Konfokální XRF. Ing. Radek Prokeš Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze

Podobné dokumenty
Rentgenfluorescenční metody ve výzkumu památek

ALTERNATIVNÍ METODY STANOVENÍ HLOUBKOVÉ DISTRIBUCE

Konfokální rentgenová fluorescenční analýza

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec

Použité přístroje: stereomikroskop Olympus SZX9 XLT XRF analyzátor (Thermo scientific) UV-VIS spektrometru Avaspec 2048 (Avantes)

Rentgenfluorescenční analýza, pomocník nejen při studiu památek

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

Oblasti průzkumu kovů

Elektronová Mikroskopie SEM

Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie

2. FYZIKÁLNÍ ZÁKLADY ANALYTICKÉ METODY RBS

Dualismus vln a částic

RTG difraktometrie 1.

Příloha 4_Atlas spekter standardů nejběžnějších pigmentů a barviv středověkých iluminací české provenience

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek

Rentgenová difrakce a spektrometrie

CT - artefakty. Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předmět: lékařská přístrojová fyzika

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne

Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

Konference radiologické fyziky 2018

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ

Kvantitativní fázová analýza

Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka

Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm

Fotonásobič. fotokatoda. typicky: - koeficient sekundární emise = počet dynod N = zisk: G = fokusační elektrononová optika

Návrh rozsahu přejímacích zkoušek a zkoušek dlouhodobé stability. skiagrafických radiodiagnostických rtg zařízení s digitalizací obrazu.

Základy výpočetní tomografie

Chemie a fyzika pevných látek p2

Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál

Měření kosmického záření

Techniky detekce a určení velikosti souvislých trhlin

Techniky mikroskopie povrchů

Zhodnocení dozimetrických vlastností MicroDiamond PTW detektoru a jeho využití ve stereotaktických ozařovacích polích

CT-prostorové rozlišení a citlivost z

Zpráva o materiálovém průzkumu. Hlavní oltář v kapli Sv. Bartoloměje, zámek Žampach. RNDr. Janka Hradilová Dr. David Hradil

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.

Spektrometrie záření gama

Základy Mössbauerovy spektroskopie. Libor Machala



Výukové texty. pro předmět. Měřící technika (KKS/MT) na téma

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II

VÍŘIVÉ PROUDY DZM

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

Spektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE

Fluorescenční mikroskopie

Pokročilé biofyzikální metody v experimentální biologii

Referát z atomové a jaderné fyziky. Detekce ionizujícího záření (principy, technická realizace)

Chemie a fyzika pevných látek l

POPIS VYNALEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ. obr Z ČESKOSLOVENSKA SOCIALISTICKÁ ( 19 ) G 01 F 23/28. (22) Přihlášeno (21) PV

Drazí kolegové, µct Newsletter 01/2013 1/5

Vybrané spektroskopické metody

Ultrazvukové diagnostické přístroje. X31LET Lékařskátechnika Jan Havlík Katedra teorie obvodů

Měření absorbce záření gama

od 70mm (měřeno od zadní desky s axiálním výstupem) interní prvky opatřeny černou antireflexní vrstvou, centrální trubice s vnitřní šroubovicí

Terénní kurz Diváky , program terénních akcí a odpoledních odborných přednášek.

Proč XRF? Využití rentgenfluorescenčních metod při průzkumu barevné vrstvy na uměleckých dílech

Nedestruktivní metody 210DPSM

FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE. Mikrovlny

PŘENOSNÉ RENTGEN- FLUORESCENČNÍ ANALYZÁTORY

Vzorkování kapalin 1

Neutronové záření ve výzkumných reaktorech. Tereza Lehečková

Nové aplikační možnosti použití rentgenové projekční mikroskopie a mikrotomografie pro diagnostiku předmětů kulturního dědictví

Metody analýzy povrchu

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Principy a instrumentace

10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita

Výtvarné umění jako součást architektury 60. a 70. let 20. století

Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis

KURZ PRO DOPLNĚNÍ ZNALOSTÍ ZÁSAD RADIAČNÍ OCHRANY POŽADOVANÝCH PRO ODBORNOU PŘÍPRAVU VYBRANÝCH PRACOVNÍKŮ SE ZDROJI IONIZUJÍCÍHO ZÁŘENÍ

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková

Seznam součástek. A. Seznam prvků soupravy GON. Rozměry (cm) nebo Poloměry* (cm) Značka Název prvku

Fyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II

Mikrovlny. K. Kopecká*, J. Vondráček**, T. Pokorný***, O. Skowronek****, O. Jelínek*****

Autor: Bc. Tomáš Zavadil Vedoucí práce: Ing. Jaroslav Pitter, Ph.D. ATG (Advanced Technology Group), s.r.o

Seznam otázek pro zkoušku z biofyziky oboru lékařství pro školní rok

Pozitronový mikroskop

Světlo 1) Světlo patří mezi elektromagnetické vlnění (jako rádiový signál, Tv signál) elmg. vlnění = elmg. záření

Radiační zátěž na palubách letadel

Šum v obraze CT. Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předmět: lékařská přístrojová fyzika

Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv

Konstrukce výpočetního tomografu. Jiří Ferda, Hynek Mírka Klinika zobrazovacích metod LFUK a FN v Plzni

CT - dozimetrie. Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předmět: lékařská přístrojová fyzika

Detektor kouře FireGuard. Aplikace Včasné varování před studeným kouřem v silničních tunelech Detekce kouře v prostředích s korosivní atmosférou

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

Pavel Matějka

Chemicko-technologický průzkum barevných vrstev. Arcibiskupský zámek, Sala Terrena, Hornická Grotta. štuková plastika horníka

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence

Kvantové technologie v průmyslu a výzkumu

Detekce erozně korozního poškozování parovodů (FAC) metodou akustické emise

Společná laboratoř optiky. Skupina nelineární a kvantové optiky. Představení vypisovaných témat. bakalářských prací. prosinec 2011

POPIS VYNÁLEZU

Metody analýzy povrchu

2D grafika. Jak pracuje grafik s 2D daty Fotografie Statické záběry Záběry s pohybem kamery PC animace. Počítačová grafika, 2D grafika 2

Detekce nabitých částic Jak se ztrácí energie průchodem částice hmotou?

Laserové technologie

Transkript:

Konfokální XRF Ing. Radek Prokeš Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze

Obsah Od klasické ke konfokální XRF Princip konfokální XRF Polykapilární optika Vlastnosti konfokální XRF Vývoj konfokální XRF na KDAIZ FJFI Aplikace konfokální XRF na KDAIZ FJFI

Rentgenová fluorescenční analýza (XRF) Nedestruktivní radioanalytická metoda Informace o prvkovém složení vzorků Široké využití (průmysl, archeologie, výzkum památek )

Od klasické ke konfokální XRF Omezení klasické XRF - nelze rozlišit jednotlivé vrstvy detekovaný signál přichází z různých hloubek Výstup zdroje primárního záření Vstup detektoru charakteristického záření X Rozsah hloubek detekovaného signálu Konfokální XRF Vzorek

Princip konfokální XRF

Princip konfokální XRF

Polykapilární optika Transport záření X, fokusace či kolimace svazku Velké množství dutých skleněných trubiček (kapilár) Multi-fiber optika Monolitická optika Monolitická optika - průřez

Polykapilární optika Hypotéza (1974) prof. M.A. Kumakhov, 1976 experimentálně potvrzena Šíření svazku záření X: totální odraz od stěn kapilár Podmínka totálního odrazu: θ < θ c Kritický úhel odrazu: θ c = 0,02 ρ E Pro skleněné kapiláry θ c mrad 30 E kev pokles účinnosti přenosu při vyšších E

Fokusační polykapilární optika Vysoké laterální rozlišení Ohnisko (desítky μm) ~ θ c ~ (1/E) Výrazný zisk intenzity Konfokální XRF: primární optika Polykapilární optika Kolimační polykapilární optika Kvazirovnoběžné výstupní svazky Konfokální XRF: sekundární optika

Vlastnosti konfokální XRF Sonda přístroje pro konfokální XRF = překryv ohnisek optik (konfokální objem) Prostorové rozlišení = velikost konfokálního objemu Závislost na E char. záření X (kvůli θ c ) (45 25) μm Parametry konfokální XRF Rozsah E: (2,5 15) kev Vhodné prvky: S a těžší Hloubkový dosah: (100 200) μm Doba analýzy: (45 min 1,5) hod/h.p.

Vlastnosti konfokální XRF První praktická aplikace konfokální XRF na světě: 2003 Důležitá aplikace: analýza vícevrstvých vzorků maleb Proč konfokální RFA? Identifikace použitých pigmentů (na základě prvkového složení) Struktura vícevrstvé malby (sled použitých pigmentů) Detekce případných podmaleb, retuší či nečistot Rozpoznání falsifikátů Získání cenných informací pro historiky umění či restaurátory To vše neinvazivním přístupem!

Vývoj konfokální XRF na KDAIZ FJFI

Vývoj konfokální XRF na KDAIZ FJFI

Vývoj konfokální XRF na KDAIZ FJFI Testování na sérii dvojvrstvých vzorků pigmentů Příklady použitých pigmentů olovnatá běloba rumělka azurit ultramarín neapolská žluť malachit

Aplikace konfokální XRF na KDAIZ FJFI Analýza archeologického nálezu spony z opasku Naleziště: vojenský tábor říše římské Burgstall (Mušov), 1. 2. stol. n. l. Výzkum techniky dekorace glazurovaných kovových předmětů ve starověku

Závěr Výhody konfokální XRF Hloubkové rozlišení podpovrchových vrstev (desítky μm) Nedestruktivní, neinvazivní analýza, možnost opakovaného měření Aktuální vývoj kvantitativní konfokální XRF Dekonvoluce signálu (eliminace rozmazání přístrojovou funkcí) Korekce na zeslabení Metoda kvantitativní konfokální XRF neznámých vzorků zatím nevynalezena Konfokální XRF ve světě Dosud pouze 11 CXRF přístrojů (s RTG trubicí) na světě Neexistují komerční přístroje - zatím?

Děkuji za pozornost!