Charakterizace CCD kamery a vybraná

Rozměr: px
Začít zobrazení ze stránky:

Download "Charakterizace CCD kamery a vybraná"

Transkript

1 Univerzita Karlova v Praze Matematicko-fyzikální fakulta BAKALÁŘSKÁ PRÁCE Václav Dědič Charakterizace CCD kamery a vybraná měření Katedra chemické fyziky a optiky Vedoucí bakalářské práce: Doc. RNDr. František Trojánek, Ph.D. Studijní program: Obecná fyzika 2007

2 Děkuji vedoucímu bakalářské práce Doc. RNDr. Františku Trojánkovi, Ph.D. především za užitečné odborné rady a připomínky nezbytné k zdárnému dokončení této práce. Dále mu děkuji za propůjčení literatury a doporučení softwaru vhodného pro zpracování naměřených dat. Prohlašuji, že jsem svou bakalářskou práci napsal samostatně a výhradně s použitím citovaných pramenů. Souhlasím se zapůjčováním práce a jejím zveřejňováním. V Praze dne Václav Dědič 2

3 Obsah 1 Úvod, CCD detekce Princip detekce Šumy Charakteristiky CCD detektoru Kalibrace Závislost signálu na expoziční době Měření signálu, kalibrace výkonu Účinnost systému, slabý signál Grafy pro různá nastavení mřížky Různá nastavení detektoru Přílohy Obsah přiloženého CD Závěr 31 Literatura 33 3

4 Název práce: Charakterizace CCD kamery a vybraná měření Autor: Václav Dědič Katedra (ústav): Katedra chemické fyziky a optiky Vedoucí bakalářské práce: Doc. RNDr. František Trojánek, Ph.D. vedoucího: trojanek@karlov.mff.cuni.cz Abstrakt: V předložené práci studujeme vlastnosti systému složeného ze spektroskopu a CCD kamery (detektoru) Andor DV420A vhodné pro měření spekter v intervalu vlnové délky od 200 do 1060 nm (celá oblast viditelného světla a části oblastí infračerveného a ultrafialového záření). Je zde stručně popsán princip CCD detekce, faktory ovlivňující její přesnost, způsob kalibrace kamery a spočtena účinnost celého systému v různých měřících režimech. Práce by měla poskytnout základní informace o vlastnostech kamery a informace potřebné k volbě vhodných parametrů detekce, především k měření slabého signálu. Klíčová slova: CCD kamera, spektroskopie, světlo, slabý signál Title: Characterization of CCD camera and selected measurements Author: Václav Dědič Department: Department of Chemical Physics and Optics Supervisor: Doc. RNDr. František Trojánek, Ph.D. Supervisor s address: trojanek@karlov.mff.cuni.cz Abstract: In the presented thesis we investigate characteristics of the system containing a spectroscope and a CCD camera (detector) Andor DV420A suitable for measuring spectral range from 200 to 1060 nm (whole spectral visible range and parts of infrared and ultraviolet lights). Included is a brief description of the principle of CCD detection, factors affecting its accuracy, means of camera calibration and the denumerable efficiency of the whole system considering various measuring modes. The thesis should provide basic advice about the parameters of the camera and useful advice for choice of suitable parameters of detection, especially for the measurement of weak signal. Keywords: CCD camera, spectroscopy, light, weak signal 4

5 Kapitola 1 Úvod, CCD detekce 1.1 Princip detekce Pokusíme se stručně nastínit princip CCD (Charge coupled device) detekce [1]: Dopadající fotony na povrch polovodičové destičky (čipu) se ukládají jako náboj v potenciálových jámách. Ty zabraňují volnému pohybu elektronů a tím i náboje po čipu a dochází tak k jeho kumulování. Každá taková potenciálová jáma představuje jeden pixel CCD snímače. Velikost zachyceného náboje závisí především na intenzitě dopadajícího světla a na expoziční době. Zachycený náboj je nutné po nějaké době odebrat a převést na elektrický signál. Obrazové CCD snímače obsahují matici pixelů, u nichž postupným přesouváním náboje z jedné jámy do vedlejší dochází k jeho pohybu na okraj čipu, kde je převáděn na napět ový signál. Ten je pak zpracován A/D převodníkem a následně zpracován počítačem podle konkrétní potřeby. Křemíkové CCD detektory jsou schopny registrovat fotony s vlnovou délkou přibližně mezi 200 a 1100 nm. Jsou tedy vhodné především pro pozorování viditelného světla. Proto kromě pozorování spekter mají mnoho dalších využití jako například pořizování fotografií (díky vysoké citlivosti se využívá také v astronomii) či video snímků. Na rozdíl od klasických fotopapírů, filmů atp. CCD detektory umožňují přímější komunikaci s počítači a jejich rozlišení je již na takové úrovni, že klasické způsoby vytlačují. Tato práce se zabývá konkrétním CCD detektorem, a to kamerou Andor DV420A-OE (obr.1) vhodnou pro spektroskopické aplikace (OE značí typ de- 5

6 tektoru s otevřenou elektrodou Open electrode). Dopadající světlo rozložíme pomocí zobrazovacího spektroskopu Oriel MS127i 1/8 m (obr.2) na spektrum, které pak zkoumáme připevněnou CCD kamerou. Naše kamera má rozlišení pixelů s plochami pixelů 26µm 2. Obr.1: CCD kamera Andor DV420A-OE Obr.2a: Schéma spektroskopu Oriel MS127i 1/8 m 6

7 Obr.2b: Spektroskop Oriel MS127i 1/8 m s různými vstupními štěrbinami 1.2 Šumy V této části se zaměříme na aspekty ovlivňující přesnost detekce CCD detektorem. Temný proud (Dark current) V každém pixelu se uvolní několik elektronů, jejichž původ je v tepelném efektu na polovodičovém materiálu, tzv. termický šum (Thermal noise)[1]. Takto vzniklé elektrony označujeme jako temný proud. Toto představuje problém v praxi, nebot by se mohl pixel tepelně nasytit a nezbylo by místo pro žádný další elektron uvolněný světelným zářením. Z tohoto plyne, že temný proud snižuje použitelnou expoziční dobu detektoru. Pokud pořídíme snímek s uzavřenou clonou po dobu, po kterou má trvat expozice, jsou generovány pouze elektrony zapříčiněné teplem, tedy temný proud, který následně odečteme. Tento postup odstraní vliv temného proudu na uložené elektrony, nemá ale vliv na skutečné nasycení pixelů. Ovšem problém z velké části odstraníme chlazením detektoru. V našem případě se jedná o termoelektrické chlazení založené na tzv. Peltierově jevu. Jeho výhodou je snadná regulace teploty pomocí změny elektrického proudu. Pro naši potřebu zchladit CCD na teplotu 60 C postačuje. 7

8 Výstupní šum (Readout noise) Dalším ze zdrojů nežádoucích elektronů je výstupní šum způsobený čtením elektronů z pixelu a přenosem dat do počítače. Tento šum se projeví při čtení na konci expozice a je konstantní a nezávislý na expoziční době. V tabulce 1 je uveden výstupní šum systému udaný výrobcem [2]. Readout rate výst. šum 33 khz khz khz 12.6 Tabulka 1: Výstupní šum systému (CCD detektoru a A/D převodníku) udaný výrobcem v elektronech na pixel při -50 C V tabulce 2 je uvedena citlivost systému v elektronech na impuls. Readout rate citlivost 33 khz khz khz 14 Tabulka 2: Citlivost systému v elektronech na impuls udaná výrobcem Nesmíme opomenout výslednou hodnotu šumu vynásobit faktorem 255, což je počet vertikálních pixelů CCD, na které dopadá světlo o stejné vlnové délce. Jak tedy vidíme, vzhledem k tomu, že námi měřený signál se pohyboval řádově mezi 10 4 a 10 6 impulsů za sekundu (dále jen CPS) na pixel, můžeme tento šum zanedbat. Nemůžeme jej ale opomíjet, budeme-li měřit slabý signál. Fotonový šum (Photon noise) Posledním zmíněným šumem je fotonový šum [1]. Je to šum vlastní dopadajícím fotonům a závisí na druhé odmocnině jejich počtu. 8

9 Kapitola 2 Charakteristiky CCD detektoru 2.1 Kalibrace Na začátku každého měření pomocí CCD detektoru je potřeba nastavit na x-ové ose na počítači správné škálování pro vlnovou délku. Nejlépe takto učiníme na základě známé spektrální čáry některého prvku. Tento postup je nutné opakovat pro každé nastavení mřížky 1. Nejméně technicky náročný způsob je takto okalibrovat x-ovou osu pomocí pomocí čar klasické zářivky, která obsahuje čáry rtuti a kryptonu nebo pomocí čar kryptonové kalibrační výbojky (grafy 1 resp. 2 ). Správnost kalibrace jsme ověřili pomocí tabelovaných spektrálních čar [3]. V grafech jsou některé čáry označeny příslušnou vlnovou délkou. V tabulce 3 resp. 4 a grafu 3 resp. 4 jsou uvedeny odchylky vlnové délky σ λ naměřených čar zářivky resp. kryptonové výbojky od tabelovaných hodnot v závislosti na vlnové délce. Na základě naměřených hodnot můžeme konstatovat, že kalibrace je v oblasti kratších vlnových délek přibližně lineární a v oblasti vlnových délek nad cca 800 nm se rozdíly mezi naměřenými a tabelovanými hodnotami zvyšují. Proto je pro přesná měření nutno použít v programu k CCD kalibraci pomocí více čar. 1 Nastavením mřížky rozumíme její natočení vzhledem k detektoru, které je nutné měnit, abychom mohli detekovat celé možné spektrum, nebot na CCD detektor dopadá pouze určitá část světelného spektra o šířce 475 nm. Střední vlnová délka této spektrální části je pro použitou mřížku trojnásobkem hodnoty jejího nastavení. 9

10 Graf 1: Spektrum zářivky Graf 2: Spektrum kryptonové kalibrační výbojky 10

11 λ (nm) λ (nm) tabelovaná naměřená σ λ (nm) Tabulka 3: Vybrané spektrální čáry zářivky Graf 3: Závislost σ λ na vlnové délce pro zářivku 11

12 λ (nm) λ (nm) tabelovaná naměřená σ λ (nm) Tabulka 4: Vybrané spektrální čáry pro kryptonovou výbojku Graf 4: Závislost σ λ na vlnové délce pro kryptonovou výbojku 12

13 2.2 Závislost signálu na expoziční době V tabulce 5 a grafu 5 je vynesena závislost počtu impulsů za sekundu (CPS) a skutečného počtu impulsů (C) na expoziční době (t exp ) pro vlnovou délku λ = 660 nm při nastavení Shift speed a Readout rate 100 khz. Byla použita kalibrační žárovka Oriel a vstupní štěrbina o šířce 200 µm. Podle kapitoly 1.2 snadno zjistíme úroveň výstupního šumu, která je v tomto případě 230 impulsů. Vzhledem k celkovému počtu impulsů z tabulky 5 je však tento šum zanedbatelný. Vysoké hodnoty signálu pro kratší expoziční doby jsou způsobeny sníženou přesností závěrky. Všechna ostatní měření probíhala při expoziční době 0.11 s. t exp (s) CPS C Tabulka 5: Závislost CPS a skutečného počtu impulsů na expoziční době pro λ = 660 nm, 13

14 Graf 5: Závislost CPS na expoziční době pro λ = 660nm 2.3 Měření signálu, kalibrace výkonu Měření účinnosti detektoru probíhalo pomocí absolutně okalibrované žárovky Oriel 63358, jejíž udávaný výkon v závislosti na vlnové délce (Z λ ) je znázorněn v grafu 6. Hodnoty Z λ jsou udány v nw vztažených na plochu S v milimetrech čtverečných, na interval vlnové délky λ v nanometrech připadající na jeden pixel. Dále musí být vzdálenost žárovky od detektoru (vstupní štěrbiny) 50 cm. Byla použita vstupní štěrbina o ploše S = 0.6 mm 2. Rozlišení pixelu je λ = nm. Vzhledem k velké zářivosti žárovky a vysoké citlivosti CCD detektoru byla žárovka umístěna do vzdálenosti 2.5 m od vstupní štěrbiny a kde to bylo nutné, byl použit optický filtr s propustností blízkou 11% (signál v CPS byl tak vysoký, že 16 bitový A/D převodník přetekl). Propustnost filtru a úprava hodnot signálu v závislosti na vzdálenosti jsou ve všech výpočtech a grafech započítány. 14

15 Graf 6: Výkon žárovky Expoziční doba všech měření byla t exp = 0.11 s při nastavení Readout rate 100 khz a Shift speed Byla také zvolena metoda akumulací, což znamená, že najednou proběhlo více stejných měření, jejichž výsledky se sečetly. Tím je zajištěna vyšší přesnost měření. Počty akumulací jsou také zohledněny ve výsledné úrovni signálu. Stejným způsobem bylo také ke každému měření určeno záření pozadí, které se od celkového signálu odečetlo. Tím odpadl problém se započítáváním výše zmíněného temného proudu. Vzhledem k tomu, že CCD kamera v našem uspořádání se spektroskopem dokáže najednou detekovat pouze část spektra o délce 475 nm, je třeba natáčet mřížku, aby se využilo celé možné šířky spektra, které dokáže CCD detekovat (cca od 200 do 1060 nm). V grafu 7 jsou vyneseny průběhy signálu žárovky detekovaného kamerou upraveného o výše zmíněné hodnoty pro různá natočení mřížky. Z grafu je vidět, že v oblasti vlnových délek mezi 750 a 850 nm se jednotlivé signály přesně neshodují. To je dáno odlišným nastavením optické mřížky. Je tedy 15

16 nutné zpracovávat registrovaný signál pro každý případ zvlášt. Jak již bylo řečeno, tak pro jednotky výkonu žárovky Z λ platí [Z λ ] = nw mm 2 nm. Dále chceme zjistit, kolik CPS (impulsů za sekundu) je vztaženo na 1 nw vyzářený žárovkou na interval vlnové délky λ. Hledáme tedy závislost CP S/nW na vlnové délce λ. Vezmeme-li v úvahu, že pro jednotky platí CP S nw = C s 1 nj s 1 = C nj, kde C značí počet impulsů, známe současně závislost počtu impulsů na světelné energii C/E. Z výše uvedeného je zjevné, že v příslušných jednotkách platí [ ] CP S 1 = CP S Z λ S λ nw = C nj. (1) Dosazením známých hodnot do vztahu (1) získáme potřebnou závislost, která je opět pro všechna použitá nastavení mřížky vynesena v grafu 8. 16

17 Graf 7: Signál při všech užitých nastaveních mřížky Graf 8: Závislost CPS/nW na vlnové délce 17

18 2.4 Účinnost systému, slabý signál Účinnost systému (tedy soustavy spektroskopu a samotné CCD kamery) η určíme jako η = C n, (2) kde C je počet impulsů a n je počet dopadajících fotonů. Nyní využijeme vztahu E = nhν = n hc λ, (3) kde ν je frekvence fotonu, h Planckova konstanta a c rychlost světla. Dosazením (3) do (2) máme: η = C E hc λ. (4) Poměr C/E známe z předchozí podkapitoly 2.3. Pokud účinnost (4) navíc vynásobíme citlivostí z tabulky 2 (str.8), vyjadřuje pak počet fotoelektronů na jeden dopadající foton. Závislost této účinnosti na vlnové délce je zobrazena v grafu 9. Dále je v grafu pro srovnání vynesena (čárkovaně) závislost QE OM, což je součin kvantové účinnosti QE (Quantum efficiency, graf 11) samotného CCD detektoru a odrazivosti mřížky OM (graf 12) udaných výrobcem. Rozdíl naměřené a výrobcem udané účinnosti je dán spektrální propustností zobrazovacího spektroskopu. Vidíme, že systém je nejcitlivější pro oblast vlnové délky kolem 520 nm. Zde je účinnost detektoru η 520nm = 23% (QE OM 520nm = 29%). Slabý signál Převrácením hodnot učinnosti získáme počet fotonů dopadajících do vstupní apertury systému potřebných k tomu, aby počítač zaznamenal jeden impuls. Z grafu 10 je vidět, že v oblasti viditelného světla je systém velmi citlivý a pro zaznamenání jednoho impulsu stačí 4 až 9 fotonů. V oblasti infračerveného záření tento počet s vlnovou délkou prudce stoupá (například pro λ = 1050nm je to cca 190 fotonů na impuls). Pro porovnání je v grafu vynesena křivka 1/(QE OM). 18

19 Graf 9: Účinnost systému (počet fotoelektronů na jeden foton) Graf 10: 1/η (počet fotonů na jeden fotoelektron) 19

20 Graf 11: Kvantová účinnost samotného CCD detektoru QE udaná výrobcem Graf 12: Odrazivost mřížky OM udaná výrobcem 20

21 2.5 Grafy pro různá nastavení mřížky Na následujících stranách jsou vykresleny grafy 13 až 24 pro jednotlivá nastavení optické mřížky 150, 175,..., 275 se závislostmi signálu a CP S/nW na vlnové délce λ pro nastavení kamery Readout rate 100 khz a Shift speed

22 Graf 13: Signál při nastavení mřížky 150 Graf 14: CPS/nW při nastavení mřížky

23 Graf 15: Signál při nastavení mřížky 175 Graf 16: CPS/nW při nastavení mřížky

24 Graf 17: Signál při nastavení mřížky 200 Graf 18: CPS/nW při nastavení mřížky

25 Graf 19: Signál při nastavení mřížky 225 Graf 20: CPS/nW při nastavení mřížky

26 Graf 21: Signál při nastavení mřížky 250 Graf 22: CPS/nW při nastavení mřížky

27 Graf 23: Signál při nastavení mřížky 275 Graf 24: CPS/nW při nastavení mřížky

28 2.6 Různá nastavení detektoru Pro porovnání úrovní signálu, CPS/nW a účinnosti systému pro různá nastavení detektoru byla naměřena a následně spočtena data při natočení mřížky 200 pro tato nastavení: 1. Shift speed = Readout rate = 100 khz 2. Shift speed = Readout rate = 33 khz 3. Shift speed = Readout rate = 100 khz 4. Shift speed = Readout rate = 33kHz Výsledky jsou shrnuty v grafech 25, 26, 27. V legendách k těmto grafům značí SS Shift speed a RR Readout rate. Graf 25: Signál pro různá nastavení detekce 28

29 Graf 26: CPS/nW pro různá nastavení detekce Graf 27: Účinnost pro různá nastavení detekce 29

30 Kapitola 3 Přílohy 3.1 Obsah přiloženého CD Přiložený disk obsahuje elektronickou verzi této Bakalářské práce, samostatný abstrakt a soubory s daty potřebnými k sestrojení všech grafů 6 až 27, jež se mohou hodit k snadnějšímu zpracování některých měření. (Soubory jsou uloženy ve formátu.dat a jsou podporovány programy Microcal Origin, MS Excel, GraphViewer a dalšími.) Seznam a popis přiložených souborů (členění podle složek) data ruzna detekce - složka obsahuje podsložky s daty pro různá nastavení detektoru CPS na nw signal ucinnost ruzna mrizka - složka obsahuje podsložky s daty pro různá nastavení mřížky CPS na nw signal ucinnost OM.DAT - odrazivost mřížky Oriel DAT - kalibrační žárovka QE.DAT -kvantová účinnost CCD Abstrakt.PDF - samostatný abstrakt v českém a anglickém jazyce Charakterizace CCD.PDF - elektronická verze této práce 30

31 Kapitola 4 Závěr Cílem této práce bylo proměřit základní charakteristiky systému chlazené CCD kamery Andor DV420A a zobrazovacího spektroskopu Oriel MS127i 1/8 m, podat základní informace o principu CCD detekce v optické spektroskopii a doporučení k nastavení vhodných parametrů detektoru pro konkrétní měření. V kapitole 1 je stručně vysvětlen princip CCD detekce, původ a možná eliminace šumů zkreslující výsledky měření. Kapitola 2 se zabývá přípravnými kroky k měření, proměřením účinnosti systému a nastavením parametrů detekce pro měření slabého a silnějšího signálu. Kalibrace Kap.2.1 obsahuje návod na snadnou kalibraci x-ové souřadné osy pro vlnovou délku pomocí spektrálních čar prvků. Bylo zjištěno, že v oblasti od nejkratších detekovaných vlnových délek cca od 250 do 750 nm je kalibrace pomocí jedné spektrální čáry lineární s přesností ±1.5 nm, kdežto pro oblast vlnových délek v rozmezí 900 až 1000 nm tato nepřesnost stoupá až na 10 až 15 nm. Zde je vhodné pro přesná měření použít v programu k CCD kalibraci pomocí více čar. Doba expozice Kap.2.2 se zabývá různým nastavením expozičních časů. Byla proměřena úroveň signálu v závislosti na expoziční době. Bylo zjištěno, že pro expoziční časy t exp 0.1 s se úroveň signálu mění relativně málo a 31

32 měření při různých expozičních časech se dají porovnávat. Pro měření slabého signálu (několik desítek až stovek fotonů za sekundu na 1 pixel) je vhodná delší doba expozice kvůli existenci výstupního šumu. Měření signálu, kalibrace výkonu Kap.2.3 popisuje způsob měření signálu (v našem případě silného) absolutně okalibrované žárovky a výpočet zářivého výkonu potřebného k produkci jednoho impulsu za sekundu v počítači v závislosti na vlnové délce světla pro celou použitelnou šíři spektra detekovatelného CCD kamerou při konkrétním nastavení detekce. Účinnost systému, slabý signál V kap.2.4 je uveden výpočet účinnosti systému a nalezení minimálních hodnot úrovně slabého signálu, který je možné detekovat. Nastavení detekce pro různé úrovně signálu Kap.2.6 dává odpověd na otázku jaké zvolit nastavení detektoru pro měření silného, resp. slabého signálu. Jak je patrné z grafů v této části, pro silné zdroje světla srovnatelné například s běžným osvětlením místnosti i mnohem výkonnější (pro velmi silné zdroje lze použít optických filtrů pro případ, kdy A/D převodník přeteče) je vhodné zvolit parametr Readout rate = 100 khz. Pro slabý signál je spolu s výše zmíněnou delší expoziční dobou výhodné nastavit Readout rate = 33 khz. 32

33 Literatura [1] Andor TM Technology: Digital Camera Fundamentals, [2] Andor TM Technology: DV420A, down/cc dv420a deen01.pdf. [3] J. Brož a kol.: Fyzikální a matematické tabulky (str. 137, 139), SNTL, Praha,

Úloha 3: Mřížkový spektrometr

Úloha 3: Mřížkový spektrometr Petra Suková, 2.ročník, F-14 1 Úloha 3: Mřížkový spektrometr 1 Zadání 1. Seřiďte spektrometr pro kolmý dopad světla(rovina optické mřížky je kolmá k ose kolimátoru) pomocí bočního osvětlení nitkového kříže.

Více

Digitální astronomická. fotografie. zimní semestr Radek Prokeš. FJFI ČVUT v Praze

Digitální astronomická. fotografie. zimní semestr Radek Prokeš. FJFI ČVUT v Praze Fyzikální seminář zimní semestr 2009 Digitální astronomická Digitální astronomická fotografie Radek Prokeš FJFI ČVUT v Praze 15. 10. 2009 Digitální astronomická fotografie Digitální astronomická fotografie!

Více

Optoelektronické senzory. Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém

Optoelektronické senzory. Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém Optoelektronické senzory Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém Optron obsahuje generátor světla (LED) a detektor optické prostředí změna prostředí změna

Více

ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY

ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY 1 Fyzikální základy spektrálních metod Monochromatický zářivý tok 0 (W, rozměr m 2.kg.s -3 ): Absorbován ABS Propuštěn Odražen zpět r Rozptýlen s Bilance toků 0 = +

Více

Praktikum III - Optika

Praktikum III - Optika Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK Praktikum III - Optika Úloha č. 13 Název: Vlastnosti rentgenového záření Pracoval: Matyáš Řehák stud.sk.: 13 dne: 3. 4. 2008 Odevzdal

Více

Úloha 15: Studium polovodičového GaAs/GaAlAs laseru

Úloha 15: Studium polovodičového GaAs/GaAlAs laseru Petra Suková, 2.ročník, F-14 1 Úloha 15: Studium polovodičového GaAs/GaAlAs laseru 1 Zadání 1. Změřte současně světelnou i voltampérovou charakteristiku polovodičového laseru. Naměřenézávislostizpracujtegraficky.Stanovteprahovýproud

Více

Úloha č. 1: CD spektroskopie

Úloha č. 1: CD spektroskopie Přírodovědecké fakulta Masarykovy univerzity v Brně Předmět: Jméno: Praktikum z astronomie Andrea Dobešová Obor: Astrofyzika ročník: II. semestr: IV. Název úlohy Úloha č. 1: CD spektroskopie Úvod: Koho

Více

2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte stupnici monochromátoru SPM 2.

2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte stupnici monochromátoru SPM 2. 1 Pracovní úkoly 1. Změřte současně světelnou i voltampérovou charakteristiku polovodičového laseru. Naměřené závislosti zpracujte graficky. Stanovte prahový proud i 0. 2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte

Více

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Úlohač.III. Název: Mřížkový spektrometr

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Úlohač.III. Název: Mřížkový spektrometr Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK PRAKTIKUM III Úlohač.III Název: Mřížkový spektrometr Vypracoval: Petr Škoda Stud. skup.: F14 Dne: 17.4.2006 Odevzdaldne: Hodnocení:

Více

Měření optických vlastností materiálů

Měření optických vlastností materiálů E Měření optických vlastností materiálů Úkoly : 1. Určete spektrální propustnost vybraných materiálů různých typů stavebních skel a optických filtrů pomocí spektrofotometru 2. Určete spektrální odrazivost

Více

Praktikum z experimentálních metod biofyziky a chemické fyziky I. Vypracoval: Jana Čurdová, Martin Kříž, Vít Marek. Dne: 2.3.

Praktikum z experimentálních metod biofyziky a chemické fyziky I. Vypracoval: Jana Čurdová, Martin Kříž, Vít Marek. Dne: 2.3. Praktikum z experimentálních metod biofyziky a chemické fyziky I. Vypracoval: Jana Čurdová, Martin Kříž, Vít Marek. Dne:.3.3 Úloha: Radiometrie ultrafialového záření z umělých a přirozených světelných

Více

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory 25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie Bezdotykové měření Pyrometrie (obrázky viz. sešit) Bezdotykové měření teplot je měření povrchové teploty těles na základě elektromagnetického záření mezi tělesem

Více

Měření optických vlastností materiálů

Měření optických vlastností materiálů E Měření optických vlastností materiálů Úkoly : 1. Určete spektrální propustnost vybraných materiálů různých typů stavebních skel a optických filtrů pomocí spektrofotometru 2. Určete spektrální odrazivost

Více

MĚŘENÍ ABSOLUTNÍ VLHKOSTI VZDUCHU NA ZÁKLADĚ SPEKTRÁLNÍ ANALÝZY Measurement of Absolute Humidity on the Basis of Spectral Analysis

MĚŘENÍ ABSOLUTNÍ VLHKOSTI VZDUCHU NA ZÁKLADĚ SPEKTRÁLNÍ ANALÝZY Measurement of Absolute Humidity on the Basis of Spectral Analysis MĚŘENÍ ABSOLUTNÍ VLHKOSTI VZDUCHU NA ZÁKLADĚ SPEKTRÁLNÍ ANALÝZY Measurement of Absolute Humidity on the Basis of Spectral Analysis Ivana Krestýnová, Josef Zicha Abstrakt: Absolutní vlhkost je hmotnost

Více

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části

Více

Zeemanův jev. 1 Úvod (1)

Zeemanův jev. 1 Úvod (1) Zeemanův jev Tereza Gerguri (Gymnázium Slovanské náměstí, Brno) Stanislav Marek (Gymnázium Slovanské náměstí, Brno) Michal Schulz (Gymnázium Komenského, Havířov) Abstrakt Cílem našeho experimentu je dokázat

Více

Úvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014

Úvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014 Úvod, optické záření Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014 Materiál je pouze grafickým podkladem k přednášce a nenahrazuje výklad na vlastní

Více

Obrazové snímače a televizní kamery

Obrazové snímače a televizní kamery Obrazové snímače a televizní kamery Prof. Ing. Václav Říčný, CSc. Současná televizní technika a videotechnika kurz U3V Program semináře a cvičení Snímače obrazových signálů akumulační a neakumulační. Monolitické

Více

Obrazové snímače a televizní kamery

Obrazové snímače a televizní kamery Obrazové snímače a televizní kamery Prof. Ing. Václav Říčný, CSc. Současná televizní technika a videotechnika kurz U3V Program semináře a cvičení Snímače obrazových signálů akumulační a neakumulační. Monolitické

Více

Meo S-H: software pro kompletní diagnostiku intenzity a vlnoplochy

Meo S-H: software pro kompletní diagnostiku intenzity a vlnoplochy Centrum Digitální Optiky Meo S-H: software pro kompletní diagnostiku intenzity a vlnoplochy Výzkumná zpráva projektu Identifikační čí slo výstupu: TE01020229DV003 Pracovní balíček: Zpracování dat S-H senzoru

Více

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK PRAKTIKUM III Úloha č. IV Název: Měření fotometrického diagramu. Fotometrické veličiny a jejich jednotky Pracoval: Jan Polášek stud.

Více

Spektrální charakteristiky

Spektrální charakteristiky Spektrální charakteristiky Cíl cvičení: Měření spektrálních charakteristik filtrů a zdrojů osvětlení 1 Teoretický úvod Interakcí elektromagnetického vlnění s libovolnou látkou vzniká optický jev, který

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV RADIOELEKTRONIKY. OPTICKÝ SPOJ LR-830/1550 Technický popis

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV RADIOELEKTRONIKY. OPTICKÝ SPOJ LR-830/1550 Technický popis VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV RADIOELEKTRONIKY OPTICKÝ SPOJ LR-830/1550 Technický popis BRNO, 2009 1 Návrh a konstrukce dálkového spoje 1.1 Optická

Více

Abstrakt. fotodioda a fototranzistor) a s jejich základními charakteristikami.

Abstrakt. fotodioda a fototranzistor) a s jejich základními charakteristikami. Název a číslo úlohy: 9 Detekce optického záření Datum měření: 4. května 2 Měření provedli: Vojtěch Horný, Jaroslav Zeman Vypracovali: Vojtěch Horný a Jaroslav Zeman společnými silami Datum: 4. května 2

Více

Balmerova série. F. Grepl 1, M. Benc 2, J. Stuchlý 3 Gymnázium Havlíčkův Brod 1, Gymnázium Mnichovo Hradiště 2, Gymnázium Šumperk 3

Balmerova série. F. Grepl 1, M. Benc 2, J. Stuchlý 3 Gymnázium Havlíčkův Brod 1, Gymnázium Mnichovo Hradiště 2, Gymnázium Šumperk 3 Balmerova série F. Grepl 1, M. Benc 2, J. Stuchlý 3 Gymnázium Havlíčkův Brod 1, Gymnázium Mnichovo Hradiště 2, Gymnázium Šumperk 3 Grepl.F@seznam.cz Abstrakt: Metodou dělených svazků jsme určili lámavý

Více

PRAKTIKUM IV Jaderná a subjaderná fyzika

PRAKTIKUM IV Jaderná a subjaderná fyzika Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK PRAKTIKUM IV Jaderná a subjaderná fyzika Úloha č. A15 Název: Studium atomových emisních spekter Pracoval: Radim Pechal dne 19. listopadu

Více

MĚŘENÍ PLANCKOVY KONSTANTY

MĚŘENÍ PLANCKOVY KONSTANTY Úloha č. 14a MĚŘENÍ PLANCKOVY KONSTANTY ÚKOL MĚŘENÍ: 1. Změřte napětí U min, při kterém se právě rozsvítí červená, žlutá, zelená a modrá LED. Napětí na LED regulujte potenciometrem. 2. Nakreslete graf

Více

4. Z modové struktury emisního spektra laseru určete délku aktivní oblasti rezonátoru. Diskutujte,

4. Z modové struktury emisního spektra laseru určete délku aktivní oblasti rezonátoru. Diskutujte, 1 Pracovní úkol 1. Změřte současně světelnou i voltampérovou charakteristiku polovodičového laseru. Naměřené závislosti zpracujte graficky. Stanovte prahový proud i 0. 2. Pomocí Hg výbojky okalibrujte

Více

Relativní chybu veličiny τ lze určit pomocí relativní chyby τ 1. Zanedbáme-li chybu jmenovatele ve vzorci (2), platí *1+:

Relativní chybu veličiny τ lze určit pomocí relativní chyby τ 1. Zanedbáme-li chybu jmenovatele ve vzorci (2), platí *1+: Pracovní úkol 1. Změřte charakteristiku Geigerova-Müllerova detektoru pro záření gamma a u jednotlivých měření stanovte chybu a vyznačte ji do grafu. Určete délku a sklon plata v charakteristice detektoru

Více

Zobrazení v IR oblasti s využitím termocitlivých fólií

Zobrazení v IR oblasti s využitím termocitlivých fólií Zobrazení v IR oblasti s využitím termocitlivých fólií ZDENĚK BOCHNÍČEK Přírodovědecká fakulta MU, Brno, Kotlářská 2, 611 37 Úvod Pokusy s infračerveným zářením se staly tématem již několika příspěvků

Více

Ing. Pavel Hrzina, Ph.D. - Laboratoř diagnostiky fotovoltaických systémů Katedra elektrotechnologie K13113

Ing. Pavel Hrzina, Ph.D. - Laboratoř diagnostiky fotovoltaických systémů Katedra elektrotechnologie K13113 Sluneční energie, fotovoltaický jev Ing. Pavel Hrzina, Ph.D. - Laboratoř diagnostiky fotovoltaických systémů Katedra elektrotechnologie K13113 1 Osnova přednášky Slunce jako zdroj energie Vlastnosti slunečního

Více

6. STUDIUM SOLÁRNÍHO ČLÁNKU

6. STUDIUM SOLÁRNÍHO ČLÁNKU 6. STUDIUM SOLÁRNÍHO ČLÁNKU Měřicí potřeby 1) solární baterie 2) termoelektrická baterie 3) univerzální měřicí zesilovač 4) reostat 330 Ω, 1A 5) žárovka 220 V / 120 W s reflektorem 6) digitální multimetr

Více

Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic

Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic PES (fotoelektronová spektroskopie) XPS (rentgenová fotoelektronová spektroskopie), ESCA (elektronová spektroskopie pro chemickou analýzu) UPS (ultrafialová

Více

2 (3) kde S je plocha zdroje. Protože jas zdroje není závislý na směru, lze vztah (5) přepsat do tvaru:

2 (3) kde S je plocha zdroje. Protože jas zdroje není závislý na směru, lze vztah (5) přepsat do tvaru: Pracovní úkol 1. Pomocí fotometrického luxmetru okalibrujte normální žárovku (stanovte její svítivost). Pro určení svítivosti normální žárovky (a její chyby) vyneste do grafu závislost osvětlení na převrácené

Více

Balmerova série vodíku

Balmerova série vodíku Balmerova série vodíku Josef Navrátil 1, Barbora Pavlíková 2, Pavel Mičulka 3 1 Gymnázium Ivana Olbrachta, pepa.navratil.ez@volny.cz 2 Gymnázium Jeseník, barca@progeo-sys.cz 3 Gymnázium a SOŠ Frýdek Místek,

Více

Jméno a příjmení. Ročník. Měřeno dne. 11.3.2013 Příprava Opravy Učitel Hodnocení. Charakteristiky optoelektronických součástek

Jméno a příjmení. Ročník. Měřeno dne. 11.3.2013 Příprava Opravy Učitel Hodnocení. Charakteristiky optoelektronických součástek FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Ústav fyziky FEKT VUT BRNO Jméno a příjmení Petr Švaňa Ročník 1 Předmět IFY Kroužek 38 ID 155793 Spolupracoval Měřeno dne Odevzdáno dne Ladislav Šulák 25.2.2013 11.3.2013 Příprava Opravy

Více

1. Ze zadané hustoty krystalu fluoridu lithného určete vzdálenost d hlavních atomových rovin.

1. Ze zadané hustoty krystalu fluoridu lithného určete vzdálenost d hlavních atomových rovin. 1 Pracovní úkoly 1. Ze zadané hustoty krystalu fluoridu lithného určete vzdálenost d hlavních atomových rovin. 2. Proměřte úhlovou závislost intenzity difraktovaného rentgenového záření při pevné orientaci

Více

2 Nd:YAG laser buzený laserovou diodou

2 Nd:YAG laser buzený laserovou diodou 2 Nd:YAG laser buzený laserovou diodou 15. května 2011 Základní praktikum laserové techniky Zpracoval: Vojtěch Horný Datum měření: 12. května 2011 Pracovní skupina: 1 Ročník: 3. Naměřili: Vojtěch Horný,

Více

SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE)

SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE) SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE) Elektromagnetické vlnění SVĚTLO Charakterizace záření Vlnová délka - (λ) : jednotky: m (obvykle nm) λ Souvisí s povahou fotonu Charakterizace záření

Více

Základním praktikum z optiky

Základním praktikum z optiky Úloha: Základním praktikum z optiky FJFI ČVUT v Praze #6 - Zdroje optického záření a jejich vlastnosti Jméno: Ondřej Finke Datum měření: 7.4.2016 Spolupracoval: Obor / Skupina: 1. Úvod Alexandr Špaček

Více

Základy spektroskopie a její využití v astronomii

Základy spektroskopie a její využití v astronomii Ing. Libor Lenža, Hvězdárna Valašské Meziříčí, p. o. Základy spektroskopie a její využití v astronomii Hvězdárna Valašské Meziříčí, p. o. Krajská hvezdáreň v Žiline Světlo x záření Jak vypadá spektrum?

Více

MĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM

MĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM MĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM Difrakce (ohyb) světla je jedním z několika projevů vlnových vlastností světla. Z těchto důvodů světlo při setkání s překážkou nepostupuje dále vždy

Více

Balmerova série, určení mřížkové a Rydbergovy konstanty

Balmerova série, určení mřížkové a Rydbergovy konstanty Balmerova série, určení mřížkové a Rydbergovy konstanty V tomto laboratorním cvičení zkoumáme spektrální čáry 1. řádu vodíku a rtuti pomocí difrakční mřížky (mřížkového spektroskopu). Známé spektrální

Více

Světlo jako elektromagnetické záření

Světlo jako elektromagnetické záření Světlo jako elektromagnetické záření Základní pojmy: Homogenní prostředí prostředí, jehož dané vlastnosti jsou ve všech místech v prostředí stejné. Izotropní prostředí prostředí, jehož dané vlastnosti

Více

Měření vlnové délky spektrálních čar rtuťové výbojky pomocí optické mřížky

Měření vlnové délky spektrálních čar rtuťové výbojky pomocí optické mřížky Měření vlnové délky spektrálních čar rtuťové výbojky pomocí optické mřížky Úkol : 1. Určete mřížkovou konstantu d optické mřížky a porovnejte s hodnotou udávanou výrobcem. 2. Určete vlnovou délku λ jednotlivých

Více

Teprve půlka přednášek?! já nechci

Teprve půlka přednášek?! já nechci Teprve půlka přednášek?! já nechci 1 Světlocitlivé snímací prvky Obrazové senzory, obsahující světlocitlové buňky Zařízení citlivé na světlo Hlavní druhy CCD CMOS Foven X3 Polovodičové integrované obvody

Více

2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná.

2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná. 1 Pracovní úkoly 1. Změřte tloušťku tenké vrstvy ve dvou různých místech. 2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná. 3. Okalibrujte

Více

Charakteristiky laseru vytvářejícího světelné impulsy o délce několika pikosekund

Charakteristiky laseru vytvářejícího světelné impulsy o délce několika pikosekund Charakteristiky laseru vytvářejícího světelné impulsy o délce několika pikosekund H. Picmausová, J. Povolný, T. Pokorný Gymnázium, Česká Lípa, Žitavská 2969; Gymnázium, Brno, tř. Kpt. Jaroše 14; Gymnázium,

Více

d p o r o v t e p l o m ě r, t e r m o č l á n k

d p o r o v t e p l o m ě r, t e r m o č l á n k d p o r o v t e p l o m ě r, t e r m o č l á n k Ú k o l : a) Proveďte kalibraci odporového teploměru, termočlánku a termistoru b) Určete teplotní koeficienty odporového teploměru, konstanty charakterizující

Více

Teplota je nepřímo měřená veličina!!!

Teplota je nepřímo měřená veličina!!! TERMOVIZE V PRAXI Roman Vavřička ČVUT v Praze, Fakulta strojní Ústav techniky prostředí 1/48 Teplota je nepřímo měřená veličina!!! Základní rozdělení senzorů teploty: a) dotykové b) bezdotykové 2/48 1

Více

Využití lineární halogenové žárovky pro demonstrační experimenty

Využití lineární halogenové žárovky pro demonstrační experimenty Využití lineární halogenové žárovky pro demonstrační experimenty ZDENĚK BOCHNÍČEK Přírodovědecká fakulta Masarykovy univerzity, Brno Úvod Zařazení optických experimentů do výuky často přináší technické

Více

Úloha 21: Studium rentgenových spekter

Úloha 21: Studium rentgenových spekter Petra Suková, 3.ročník 1 Úloha 21: Studium rentgenových spekter 1 Zadání 1. S využitím krystalu LiF jako analyzátoru proveďte měření následujících rentgenových spekter: a) Rentgenka s Cu anodou. proměřte

Více

Fotoelektrické snímače

Fotoelektrické snímače Fotoelektrické snímače Úloha je zaměřena na měření světelných charakteristik fotoelektrických prvků (součástek). Pro měření se využívají fotorezistor, fototranzistor a fotodioda. Zadání 1. Seznamte se

Více

Určení Planckovy konstanty pomocí fotoelektrického jevu

Určení Planckovy konstanty pomocí fotoelektrického jevu Určení Planckovy konstanty pomocí fotoelektrickéo jevu Související témata: Externí fotoelektrický jev, výstupní práce elektronu z kovu, absorpce, energie fotonu Princip a úkol: Fotocitlivý prvek - fotonka

Více

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Úkoly měření: 1. Odhad rozměrů mikro-objektů z informací uváděných výrobcem. 2. Záznam difrakčních obrazců (difraktogramů) vzniklých interakcí laserového

Více

Společná laboratoř optiky. Skupina nelineární a kvantové optiky. Představení vypisovaných témat. bakalářských prací. prosinec 2011

Společná laboratoř optiky. Skupina nelineární a kvantové optiky. Představení vypisovaných témat. bakalářských prací. prosinec 2011 Společná laboratoř optiky Skupina nelineární a kvantové optiky Představení vypisovaných témat bakalářských prací prosinec 2011 O naší skupině... Zařazení: UP PřF Společná laboratoř optiky skupina nelin.

Více

Fyzikální podstata DPZ

Fyzikální podstata DPZ Elektromagnetické záření Vlnová teorie vlna elektrického (E) a magnetického (M) pole šíří se rychlostí světla (c) Charakteristiky záření: vlnová délka (λ) frekvence (ν) Fyzikální podstata DPZ Petr Dobrovolný

Více

Stručný úvod do spektroskopie

Stručný úvod do spektroskopie Vzdělávací soustředění studentů projekt KOSOAP Slunce, projevy sluneční aktivity a využití spektroskopie v astrofyzikálním výzkumu Stručný úvod do spektroskopie Ing. Libor Lenža, Hvězdárna Valašské Meziříčí,

Více

Bezkontaktní termografie

Bezkontaktní termografie Bezkontaktní termografie Biofyzikální ústav LF MU Elektromagnetické spektrum http://cs.wikipedia.org/wiki/soubor:elmgspektrum.png Bezkontaktní termografie 2 Zdroje infračerveného záření Infračervené záření

Více

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE Atomová spektrometrie valenčních e - 1. OES (AES). AAS 3. AFS 1 Atomová spektra čárová spektra Tok záření P - množství zářivé energie (Q E ) přenesené od zdroje za jednotku času.

Více

nano.tul.cz Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL

nano.tul.cz Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL nano.tul.cz Tyto materiály byly vytvořeny v rámci projektu ESF OP VK: Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na Technické univerzitě v Liberci Experimentální

Více

DIGITÁLNÍ FOTOGRAFIE

DIGITÁLNÍ FOTOGRAFIE DIGITÁLNÍ FOTOGRAFIE Petr Vaněček, katedra informatiky a výpočetní techniky Fakulta aplikovaných věd, Západočeská univerzita v Plzni 19. listopadu 2009 1888, Geroge Eastman You press the button, we do

Více

Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)

Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390) Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Praktikum z pevných látek (F6390) Zpracoval: Michal Truhlář Naměřeno: 6. března 2007 Obor: Fyzika Ročník: III Semestr:

Více

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne 23.4.2009.

PRAKTIKUM III. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK. Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne 23.4.2009. Oddělení fyzikálních praktik při Kabinetu výuky obecné fyziky MFF UK PRAKTIKUM III Úloha č. XXVI Název: Vláknová optika Pracoval: Jan Polášek stud. skup. 11 dne 23.4.2009 Odevzdal dne: Možný počet bodů

Více

Zpracování obrazu a fotonika 2006

Zpracování obrazu a fotonika 2006 Základy zpracování obrazu Zpracování obrazu a fotonika 2006 Reprezentace obrazu Barevný obrázek Na laně rozměry: 1329 x 2000 obrazových bodů 3 barevné RGB kanály 8 bitů na barevný kanál FUJI Superia 400

Více

TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU

TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU Hystorie Alexander Bain (Skot) 1843 vynalezl fax (na principu vodivé desky s napsaným textem nevodivým, který se snímal kyvadlem opatřeným jehlou s posunem po malých

Více

Charakteristiky optického záření

Charakteristiky optického záření Fyzika III - Optika Charakteristiky optického záření / 1 Charakteristiky optického záření 1. Spektrální charakteristika vychází se z rovinné harmonické vlny jako elementu elektromagnetického pole : primární

Více

Základy pyrometrie. - pyrometrie = bezkontaktní měření teploty. 0.4 µm... 25 µm - 40 0 C... 10 000 0 C

Základy pyrometrie. - pyrometrie = bezkontaktní měření teploty. 0.4 µm... 25 µm - 40 0 C... 10 000 0 C Základy pyrometrie - pyrometrie = bezkontaktní měření teploty 0.4 µm... 25 µm - 40 0 C... 10 000 0 C výhody: zanedbatelný vliv měřící techniky na objekt možnost měření rotujících nebo pohybujících se těles

Více

Spektrální charakteristiky fotodetektorů

Spektrální charakteristiky fotodetektorů ČESKÉ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V PRAZE Fakulta elektrotechnická LABORATORNÍ ÚLOHA č. 3 Spektrální charakteristiky fotodetektorů Vypracovali: Jan HLÍDEK & Martin SKOKAN V rámci předmětu: Fotonika (X34FOT)

Více

Měření spektra světelných zdrojů LED Osvětlovací soustavy - MOSV

Měření spektra světelných zdrojů LED Osvětlovací soustavy - MOSV FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ Měření spektra světelných zdrojů LED Osvětlovací soustavy - MOSV Autoři textu: Ing. Tomáš Pavelka Ing. Jan Škoda, Ph.D.

Více

Charakteristiky optoelektronických součástek

Charakteristiky optoelektronických součástek FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Ústav fyziky FEKT VUT BRNO Spolupracoval Jan Floryček Jméno a příjmení Jakub Dvořák Ročník 1 Měřeno dne Předn.sk.-Obor BIA 27.2.2007 Stud.skup. 13 Odevzdáno dne Příprava Opravy Učitel

Více

2. Zdroje a detektory světla

2. Zdroje a detektory světla 2. Zdroje a detektory světla transmitance (%) Spektrální rozsah Krátkovlné limity: Absorpce vzduchu (O 2,N 2,vodní pára) - 190 nm Propustnost optiky Spektrální rozsah zdroje vlnová délka (nm) http://www.hellma-analytics.com/text/283/en/material-and-technical-information.html

Více

Defektoskopie. 1 Teoretický úvod. Cíl cvičení: Detekce měřicího stavu a lokalizace objektu

Defektoskopie. 1 Teoretický úvod. Cíl cvičení: Detekce měřicího stavu a lokalizace objektu Defektoskopie Cíl cvičení: Detekce měřicího stavu a lokalizace objektu 1 Teoretický úvod Defektoskopie tvoří v počítačovém vidění oblast zpracování snímků, jejímž úkolem je lokalizovat výrobky a detekovat

Více

CZ.1.07/2.2.00/ AČ (RCPTM) Spektroskopie 1 / 24

CZ.1.07/2.2.00/ AČ (RCPTM) Spektroskopie 1 / 24 MĚŘENÍ SPEKTRA SVĚTLA Antonín Černoch Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů CZ.1.07/2.2.00/15.0147 AČ (RCPTM) Spektroskopie 1 / 24 Úvod Obsah 1 Úvod 2 Zobrazovací spektrometry Disperzní

Více

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE doc. Ing. David MILDE, Ph.D. tel.: 585634443 E-mail: david.milde@upol.cz (c) -017 Doporučená literatura Černohorský T., Jandera P.: Atomová spektrometrie. Univerzita Pardubice 1997.

Více

Detektory optického záření

Detektory optického záření Detektory optického záření Vrbová, Jelínková, Gavrilov, Úvod do laserové techniky, ČVUT FJFI, 1994 Kenyon, The light fantastic, Oxford Goldman, Lasers in Medicine, kapitola Optická a tepelná dozimetrie

Více

Bezpečnostní inženýrství. - Detektory požárů a senzory plynů -

Bezpečnostní inženýrství. - Detektory požárů a senzory plynů - Bezpečnostní inženýrství - Detektory požárů a senzory plynů - Úvod 2 Včasná detekce požáru nebo úniku nebezpečných látek = důležitá součást bezpečnostního systému Základní požadavky včasná detekce omezení

Více

Zadání: Úkolem je sestrojit jednoduchý spektrometr a určit jeho základní parametry pozorováním spektra známého objektu.

Zadání: Úkolem je sestrojit jednoduchý spektrometr a určit jeho základní parametry pozorováním spektra známého objektu. Úloha 4.: Spektroskopie s CD Zpracoval: Radek Ševčík Datum: 8.2.2009, 11.2.2009 Zadání: Úkolem je sestrojit jednoduchý spektrometr a určit jeho základní parametry pozorováním spektra známého objektu. 1.

Více

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15 Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15 Hodnocení transparentních materiálů pomocí vizualizační techniky Vlastimil Hotař, Ondřej Matúšek Katedra sklářských strojů a robotiky Fakulta

Více

5.3.6 Ohyb na mřížce. Předpoklady: 5305

5.3.6 Ohyb na mřížce. Předpoklady: 5305 5.3.6 Ohy na mřížce Předpoklady: 5305 Optická mřížka = soustava rovnoěžných velmi lízkých štěrin. Realizace: Skleněná destička s rovnoěžnými vrypy, přes vryp světlo neprochází, prochází přes nepoškraaná

Více

DYNAMIKA PROMĚNLIVOSTI KONVERZNÍHO FAKTORU ZA TYPICKÝCH DNŮ

DYNAMIKA PROMĚNLIVOSTI KONVERZNÍHO FAKTORU ZA TYPICKÝCH DNŮ DYNAMIKA PROMĚNLIVOSTI KONVERZNÍHO FAKTORU ZA TYPICKÝCH DNŮ Marcela Mašková, Jaroslav Rožnovský Ústav krajinné ekologie, Vysoká škola zemědělská Brno ÚVOD Základem existence a produkční aktivity rostlin

Více

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence ROZPTYLOVÉ a EMISNÍ metody - Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl - fluorescence - fosforescence Ramanova spektroskopie Každá čára Ramanova spektra je svými vlastnostmi závislá

Více

CZ.1.07/2.2.00/ AČ (SLO/RCPTM) Detekce a zpracování optického signálu 1 / 30

CZ.1.07/2.2.00/ AČ (SLO/RCPTM) Detekce a zpracování optického signálu 1 / 30 DETEKCE A ZPRACOVÁNÍ OPTICKÉHO SIGNÁLU Antonín Černoch Společná laboratoř optiky UP a FZÚ AV ČR Regionální centrum pokročilých technologií a materiálů CZ107/2200/070018 AČ (SLO/RCPTM) Detekce a zpracování

Více

Spektrální charakteristiky světelných zdrojů a světla prošlého

Spektrální charakteristiky světelných zdrojů a světla prošlého Spektrální charakteristiky světelných zdrojů a světla prošlého a odraženého LENKA LIČMANOVÁ, LIBOR KONÍČEK Přírodovědecká fakulta, Ostravská univerzita v Ostravě, Ostrava Abstrakt Příspěvek se zabývá popisem

Více

Fyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze

Fyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze Fyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze Úloha 4: Balrmerova série Datum měření: 13. 5. 016 Doba vypracovávání: 7 hodin Skupina: 1, pátek 7:30 Vypracoval: Tadeáš Kmenta Klasifikace: 1 Zadání 1. DÚ: V přípravě

Více

Moderní trendy měření Radomil Sikora

Moderní trendy měření Radomil Sikora Moderní trendy měření Radomil Sikora za společnost RMT s. r. o. Členění laserových měřičů Laserové měřiče můžeme členit dle počtu os na 1D, 2D a 3D: 1D jsou tzv. dálkoměry, které měří vzdálenost pouze

Více

Digitalizace signálu (obraz, zvuk)

Digitalizace signálu (obraz, zvuk) Digitalizace signálu (obraz, zvuk) Základem pro digitalizaci obrazu je převod světla na elektrické veličiny. K převodu světla na elektrické veličiny slouží např. čip CCD. Zkratka CCD znamená Charged Coupled

Více

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm

Více

FTTX - Měření v optických sítích. František Tejkl 17.9.2014

FTTX - Měření v optických sítích. František Tejkl 17.9.2014 FTTX - Měření v optických sítích František Tejkl 17.9.2014 Náplň prezentace Co lze měřit v optických sítích Vizuální kontrola povrchu ferule konektoru Vizuální hledání chyb Optický rozpočet Přímá metoda

Více

Optika. Nobelovy ceny za fyziku 2005 a 2009. Petr Malý Katedra chemické fyziky a optiky Matematicko fyzikální fakulta UK

Optika. Nobelovy ceny za fyziku 2005 a 2009. Petr Malý Katedra chemické fyziky a optiky Matematicko fyzikální fakulta UK Optika Nobelovy ceny za fyziku 2005 a 2009 Petr Malý Katedra chemické fyziky a optiky Matematicko fyzikální fakulta UK Optika zobrazování aplikace základní fyzikální otázky např. test kvantové teorie

Více

Speciální spektrometrické metody. Zpracování signálu ve spektroskopii

Speciální spektrometrické metody. Zpracování signálu ve spektroskopii Speciální spektrometrické metody Zpracování signálu ve spektroskopii detekce slabých signálů synchronní detekce (Lock-in) čítaní fotonů měření časového průběhu signálů metoda fázového posuvu časově korelované

Více

Název: Pozorování a měření emisních spekter různých zdrojů

Název: Pozorování a měření emisních spekter různých zdrojů Název: Pozorování a měření emisních spekter různých zdrojů Autor: Doc. RNDr. Milan Rojko, CSc. Název školy: Gymnázium Jana Nerudy, škola hl. města Prahy Předmět, mezipředmětové vztahy: fyzika, chemie Ročník:

Více

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda

Více

Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologíı Ústav automatizace a měřicí techniky v Brně

Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologíı Ústav automatizace a měřicí techniky v Brně Vysoké učení technické v Brně Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologíı Ústav automatizace a měřicí techniky Algoritmy řízení topného článku tepelného hmotnostního průtokoměru Autor práce: Vedoucí

Více

Vlastnosti digitálních fotoaparátů

Vlastnosti digitálních fotoaparátů 1 Vlastnosti digitálních fotoaparátů Oldřich Zmeškal Fakulta chemická, Vysoké učení technické v Brně Purkyňova 118, 612 00 Brno e-mail: zmeskal@fch.vutbr.cz 1. Úvod Počátky digitální fotografie souvisejí

Více

Radiometrie se zabývá objektivním a fotometrie subjektivním měřením světla.

Radiometrie se zabývá objektivním a fotometrie subjektivním měřením světla. 12. Radiometrie a fotometrie 12.1. Základní optické schéma 12.2. Zdroj světla 12.3. Objekt a prostředí 12.4. Detektory světla 12.5. Radiometrie 12.6. Fotometrie 12.7. Oko 12.8. Měření barev 12. Radiometrie

Více

Mikroskopie rastrující sondy

Mikroskopie rastrující sondy Mikroskopie rastrující sondy Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Metody mikroskopie rastrující sondy SPM (scanning( probe Microscopy) Metody mikroskopie rastrující sondy soubor

Více

Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání

Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání Aplikace spektroskopické reflektometrie při studiu elastohydrodynamického mazání Vladimír Čudek Ústav konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně Úvod Úvod Vlivem nedostatečného

Více

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II Vyučující a zkoušející Ing. Martin Kormunda, Ph.D. - CN320 Konzultační hodiny: Po 10-12, St 13 14 nebo dle dohody Doc. RNDr. Jaroslav Pavlík, CS.c. - CN Konzultační hodiny:

Více

Variátor. Doutnavka. Zářivka. Digitron. Sensistor. Kompaktní Zářivka. Ing. Ladislav Fišer, Ph.D.: Druha prednaska. VA charakteristika

Variátor. Doutnavka. Zářivka. Digitron. Sensistor. Kompaktní Zářivka. Ing. Ladislav Fišer, Ph.D.: Druha prednaska. VA charakteristika VA charakteristika Variátor R S a R D. = f(u) VA charakteristika Doutnavka Sériové řazení 0-A náběhová oblast A-B pracovní oblast B-C oblast přetížení U R = I 27.2.2008 12:46 Základy elektroniky - 2. přednáška

Více