Nový snímací systém pro studium monokrystalických zobrazovacích stínítek



Podobné dokumenty
Technická specifikace předmětu veřejné zakázky

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)

příloha C zadávací dokumentace pro veřejnou zakázku malého rozsahu Mikroskopy pro LF MU TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)

Proč elektronový mikroskop?

Specifikace předmětu plnění

od 70mm (měřeno od zadní desky s axiálním výstupem) interní prvky opatřeny černou antireflexní vrstvou, centrální trubice s vnitřní šroubovicí

Grafika na počítači. Bc. Veronika Tomsová

Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje

M I K R O S K O P I E

Spektrální charakteristiky

Projekt Brána do vesmíru

REM s ultravysokým rozlišením JEOL JSM 6700F v ÚPT AVČR. Jiřina Matějková, Antonín Rek, ÚPT AVČR, Královopolská 147, Brno

VY_32_INOVACE_FY.12 OPTIKA II

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ

Obrazové snímače a televizní kamery

Obrazové snímače a televizní kamery

Video mikroskopická jednotka VMU

Makroskopická obrazová analýza pomocí digitální kamery

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

Harmonická analýza tiskových struktur

Technický boroskop zařízení na monitorování spalovacích procesů

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289

Integrita povrchu a její význam v praktickém využití

MĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM

Defektoskopie a defektometrie

Measurement of fiber diameter by laser diffraction Měření průměru vláken pomocí laserové difrakce

Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková

MULTIMEDIÁLNÍ A HYPERMEDIÁLNÍ SYSTÉMY

Biofyzikální ústav Lékařské fakulty Masarykovy univerzity Brno. prezentace je součástí projektu FRVŠ č.2487/2011

Základní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi

Obrázek 2: Experimentální zařízení pro E-I. [1] Dřevěná základna [11] Plastové kolíčky [2] Laser s podstavcem a držákem [12] Kulaté černé nálepky [3]

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15

Katalogový list ESD digitální systém pro kontrolu BGA, Exclusive OP Obj. číslo: Anotace

Typy světelných mikroskopů

Mikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/ Liberec 1 tel.: cxi.tul.cz

R8.1 Zobrazovací rovnice čočky

Rozdělení přístroje zobrazovací

Ing. Jakub Ulmann. Zavádění inovativních metod a výukových materiálů do přírodovědných předmětů na Gymnáziu v Krnově

Fotokroužek 2009/2010

MULTIMEDIÁLNÍ A HYPERMEDIÁLNÍ SYSTÉMY

Teprve půlka přednášek?! já nechci

Nové aplikační možnosti použití rentgenové projekční mikroskopie a mikrotomografie pro diagnostiku předmětů kulturního dědictví

Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT Technické vybavení Vizualizační technika Ing. Jakab Barnabáš

Úvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014

Jak na Slunce? Pozorování Slunce

Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí

Interní norma č /01 Průměr a chlupatost příze

Mikroskopická obrazová analýza

Úloha č. 1: CD spektroskopie

CT - artefakty. Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předmět: lékařská přístrojová fyzika

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem

(Umělé) osvětlování pro analýzu obrazu

dodavatel vybavení provozoven firem ESD digitální systém pro kontrolu BGA, Standard OP Obj. číslo: Popis

Katalogový list ESD digitální systém pro kontrolu BGA, Basic OP Obj. číslo: Popis

Světlo 1) Světlo patří mezi elektromagnetické vlnění (jako rádiový signál, Tv signál) elmg. vlnění = elmg. záření

Lupa a mikroskop příručka pro učitele

ÚVOD DO PROBLEMATIKY PIV

SPŠS Č.Budějovice Obor Geodézie a Katastr nemovitostí 4.ročník MĚŘICKÝ SNÍMEK PRVKY VNITŘNÍ A VNĚJŠÍ ORIENTACE CHYBY SNÍMKU

Systémy zpracování obrazu

17. března Optická lavice s jezdci a držáky čoček, světelný zdroj pro optickou lavici, mikroskopický

Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím ICT Technické vybavení Digitální fotoaparáty Ing. Jakab Barnabáš

PROTOKOL O ZKOUŠCE 101 / 2009

Moderní trendy měření Radomil Sikora

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

2D MANUAL. ložiscích, která umožňuje velmi rychlé a přesné bezkontaktní měření v rozsahu 400 mm 300 mm.

Techniky mikroskopie povrchů

OPTICKÉ PŘÍSTROJE O PROFILPROJEKTORECH MIKROSKOP NEBO PROFILPROJEKTOR?

VLNOVÁ OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník

Videosignál. A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. Před. A3M38VBM, 2015 J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha

Fotogrammetrické 3D měření deformací dálničních mostů typu TOM

Demonstrační jednotka generátoru nedifrakčních svazků

Mikroskopie a zobrazovací technika. Studentská 1402/ Liberec 1 tel.: cxi.tul.cz

STOLNÍ ZNAČICÍ SYSTÉM

SPŠS Č.Budějovice Obor Geodézie a Katastr nemovitostí 4.ročník DIGITÁLNÍ SNÍMEK DIGITÁLNÍ KAMERY A SKENERY

Stereomikroskop. Stativ pro dopadající světlo

ZPRACOVÁNÍ OBRAZU přednáška 4

Instrumentovaný Mikroindentor

Měření optických vlastností materiálů

Senzory - snímací systémy

Společná laboratoř optiky. Skupina nelineární a kvantové optiky. Představení vypisovaných témat. bakalářských prací. prosinec 2011

N I K O N S. R. O. Oběžník č. bvso srpna 2009 Dosáhněte na nedosažitelné Zahajujeme prodej nové série monokulárů Nikon EDG Fieldscope

Základy mikroskopování

OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Sekunda

Mikroskop ECLIPSE E200 STUDENTSKÝ NÁVOD K POUŽITÍ. určeno pro studenty ČZU v Praze

SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH

Základy mikroskopie. Úkoly měření: Použité přístroje a pomůcky: Základní pojmy, teoretický úvod: Úloha č. 10

Mikroskopy. Světelný Konfokální Fluorescenční Elektronový

Vypracoval: Martin Paúr. 27. Června / 14

Laboratorní úloha č. 6 - Mikroskopie

Stahováky BAHCO Stahováky řady dvouramenné

Ceník NetRex platný od

Návod k měření na modernizovaném dílenském mikroskopu Zeiss

Snímkování termovizní kamerou

EM, aneb TEM nebo SEM?

MULTIMEDIÁLNÍ A HYPERMEDIÁLNÍ SYSTÉMY. 7. Zobrazovací zařízení

Laboratorní práce č. 3: Měření vlnové délky světla

Zobrazovací zařízení. Základní výstupní zařízení počítače, které slouží k zobrazování textových i grafických informací.

Transkript:

Nový snímací systém pro studium monokrystalických zobrazovacích stínítek Petr Schauer, Ivan Vlček, Petr Horák Spolupráce: Prof. Armin Delong, Petr Duchoň, Prof. Rudolf Autrata, Ing. Karel Blažek, Dr. Martin Zadražil, Mgr. František Matějka, Dr. Jaroslav Sobota Crytur s.r.o., Delong Instruments s.r.o., Tescan s.r.o. "Zobrazovací monokrystalická stínítka pro transmisní elektronovou mikroskopii", GA102/98/0796 (1998-2000), ÚPT5051 (2001-2002), řešitel: Petr Schauer Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 1

Nejdůležitější otázky Které vlastnosti jsou pro zobrazovací stínítka významné? Jak vyhodnocovat zobrazovací stínítka? Co je úskalím zobrazovacího systému? Která metoda je lepší pro měření prostorového rozlišení? Jak snímat obraz ze dna komory? Co je lepší? CCD kamera nebo fotoaparát? Jsou monokrystalická stínítka použitelná pro elektronové svazky s vysokou energií? Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 2

Monokrystalický materiál Monokrystaly YAG:Ce 3+ byly taženy Czochralskiho metodou ve spolupráci s firmou Crytur s.r.o. v Turnově. Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 3

Monokrystalická stínítka Vyšetřovaná stínítka tvořily destičky YAG:Ce 3+, které byly oboustranně velmi dokonale vyleštěné. Tlustá stínítka mají malý význam. Používají se stínítka tenká až 0,1mm Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 4

Proč monokrystalická stínítka? Výborně definované optické vlastnosti Mohou být precizně tvarována Mohou být vyrobena jako velmi malé prvky Vhodná pro vytváření velmi malého obrazu Odolná proti elektronům Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 5

Proč YAG:Ce 3+ stínítka? Emise ve žlutozelené spektrální oblasti Dobré spektrální přizpůsobení k CCD kameře stejně jako přizpůsobení lidskému oku Široké emisní spektrum (vysoká FWHM) Dostatečná účinnost energetické konverze Prostorové rozlišení lze získat Monte Carlo simulací Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 6

Požadavky na experiment Přístroj: TEM Philips CM 12 Metoda: metoda projekce hrany Vzorky: monokrystalická YAG:Ce stínítka Umístění: příruba na dně komory TEM Přístupnost: ze spodní strany stolu => nepříjemná manipulace Snímací systém: CCD kamera nebo fotoaparát PC Software pro zpracování a analýzu obrazu Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 7

TEM Philips CM 12 Umožňuje měřit v rozsahu excitací 20 až 110 kev Má přírubu ze spodní strany komory Dovoluje nasadit metodu projekce hrany Snadná manipulace s projekčním objektem Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 8

Původní experimentální uspořádání EXCITATION PROCESSING edge e - beam screen emitted light image recording camera OPTICAL EQUIPMENT modulation transfer function line spread function edge spread function Schéma a fotografie původního uspořádání pro měření MTF. Využívá se TEM Philips CM 12 a metoda funkce rozšíření hrany. Systém byl kalibrován použitím mřížky Agar 300. Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 9

Projekce hrany Projekční metoda - vytváří jednotkový excitačního skok (vytváří ideální hranu) Projekční objekt -křemíková monokrystalická destička je umístěna na vzorkovém držáku mikroskopu. Stínítko - monokrystal YAG:Ce pokrytý Al je umístěn na dně vakuové komory Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 10

Původní systém v činnosti Původní snímací systém, charakteristický 2x zalomenou optickou trasou, je připevněný na spodní přírubě TEM Philips CM 12 Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 11

Slabiny původního systému Systém je poplatný původně používanému fotoaparátu Vynucené umístění a poloha při manipulaci Optické zařízení se dvěma hranoly a třemi čočkami 2x zalomená optická trajektorie Poměrně dlouhá optická trajektorie Nedostatečná pevnost Všechny optické elementy nastaveny trvale Nedostatečné zaostřování Nedostatečné maximální zvětšení Pro E < 20 kev musí být obraz značně zvětšovaný Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 12

MTF MTF 1,0 0,8 0,6 0,4 0,2 0,0 0 20 40 60 80 100 120 140 160 spatial frequency (mm -1 ) Experiment-100 kev Experiment-60 kev Experiment-20 kev Simulation-100 kev Simulation-60 kev Simulation-20 kev Experiment (plná čára) - Fourierova transformace funkce rozšíření hrany z fotografie obrazu hrany MC Simulace (tečkovaná čára) - Fourierova transformace rozložení absorbované energie Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 13

Požadavky na nový systém Relativně malé a precizně vyrobené zařízení Pohyby bez vůle Rychlá, snadná a bezpečná výměna stínítka Stínítko umístěno ve snadno vyjímatelné kazetě Vysoké a měnitelné zvětšení Možnost pozorování celého povrchu stínítka Snadné a jemné zaostřování a jeho fixace On-line zpracování s využitím CCD kamery a PC Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 14

Nové experimentální uspořádání EXCITATION edge e - beam screen - vacuum wall emitted light PROCESSING modulation transfer function line spread function edge spread function objective CCD camera OPTICAL EQUIPMENT image recording Schéma nového uspořádání pro měření MTF. Využívá se TEM Philips CM 12 a metoda funkce rozšíření hrany. Snímá se objektivem Olympus a CCD kamerou s vysokým rozlišením. Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 15

Návrh nového systému Navrhováno v Autocadu 2000 for Windows Využití 3D modelování blokového návrhu (metoda representace GSG) Výkresová dokumentace dílů i celků v elektronické podobě Snadná korekce chyb Vektorové zpracování Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 16

Vyjímatelná kazeta pro stínítko A. Šikmá plochá pro naklápění B. Kulová plocha C. Kuželová plocha D. Střed naklápění 1. Studované stínítko 6. Naklápěný nosič 2. Držák stínítka 7. Vratná pružina 3. Převlečný kroužek (těsnění) 8. Vlnovec 4. Připevňující šrouby 9. Těsnící O-kroužek 5. Šrouby pro naklápění Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 17

Provedení kazety pro stínítko Kazeta s monokrystalickým stínítkem tvoří vakuovou stěnu. Šrouby pro naklánění jsou viditelné na levé i zadní straně. Tímto způsobem vedení pohybu naklánění se podařilo vyhnout se existenci kloubů v oblasti povrchu stínítka a tím možným kolizím těchto kloubů s objektivy světelného mikroskopu. Toto umožňuje obsluze vyšší komfort při obtížné manipulaci při montáži kazety. Pochopitelně to také přispívá k bezpečnosti monokrystalického stínítka. Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 18

Světelně-optický systém 1. Světelný objektiv Olympus S Plan 2. Černobílá CCD kamera s vysokým rozlišením 3. Propojovací trubice 4. Čtyřpolohový karusel pro objektivy 5. Matice s jemným stoupáním pro ostření 6. Bezpečnostní doraz Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 19

Provedení optického systému Kvalitní mikroskopický objektiv Olympus S Plan Karuselový zásobník objektivů - volba vhodného zvětšení Optický tubus 160 mm Ostření s bezpečnostním dorazem CCD kamera MINTRON Tuhé spojení elementů Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 20

x-y manipulátor A. Vodící drážky 1. Kuličky (ložiskové) pro pohybový mechanismus 2. Kalené dráty pro pohybový mechanismus 3. Fixní drážka 4. Stavitelná drážka Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 21

Provedení x-y manipulátoru Umožňuje pohyb systému nad povrchem stínítka Dvojice navzájem kolmých přímočarých manipulátorů umístěných na závěsu Jeden z manipulátorů má větší zdvih pro "zaparkování" Pohyb realizován šrouby bez pružného vymezení Vhodný poměr šířky a délky desek a centrální umístění pohyb. šroubu minimalizuje křížení a přispívá k plynulému chodu Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 22

Zkompletovaný celek Zařízení k on-line zpracování velmi malého obrazu bez ztráty detailů CCD kamera v libovolné poloze Rotace CCD kamery => rotace obrazu Proces zaostřování pozorovatelný na monitoru Snadno připojitelné k PC Rychlé zpracování obrazu Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 23

Zpracování obrazové informace Sejmutí obrazu ze stínítka pomocí černobílé CCD kamery firmy MINTRON (OS-45 D, ½ snímací čip SONY 795x596 pixelů) Digitalizace pomocí Frame Grabberu Matrix Vision (PCimage-SC 768x576 pixelů při 50 Hz Zpracování pomocí programu Atlas od firmy TESCAN Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 24

Kalibrace programu Atlas Program Atlas byl zkalibrován pomocí světelné mřížky s periodou oka 100 µm Na obrázku je patrná nehomogenita osvětlení (tj. ztráta světelnosti snímaného obrazu mimo osu optické soustavy) Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 25

Světelná optická soustava (I) K posouzení světelné optické soustavy použita destička monokrystalického křemíku s téměř monoatomární hranou Obrázek pořízený objektivem typu LAMBDA s N A = 0,45 a M = 20 Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 26

Světelná optická soustava (II) Obrázek pořízený objektivem typu SPLAN s N A = 0,95 a M = 40 Na obrázku je patrná mnohem větší rozlišovací schopnost objektivu Splan Hrana destičky je velice ostrá Patrná důležitost kvalitního objektivu a tím i celé světelné optické soustavy Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 27

Sférická vada (I) Pro posouzení sférické vady jsme křemíkovou destičku přikryli stínítkem z YAG o tloušťce 0,5 mm Korekce objektivu Lambda na tuto vadu je pro sklo 0,17 Okem je sférická vada v daném případě nepozorovatelná Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 28

Sférická vada (II) Korekce objektivu Splan na sférickou vadu je pro sklo nastavitelná v rozmezí 0,11 0,23 Pracovní vzdálenost objektivu (cca 0,15 mm) nám neumožní přes YAG dostatečně zaostřit V experimentu je nutné použít stínítko o tloušťce 0,1 mm Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 29

Snímek z TEM Philips CM 12 Snímek sejmutý při excitační energii 100 kev Použit objektiv Splan Korekce nastavena na 0,15 mm při použití YAG:Ce stínítka o tloušťce 0,1 mm Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 30

Konečné vyhodnocení Použití programu HarFA Umožňuje harmonickou i fraktální analýzu digitálního obrazu Užití různých vyhlazovacích filtrů Korekce nehomogenity osvětlení i teplotního šumu Fourierova analýza (1D i 2D) zisk MTF Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 31

Závěr Snímací systém je dokončen, ale není vyloučeno další vylepšování Zařízení je v provozu Právě probíhá zpracování studia prostorového rozlišení monokrystalického YAG:Ce, d = 0,1 mm Aplikace se ještě zvažují Dokončuje se diplomová práce Poděkování patří všem na začátku jmenovaným, zvláště pak prof. Delongovi Petr Schauer, Ústav přístrojové techniky AVČR, Brno, www.petr.isibrno.cz snímek 32