Nanočástice - úvod. obvyklé velikosti nm
|
|
- Lukáš Horák
- před 6 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 VSCHT, 2012 Dr. M. Kotrlý
2 Nanočástice - úvod Nano (=> řečtina: trpaslík ) fullereny nm: 10-9 m velikost atomů: ~ 0,1 nm nanovlákna uhlíkové nanotrubice obvyklé velikosti nm nanočástice Nanokompozity: nanovrstvy
3 Nanočástice-aplikace ochranné filmy/fólie (povrchy yp plastů) redukce odrazivosti/antireflexní úpravy (sklo) tepelná a mechanická ochrana povrchů (laky) kosmetika (UV filtry) automobilové laky vodivé a fotocitlivé vrstvy katalyzátory antibakterialní a mikroby ničící látky senzory kontrastní a magnetické látky (medicína) textilní průmysl nanovlákna farmacie dentální materiály
4
5 Nanočástice - použití Částice hliníku, zlata, stříbra, mědi a niklu: antimikrobiální a antibakteriální materiály biologické a chemické senzory digitální zobrazovací jednotky vysoce vodivé vrstvy, pasty a inkousty digitální archivační média optické filtry (polarizační a spektrální) fotonika aditiva pro slínování teplotně vodivé materiály speciální maziva (měď) hydrolytické elektrody vysoce kapacitní akumulátory Oxidy hliníku a céru: katalyzátory y chemicko-mechanické úpravy povrchů optické absorpce IR a UV leštění optických ploch oxidační činidla nanocompozity polymerů termálně vodivé látky Uhlík (grafit) nanokompozity pro elektroniku maziva a nanokompozity pro mechaniku Kobalt zobrazování v medicíně magnetické barvy a tonery magnetické ferrofluidy elektronická datová úložiště separace plynů speciální baterie a akumulátory speciální těsnění Oxidy erbia teplotní rezistory teplotně odolné vrstvy MOSFET elektronické prvky zušleťování optických vláken zušlechťování laserových tyčí Karbid křemíku katalyzátory vysocekapacitní polovodiče odrazové vrstvy pro extrémní UV Oxidy křemíku absorpční látka pro UV (mj.kosmetika) antibakteriální materiál biosenzory katalyzátory dentální materiály nosič API ve farmacii polovodiče IR reflexní materiály optické prvky kovové a keramické nanokompozity mechanicky odolné nanokompozity tepelně odolné nanokompozity fotické materiály optické leštění substrát pro tenké vrstvy Oxidy titanu absorpce UV katalyzátor absorbent biologických materiálů tonery anorganické membrány virocidní a antimikrobiální materiály piezoelektrické prvky pigmenty optické leštění polovodičové prvky sterilizační náplně a filtry
6 Nanočástice - vlastnosti ti poměr povrch/objem - f(velikosti částic) hrana: 1 cm hrana: 1 µm hrana: 1 nm počet krychlí: 1 počet krychlí: počet krychlí: povrch: 6 cm 2 povrch: 6 m 2 povrch: 6000 m 2
7 dostupnost
8 výroba metody mechanické přípravy nanočástic - mechanochemické syntézy, mlecí techniky, řízené skládání nanočástic - shlukování, aglomerace. z plynného a kapalného prostředí - kondenzací z aerosolu, přímou reakcí plynných látek, srážením, hydrotermickou syntézou, hydrolýzou, v prostředí superkritické kapaliny, v roztoku s použitím mikrovlnného záření a ultrazvuku. příprava nanočástic z kapalného prostředí - koloidní chemie, sol-gel technologie bionanotechnologie biomineralizace a biomimetika, pomocí biomas žití bakterií mikroskopických h b sinic šších rostlin pomocí biomasy - využití bakterií, mikroskopických hub, sinic, vyšších rostlin apod
9
10 Transmisní elektronová mikroskopie - TEM
11 JEOL JEM 3010 s urychlovacím napětím 300 kv (LaB 6 katoda, bodové rozlišení 1.7Å). Obrazová dokumentace byla pořízena na CCD kameře s rozlišením 1024x1024 bodů se programovým vybavením Digital Micrograph koloid nanočástic Pd (HRTEM, 300kV)
12 nanočástice BaCO 3 (HRTEM) nanočástice SiC (HRTEM) nanočástice Bi 2 O 3 (HRTEM)
13 Detektor transmisních elektronů TE/STEM
14 Pro ověření možností STEM módu byly provedeny série experimentů na autoemisním elektronovém mikroskopu MIRA II XMU se Schottkyho katodou, urychlovací napětí 10 kv, SE TF detektor (STEM mód), na stejných vzorcích jako předchozí experimenty nanočástice BaCO 3 (STEM)
15 Metody obrazové analýzy pro měření morfologických parametrů Pro objektivní měření distribuce a morfologických parametrů částic pigmentů, resp. komponent barevných vrstev, byl zvolen systém obrazové analýzy NIS- Elements verze 2.3 a 3.0, který vychází ze systému obrazové analýzy Lucia
16
17 Dynamický světelný rozptyl Metoda je založena na měření fluktuací intenzity světla, které rozptylují molekuly vzorku v suspenzi. Tato fluktuace je důsledkem Brownova pohybu. Molekuly kapaliny ve které jsou měřené částice rozptýleny se pohybují Brownovým pohybem definovanou rychlostí, která je funkcí teploty a viskozity kapaliny. Kolizí molekuly kapaliny s částicí vzorku dochází k pružné srážce, jejímž důsledkem je změna směru a rychlosti pohybu částice. Rychlost jakou se částice po srážce pohybuje závisí na její velikosti. Malé částice se pohybují rychleji, pohyb větších částic je pomalejší díky jejich většímu objemu. U větších částic je také statisticky vyšší pravděpodobnost srážky s více než jednou molekulou ve stejném čase. Po kolizi částice s molekulou kapaliny dochází ke změně intenzity rozptýleného světla, v závislosti na interferenci světelných vln. Změna intenzity světla přímo souvisí s difůzí částic a frekvence fluktuací závisí přímo na velikosti částic. Distribuce velikosti nanočástic byla měřena přístrojem NANOPHOX fy Sympatec GmbH, software Windox5, který je přímo určen pro měření nanočástic. Práškové vzorky byly rozdispergovány ve vodě a ethanolu pomocí ultrazvuku a měřeny při 25 C.
18
19 Zařízení NANOPHOX je vhodné v podstatě pro relativní porovnávání velikosti nanočástic mezi jednotlivými vzorky. Pro získání absolutních hodnot u anorganických částic, které lze přesněji charakterizovat jinými technikami, vhodné není. Zařízení je používáno zejména pro organické látky, jejichž charakter neumožňuje provedení analýz jinou instrumentací.
20 Mikroskopie atomárních sil (AFM) Představuje velkou skupinu metod a modifikací pro studium řady vlastností látek na úrovni, jdoucí až na velikost atomů. Jsou proto také jednou ze základních metod pro studium nanomateriálů. velmi dobrá rozlišovací schopnost, rychlost měření a relativní cenová dostupnost zařízení. Zcela klíčovou otázkou je ovšem příprava vzorků, která může být v některých případech obtížně realizovatelná, zejména s ohledem na současnou potřebu dobré dispergace částic a pevné fixace částic na podložku, aby měřící hrot částice neposouval. Testovací měření byla provedena ve Fyzikálním ústavu AVČR na zařízení Veeco Testovací měření byla provedena ve Fyzikálním ústavu AVČR, na zařízení Veeco Dimension 3100 a NT MDT Ntegra, raménko HA_NC NT-MDT
21
22 experimenty pro ověření limitů detekce - metody prvkové analýzy V experimentech prvních sérií se provádělo testování limit detekce. Získané poznatky byly využity při přípravě druhých sérií, které se zaměřily na detailní ověření detekčních limitů itů jednotlivých metod, mimo jiné i v závislosti na možných vzájemných koincidencích. id Jako příklad prvých sérií experimentů lze uvést 3 modelové typy látek: a) Směs dobře difraktujících nanokompozitů v difraktujícím plnivu byl zvolen nano-kompozit na bázi slídové destičky s nanesenou nanovrstvou rutilu. Byly připraveny směsi ě s 20, 10, 5, 3 hmot. procenty nanokompozitu v plnivu. b) Směs nanokompozitu na bázi Al destičky tloušťky cca 500 nm pokryté nanovrstvou hematitu tloušťky cca 50 nm. Opět byly yypřipraveny p směsi s 20, 10, 5 a 3 hmot. % těchto částic v difraktujícím plnivu. c) Směs nanočástic Strontium Lanthanum Manganese Oxide s převládající velikosti nm v difraktujícím plnivu. Směs obsahovala 5, 3 a 1 hmot.% nanočástic v plnivu. Jako základ dalších sérií experimentů byly zvoleny níže uvedené nanočástice: Al2O3 (30nm), Co3O4 (40nm), Bi2O3 (150nm), BaCO3 (50nm), SiC (30nm), SnO2 (50nm), TiO2 (10nm) S těmito částicemi byly připraveny modelové směsi v různých plnivech, pro většinu experimentů byly použity koncentrační řady 10; 5; 3; 1; 0.5 a 0.1 hmot. %.
23 experimenty pro ověření limitů detekce - metody prvkové analýzy - II Pro závěrečné ověření postupů analýzy byly pořízeny vzorky komerčních produktů s potencionálním obsahem anorganických nanočástic, pro tento experiment byly zvoleny relativně obtížnější směsi. Z kosmetických přípravků byly zvoleny opalovací krémy, pro srovnání se podařilo zajistit i vzorky krémů starých cca let, při výrobě kterých ještě nanočástice nebyly používány. Z potravinářských výrobků byly zvoleny kečupy (opět se podařilo sehnat i straší vzorek), z textilních materiálů výrobky s vlákny Coolmax FreshFX a X-Static, z nanokompozitů vzorky pigmentů s proměnlivou barevností Jako zajímavost byly analyzovány tkaniny a voda z máchacího cyklu, které prošly procesem Silver Wash (Silver Nano ), který je implementován u některých nových typů praček Samsung (při posledním máchacím cyklu proudí voda přes stříbrné destičky, ze kterých se elektrolyticky uvolňují ionty Ag)
24 Energiově disperzní mikroanalýza - EDS EDS analýza (Link ISIS Series 300 a INCAEnergy, rozsah 0-20 kev, citlivost 10eV/kanál, 1024 kanálů) byla schopná i při celkové plošné analýze vzorku (běžný, rychlý screening) zachytit prvky skládající nanokompozity a nanočástice z prvé série vzorků, přičemž je samozřejmě možné následné detailní ověření složení jednotlivých částic bodovou mikroanalýzou. Proto byla připravena druhá série vzorků, které byly koncipovány jako analyticky obtížnější s možnými koincidencemi linií a končícími na mezi detekce EDS systémů. Práškové vzorky byly naneseny na uhlíkovou fólii a přímo bez dalších úprav analyzovány. y. Nebyly y zjištěny ě rozdíly při analýze ploch velikostí 8x8 mm, postupně snižované až na 50x50
25
26 Energiově disperzní rentgenfluorescenční analýza - EDXRF pomocí EDXRF byly analyzovány vzorky, u kterých byl výsledek EDS mikroanalýzy negativní, nebo nedostatečně t č ě průkazný bylo použito zařízení XEPOS (fa Spectro) s Pd katodou a podmínkami měření: targets: compton/secondary molybdenum, barkla scatter aluminium oxide, secondary target (K) cobalt, bragg crystal HOPG, atmosféra prostoru kyvet - helium, napětí zdroje 40; 50; 35; 17 kv, proud 0.9; 0.7; 1; 0.5 ma, čas měření 300s/target. vzorky byly připraveny standardním d postupem do kyvet s polyprophylenovou l fólií. pro každý vzorek byl změřen i blank u práškových vzorků prázdná identická kyveta s fólií, u vzorku tkanin po procesu Silver Wash (Silver Nano ) vzorky stejné tkaniny, která tímto procesem neprošla
27
28 Strukturní rentgenografie ve forenzní oblasti se stále více prosazuje trend určení fáze minimálně dvěma nezávislými metodami (závěry expertiz jsou podklady d pro rozhodování orgánů ů činných ý hv trestním t řízení, í tj. rozhodování o vinně a trestu, a výsledky proto musí mít co nejvyšší stupeň hodnověrnosti) tomto kontextu jsou velmi významné i možnosti rentgenovým metod (ať již se jedná o strukturní a fázovou analýzu, tak i prosvětlovací a defektoskopické metody) ani XRD metody nejsou samospasitelné a jsou obvykle používány v kombinacích s dalšími metodami (zejména SEM- EDS/WDS, optickou mikroskopií, XRF, FTIR apod.)
29 pro difrakční experimenty byly použity monokrystalové křemíkové podložky byly vyrobeny z monokrystalického křemíku, který byl vytažen ve směru {100} ingot byl posléze rozřezán ánnadestičkna destičky s tloušťce šťce2a03milimetr 0.3 milimetru, řez byl veden pod úhlem cca 6 stupňů k rovině kolmé na směr růstu (100) tím je dosaženo, že v materiálu podložky nedochází k difrakčnímu jevu podložka se s výhodou používá pro velmi malá množství práškového materiálu či velmi malé fragmenty
30 Pro porovnání možností mikrodifrakce s dalšími postupy, umožňujícími analýzu velmi malých ploch byla využita sestava s kolimátorem byly testovány 3 druhy sestav štěrbin 1 x 1 mm, 1 x 0.5 mm a 1 x 0.25 mm kolimátor je zařízení, které kombinuje divergenční clonu a masku šíře svazku v jednom optickém modulu obvykle se používá se v kombinaci s bodovým ohniskem rentgenové lampy v rámci testování byl za stejných podmínek použit i na čárovém ohnisku lampy pro srovnání byl dále na čárovém ohnisku použit modul automatických divergenčních clon s nastavenou velikostí štěrbiny 0.5 mm
31
32 zjištěny větší pološířky (FWHM) u instrumentací s bodovým ohniskem - cca 0,3 2Theta u čárového ohniska se pohybují okolo 0,1 2Theta mírně asymetrický profil lze korigovat profilovým fitováním
33 sestava s automatickými divergenčními clonami s velikostí štěrbiny05mmdává 0,5 pro identický vzorek horší intenzity, než sestavy s kolimátorem - intenzity jsou cca 20% pološířky (FWHM) jsou prakticky identické (okolo 0,1 2Theta) mikrodifrakce dosahuje obdobných intenzit za cenu výrazně delší expozice, hodnoty pološířek (FWHM) jsou okolo 0,36 2Theta vyšší hodnoty FWHM v mikrodifrakčním záznamu lze vysvětlit podstatně horší fokusací primárního paprsku (respektive se jedná přímo o nefokusující difrakční geometrii), je použito paralelního svazku
34 Celkový přehled hodnoty pološířek difrakcí (FWHM) pro experimenty s bodovým a čárovým ohniskem pro sestavy s kolimátorem a mikrodifrakční kapiláru (pouze bodové ohnisko) hodnoty pološířek výrazně nevybočují pro testované instrumentace z hodnot dosahovaných ve standardním uspořádání pro práškovou analýzu
35 Dále byly u sérií experimentů s nanomateriály sledovány hodnoty pološířek (FWHM) odděleně pro difraktující plniva použitá ve směsích (velikost zrna 10 30µm) a pro vlastní nanočástice s cílem zjištění rozdílů (očekávané rozšíření difrakcí vzhledem ke zmenšující se velikosti monokrystalových domén)
36 u mikrodifrakce se detekční limity pohybovaly mezi 1 5 hmot.% nanofáze přidané do plniva, v závislosti na symetrii fáze, množství koincidujících id í linií, ií atd. usměsí s 3 a 5 hmot.% nabízel modul s vyhledávacím Search-Match algoritmem obvykle použité nanofáze na předních místech, po identifikaci dominujících plniv a zapnuté funkci Auto Residue
37 sestava s kolimátorem, nebo automatickými divergečními clonami, byly detekční limity od 0.1 hmot.% (pro případy p velmi dobře difraktujících fází a nekoincidujících linií s difrakčními liniemi plniv) nicméně pro tyto případy podle očekávání již selhává modul s vyhledávacím algoritmem Search-Match - je nutné použít v zadávacích kritériích restrikce od obsahů cca 1 3 hmot.% (závisí opět na výše uvedených kritériích) již modul Search-Match obvykle uvádí použité nanofáze na předních místech (po identifikaci dominujících plniv a zapnuté funkci Auto Residue). U směsí, kde není možné pro identifikaci využít nejintenzivnějších difrakčních linií sledované komponenty (vzhledem ke koincidencím s dalšími látkami ve směsi), se mez detekce posunuje směrem k vyšším obsahům jako příklad lze uvést testovací směsi s Al2O3, kde je možné podle linií s intenzitami it i 92, 35 a 53 % identifikovat t až obsahy od 1 hmot.% výše
Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření
Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá
Metody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce
Metody využívající rentgenové záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 Rentgenovo záření 2 Rentgenovo záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá se v lékařství a krystalografii.
V obecném případě se ve forenzní laboratoři lze setkat s materiály
VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Většina analýz prováděných v kriminalistice se zabývá určováním, popisem a komparacemi prakticky libovolných látek, které mohou přijít do styku s osobami
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
Rentgenová difrakce a spektrometrie
Rentgenová difrakce a spektrometrie RNDr.Jaroslav Maixner, CSc. VŠCHT v Praze Laboratoř rentgenové difraktometrie a spektrometrie Technická 5, 166 28 Praha 6 224354201, 24355023 Jaroslav.Maixner@vscht.cz
Proč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
Techniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
Elektronová mikroskopie II
Elektronová mikroskopie II Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Transmisní elektronová mikroskopie TEM Informace zprostředkována prošlými e - (TE, DE) Umožň žňuje studium vnitřní
Glass temperature history
Glass Glass temperature history Crystallization and nucleation Nucleation on temperature Crystallization on temperature New Applications of Glass Anorganické nanomateriály se skelnou matricí Martin Míka
RTG difraktometrie 1.
RTG difraktometrie 1. Difrakce a struktura látek K difrakci dochází interferencí mřížkou vychylovaných vln Když dochází k rozptylu vlnění na různých atomech molekuly či krystalu, tyto vlny mohou interferovat
C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289
OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17
Nano a mikrotechnologie v chemickém inženýrství. Hi-tech VYSOKÁ ŠKOLA CHEMICKO-TECHNOLOGICKÁ V PRAZE ÚSTAV CHEMICKÉHO INŽENÝRSTVÍ
Nano a mikrotechnologie v chemickém inženýrství Hi-tech VYSOKÁ ŠKOLA CHEMICKO-TECHNOLOGICKÁ V PRAZE ÚSTAV CHEMICKÉHO INŽENÝRSTVÍ Hi-tech Nano a mikro technologie v chemickém inženýrství umožňují: Samočisticí
Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv Pavel Matějka, Vadym Prokopec pavel.matejka@vscht.cz pavel.matejka@gmail.com Vadym.Prokopec@vscht.cz
13. Spektroskopie základní pojmy
základní pojmy Spektroskopicky významné OPTICKÉ JEVY absorpce absorpční spektrometrie emise emisní spektrometrie rozptyl rozptylové metody Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
Seznam otázek pro zkoušku z biofyziky oboru lékařství pro školní rok
Seznam otázek pro zkoušku z biofyziky oboru lékařství pro školní rok 2014-15 Stavba hmoty Elementární částice; Kvantové jevy, vlnové vlastnosti částic; Ionizace, excitace; Struktura el. obalu atomu; Spektrum
Katedra chemie FP TUL Chemické metody přípravy vrstev
Chemické metody přípravy vrstev Metoda sol-gel Historie nejstarší příprava silikagelu 1939 patent na výrobu antireflexních vrstev na fotografické čočky 60. léta studium vrstev SiO 2 a TiO 2 70. léta výroba
STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ. Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b
STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b a UNIVERZITA PARDUBICE, Fakulta chemicko-technologická, Katedra anorganické
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE (c) -2012 RAMANOVA SPEKTROMETRIE 1 PRINCIP METODY Měří se rozptýlené záření, které vzniká interakcí monochromatického záření z viditelné oblasti s molekulami vzorku za současné změny
Nanotechnologie a Nanomateriály na PřF UJEP Pavla Čapková
Přírodovědecká fakulta UJEP Ústí n.l. a Ústecké materiálové centrum na PřF UJEP http://sci.ujep.cz/faculty-of-science.html Nanotechnologie a Nanomateriály na PřF UJEP Pavla Čapková Kontakt: Doc. RNDr.
INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
Mikroskopie rastrující sondy
Mikroskopie rastrující sondy Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Metody mikroskopie rastrující sondy SPM (scanning( probe Microscopy) Metody mikroskopie rastrující sondy soubor
Chemické metody přípravy tenkých vrstev
Chemické metody přípravy tenkých vrstev verze 2013 Povrchové filmy monomolekulární Langmuirovy filmy PAL (povrchově aktivní látky) na polární kapalině (vodě), 0,205 nm 2 na 1 molekulu, tloušťka dána délkou
Materiálový výzkum. Výzkumný program
Výzkumný program Materiálový výzkum V programu MATERIÁLOVÝ VÝZKUM jsou výzkumné a vývojové aktivity zaměřené na zpracování a využití nových progresivních materiálů, zejména nanomateriálů. Vedoucím výzkumného
Uhlíkové struktury vázající ionty těžkých kovů
Uhlíkové struktury vázající ionty těžkých kovů 7. června/june 2013 9:30 h 17:30 h Laboratoř metalomiky a nanotechnologií, Mendelova univerzita v Brně a Středoevropský technologický institut Budova D, Zemědělská
Plazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého
Plazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého Bariérový pochodňový výboj za atmosférického tlaku Štěpán Kment Doc. Dr. Ing. Petr Klusoň Mgr. Zdeněk Hubička Ph.D. Obsah prezentace Úvod do problematiky
Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů Ondřej Ticháček, PORG, ondrejtichacek@gmail.com Eva Korytiaková, Gymnázium Nové Zámky, korpal@pobox.sk Abstrakt: Jak vypadá vnitřek hmoty? Lze spatřit
Oblasti průzkumu kovů
Průzkum kovů Oblasti průzkumu kovů Identifikace kovů, složení slitin. Studium struktury kovu-technologie výroby, defektoskopie. Průzkum aktuálního stavu kovu, typu a stupně koroze. Průzkumy předchozích
VAKUOVÁ TECHNIKA VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ. Semestrální projekt FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ VAKUOVÁ TECHNIKA Semestrální projekt Téma: Aplikace vakuového napařovaní v optice Vypracoval:
Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Mikroskopie Rozlišovací schopnost lidského oka cca 025 0,25mm Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
Základy NIR spektrometrie a její praktické využití
Nicolet CZ s.r.o. The world leader in serving science Základy NIR spektrometrie a její praktické využití NIR praktická metoda molekulové spektroskopie, nahrazující pracnější, časově náročnější a dražší
V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron
V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron Údaje o provozu urychlovačů v ÚJF AV ČR ( hodiny 2009/hodiny 2008) Urychlovač Celkový počet hodin Analýzy Implantace
Refraktometrie, interferometrie, polarimetrie, nefelometrie, turbidimetrie
Refraktometrie, interferometrie, polarimetrie, nefelometrie, turbidimetrie Refraktometrie Metoda založená na měření indexu lomu Při dopadu paprsku světla na fázové rozhraní mohou nastat dva jevy: Reflexe
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis (Foto)elektronová spektroskopie (pro chemickou analýzu) ESCA, XPS X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Any technique in which the sample is bombarded
Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm
Rtg. záření: Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm Vznik rtg. záření: 1. Rtg. záření se spojitým spektrem vzniká při prudkém zabrzdění urychlených elektronů.
Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie
Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. rentgenová spektroskopická metoda k určen
3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).
PŘEDMĚTY KE STÁTNÍM ZÁVĚREČNÝM ZKOUŠKÁM V BAKALÁŘSKÉM STUDIU SP: CHEMIE A TECHNOLOGIE MATERIÁLŮ SO: MATERIÁLOVÉ INŽENÝRSTVÍ POVINNÝ PŘEDMĚT: NAUKA O MATERIÁLECH Ing. Alena Macháčková, CSc. 1. Souvislost
Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů T. Sýkora 1, M. Lanč 2, J. Krist 3 1 Gymnázium Českolipská, Českolipská 373, 190 00 Praha 9, tomas.sykora@email.cz 2 Gymnázium Otokara Březiny a SOŠ Telč,
Nanotechnologie. Autor: Mgr. Stanislava Bubíková. Datum (období) tvorby: 29. 5. 2013. Ročník: devátý
Nanotechnologie Autor: Mgr. Stanislava Bubíková Datum (období) tvorby: 29. 5. 2013 Ročník: devátý Vzdělávací oblast: Člověk a příroda / Chemie / Chemie a společnost 1 Anotace: Žáci se seznámí s nanotechnologiemi.
Krystalografie a strukturní analýza
Krystalografie a strukturní analýza O čem to dneska bude (a nebo také nebude): trocha historie aneb jak to všechno začalo... jak a čím pozorovat strukturu látek difrakce - tak trochu jiný mikroskop rozptyl
Chemie a fyzika pevných látek p2
Chemie a fyzika pevných látek p2 difrakce rtg. záření na pevných látkch, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie Kratochvíl
Tomáš Grygar: Metody analýza pevných látek L4-difrakce.doc
4. Rtg prášková difrakce (XRD, p-xrd) Tomáš Grygar: Metody analýza pevných látek Termíny Angstrom Å - 10-10 m = 0.1 nm. Tuhle jednotku hned tak něco nevymýtí. Důvodem je, jak pěkně se s ní popisují velikosti
Nanotechnologie a jejich aplikace. doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc.
Nanotechnologie a jejich aplikace doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc. Předpona pochází z řeckého νανος což znamená trpaslík 10-9 m 380-780 nm rozsah λ viditelného světla Srovnání známých malých útvarů SPM Vyjasnění
Metody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ
DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ T. Jeřábková Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 ter.jer@seznam.cz V. Košař Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 vlastik9a@atlas.cz G. Malenová Gymnázium Třebíč malena.vy@quick.cz
Vybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
METODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
METALOGRAFIE I. 1. Úvod
METALOGRAFIE I 1. Úvod Metalografie je nauka, která pojednává o vnitřní stavbě kovů a slitin. Jejím cílem je zviditelnění struktury materiálu a následné studium pomocí světelného či elektronového mikroskopu.
Metody charakterizace nanomaterálů I
Vybrané metody spektráln lní analýzy Metody charakterizace nanomaterálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Molekulová spektroskopie atomy a molekuly mohou měnit svůj energetický stav přijetím nebo vyzářením
Studium vybraných buněčných linií pomocí mikroskopie atomárních sil s možným využitím v praxi
Studium vybraných buněčných linií pomocí mikroskopie atomárních sil s možným využitím v praxi Petr Kolář, Kateřina Tománková, Jakub Malohlava, Hana Kolářová, ÚLB Olomouc 2013 atomic force microscopy mikroskopie
Spektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS
Spektroskopické é techniky a mikroskopie Spektroskopie metody zahrnující interakce mezi světlem (fotony) a hmotou (elektrony a protony v atomech a molekulách Typy spektroskopických metod IR NMR Elektron-spinová
ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY
ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY 1 Fyzikální základy spektrálních metod Monochromatický zářivý tok 0 (W, rozměr m 2.kg.s -3 ): Absorbován ABS Propuštěn Odražen zpět r Rozptýlen s Bilance toků 0 = +
Spektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE
Spektroskopie Augerových elektronů AES KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE Spektroskopie Augerových elektronů AES Jev Augerových elektronů objeven 1923 - Lise Meitner
Materiálový výzkum na ústavu anorganické chemie. Ondřej Jankovský
Materiálový výzkum na ústavu anorganické chemie Ondřej Jankovský ÚSTAV ANORGANICKÉ CHEMIE Koordinační chemie Materiály pro fotoniku Oxidové materiály Polovodiče a nanomateriály Teoretická chemie Vedoucí
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části
Analýza magnetických mikročástic mikroskopií atomárních sil
Analýza magnetických mikročástic mikroskopií atomárních sil Zapletalová 1 H., Tvrdíková 2 J., Kolářová 1 H. 1 Ústav lékařské biofyziky, LF UP Olomouc 2 Ústav chemie potravin a biotechnologií, CHF VUT Brno
Příprava vrstev metodou sol - gel
VYSOKÁ ŠKOLA CHEMICKO-TECHNOLOGICKÁ Ústav skla a keramiky Příprava vrstev metodou sol - gel Základní pojmy Sol - koloidní suspenze, ve které jsou homogenně dispergované pevné částice s koloidními rozměry
Metody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. 2 Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
Hmotnostní spektrometrie
Hmotnostní spektrometrie Princip: 1. Ze vzorku jsou tvořeny ionty na úrovni molekul, nebo jejich zlomků (fragmentů), nebo až volných atomů dodáváním energie, např. uvolnění atomů ze vzorku nebo přímo rozštěpení
Spektrometrické metody. Reflexní a fotoakustická spektroskopie
Spektrometrické metody Reflexní a fotoakustická spektroskopie odraz elektromagnetického záření - souvislost absorpce a reflexe Kubelka-Munk funkce fotoakustická spektroskopie Měření odrazivosti elmg záření
Některé základní pojmy
Klasifikace látek Některé základní pojmy látka látka čistá chemické individuum fáze směs prvek sloučenina homogenní směs heterogenní směs plynná směs kapalný roztok tuhý roztok Homogenní a heterogenní
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Jednotlivé komponenty mikroskopu AFM Funkce, obecné nastavení parametrů a jejich vztah ke konkrétním funkcím software Nova Verze 20110706 Jan Přibyl,
Třídění látek. Chemie 1.KŠPA
Třídění látek Chemie 1.KŠPA Systém (soustava) Vymezím si kus prostoru, látky v něm obsažené nazýváme systém soustava okolí svět Stěny soustavy Soustava může být: Izolovaná = stěny nedovolí výměnu částic
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4.1 Mikrostruktura stavebních hmot 4.1.1 Úvod Vlastnosti pevných látek, tak jak se jeví při makroskopickém zkoumání, jsou obrazem vnitřní struktury materiálu. Vnitřní
Mikro a nanotribologie materiály, výroba a pohon MEMS
Tribologie Mikro a nanotribologie materiály, výroba a pohon MEMS vypracoval: Tomáš Píza Obsah - Co je to MEMS - Materiály pro MEMS - Výroba MEMS - Pohon MEMS Co to je MEMS - zkratka z anglických slov Micro-Electro-Mechanical-Systems
Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)
Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) -přenesení dané struktury na povrch strukturovaného substrátu Princip - interakce
Kvantitativní fázová analýza
Kvantitativní fázová analýza Kvantitativní rentgenová (fázová) analýza Založena na měření intenzity charakteristických linií. Intenzita je ovlivněna: strukturou minerálu a interferencemi uspořádáním aparatury
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická
FOTOAKUSTIKA. Vítězslav Otruba
FOTOAKUSTIKA Vítězslav Otruba 2010 prof. Otruba 2 The spectrophone 1881 A.G. Bell návrh a Spektrofonu (spectrophone) pro účely posouzení absorpčního spektra subjektů v těch částech, které jsou neviditelné.
Některé poznatky z charakterizace nano železa. Marek Šváb Tereza Nováková Martina Müllerová Jan Šubrt Karel Závěta Eva Gregorová
Některé poznatky z charakterizace nano železa Marek Šváb Tereza Nováková Martina Müllerová Jan Šubrt Karel Závěta Eva Gregorová Nanotechnologie 60. a 70. léta 20. st.: období miniaturizace 90. léta 20.
Světlo x elmag. záření. základní principy
Světlo x elmag. záření základní principy Jak vzniká a co je to duha? Spektrum elmag. záření Viditelné 380 760 nm, UV 100 380 nm, IR 760 nm 1mm Spektrum elmag. záření Harmonická vlna Harmonická vlna E =
Zpráva o materiálovém průzkumu. Hlavní oltář v kapli Sv. Bartoloměje, zámek Žampach. RNDr. Janka Hradilová Dr. David Hradil
Zpráva o materiálovém průzkumu Hlavní oltář v kapli Sv. Bartoloměje, zámek Žampach RNDr. Janka Hradilová Dr. David Hradil Akademická laboratoř materiálového průzkumu malířských děl - společné pracoviště
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm
Chemie a fyzika pevných látek l
Chemie a fyzika pevných látek l p2 difrakce rtg.. zářenz ení na pevných látkch,, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie
Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií
Studium tenkých mazacích filmů spektroskopickou reflektometrií Ing. Vladimír Čudek Ústav konstruování Odbor metodiky konstruování Fakulta strojního inženýrství Vysoké učení technické v Brně OBSAH EHD mazání
Využití technologie Ink-jet printing pro přípravu mikro a nanostruktur II.
Ústav fyziky a měřicí techniky Vysoká škola chemicko-technologická v Praze Využití technologie Ink-jet printing pro přípravu mikro a nanostruktur II. Výrobci, specializované technologie a aplikace Obsah
Nabídkový list spolupráce 2014
Nabídkový list spolupráce 2014 Fyzikální ústav AV ČR v Praze Centrum pro inovace a transfer technologií www.citt.cz 2014 Kontaktní osoba prof. Jan Řídký, DrSc. e-mail: ridky@fzu.cz citt@fzu.cz tel: 266
Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka
Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití
Věra Mansfeldová. vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
Mikroskopie, která umožnila vidět Feynmanův svět Věra Mansfeldová vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. Richard P. Feynman 1918-1988 1965 - Nobelova
Fyzikální chemie. ochrana životního prostředí analytická chemie chemická technologie denní. Platnost: od 1. 9. 2009 do 31. 8. 2013
Učební osnova předmětu Fyzikální chemie Studijní obor: Aplikovaná chemie Zaměření: Forma vzdělávání: Celkový počet vyučovacích hodin za studium: Analytická chemie Chemická technologie Ochrana životního
Principy chemických snímačů
Principy chemických snímačů Název školy: SPŠ Ústí nad Labem, středisko Resslova Autor: Ing. Pavel Votrubec Název: VY_32_INOVACE_05_AUT_99_principy_chemickych_snimacu.pptx Téma: Principy chemických snímačů
Nanosvět očima mikroskopů
Nanosvět očima mikroskopů Několik vědců z Ústavu fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR, v.v.i. se prostřednictvím komorní výstavy rozhodlo představit veřejnosti svět, který viděný pouhým okem diváka nikterak
10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita
Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita K. Záruba Optická mikroskopie Elektronová mikroskopie (SEM, TEM) Fotoelektronová
nano.tul.cz Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL
Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL nano.tul.cz Tyto materiály byly vytvořeny v rámci projektu ESF OP VK: Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na Technické univerzitě v Liberci Experimentální
ELEKTRONICKÉ PRVKY TECHNOLOGIE VÝROBY POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ
ELEKTRONICKÉ PRVKY TECHNOLOGIE VÝROBY POLOVODIČOVÝCH PRVKŮ Polovodič - prvek IV. skupiny, v elektronice nejčastěji křemík Si, vykazuje vysokou čistotu (10-10 ) a bezchybnou strukturu atomové mřížky v monokrystalu.
Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II
Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda
Testování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
Elektronová Mikroskopie SEM
Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne
Zdroje optického záření
Metody optické spektroskopie v biofyzice Zdroje optického záření / 1 Zdroje optického záření tepelné výbojky polovodičové lasery synchrotronové záření Obvykle se charakterizují zářivostí (zářivý výkon
10. Tandemová hmotnostní spektrometrie. Princip tandemové hmotnostní spektrometrie
10. Tandemová hmotnostní spektrometrie Princip tandemové hmotnostní spektrometrie Informace získávané při tandemové hmotnostní spektrometrii Možné způsoby uspořádání tandemové HS a/ scan fragmentů vzniklých
SPEKTROMETRIE. aneb co jsem se dozvěděla. autor: Zdeňka Baxová
SPEKTROMETRIE aneb co jsem se dozvěděla autor: Zdeňka Baxová FTIR spektrometrie analytická metoda identifikace látek (organických i anorganických) všech skupenství měříme pohlcení IČ záření (o různé vlnové
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová
Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková
Mikroskopie V M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Hloubka ostrosti problém m velkých zvětšen ení tloušťka T vrstvy vzorku kolmé k optické ose, kterou vidíme ostře zobrazenou Objektiv
Koloidní zlato: tradiční rekvizita alchymistů v minulosti - sofistikovaný (nano)nástroj budoucnosti?
Koloidní zlato: tradiční rekvizita alchymistů v minulosti - sofistikovaný (nano)nástroj budoucnosti? Vedoucí projektu: Ing. Filip Novotný, Ing. Filip Havel K. Hes - Gymnázium, Praha 6, Nad Alejí 1952 K.
Infračervená spektrometrie
Podstata infračervené absorpce jednofotonový přechod mezi dvěma vibračními (vibračně-rotačními) rotačními) stavy molekuly, jejichž energie jsou E 1 a E 2, vyvolaný interakcí s fotonem dopadajícího záření
Chemické senzory Principy senzorů Elektrochemické senzory Gravimetrické senzory Teplotní senzory Optické senzory Fluorescenční senzory Gravimetrické chemické senzory senzory - ovlivňov ování tuhosti pevného
Potravinářské aplikace
Potravinářské aplikace Nanodisperze a nanokapsle Funkční složky (např. léky, vitaminy, antimikrobiální prostředky, antioxidanty, aromatizující látky, barviva a konzervační prostředky) jsou základními složkami
ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX
/ 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)
METODY BEZ VÝMĚNY ENERGIE MEZI ZÁŘENÍM A VZORKEM
METODY BEZ VÝMĚNY ENERGIE MEZI ZÁŘENÍM A VZORKEM REFRAKTOMETRIE POLARIMETRIE SPEKTROMETRIE VYUŽÍVAJÍCÍ ROZPTYL MĚŘENÍ VELIKOSTI ČÁSTIC (c) -2012 REFRAKTOMETRIE Metoda založená na měření indexu lomu látek