Měření topografie povrchu interferometrickými metodami

Rozměr: px
Začít zobrazení ze stránky:

Download "Měření topografie povrchu interferometrickými metodami"

Transkript

1 Měření topografie povrchu interferometrickými metodami ng. Petr Šperka VYSOKÉ UČENÍ TECHNCKÉ v BRNĚ FAKULTA STROJNÍHO NŽENÝRSTVÍ 009

2 Obsah Přehled metod 3D snímání povrchu Úvod do interferometrických metod nterferometrie s řízenou změnou fáze nterferometrie s vužitím bílého světla Komerční přístroje Naše měřicí aparatura Příklad měření Možnosti vužití

3 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE OPTCKÉ SKENERY 3D MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)

4 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)

5 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)

6 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)

7 Přehled metod 3D snímání povrchu DESTRUKTVNÍ X NEDESTRUKTVNÍ 3D KONTAKTNÍ X BEZKONTAKTNÍ STACOÁRNÍ X MOBLNÍ VNĚJŠÍ GEOMETRE X VNTŘNÍ GEOMETRE 3D OPTCKÉ SKENERY MEACHANCKÉ SKENERY LESAROVÉ SKENERY NTERFEROMETRCKÉ PROFLOMETRY OSTATNÍ (DESTRUKTVNÍ RÖNTGEN CT MR)

8 Úvod do interferometrických metod NTERFEROMETRCKÉ METODY nterferometrie s řízenou změnou fáze nterferometrie s vužitím bílého světla Holografická interferometrie Skvrnová interferometrie a další

9 nterferometrie s řízenou změnou fáze OBECNĚ phase shifting interferometr PS optická bezkontaktní metoda monochromatické světlo HSTORE teoretické základ polovina 60. let praktické nasazení s příchodem kvalitních CCD čipů a výkonných PC 80. a 90. let rozšíření a zpřesnění metod v současnosti běžná měřicí metoda HLAVNÍ VÝHODY vertikální rozlišitelnost na úrovni Å(01 nm) HLAVNÍ NEVÝHODY omezený vertikální skok ma. λ/ (150 nm) nutný phase unwrapping

10 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

11 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

12 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

13 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

14 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

15 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

16 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

17 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

18 nterferometrie s řízenou změnou fáze PRNCP ALGORTMUS arctg ) ( h

19 nterferometrie s řízenou změnou fáze PHASE UNWRAPPNG vertikální zabalení povrchu do jedné vlnové délk světla v místech pomslných hranic vlnových délek skok o π phase unwrapping analýza těchto míst a jejich korekce

20 nterferometrie s vužitím bílého světla OBECNĚ Vertical scanning interferometr VS CPS CPM WLS bílé světlo skenování celého měřeného rozsahu HLAVNÍ VÝHODY umožňuje měřit velké skok (až jednotk mm) není nutný phase unwrapping téměř totožná konfigurace aparatur jako u PS HLAVNÍ NEVÝHODY vertikální rozlišitelnost na úrovni jednotek nm

21 Komerční přístroje VEECO TAYLOR HOBSON ZYGO POLYTEC HELOTS SENSOFAR A DALŠÍ

22 Naše měřicí aparatura SCHÉMA MĚŘCÍ APARATURY PROČ VLASTNÍ ZAŘÍZENÍ?

23 Naše měřicí aparatura KALBRACE standard SHS 880 QC VLS skupina struktur v podobě výstupků opatřená tenkou vrstvou chrómu kalibrovaná výška prahu 867±1 nm

24 Příklad měření

25 Příklad měření PEVNÝ DSK POČÍTAČE (cca rok 1990) Rq = 70 nm

26 Možnosti vužití MEMS a NANOTECHNOLOGE VÝPOČETNÍ TECHNKA HDD LCD NTEGROVANÉ OBVODY STROJÍRENSTVÍ VÝVOJ A KONSTRUKCE

27 Děkuji za pozornost

Laboratorní úloha. Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD

Laboratorní úloha. Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD Laboratorní úloha Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD Ing. Petr Šperka 2009 Bezkontaktní 3D měření povrchu HDD OBSAH Úvod Metoda měření Postup měření Parametry povrchu Vyhodnocení Závěr 2/20 ÚVOD HDD disky»»»»»

Více

3D optický profilometr pro mapování inženýrských povrchů

3D optický profilometr pro mapování inženýrských povrchů 3D optický profilometr pro mapování inženýrských povrchů vypracoval: Petr Šperka vedoucí práce: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Ústav konstruování, obor aplikovaná mechanika, specializace 04 počítačová

Více

Konstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení

Konstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení Konstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení Technický seminář Centra digitální optiky Vedoucí balíčku (PB4): prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. Zpracoval: Petr Bouchal Řešitelské organizace:

Více

EXPERIMENTÁLNÍ METODY I 17. Optické vizualizační metody

EXPERIMENTÁLNÍ METODY I 17. Optické vizualizační metody FSI VUT v Brně, Energetický ústav Odbor termomechaniky a techniky prostředí prof. Ing. Milan Pavelek, CSc. EXPERIMENTÁLNÍ METODY I 17. Optické vizualizační metody OSNOVA 17. KAPITOLY Úvod do optických

Více

Moderní trendy měření Radomil Sikora

Moderní trendy měření Radomil Sikora Moderní trendy měření Radomil Sikora za společnost RMT s. r. o. Členění laserových měřičů Laserové měřiče můžeme členit dle počtu os na 1D, 2D a 3D: 1D jsou tzv. dálkoměry, které měří vzdálenost pouze

Více

Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektrometrií

Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektrometrií Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektrometrií Pojednání ke státní doktorské zkoušce. ng. Vladimír Čudek Ústav konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně

Více

PRIMA Bilavčík, s. r. o., 9. května 1182, Uherský Brod, tel.: ,

PRIMA Bilavčík, s. r. o., 9. května 1182, Uherský Brod, tel.: , - Měřicí přístroje - Zakázková měření - Centrum počítačové tomografie - Akreditovaná kalibrační laboratoř - Vzdělávací centrum PRIMA AKADEMIE - Servis měřicí techniky PRIMA Bilavčík, s. r. o., 9. května

Více

POČÍTAČOVÁ ANALÝZA OBRAZU (oblast optických měřicích technik)

POČÍTAČOVÁ ANALÝZA OBRAZU (oblast optických měřicích technik) Univerzita Palackého v Olomouci Přírodovědecká fakulta Katedra experimentální fyziky POČÍTAČOVÁ ANALÝZA OBRAZU (oblast optických měřicích technik) Olomouc 2004 Doc., ing. Luděk Bartoněk, Ph.D. Obrazové

Více

Analýza a ověření metody měření indexu lomu vzduchu pro laserovou interferometrii

Analýza a ověření metody měření indexu lomu vzduchu pro laserovou interferometrii Analýza a ověření metody měření indexu lomu vzduchu pro laserovou interferometrii Vedoucí práce: Ing. Zdeněk Buchta, Ph.D. Bc. Tomáš Pikálek 21. června 216 Obsah 1. Cíle práce 2. Motivace 3. Metody měření

Více

- Ideálně koherentním světelným svazkem se rozumí elektromagnetické vlnění o stejné frekvenci, stejném směru kmitání a stejné fázi.

- Ideálně koherentním světelným svazkem se rozumí elektromagnetické vlnění o stejné frekvenci, stejném směru kmitání a stejné fázi. P7: Optické metody - V klasické optice jsou interferenční a difrakční jevy popisovány prostřednictvím ideálně koherentních, ideálně nekoherentních, později také částečně koherentních světelných svazků

Více

Struktura povrchů vybraných strojních součástí

Struktura povrchů vybraných strojních součástí Struktura povrchů vybraných strojních součástí Ing. Petr Šperka 2009 STRUKTURA POVRCHŮ VYBRANÝCH STROJNÍCH SOUČÁSTÍ OBSAH Rozdělení Parametry povrchů Příklady povrchů reálných strojních součástí Porovnání

Více

Mikroelektronika a technologie součástek

Mikroelektronika a technologie součástek FAKULTA ELEKTROTECHNKY A KOMUNKAČNÍCH TECHNOLOGÍ VYSOKÉ UČENÍ TECHNCKÉ V BRNĚ Mikroelektronika a technologie součástek laboratorní cvičení Garant předmětu: Doc. ng. van Szendiuch, CSc. Autoři textu: ng.

Více

Aplikace barevného vidění ve studiu elastohydrodynamického mazání

Aplikace barevného vidění ve studiu elastohydrodynamického mazání Ústav fyzikálního inženýrství Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně Aplikace barevného vidění ve studiu elastohydrodynamického mazání Ing. Radek Poliščuk 1/16 Cíle disertační práce

Více

Problematika disertační práce a současný stav řešení

Problematika disertační práce a současný stav řešení Problematika disertační práce a současný stav řešení Školitel: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Everything should be made as simple as possible, but not one bit simpler. Albert Einstein 2/8 OBSAH Téma disertační

Více

JIŘÍ HÁJEK, ANTONÍN KŘÍŽ

JIŘÍ HÁJEK, ANTONÍN KŘÍŽ SLEDOVÁNÍ TRIBOLOGICKÝCH TENKÝCH VRSTEV JIŘÍ HÁJEK, ANTONÍN KŘÍŽ VLASTNOSTÍ MOTIVACE EXPERIMENTU V SOUČASNÉ DOBĚ: PIN-on-DISC velmi důležitá analýza z hlediska správného využití příslušného typu systému

Více

Napínání řetězů a řemenů / Pružné elementy Nástroje pro montáž řemenů

Napínání řetězů a řemenů / Pružné elementy Nástroje pro montáž řemenů Elektronický měřič napnutí řemene Sonic 308C Pro kontrolu napnutí řemene měřením frekvence Správné montážní napnutí pohonných řemenů je základem pro jejich optimální výkon a dlouhou životnost. Elektronický

Více

Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání

Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání Vladimír Čudek Ústav konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně Úvod Úvod Vlivem nedostatečného

Více

Krátká teorie. Monochromatická elektromagnetická vlna Intenzita světla Superpozice elektrických polí. Intenzita interferenčního obrazce.

Krátká teorie. Monochromatická elektromagnetická vlna Intenzita světla Superpozice elektrických polí. Intenzita interferenčního obrazce. Interference 1 Krátká teorie Monochromatická elektromagnetická vlna Intenzita světla Superpozice elektrických polí Intenzita interferenčního obrazce 2 ), ( ), ( t r E t r I 2 E r E p I r p r p E E E E

Více

Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií

Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií Ing. Vladimír Čudek Ústav konstruování Odbor metodiky konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně OBSAH EHD mazání

Více

MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT

MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT Teoretická část: 1. Vysvětlete piezoelektrický jev, kde nejvíce a proč je využíván v SPM mikroskopii. 2. Co je podstatou měření v Kontaktním režimu.

Více

Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil

Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil M. Vůjtek Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky v rámci projektu Vzdělávání výzkumných

Více

Teorie bezkontaktního měření rozměrů

Teorie bezkontaktního měření rozměrů Teorie bezkontaktního měření rozměrů Zpracoval: Petr Zelený Pracoviště: KVS Tento materiál vznikl jako součást projektu In-TECH 2, který je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem

Více

Jednopaprskové spektrofotometry

Jednopaprskové spektrofotometry Jednopaprskové spektrofotometry Spektrofotometr V-5000 > Jednopaprskový VIS spektrofotometr s ručním nastavením > Tlačítko pro nastavení nuly a 100% T > LCD displej se zobrazením hodnoty transmitance,

Více

Automatický optický interferometrický měřící systém

Automatický optický interferometrický měřící systém Automatický optický interferometrický měřící systém CCI MP: jednotný režim měření,. interferometrie další generace Pokročilá optická interferometrie 2,2 mm vertikální rozsah skenování s patentovaným, robustním

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PRODUCTION MACHINES,

Více

Katedra fyzikální elektroniky. Jakub Kákona

Katedra fyzikální elektroniky. Jakub Kákona České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Katedra fyzikální elektroniky Bakalářská práce Jakub Kákona Praha 2012 Vzor titulní strany na pevných deskách Jméno autora a

Více

MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT

MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT Teoretická část: 1. Co je podstatou měření v Semikontaktním režimu. Na křivce zobrazující průběh silového působení mezi hrotem a povrchem vzorku

Více

1.1 Povrchy povlaků - mikrogeometrie

1.1 Povrchy povlaků - mikrogeometrie 1.1 Povrchy povlaků - mikrogeometrie 1.1.1 Požadavky na povrchy povlaků [24] V případě ocelových plechů je kvalita povrchu povlaku určována zejména stavem povrchu hladících válců při finálních úpravách

Více

Měření hustoty plazmatu interferometrickou metodou na Tokamaku GOLEM.

Měření hustoty plazmatu interferometrickou metodou na Tokamaku GOLEM. Měření hustoty plazmatu interferometrickou metodou na Tokamaku GOLEM. Ondřej Grover 3. minikonference projektu Cesta k vědě, 11.1.2011 Osnova prezentace 1 Motivace Jaderná fúze Jak udržet plazma Měření

Více

é č í é ě í ž ý Ú á í ž ý í ý Á Í ÁŘ É Á áš í ý á ář é í á í ž ý í Ř ú á á č ý š á í š í řá ě č á í í é ář é á é á í í ó á í é č á ú ě ý á í ý žň á í í é ó ó é í á ěř í č í á ů ř ě é ář é á í ář é á á

Více

Závěr, shrnutí a výstupy pro další předměty projektu EduCom

Závěr, shrnutí a výstupy pro další předměty projektu EduCom Tento materiál vznikl jako součást projektu EduCom, který je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem ČR. Závěr, shrnutí a výstupy pro další předměty projektu EduCom Ing. Petr Keller,

Více

Katedra fyzikální elektroniky. Jakub Kákona

Katedra fyzikální elektroniky. Jakub Kákona České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská Katedra fyzikální elektroniky Bakalářská práce Jakub Kákona Praha 2012 Vzor titulní strany na pevných deskách Jméno autora a

Více

Profilová část maturitní zkoušky 2015/2016

Profilová část maturitní zkoušky 2015/2016 Střední průmyslová škola, Přerov, Havlíčkova 2 751 52 Přerov Profilová část maturitní zkoušky 2015/2016 TEMATICKÉ OKRUHY A HODNOTÍCÍ KRITÉRIA Studijní obor: 26-41-M/01 Elektrotechnika Zaměření: technika

Více

Integrita povrchu a její význam v praktickém využití

Integrita povrchu a její význam v praktickém využití Integrita povrchu a její význam v praktickém využití Michal Rogl Obsah: 7. Válečkování články O. Zemčík 9. Integrita povrchu norma ANSI B211.1 1986 11. Laserová konfokální mikroskopie Válečkování způsob

Více

Fotonické sítě jako médium pro distribuci stabilních signálů z optických normálů frekvence a času

Fotonické sítě jako médium pro distribuci stabilních signálů z optických normálů frekvence a času Fotonické sítě jako médium pro distribuci stabilních signálů z optických normálů frekvence a času Ondřej Číp, Šimon Řeřucha, Radek Šmíd, Martin Čížek, Břetislav Mikel (ÚPT AV ČR) Josef Vojtěch a Vladimír

Více

Slide 1. užívanými ke stanovení hodnoty indexu lomu vzduchu. interferometrie. Nepostradatelným parametrem pro stanovení takto měřené

Slide 1. užívanými ke stanovení hodnoty indexu lomu vzduchu. interferometrie. Nepostradatelným parametrem pro stanovení takto měřené FS004 Státní závěřečná zkouška Bc Průvodní text k obhajobě Petr Šafařík Slide 1 Vážení členové komise, vážení přátelé; dovolte mi, abych se zde v krátkosti pokusil prezentovat svou bakalářskou práci Metody

Více

Profilová část maturitní zkoušky 2014/2015

Profilová část maturitní zkoušky 2014/2015 Střední průmyslová škola, Přerov, Havlíčkova 2 751 52 Přerov Profilová část maturitní zkoušky 2014/2015 TEMATICKÉ OKRUHY A HODNOTÍCÍ KRITÉRIA Studijní obor: 26-41-M/01 Elektrotechnika Zaměření: technika

Více

VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ

VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ P. Novák, J. Novák Katedra fyziky, Fakulta stavební, České vysoké učení technické v Praze Abstrakt V práci je popsán výukový software pro

Více

Metody digitální holografické interferometrie ve fyzice dielektrik

Metody digitální holografické interferometrie ve fyzice dielektrik Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Metody digitální holografické interferometrie ve fyzice dielektrik Pavel Mokrý Otázka!? 11mm 15mm Tloušťka 1mm 10. 2. 2017 TESEUS udržitelné a efektivní

Více

Seznámení s moderní přístrojovou technikou Totální stanice a digitální nivelační přístroje

Seznámení s moderní přístrojovou technikou Totální stanice a digitální nivelační přístroje Prohloubení nabídky dalšího vzdělávání v oblasti zeměměřictví a katastru nemovitostí ve Středočeském kraji CZ.1.07/3.2.11/03.0115 Projekt je finančně podpořen Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem

Více

1 3D snímání: Metody a snímače

1 3D snímání: Metody a snímače 1 3D snímání: Metody a snímače Nejprve je potřeba definovat, že se v rámci tohoto předmětu budeme zabývat pouze bezkontaktními metodami zisku hloubkové informace. Metody pro 3D snímání lze dělit v podstatě

Více

Měření charakterizace profilu a tloušťky vrstev optickou metodou

Měření charakterizace profilu a tloušťky vrstev optickou metodou I. Úvod Měření charakterizace profilu a tloušťky vrstev optickou metodou Tloušťku vzorků materiálů lze měřit pomocí mechanických měřidel, jako je posuvné měřidlo nebo mikrometr. Jejich prostorové rozlišení

Více

Základy logického řízení

Základy logického řízení Základy logického řízení 11/2007 Ing. Jan Vaňuš, doc.ing.václav Vrána,CSc. Úvod Řízení = cílené působení řídicího systému na řízený objekt je členěno na automatické a ruční. Automatickéřízení je děleno

Více

11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr

11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr 11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr Otázky k úloze (domácí příprava): Pro jakou teplotu je U = 0 v případě použití převodníku s posunutou nulou dle obr. 1 (senzor Pt 100,

Více

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) Příloha C zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013 TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) 1. část VZ: Laboratorní mikroskop s digitální kamerou a PC Položka č.1

Více

Učební plán M/01 Dopravní prostředky

Učební plán M/01 Dopravní prostředky 23-45-M/01 Dopravní prostředky Školní vzdělávací program Dopravní prostředky Tento učební plán byl schválen pedagogickou radou a ředitelem školy s platností od 1. září 2013 Cizí jazyk 3 3 3 3 12 Matematika

Více

Interference na tenké vrstvě

Interference na tenké vrstvě Úloha č. 8 Interference na tenké vrstvě Úkoly měření: 1. Pomocí metody nterference na tenké klínové vrstvě stanovte tloušťku vybraného vlákna nebo vašeho vlasu. 2. Pomocí metody, vz bod 1, stanovte ndex

Více

Nová koncepční a konstrukční řešení pro zobrazení s PMS

Nová koncepční a konstrukční řešení pro zobrazení s PMS Nová koncepční a konstrukční řešení pro zobrazení s PMS P. Bouchal (FSI VUT Brno) a Z. Bouchal (KO PřF UP Olomouc) PB 4 Zobrazování s podporou technologie PMS Garant: R. Chmelík Program PB4: Metody a systémy

Více

VYUŽITÍ MATLABU PRO MODELOVÁNÍ INTERFEROGRAMŮ PROUDÍCÍHO PLYNU S RŮZNÝM INDEXEM LOMU. Jiří Olejníček Pedagogická fakulta, Jihočeská univerzita

VYUŽITÍ MATLABU PRO MODELOVÁNÍ INTERFEROGRAMŮ PROUDÍCÍHO PLYNU S RŮZNÝM INDEXEM LOMU. Jiří Olejníček Pedagogická fakulta, Jihočeská univerzita VYUŽITÍ MATLABU PRO MODELOVÁNÍ INTERFEROGRAMŮ PROUDÍCÍHO PLYNU S RŮZNÝM INDEXEM LOMU Jiří Olejníček Pedagogická fakulta, Jihočeská univerzita Abstrakt: Příspěvek se zabývá využitím Matlabu pro modelování

Více

Obecný funkční povrch součásti lze rozdělit na tři části, které odlišuje vlnová délka viz obr. 1. Obr. 1. Obecný povrch a jeho části

Obecný funkční povrch součásti lze rozdělit na tři části, které odlišuje vlnová délka viz obr. 1. Obr. 1. Obecný povrch a jeho části Drsnost povrchu Na každý funkční povrch strojní součásti jsou kladeny nejen požadavky na rozměrovou a geometrickou přesnost, ale i na jakost povrchu. Správně předepsaná jakost povrchu zajišťuje dlouhou

Více

Podle studijních textů k úloze [1] se divergence laserového svaku definuje jako

Podle studijních textů k úloze [1] se divergence laserového svaku definuje jako Úkoly 1. Změřte divergenci laserového svazku. 2. Z optické stavebnice sestavte Michelsonův interferometr. K rozšíření svazku sestavte Galileův teleskop. Ze známých ohniskových délek použitých čoček spočtěte,

Více

Problematika disertační práce a současný stav řešení

Problematika disertační práce a současný stav řešení Problematika disertační práce a současný stav řešení Otakar Šamánek "Myslím si, že na celosvětovém trhu je místo maximálně pro 5 počítačů." Thomas Watson, ředitel společnosti IBM, 1943 2 /13 OSNOVA Formulace

Více

3D MĚŘÍCÍ STŮL ŘADA MIRACLE

3D MĚŘÍCÍ STŮL ŘADA MIRACLE 3D MĚŘÍCÍ STŮL ŘADA MIRACLE 1 Miracle (zázrak) CMM - reprezentuje plně automatizované CMM Všechna tři vodící tělesa jsou vyrobena z vysoce kvalitního granitu, zachovávají si své vlastnosti a tvrdost i

Více

ÚSPĚŠNÉ A NEÚSPĚŠNÉ INOVACE LED MODRÁ DIODA. Hana Šourková 15.10.2013

ÚSPĚŠNÉ A NEÚSPĚŠNÉ INOVACE LED MODRÁ DIODA. Hana Šourková 15.10.2013 1 ÚSPĚŠNÉ A NEÚSPĚŠNÉ INOVACE LED MODRÁ DIODA Hana Šourková 15.10.2013 1 Osnova LED dioda Stavba LED Historie + komerční vývoj Bílé světlo Využití modré LED zobrazovací technika osvětlení + ekonomické

Více

ŠABLONY INOVACE OBSAH UČIVA

ŠABLONY INOVACE OBSAH UČIVA ŠABLONY INOVACE OBSAH UČIVA Číslo a název projektu CZ.1.07/1.5.00/34. 0185 Moderní škola 21. století Číslo a název šablony III/2 Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT klíčové aktivity Název vzdělávací

Více

I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í. Počet: 30

I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í. Počet: 30 Příloha č. 1 - Technické podmínky I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í Technické zadání zakázky na dodávku výpočetní techniky pro Střední odbornou školu a Střední odborné učiliště, Moravské

Více

Dálkový průzkum země v mikrovlnné části spektra

Dálkový průzkum země v mikrovlnné části spektra Pasivní mikrovlnné snímání Dálkový průzkum země v mikrovlnné části spektra Pasivní mikrovlnné snímání Těmito metodami je měřena přirozená dlouhovlnná energie vyzářená objekty na zemském povrchu. Systémy

Více

Metal Magnetic Memory Method

Metal Magnetic Memory Method Metal Magnetic Memory Method MMM - Metoda NDT Autor: Ing. Václav Svoboda, Ing. Zdislav Olmr Abstrakt: Metoda Magnetické paměti materiálu je NDT metoda založená na měření a analýze rozložení zbytkových

Více

Možnosti rtg difrakce. Jan Drahokoupil (FZÚ) Zdeněk Pala (ÚFP) Jiří Čapek (FJFI)

Možnosti rtg difrakce. Jan Drahokoupil (FZÚ) Zdeněk Pala (ÚFP) Jiří Čapek (FJFI) Možnosti rtg difrakce Jan Drahokoupil (FZÚ) Zdeněk Pala (ÚFP) Jiří Čapek (FJFI) AdMat 13. 3. 2014 Aplikace Struktura krystalických látek Fázová analýza Mřížkové parametry Textura, orientace Makroskopická

Více

Jak ovlivňují parametry měřicích přístrojů výsledky měření optických tras?

Jak ovlivňují parametry měřicích přístrojů výsledky měření optických tras? Jak ovlivňují parametry měřicích přístrojů výsledky měření optických tras? aneb zkušenosti s měřením tras a kalibrací přístrojů Martin Hájek, Karel Dvořák MIKROKOM s.r.o. Faktory ovlivňující naměřené výsledky

Více

Fyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II

Fyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II Fyzika II Marek Procházka Vlnová optika II Základní pojmy Reflexe (odraz) Refrakce (lom) jevy na rozhraní dvou prostředí o různém indexu lomu. Disperze (rozklad) prostorové oddělení složek vlnění s různou

Více

METODICKÝ NÁVOD. Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové bilance optické trasy. Ing. Bc. Ivan Pravda, Ph.D.

METODICKÝ NÁVOD. Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové bilance optické trasy. Ing. Bc. Ivan Pravda, Ph.D. METODICKÝ NÁVOD Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové bilance optické trasy Ing. Bc. Ivan Pravda, Ph.D. AUTOR Ivan Pravda NÁZEV DÍLA Aplikace logaritmických veličin pro výpočet útlumové

Více

In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém

In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu Pojednání ke státní závěrečné zkoušce Autor: Petr Šperka Školitel: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Ústav konstruování Fakulta

Více

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první

Více

Počítačová grafika a vizualizace I

Počítačová grafika a vizualizace I Počítačová grafika a vizualizace I PŘENOSOVÁ MÉDIA - KABELÁŽ Mgr. David Frýbert david.frybert@gmail.com SKENERY princip Předlohu pro digitalizaci ozařuje zdroj světla a odražené světlo je vedeno optickým

Více

Regionální centrum speciální optiky a optoelektronických systémů TOPTEC

Regionální centrum speciální optiky a optoelektronických systémů TOPTEC Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i. Regionální centrum speciální optiky a optoelektronických systémů TOPTEC 1/15 ředitelství ÚFP TOPTEC Ústí n. Labem Praha Liberec Turnov Ostrava Plzeň České Budějovice

Více

Vybrané spektroskopické metody

Vybrané spektroskopické metody Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky

Více

Fotoelektrická měření magnetických a rychlostních polí. Miroslav Klvaňa, Astronomický ústav Akademie věd, observatoř Ondřejov

Fotoelektrická měření magnetických a rychlostních polí. Miroslav Klvaňa, Astronomický ústav Akademie věd, observatoř Ondřejov Fotoelektrická měření magnetických a rychlostních polí Miroslav Klvaňa, Astronomický ústav Akademie věd, observatoř Ondřejov Zdroj našich informací Podle místa vzniku poskytují spektrální čáry informace

Více

Proč elektronový mikroskop?

Proč elektronový mikroskop? Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční

Více

Optické měřicí 3D metody

Optické měřicí 3D metody Univerzita Palackého v Olomouci Přírodovědecká fakulta Optické měřicí 3D metod Michal Pochmon Olomouc 212 Oponent: RNDr. Tomáš Rössler Ph.D. Publikace bla připravena v rámci projektu Investice do rozvoje

Více

Metody zvýšení rozlišovací obrazů

Metody zvýšení rozlišovací obrazů XXVI. ASR '21 Semnar, Instruments and Control, Ostrava, Aprl 26-27, 21 Paper 7 Metody zvýšení rozlšovací obrazů BRADÁČ, Frantšek Ing., Ústav výrobních strojů, systémů a robotky, Vysoké učení techncké v

Více

Měření emisí motorových vozidel

Měření emisí motorových vozidel 1 Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola technická Brno, Sokolská 1 Šablona: Název: Téma: Autor: Číslo: Anotace: Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT Kontrola a měření strojních zařízení

Více

TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií

TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Kalibrace zařízení pro posun fáze Projekt Jan Vojčiniak Liberec 2010 Materiál vznikl v rámci projektu ESF (CZ.1.07/2.2.00/07.0247)

Více

TESTOVACÍ SYSTÉM PRO MEMS VOA

TESTOVACÍ SYSTÉM PRO MEMS VOA TESTOVACÍ SYSTÉM PRO MEMS VOA Ing. Petr Hliněný Ústav automatizace a měřící techniky, FEKT, VUT v Brně Kolejní 4, 612 00, Brno Email: xhline00@stud.feec.vutbr.cz V článku je představen nový způsob měření

Více

Úloha č.3 Interferometry a vlastnosti laserového záření

Úloha č.3 Interferometry a vlastnosti laserového záření Úloha č.3 Interferometry a vlastnosti ového záření 1 Teoretický úvod Vyskytují-li se ve stejném prostoru a čase současně dvě (nebo více) optických vln, dochází k interferenci světla, kdy je výsledná vlnová

Více

Fyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky

Fyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky Fyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky 1. Vysvětlete pojmy kulová a rovinná vlnoplocha. 2. Pomocí Hyugensova principu vysvětlete konstrukci tvaru vlnoplochy v libovolném budoucím

Více

Přejímací zkouška linearita měřičů aktivity

Přejímací zkouška linearita měřičů aktivity Přejímací zkouška linearita měřičů aktivity FAKULTNÍ NEMOCNICE OLOMOUC 10/2017 - dokončení přestavby farmaceutická laboratoře - dodávka a instalace: 4 ks nových měřičů aktivity 11/2017 - fyzikální provoz

Více

Elektronický přepínač rezistorů, řízený PC

Elektronický přepínač rezistorů, řízený PC Elektronický přepínač rezistorů, řízený PC Miroslav Luňák, Zdeněk Chobola Úvod Při měření VA charakteristiky polovodičových součástek dochází v řadě případů ke změně proudu v rozsahu až deseti řádů (10

Více

Detektor kouře FireGuard. Aplikace Včasné varování před studeným kouřem v silničních tunelech Detekce kouře v prostředích s korosivní atmosférou

Detektor kouře FireGuard. Aplikace Včasné varování před studeným kouřem v silničních tunelech Detekce kouře v prostředích s korosivní atmosférou Aplikace Včasné varování před studeným kouřem v silničních tunelech Detekce kouře v prostředích s korosivní atmosférou Výhody Spojité měření koncentrace kouře Žádné pohyblivé části Eliminace vlivu mlhy

Více

KALIBRACE PRACOVNÍCH MĚŘIDEL Z OBORU DÉLKA NEJISTOTY MĚŘENÍ. Ing. Václav Duchoň ČMI OI Brno

KALIBRACE PRACOVNÍCH MĚŘIDEL Z OBORU DÉLKA NEJISTOTY MĚŘENÍ. Ing. Václav Duchoň ČMI OI Brno KALIBRACE PRACOVNÍCH MĚŘIDEL Z OBORU DÉLKA NEJISTOTY MĚŘENÍ Ing. Václav Duchoň ČMI OI Brno Skupiny měřidel úkol technického rozvoje PRM 2012 č. VII/4/12 velké množství jednotlivých měřidel délky 11 skupin,

Více

OBSAH. Metoda 3D laserového skenování Výhody Důvody a cíle použití Pilotní projekt Postup prací Výstupy projektu Možnosti využití Závěry a doporučení

OBSAH. Metoda 3D laserového skenování Výhody Důvody a cíle použití Pilotní projekt Postup prací Výstupy projektu Možnosti využití Závěry a doporučení OBSAH Metoda 3D laserového skenování Výhody Důvody a cíle použití Pilotní projekt Postup prací Výstupy projektu Možnosti využití Závěry a doporučení METODA LASEROVÉHO SKENOVÁNÍ Laserové skenovací systémy

Více

Elektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze. CCD vs CMOS. Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc.

Elektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze. CCD vs CMOS. Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc. Elektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze CCD vs CMOS Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc. 0 Multimedia Technology Group, K13137, FEE CTU 0 Historie snímání obrazu 1884 Paul Nipkow mechanický

Více

ScanStation P20 uživatelská kalibrace (procedura Check & Adjust)

ScanStation P20 uživatelská kalibrace (procedura Check & Adjust) ScanStation P20 uživatelská kalibrace (procedura Check & Adjust) ScanStation P20 and Cyclone 8.0 Introduction Meeting, 02 05 Oct 2012, Heerbrugg Bianca Gordon, překlad do češtiny Daniel Šantora Přehled

Více

Soupravy pro měření útlumu optického vlákna přímou metodou

Soupravy pro měření útlumu optického vlákna přímou metodou Jednosměrné měřicí soupravy: Tyto měřící soupravy měří pouze v jednom směru. Pro měření v druhém směru je nutné přemístění. Výhodou těchto souprav je nízká cena. Schéma zapojení těchto měřicích soustav

Více

Dotykové technologie dotkněte se budoucnosti...

Dotykové technologie dotkněte se budoucnosti... Mgr. Petr Jelínek Ing. Michal Bílek Ing. Karel Johanovský Dotykové technologie dotkněte se budoucnosti... O co se vlastně jedná? dotykové obrazovky (displeje) jsou vstupní i výstupní zařízení dvě nesporné

Více

Komplexní soubor měření optických tras při nasazování vysokorychlostních systémů xwdm

Komplexní soubor měření optických tras při nasazování vysokorychlostních systémů xwdm Komplexní soubor měření optických tras při nasazování vysokorychlostních systémů xwdm Miroslav Švrček, Martin Hájek MIKROKOM, s.r.o. Nové nároky vysokorychlostních DWDM a CWDM systémů na optickou trasu

Více

Bezdrátový přenos signálu v reálné aplikaci na letadle.

Bezdrátový přenos signálu v reálné aplikaci na letadle. Bezdrátový přenos signálu v reálné aplikaci na letadle. Jakub Nečásek TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Tento materiál vznikl v rámci projektu ESF

Více

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Zobrazovací metody v nanotechnologiích Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší

Více

Témata doktorského studia pro akademický rok 2011/2012

Témata doktorského studia pro akademický rok 2011/2012 Prezentace Ústavu konstruování 2011 Témata doktorského studia pro akademický rok 2011/2012 Proč jít na doktorské studium na Ústav konstruování? Kolektiv mladých lidí se zájmem o věc Záruka získání PhD

Více

Analýza profilu povrchů pomocí interferometrie nízké koherence

Analýza profilu povrchů pomocí interferometrie nízké koherence Analýza profilu povrchů pomocí interferometrie nízké koherence Vedoucí bakalářské práce Ing. Zdeněk Buchta, Ph.D. Tomáš Pikálek 26. června 214 1 / 11 Cíle práce Cíle práce Cíle práce seznámit se s laserovou

Více

MATLAB GUI PRO MĚŘENÍ DEFORMACÍ DIGITÁLNÍ HOLOGRAFICKOU INTERFERENCÍ

MATLAB GUI PRO MĚŘENÍ DEFORMACÍ DIGITÁLNÍ HOLOGRAFICKOU INTERFERENCÍ MATLAB GUI PRO MĚŘENÍ DEFORMACÍ DIGITÁLNÍ HOLOGRAFICKOU INTERFERENCÍ Pavel Psota, Vít Lédl, Jan Václavík Technická univerzita v Liberci, Ústav řízení systémů a spolehlivosti Abstrakt Holografická interferometrie

Více

In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu

In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu Ing. Petr Šperka Školitel: prof. Ing. Martin Hartl, Ph.D. Ústav konstruování Odbor konstruování strojů Fakulta strojního

Více

Geometrická přesnost Schlesingerova metoda

Geometrická přesnost Schlesingerova metoda TECHNIKU A TECHNOLOGII České vysoké učení technické v Praze, fakulta strojní Horská 3, 128 00 Praha 2, tel.: +420 221 990 900, fax: +420 221 990 999 www.rcmt.cvut.cz metoda Pavel Bach 2009 2 Příklad měření

Více

Zajímavé vlastnosti sluneční atmosféry: magnetická a rychlostní pole

Zajímavé vlastnosti sluneční atmosféry: magnetická a rychlostní pole Zajímavé vlastnosti sluneční atmosféry: magnetická a rychlostní pole Spektroskopie (nejen) ve sluneční fyzice LS 2011/2012 Michal Švanda Astronomický ústav MFF UK Astronomický ústav AV ČR Vliv na tvar

Více

POKROČILÉ METODY VYHODNOCOVÁNÍ TOPOGRAFIE POVRCHU

POKROČILÉ METODY VYHODNOCOVÁNÍ TOPOGRAFIE POVRCHU POKROČILÉ METODY VYHODNOCOVÁNÍ TOPOGRAFIE POVRCHU ADVANCED METHODS OF SURFACE TOPOGRAPHY EVALUATION BAKALÁŘSKÁ PRÁCE BACHELOR THESIS AUTOR PRÁCE AUTHOR Jitka METELKOVÁ VEDOUCÍ PRÁCE SUPERVISOR prof. Ing.

Více

Název práce: Skenery prezentace

Název práce: Skenery prezentace Datum: 26. května 2013 Projekt: Využití ICT techniky především v uměleckém vzdělávání Registrační číslo: CZ.1.07/1.5.00/34.1013 Číslo DUM: VY_32_INOVACE_590 Škola: Akademie VOŠ, Gymn. a SOŠUP Světlá nad

Více

EXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA 2

EXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA 2 EXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA 2 2. přednáška Jan Krystek 28. února 2018 EXPERIMENTÁLNÍ MECHANIKA Experiment slouží k tomu, abychom pomocí experimentální metody vyšetřili systém veličin nutných k řešení problému.

Více

Modulace vlnoplochy. SLM vytváří prostorově modulovaný koherentní optický signál

Modulace vlnoplochy. SLM vytváří prostorově modulovaný koherentní optický signál OPT/OZI L06 Modulace vlnoplochy prostorové modulátory světla (SLM) SLM vytváří prostorově modulovaný koherentní optický signál řízení elektronicky adresovaný SLM opticky adresovaný SLM technologie fotografická

Více