky adresovaný SLM technologie fotografická
Více