Příloha č. 1 - technické podmínky - část 2 Řádkovací elektronový mikroskop SEM-FIB s detektory EDS, WDS a EBSD
|
|
- Stanislava Němcová
- před 7 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Příloha č. 1 - technické podmínky - část 2 Řádkovací elektronový mikroskop SEM-FIB s detektory EDS, WDS a EBSD 1. Kupující v zadávacím řízení poptal dodávku zařízení vyhovujícího následujícím technickým požadavkům: Popis zařízení " Řádkovací elektronový mikroskop (FEGSEM) s FIB a detektory WDS, EDS a EBSD" : Rastrovací elektronový mikroskop s autoemisní FEG katodou, pracující v módu vysokého vakua, vhodný pro výzkum kovových materiálů a umožňující zkoumání a zobrazování i nevodivých keramických a kompozitních materiálů. Mikroskop musí být vybaven zdrojem fokusovaného svazku iontů pro mikroobrábění vzorku a přípravu TEM lamel včetně mikromanipulátoru. Součástí mikroskopu musí být zařízení pro čištění povrchu vzorků pomocí plazmového výboje přímo v komoře mikroskopu a kvalitní analyzátory pro stvení chemického složení mikroobjemů materiálů pomocí energiově-dispersní mikroanalýzy rtg-záření (EDS) typu SDD, vysokorozlišovací detektor WDS s možností detekce lekých i těžkých prvků a detektor EBSD. Dodaný SW musí být schopen spolupráce detektorů EDS a WDS i EDS a EBSD pro kvantitativní vyhodnocování a mapping, spolu s FIB musí umožňovat 3D akvizici mikrostrukturních a analytických dat. Součástí kontraktu je jedna výměna elektronového zdroje zdarma. Dodávka musí obsahovat všechny komponenty, práce a potřebné doplňky zajišťující propojení a funkci dále uvedených zkušebních zařízení s rozsahem funkcí uvedených v těchto minimálních podmínkách a to i k tomuto účelu nezbytné komponenty nebo práce, které nejsou v poptávce přímo uvedeny. Instalace musí zajistit úplné propojení dodaných komponent s cílem zajistit zadu funkčnost celé dodávky. Součástí nabídky musí být Datové listy výrobce sloužící k ověření specifikovaných Technických parametrů Kupujícím. Číslo Technické a funkční vlastnosti Požadovaná hodnota Technické požadavky na řádkovací elektronový mikroskop (FEGSEM) s FIB a detektory EDS, WDS a EBSD Položky požadovaného systému 1 Optický systém rastrovacího elektronového mikroskopu 2 Detekční systém rastrovacího elektronového mikroskopu 3 Pracovní komora elektronového mikroskopu 4 Stolek mikroskopu 5 Systém fokusovaného iontového svazku a zařízení pro vstřikování plynů (FIB, GIS) 6 Nmanipulátor 7 Detektor EDS 8 EDS software 9 Detektor WDS 10 WDS software 11 EBSD detektor 12 EBSD software 13 Software mikroskopu 14 Řídící počítač pro mikroskop 15 Řídící počítač pro EDS, WDS a EBSD 16 Pomocná zařízení nutná k provozu mikroskopu + další požadavky v ceně dodávky Optický systém rastrovacího elektronového mikroskopu 17 Jako zdroj elektronů je požadován Shottkyho emitor s vysokým jasem. 18 Dopadová energie emitovaných elektronů, měnitelná kontinuálně, v rozsahu alespoň 0,2-30 kev 19 Dosažitelná hodnota proudu svazku měřeného na Faradayově cele 100 na 20 Garantovaná stabilita proudu elektronového svazku (měřená na Faradayově cele po instalaci) s možnou odchylkou do max. +/- 0,5 % za hodinu a +/- 1% za 12 hodin 21 Rozlišení v SE při urychlovacím napětí 30 kv; ověřitelné na standardizovaném vzorku Au-C (gold on carbon). 1,2 nm 22 Rozlišení v SE při urychlovacím napětí 15 kv; ověřitelné na standardizovaném vzorku Au-C (gold on carbon). 1,5 nm 23 Objektivová čočka umožňuje práci v módu bez magnetického pole na vzorku. 24 Diferenční čerpání prostoru elektronového zdroje a optiky dostatečně účinnou vývěvou. 25 Automatické a manuální seřízení elektronového děla a optického systému. 26 Spojité nastavení proudu svazku v plném rozsahu urychlovacího napětí mikroskopu 27 Elektronový mikroskop vybaven systémem snížení rychlosti a energie dopadajících elektronů. Detekční systém rastrovacího elektronového mikroskopu 28 Detektor sekundárních elektronů (SE) uvnitř analytické komory. 29 Detektor sekundárních elektronů (SE) integrovaný do elektronového tubusu. 30 Detektor sekundárních elektronů (SE) určený pro práci v modu nízkého vakua. 31 Detektor zpětně odražených elektronů (BSE) instalovaný v rámci pólového nástavce nebo motorizovaný, výsuvný detektor zpětně odražených elektronů s minimálním rozlišením (detektor plně ovladatelný z prostředí operačního softwaru) alespoň 0,1 Z (atomového čísla) 32 Simultánní akvizice signálu z alespoň dvou libovolných detektorů. 33 Minimální velikost zorného pole bez deformace obrazu při použití nejmenšího možného zvětšení alespoň 50 mm 34 Integrovaná detekce a měření proudu absorbovaných elektronů. 35 Detekce a možnost zobrazení proudu elektronů absorbovaných vzorkem (EBIC). 36 Součástí dodávky je i standard částic zlata na uhlíku pro ověření rozlišení mikroskopu. Pracovní komora elektronového mikroskopu 37 Velikost pracovní komory elektronového mikroskopu a její kompletní konfigurace musí umožnit instalaci všech požadovaných zařízení a detektorů bez omezení jejich deklarovaných funkcí a použití požadované zadavatelem. 38 Systém ochrany nebo bezpečnostní prvek, který zastaví posun stolku mikroskopu se vzorkem v případě, že se dotkne kterékoli vnitřní části komory mikroskopu. 39 Integrované aktivní odpružení komory v rámu mikroskopu. 40 Přístup do komory mikroskopu pro velké vzorky odsunutím či odklopením jedné stěny komory. Musí být možné bez použití nářadí. 41 Maximální rozměry vzorků zakládaných přímo do pracovní komory s možností neomezeného zobrazení a analýzy celého povrchu vzorku: délka x šířka x výška min. 120 x 100 x 50 mm 42 Optimalizované geometrické uspořádání analytických detektorů umožńující simultánní EDS-EBSD a EDS-WDS analýzu. 43 Optimalizované porty pro montáž detekčních systémů elektronového mikroskopu, detektorů EDS, WDS a EBSD, IR kamery a plazmového dekontaminátoru. Geometrie portů musí zaručit plnou funkčnost všech zařízení. Instalovaná zařízení se nesmí vzájemně omezovat. 44 Počet volných portů na pracovní komoře elektronového mikroskopu pro budoucí instalaci dalších zařízení a detektorů alespoň 1 45 Plazmový dekontaminátor pro eliminaci uhlovodíkové kontaminace a čištění povrchu vzorků a vnitřních prostor pracovní komory elektronového mikroskopu. 46 Provoz dekontaminátoru neohrožuje vakuový systém mikroskopu. 47 IR kamera pro sledování vnitřku pracovní komory elektronového mikroskopu a polohy vzorku a detektorů. 48 Vakuový systém umožňující dosažení čistého vakua. V případě, že čerpací systém obsahuje olejovou vývěvu, pak čerpací systém je vhodným způsobem zajištěn proti vniku olejových par do pracovní komory elektronového mikroskopu za jakýchkoli okolností (i při odstávce nebo poruše systému). 49 Tlak v komoře je měřen vhodným způsobem v celém rozsahu pracovních podmínek a zobrazen pro kontrolu uživatelem. 50 Zavzdušňování komory elektronového mikroskopu kompatibilní s použitím dusíku minimální čistoty Čerpání a zavzdušnění zakládací komory je automatizováno a ovládáno pomocí softwaru. 52 Čas potřebný k výměně vzorku kratší než 15 minut 53 Elektronový mikroskop musí být vybaven možností práce v režimu nízkého vakua při tlaku v rozsahu (tlak v pracovní komoře) alespoň Pa Stolek mikroskopu
2 54 3-osý posuv včetně rotace v rovině vzorku a náklonu stolku plně funkční pro všechny dodávané držáky vzorků, všechny pohyby motorizované. 55 Softwarově ovládaný, automatizovaný stolek s posuvem v osách X x Y x Z alespoň 120 x 100 x 50 mm 56 Opakovatelnost nájezdu stolku s přesností alespoň 1 mikrometr 57 Využitelný rozsah náklonu stolku mikroskopu v obou směrech (-X až + X ) alespoň -5 až Pozice zobrazované oblasti se zachovává při náklonu i rotaci vzorku. 59 Držák pro EBSD analýzu TEM fólií Systém fokusovaného iontového svazku a zařízení pro vstřikování plynů (FIB, GIS) 60 Zdroj iontů Ga LMIS (Ga Liquid Metal Ion Source). 61 Urychlovací napětí měnitelné kontinuálně v rozsahu alespoň 0,5-30 kv 62 Rozlišení při nejvyšším pracovním urychlovacím napětí 2,5 nm 63 Maximální dosažitelný proud svazku alespoň 50 na 64 Zajištění EDS a EBSD analýz v režimu 3D. 65 Systém je vybaven HW i SW zaručujícím plnou funkčnost FIB a GIS. 66 Musí umožňovat vytváření vlastních skriptů pro automatizaci FIB/SEM operací. 67 Automatické procedury pro fabrikaci TEM lamel. 68 Motorizovaný posuv systému vstřikování plynů. 69 Nejméně tři vstřikovací trysky. 70 Systém připouštění prekurzorů pro depozici minimálně C, Pt, W na povrchu vzorku s možností přidání připouštění plynného kyslíku z externího zdroje. 71 Zásobníky prekurzorů vybaveny automatickým řízením teploty. Nmanipulátor 72 Integrovaný nmanipulátor schopný vyzdvihnout TEM lamelu a umístit ji na připravený přípravek, ovládání integrováno do softwaru elektronového mikroskopu. Nmanipulátor nesmí být připevněn na stolek mikroskopu. 73 Systém rychlé výměny jehly nmanipulátoru. 74 Součástí dodávky jsou náhradní hroty do manipulátoru v počtu minimálně 5 ks 75 Nejmenší krok v osách X, Y, Z < 50 nm Detektor EDS 76 Detektor typu SDD, bez nutnosti chlazení kapalným dusíkem s garantovu funkčností v celém rozsahu pracovních podmínek. 77 Detektor vybaven motorickým vysunováním a zasunováním do pracovní pozice. 78 Velikost aktivní plochy snímacího čipu detektoru min. 80 mm 2 79 Schopnost detekce, kvalitativní a kvantitativní analýzy prvků v rozsahu od Be po Pu. 80 Garantovaná hodnota energiového rozlišení na manganu (Mn Ka) měřená v souladu s ISO 15632:2012 a ověřitelná měřením po instalaci detektoru 125 ev 81 Garantovaná hodnota energiového rozlišení na uhlíku (C Ka) měřená v souladu s ISO 15632:2012 a ověřitelná měřením po instalaci detektoru 50 ev EDS software 82 Multiuživatelský systém. 83 Umožňuje snímání obrazových signálů z mikroskopu. 84 Základní obrazová analýza (jas, kontrast, gamma korekce atd.). 85 Musí umožňovat kvantitativní bezstandardovou analýzu. 86 Umožňuje práci se standardy a vytváření vlastních knihoven standardů. 87 Musí umožňovat export/import spektra v otevřeném formátu (EMSA). 88 Volba analýz v bodě, v oblasti libovolně zvolené uživatelem, v linii a v definovaném rastru. U všech typů analýz je automaticky uloženo celé spektrum v každém bodě analýzy. 89 Vytváření map prvků s možností získání rozložení prvků v libovolné oblasti a podél čáry zvolené v nasnímané oblasti. 90 Možnost vytvářet kvantitativní mapy rozložení prvků. 91 Maximální rozlišení prvkové distribuční mapy EDS alespoň 4096 x 4096 pixelů 92 Vytváření kvantitativních linescanů s rozlišením až 8192 bodů 93 Automatická detekce fází, tvorba fázových map na základě chemického složení, modální analýza. 94 Umožňuje ovládat posuvy stolku mikroskopu. 95 Umožňuje automatizaci procesu snímání větších ploch zahrnující snímkování povrchu vzorků a akvizici distribučních prvkových map, umožňuje rozčlenění analyzované oblasti na dílčí celky následované akvizicí dat a jejich následné spojení do jednoho datového výstupu. 96 Kompenzace driftu vzorku v průběhu analýzy. 97 Software umožňuje plnou integraci EDS systému s WDS systémem. 98 Software umožňuje plnou integraci EDS a EBSD systémů a plnou podporu práce obou systémů v režimu 3D. 99 Software zahrnuje automatizovu částicovou analýzu i z více analyzovaných polí s vyhodnocením dat zahrnující základní charakteristiky detekovaných částic (např. velikost, tvar atd.) a chemické složení částic. 100 Musí umožňovat plánování automatizovaných analytických úloh za účelem automatické akvizice dat bez nutnosti dalšího zásahu uživatele, zahrnuje také možnost registrace libovolného snímku pořízeného v rámci softwaru a jeho využití pro navigaci a stvení polohy analytických bodů (ploch). 101 Musí umožňovat řešení interferencí čar analyzovaných prvků dekonvolučními metodami a pulse pile-up korekci (korekce pile-up píků až minimálně třetího řádu) v průběhu akvizice dat pro veškerá kvantitativní data, prvkové distribuční mapy a liniové analýzy 102 Minimálně jedna offline licence dodaného EDS softwaru pro dalšího uživatele. Detektor WDS 103 WDS systém umožňuje detekci, kvalitativní a kvantitativní analýzu prvků od Be do Pu. 104 WDS systém umožňuje analýzu čar prvků v rozsahu energií rtg. záření (požadovaný rozsah kontinuálně pokryt vhodnými difrakčními krystaly) alespoň 100 ev - 10 kev 105 WDS systém musí umožnit montáž až 6 difrakčních krystalů najednou 106 WDS systém musí být vybaven difrakčními krystaly optimalizovanými pro analýzu C, N a O. 107 WDS spektrometr je vybaven vstupní štěrbinou (umístěnou před detektorem) s motorizovaným ovládáním její pozice a šířky pro optimalizaci intenzity vstupního signálu a poměru intenzit na peaku a pozadí. 108 Integrovaný systém měření proudu svazku pro kvantitativní WDS analýzu. 109 WDS spektrometr musí být vybaven dvěma detektory na bázi průtokového proporcionálního čítače a proporcionálního čítače se stálou náplní vhodného plynu (např. Xe) pro maximální efektivitu detekce rtg záření v požadovaném energiovém rozsahu, oba detektory umožňují detekci rtg. záření jak odděleně tak i současně podle volby uživatele. 110 Garantovaná intenzita signálu na čáře C Ka (měřená na standardu čistého uhlíku), poměr intenzity peaku k pozadí (P/B) 400 pulsů za sekundu na 1 na, P/B Garantovaná intenzita signálu na čáře Fe Ka (měřená na standardu čistého železa), poměr intenzity peaku k pozadí (P/B) 1000 pulsů za sekundu na 1 na, P/B Součástí dodávky je sada standardů prvků/sloučenin pro kvantitativní WDS-EDS analýzu. Pokryty alespoň prvky: Al, Ba, Be, B, Ca, Ce, Cd, Cl, Cr, Co, C, Cu, Ge, Au, In, Ir, F, Fe, K, La, Pb, Mn, Mo, Mg, N, Na, Ni, Nb, P, Pd, Pt, Re, Rh, S, Se, Sc, Si, Sr, Ag, Ta, Te, Sb, Sn, Ti, W, V, Y, Zn, Zr, Bi, Hf. Referenční materiály dodány s certifikátem složení. WDS software 113 Požadována plná softwarová integrace s EDS systémem v rámci jednoho softwaru. 114 Simultání EDS-WDS kvantitativní analýza s možností volby prvků analyzovaných WDS nebo EDS podle požadavků uživatele. 115 Analytické funkce umožňující akvizici spektrálních scanů, ověření přítomnosti prvku ve vzorku a kvantitativní analýzu s použitím standardů. 116 Automatická kalibrace detektorů
3 117 Minimálně jedna offline licence dodaného WDS softwaru pro dalšího uživatele. EBSD detektor 118 EBSD detektor jehož funkčnost je zaručena v celém rozsahu pracovních podmínek. 119 Rozlišení kamery detektoru EBSD 640 x 480 px 120 Framerate EBSD detektoru 800 fps 121 Součástí dodávky EBSD systému je i FSD detektor (forward scattered detector). 122 Dodání a zajištění výměny fosforových stínítek EBSD detektoru v ceně dodávky v počtu alespoň 2 ks EBSD software 123 Software pro akvizici a analýzu EBSD dat umožňuje úplnou dostupnost všech funkcí k ovládání EBSD detektoru a podmínek analýzy a akvizice dat, dále umožňuje minimálně konstrukci map IPF (inverse pole figure), pólových obrazců, inverzních pólových obrazců, výpočet ODF/MDF funkcí (orientation/misorientation distribution function), analýzu textury, filtraci dat, manuální a podmíněný výběr dat v mapách, export vybraných dat do samostatných datasetů a vytváření vlastních databází krystalografických dat a jejich neomezené použití v rámci EBSD softwaru. 124 Alespoň dvě časově neomezené databáze krystalografických dat rganických látek s úplnou přístupností ze softwaru ovládajícího EBSD systém. 125 EBSD software je plně integrován s EDS softwarem v rámci jednoho softwarového rozhraní, umožňuje simultání akvizici EBSD-EDS dat a podporu identifikace krystalové struktury daty z EDS. 126 Podpora EBSD analýzy v režimu 3D. 127 Minimálně jedna offline licence dodaného EBSD softwaru a databází pro dalšího uživatele. Software mikroskopu 128 Automatické nastavení jas-kontrast (ACB), zaostření (AF) a stigmátorů. 129 Funkce nastavení dynamického fokusu na hodnotu Softwarová rotace obrazu a korekce náklonu vzorku. 131 Současné zobrazení alespoň dvou živých obrazů. 132 Umožňuje snímat obrazy 16 bitově s maximálním rozlišením alespoň 250 Mpx 133 Obrazové formáty minimálně TIFF, BMP, JPG. 134 Integrovaný software pro základní obrazovou analýzu, vkládání měřítek do snímků a vytváření protokolu o pozorování. 135 Integrovaný software pro měření vzdáleností, úhlů a ploch v živém i uloženém obrazu SEM. 136 Integrované ovládání FIB. 137 Integrované ovládání nmanipulátoru. 138 Automatické operace k produkci TEM lamel na zvolených lokacích. 139 Spolupráce mezi mikroskopem, FIB a EDS-EBSD analytickými detektory umožňující 3D akvizice dat a rekonstrukce. 140 Možnost 3D zobrazení povrchu vzorku. 141 Software umožňuje načtení obrazu pomocí alespoň jednoho z instalovaných detektorů (např. SE detektoru), import obrazu vzorků pořízený jiným zařízením, registraci obrazu a použití pro navigaci mezi analyzovanými oblastmi na vzorku. 142 Musí umožňovat snímání videosekvencí obrazu analyzovaného vzorku. 143 Automatizované snímání, spojení a ukládání snímků definovaných oblastí. 144 Umožňuje zobrazit a snímat obrazy v kombinaci signálů SE a BSE (např. obraz 50% v SE a 50% v BSE) Řídící počítač pro mikroskop 145 Typ PC - pracovní stanice (workstation) kompatibilní s pracovními stanicemi zadavatele. 146 bitová verze) a dvěma monitory s úhlopříčkou systémů. 149 Operační paměť alespoň 32 GB pevné disky s kapacitou pro každý z nich alespoň 1 TB 151 Barevná laserová tiskárna formátu A4 s rozlišením tisku minimálně 1200 dpi 152 Řídící panel ovládání mikroskopu. 153 Klávesnice česká (qwerty) USB a optická nebo laserová bezdrátová multifunkční myš Řídící počítač pro EDS, WDS a EBSD 154 Typ PC - pracovní stanice (workstation) kompatibilní s pracovními stanicemi zadavatele. 155 bitová verze) a s úhlopříčkou systémů 158 Operační paměť alespoň 32 GB pevné disky s kapacitou pro každý z nich. alespoň 1 TB Pomocná zařízení nutná k provozu mikroskopu + další požadavky v ceně dodávky 160 Systém chlazení (je-li nutný). 161 Kompresor pro stlačený vzduch (je-li nutný). 162 UPS schopna udržet mikroskop i nutná zařízení v provozu nejméně 1 hodinu. 163 Aktivní systém kompenzace elektromagnetického rušení s potlačením nejméně 30x včetně stejnosměrné složky. 164 Systém pro analýzu tloušťky a chemického složení tenkých vrstev a multivrstev plně integrovaný do analytického a ovládacího softwaru 165 Jedna výměna katody zdarma zahrnutá v ceně dodávky 166 Další dvě výměny katody zdarma v ceně dodávky Hodnotící parametr 167 Reaktivní a prediktivní softwarová korekce driftu Hodnotící parametr 2. Prodávající ke splnění závazků ze Smlouvy Kupujícímu dodá, nainstaluje, otestuje Číslo Technické a funkční vlastnosti Požadovaná hodnota Garantovaná hodnota Technické požadavky na řádkovací elektronový mikroskop (FEGSEM) s FIB a detektory EDS, WDS a EBSD Položky požadovaného systému 1 Optický systém rastrovacího elektronového mikroskopu 2 Detekční systém rastrovacího elektronového mikroskopu 3 Pracovní komora elektronového mikroskopu 4 Stolek mikroskopu 5 Systém fokusovaného iontového svazku a zařízení pro vstřikování plynů (FIB, GIS) 6 Nmanipulátor 7 Detektor EDS 8 EDS software 9 Detektor WDS 10 WDS software 11 EBSD detektor 12 EBSD software 13 Software mikroskopu 14 Řídící počítač pro mikroskop
4 15 Řídící počítač pro EDS, WDS a EBSD 16 Pomocná zařízení nutná k provozu mikroskopu + další požadavky v ceně dodávky Optický systém rastrovacího elektronového mikroskopu 17 Jako zdroj elektronů je požadován Shottkyho emitor s vysokým jasem. 18 Dopadová energie emitovaných elektronů, měnitelná kontinuálně, v rozsahu alespoň 0,2-30 kev 19 Dosažitelná hodnota proudu svazku měřeného na Faradayově cele 100 na 20 Garantovaná stabilita proudu elektronového svazku (měřená na Faradayově cele po instalaci) s možnou odchylkou do max. +/- 0,5 % za hodinu a +/- 1% za 12 hodin 21 Rozlišení v SE při urychlovacím napětí 30 kv; ověřitelné na standardizovaném vzorku Au-C (gold on carbon). 1,2 nm 22 Rozlišení v SE při urychlovacím napětí 15 kv; ověřitelné na standardizovaném vzorku Au-C (gold on carbon). 1,5 nm 23 Objektivová čočka umožňuje práci v módu bez magnetického pole na vzorku. 24 Diferenční čerpání prostoru elektronového zdroje a optiky dostatečně účinnou vývěvou. 25 Automatické a manuální seřízení elektronového děla a optického systému. 26 Spojité nastavení proudu svazku v plném rozsahu urychlovacího napětí mikroskopu 27 Elektronový mikroskop vybaven systémem snížení rychlosti a energie dopadajících elektronů. Detekční systém rastrovacího elektronového mikroskopu 28 Detektor sekundárních elektronů (SE) uvnitř analytické komory. 29 Detektor sekundárních elektronů (SE) integrovaný do elektronového tubusu. 30 Detektor sekundárních elektronů (SE) určený pro práci v modu nízkého vakua. 31 Detektor zpětně odražených elektronů (BSE) instalovaný v rámci pólového nástavce nebo motorizovaný, výsuvný detektor zpětně odražených elektronů s minimálním rozlišením (detektor plně ovladatelný z prostředí operačního softwaru) alespoň 0,1 Z (atomového čísla) 32 Simultánní akvizice signálu z alespoň dvou libovolných detektorů. 33 Minimální velikost zorného pole bez deformace obrazu při použití nejmenšího možného zvětšení alespoň 50 mm 34 Integrovaná detekce a měření proudu absorbovaných elektronů. 35 Detekce a možnost zobrazení proudu elektronů absorbovaných vzorkem (EBIC). 36 Součástí dodávky je i standard částic zlata na uhlíku pro ověření rozlišení mikroskopu. Pracovní komora elektronového mikroskopu 37 Velikost pracovní komory elektronového mikroskopu a její kompletní konfigurace musí umožnit instalaci všech požadovaných zařízení a detektorů bez omezení jejich deklarovaných funkcí a použití požadované zadavatelem. 38 Systém ochrany nebo bezpečnostní prvek, který zastaví posun stolku mikroskopu se vzorkem v případě, že se dotkne kterékoli vnitřní části komory mikroskopu. 39 Integrované aktivní odpružení komory v rámu mikroskopu. 40 Přístup do komory mikroskopu pro velké vzorky odsunutím či odklopením jedné stěny komory. Musí být možné bez použití nářadí. 41 Maximální rozměry vzorků zakládaných přímo do pracovní komory s možností neomezeného zobrazení a analýzy celého povrchu vzorku: délka x šířka x výška min. 120 x 100 x 50 mm 42 Optimalizované geometrické uspořádání analytických detektorů umožńující simultánní EDS-EBSD a EDS-WDS analýzu. 43 Optimalizované porty pro montáž detekčních systémů elektronového mikroskopu, detektorů EDS, WDS a EBSD, IR kamery a plazmového dekontaminátoru. Geometrie portů musí zaručit plnou funkčnost všech zařízení. Instalovaná zařízení se nesmí vzájemně omezovat. 44 Počet volných portů na pracovní komoře elektronového mikroskopu pro budoucí instalaci dalších zařízení a detektorů alespoň 1 Hodnotící parametr 45 Plazmový dekontaminátor pro eliminaci uhlovodíkové kontaminace a čištění povrchu vzorků a vnitřních prostor pracovní komory elektronového mikroskopu. 46 Provoz dekontaminátoru neohrožuje vakuový systém mikroskopu. 47 IR kamera pro sledování vnitřku pracovní komory elektronového mikroskopu a polohy vzorku a detektorů. 48 Vakuový systém umožňující dosažení čistého vakua. V případě, že čerpací systém obsahuje olejovou vývěvu, pak čerpací systém je vhodným způsobem zajištěn proti vniku olejových par do pracovní komory elektronového mikroskopu za jakýchkoli okolností (i při odstávce nebo poruše systému). 49 Tlak v komoře je měřen vhodným způsobem v celém rozsahu pracovních podmínek a zobrazen pro kontrolu uživatelem. 50 Zavzdušňování komory elektronového mikroskopu kompatibilní s použitím dusíku minimální čistoty Čerpání a zavzdušnění zakládací komory je automatizováno a ovládáno pomocí softwaru. 52 Čas potřebný k výměně vzorku kratší než 15 minut 53 Elektronový mikroskop musí být vybaven možností práce v režimu nízkého vakua při tlaku v rozsahu (tlak v pracovní komoře) alespoň Pa Stolek mikroskopu 54 3-osý posuv včetně rotace v rovině vzorku a náklonu stolku plně funkční pro všechny dodávané držáky vzorků, všechny pohyby motorizované. 55 Softwarově ovládaný, automatizovaný stolek s posuvem v osách X x Y x Z alespoň 120 x 100 x 50 mm 56 Opakovatelnost nájezdu stolku s přesností alespoň 1 mikrometr 57 Využitelný rozsah náklonu stolku mikroskopu v obou směrech (-X až + X ) alespoň -5 až +70 Hodnotící parametr 58 Pozice zobrazované oblasti se zachovává při náklonu i rotaci vzorku. 59 Držák pro EBSD analýzu TEM fólií Systém fokusovaného iontového svazku a zařízení pro vstřikování plynů (FIB, GIS) 60 Zdroj iontů Ga LMIS (Ga Liquid Metal Ion Source). 61 Urychlovací napětí měnitelné kontinuálně v rozsahu alespoň 0,5-30 kv 62 Rozlišení při nejvyšším pracovním urychlovacím napětí 2,5 nm 63 Maximální dosažitelný proud svazku alespoň 50 na 64 Zajištění EDS a EBSD analýz v režimu 3D. 65 Systém je vybaven HW i SW zaručujícím plnou funkčnost FIB a GIS. 66 Musí umožňovat vytváření vlastních skriptů pro automatizaci FIB/SEM operací. 67 Automatické procedury pro fabrikaci TEM lamel. 68 Motorizovaný posuv systému vstřikování plynů. 69 Nejméně tři vstřikovací trysky. 70 Systém připouštění prekurzorů pro depozici minimálně C, Pt, W na povrchu vzorku s možností přidání připouštění plynného kyslíku z externího zdroje. 71 Zásobníky prekurzorů vybaveny automatickým řízením teploty. Nmanipulátor 72 Integrovaný nmanipulátor schopný vyzdvihnout TEM lamelu a umístit ji na připravený přípravek, ovládání integrováno do softwaru elektronového mikroskopu. Nmanipulátor nesmí být připevněn na stolek mikroskopu. 73 Systém rychlé výměny jehly nmanipulátoru. 74 Součástí dodávky jsou náhradní hroty do manipulátoru v počtu minimálně 5 ks 75 Nejmenší krok v osách X, Y, Z < 50 nm Detektor EDS 76 Detektor typu SDD, bez nutnosti chlazení kapalným dusíkem s garantovu funkčností v celém rozsahu pracovních podmínek. 77 Detektor vybaven motorickým vysunováním a zasunováním do pracovní pozice. 78 Velikost aktivní plochy snímacího čipu detektoru min. 80 mm 2 79 Schopnost detekce, kvalitativní a kvantitativní analýzy prvků v rozsahu od Be po Pu. 80 Garantovaná hodnota energiového rozlišení na manganu (Mn Ka) měřená v souladu s ISO 15632:2012 a ověřitelná měřením po instalaci detektoru 125 ev
5 81 Garantovaná hodnota energiového rozlišení na uhlíku (C Ka) měřená v souladu s ISO 15632:2012 a ověřitelná měřením po instalaci detektoru 50 ev EDS software 82 Multiuživatelský systém. 83 Umožňuje snímání obrazových signálů z mikroskopu. 84 Základní obrazová analýza (jas, kontrast, gamma korekce atd.). 85 Musí umožňovat kvantitativní bezstandardovou analýzu. 86 Umožňuje práci se standardy a vytváření vlastních knihoven standardů. 87 Musí umožňovat export/import spektra v otevřeném formátu (EMSA). 88 Volba analýz v bodě, v oblasti libovolně zvolené uživatelem, v linii a v definovaném rastru. U všech typů analýz je automaticky uloženo celé spektrum v každém bodě analýzy. 89 Vytváření map prvků s možností získání rozložení prvků v libovolné oblasti a podél čáry zvolené v nasnímané oblasti. 90 Možnost vytvářet kvantitativní mapy rozložení prvků. 91 Maximální rozlišení prvkové distribuční mapy EDS alespoň 4096 x 4096 pixelů 92 Vytváření kvantitativních linescanů s rozlišením až 8192 bodů 93 Automatická detekce fází, tvorba fázových map na základě chemického složení, modální analýza. 94 Umožňuje ovládat posuvy stolku mikroskopu. 95 Umožňuje automatizaci procesu snímání větších ploch zahrnující snímkování povrchu vzorků a akvizici distribučních prvkových map, umožňuje rozčlenění analyzované oblasti na dílčí celky následované akvizicí dat a jejich následné spojení do jednoho datového výstupu. 96 Kompenzace driftu vzorku v průběhu analýzy. 97 Software umožňuje plnou integraci EDS systému s WDS systémem. 98 Software umožňuje plnou integraci EDS a EBSD systémů a plnou podporu práce obou systémů v režimu 3D. 99 Software zahrnuje automatizovu částicovou analýzu i z více analyzovaných polí s vyhodnocením dat zahrnující základní charakteristiky detekovaných částic (např. velikost, tvar atd.) a chemické složení částic. 100 Musí umožňovat plánování automatizovaných analytických úloh za účelem automatické akvizice dat bez nutnosti dalšího zásahu uživatele, zahrnuje také možnost registrace libovolného snímku pořízeného v rámci softwaru a jeho využití pro navigaci a stvení polohy analytických bodů (ploch). 101 Musí umožňovat řešení interferencí čar analyzovaných prvků dekonvolučními metodami a pulse pile-up korekci (korekce pile-up píků až minimálně třetího řádu) v průběhu akvizice dat pro veškerá kvantitativní data, prvkové distribuční mapy a liniové analýzy 102 Minimálně jedna offline licence dodaného EDS softwaru pro dalšího uživatele. Detektor WDS 103 WDS systém umožňuje detekci, kvalitativní a kvantitativní analýzu prvků od Be do Pu. 104 WDS systém umožňuje analýzu čar prvků v rozsahu energií rtg. záření (požadovaný rozsah kontinuálně pokryt vhodnými difrakčními krystaly) alespoň 100 ev - 10 kev 105 WDS systém musí umožnit montáž až 6 difrakčních krystalů najednou 106 WDS systém musí být vybaven difrakčními krystaly optimalizovanými pro analýzu C, N a O. 107 WDS spektrometr je vybaven vstupní štěrbinou (umístěnou před detektorem) s motorizovaným ovládáním její pozice a šířky pro optimalizaci intenzity vstupního signálu a poměru intenzit na peaku a pozadí. 108 Integrovaný systém měření proudu svazku pro kvantitativní WDS analýzu. 109 WDS spektrometr musí být vybaven dvěma detektory na bázi průtokového proporcionálního čítače a proporcionálního čítače se stálou náplní vhodného plynu (např. Xe) pro maximální efektivitu detekce rtg záření v požadovaném energiovém rozsahu, oba detektory umožňují detekci rtg. záření jak odděleně tak i současně podle volby uživatele. 110 Garantovaná intenzita signálu na čáře C Ka (měřená na standardu čistého uhlíku), poměr intenzity peaku k pozadí (P/B) 400 pulsů za sekundu na 1 na, P/B Garantovaná intenzita signálu na čáře Fe Ka (měřená na standardu čistého železa), poměr intenzity peaku k pozadí (P/B) 1000 pulsů za sekundu na 1 na, P/B Součástí dodávky je sada standardů prvků/sloučenin pro kvantitativní WDS-EDS analýzu. Pokryty alespoň prvky: Al, Ba, Be, B, Ca, Ce, Cd, Cl, Cr, Co, C, Cu, Ge, Au, In, Ir, F, Fe, K, La, Pb, Mn, Mo, Mg, N, Na, Ni, Nb, P, Pd, Pt, Re, Rh, S, Se, Sc, Si, Sr, Ag, Ta, Te, Sb, Sn, Ti, W, V, Y, Zn, Zr, Bi, Hf. Referenční materiály dodány s certifikátem složení. WDS software 113 Požadována plná softwarová integrace s EDS systémem v rámci jednoho softwaru. 114 Simultání EDS-WDS kvantitativní analýza s možností volby prvků analyzovaných WDS nebo EDS podle požadavků uživatele. 115 Analytické funkce umožňující akvizici spektrálních scanů, ověření přítomnosti prvku ve vzorku a kvantitativní analýzu s použitím standardů. 116 Automatická kalibrace detektorů 117 Minimálně jedna offline licence dodaného WDS softwaru pro dalšího uživatele. EBSD detektor 118 EBSD detektor jehož funkčnost je zaručena v celém rozsahu pracovních podmínek. 119 Rozlišení kamery detektoru EBSD 640 x 480 px 120 Framerate EBSD detektoru 800 fps 121 Součástí dodávky EBSD systému je i FSD detektor (forward scattered detector). 122 Dodání a zajištění výměny fosforových stínítek EBSD detektoru v ceně dodávky v počtu alespoň 2 ks EBSD software Software pro akvizici a analýzu EBSD dat umožňuje úplnou dostupnost všech funkcí k ovládání EBSD detektoru a podmínek analýzy a akvizice dat, dále umožňuje minimálně konstrukci map IPF (inverse pole figure), pólových obrazců, inverzních pólových obrazců, 123 výpočet ODF/MDF funkcí (orientation/misorientation distribution function), analýzu textury, filtraci dat, manuální a podmíněný výběr dat v mapách, export vybraných dat do samostatných datasetů a vytváření vlastních databází krystalografických dat a jejich neomezené použití v rámci EBSD softwaru. 124 Alespoň dvě časově neomezené databáze krystalografických dat rganických látek s úplnou přístupností ze softwaru ovládajícího EBSD systém. 125 EBSD software je plně integrován s EDS softwarem v rámci jednoho softwarového rozhraní, umožňuje simultání akvizici EBSD-EDS dat a podporu identifikace krystalové struktury daty z EDS. 126 Podpora EBSD analýzy v režimu 3D. 127 Minimálně jedna offline licence dodaného EBSD softwaru a databází pro dalšího uživatele. Software mikroskopu 128 Automatické nastavení jas-kontrast (ACB), zaostření (AF) a stigmátorů. 129 Funkce nastavení dynamického fokusu na hodnotu Softwarová rotace obrazu a korekce náklonu vzorku. 131 Současné zobrazení alespoň dvou živých obrazů. 132 Umožňuje snímat obrazy 16 bitově s maximálním rozlišením alespoň 250 Mpx 133 Obrazové formáty minimálně TIFF, BMP, JPG. 134 Integrovaný software pro základní obrazovou analýzu, vkládání měřítek do snímků a vytváření protokolu o pozorování. 135 Integrovaný software pro měření vzdáleností, úhlů a ploch v živém i uloženém obrazu SEM. 136 Integrované ovládání FIB. 137 Integrované ovládání nmanipulátoru. 138 Automatické operace k produkci TEM lamel na zvolených lokacích. 139 Spolupráce mezi mikroskopem, FIB a EDS-EBSD analytickými detektory umožňující 3D akvizice dat a rekonstrukce. 140 Možnost 3D zobrazení povrchu vzorku. 141 Software umožňuje načtení obrazu pomocí alespoň jednoho z instalovaných detektorů (např. SE detektoru), import obrazu vzorků pořízený jiným zařízením, registraci obrazu a použití pro navigaci mezi analyzovanými oblastmi na vzorku.
6 142 Musí umožňovat snímání videosekvencí obrazu analyzovaného vzorku. 143 Automatizované snímání, spojení a ukládání snímků definovaných oblastí. 144 Umožňuje zobrazit a snímat obrazy v kombinaci signálů SE a BSE (např. obraz 50% v SE a 50% v BSE) Řídící počítač pro mikroskop 145 Typ PC - pracovní stanice (workstation) kompatibilní s pracovními stanicemi zadavatele. 146 bitová verze) a dvěma monitory s úhlopříčkou systémů. 149 Operační paměť alespoň 32 GB pevné disky s kapacitou pro každý z nich alespoň 1 TB 151 Barevná laserová tiskárna formátu A4 s rozlišením tisku minimálně 1200 dpi 152 Řídící panel ovládání mikroskopu. 153 Klávesnice česká (qwerty) USB a optická nebo laserová bezdrátová multifunkční myš Řídící počítač pro EDS, WDS a EBSD 154 Typ PC - pracovní stanice (workstation) kompatibilní s pracovními stanicemi zadavatele. 155 bitová verze) a s úhlopříčkou systémů 158 Operační paměť alespoň 32 GB pevné disky s kapacitou pro každý z nich. alespoň 1 TB Pomocná zařízení nutná k provozu mikroskopu + další požadavky v ceně dodávky 159 Systém chlazení (je-li nutný). 160 Kompresor pro stlačený vzduch (je-li nutný). 161 UPS schopna udržet mikroskop i nutná zařízení v provozu nejméně 1 hodinu. 162 Aktivní systém kompenzace elektromagnetického rušení s potlačením nejméně 30x včetně stejnosměrné složky. 163 Systém pro analýzu tloušťky a chemického složení tenkých vrstev a multivrstev plně integrovaný do analytického a ovládacího softwaru 164 Jedna výměna katody zdarma zahrnutá v ceně dodávky 165 Další dvě výměny katody zdarma v ceně dodávky Hodnotící parametr Hodnotící parametr (Ano/N 166 Reaktivní a prediktivní softwarová korekce driftu Hodnotící parametr Hodnotící parametr (Ano/N
40 Přístup do komory mikroskopu pro velké vzorky odsunutím či odklopením jedné stěny komory. Musí být možné bez použití nářadí.
Příloha č. 1 - Technické podmínky - část 1 Řádkovací elektronový mikroskop SEM s EDS, EBSD detektorem a zkušebním zařízením pro mechanické a tepelné zatěžování vzorků 1. Kupující v zadávacím řízení poptal
VícePříloha č. 1 - Technické podmínky Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí
Příloha č. 1 - Technické podmínky Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí 1. Kupující v zadávacím řízení poptal dodávku zařízení vyhovujícího následujícím technickým požadavkům: Číslo Technické
VíceDodávka analytického rastrovacího elektronového mikroskopu s vysokým rozlišením vč. zařízení na přípravu vzorků pro projekt NTIS
Název veřejné zakázky: Dodávka analytického rastrovacího elektronového mikroskopu s vysokým rozlišením vč. zařízení na přípravu vzorků pro projekt NTIS Odůvodnění vymezení technických podmínek veřejné
VíceElektronová Mikroskopie SEM
Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne
VícePříloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)
Příloha C zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013 TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) 1. část VZ: Laboratorní mikroskop s digitální kamerou a PC Položka č.1
VíceNITON XL3t GOLDD+ Nový analyzátor
Nový analyzátor NITON XL3t GOLDD+ Ruční rentgenový analyzátor NITON XL3t GOLDD+ je nejnovější model od Thermo Fisher Scientific. Navazuje na úspěšný model NITON XL3t GOLDD. Díky špičkovým technologiím
VíceElektronová mikroskopie a mikroanalýza-2
Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2 elektronové dělo elektronové dělo je zařízení, které produkuje elektrony uspořádané do svazku (paprsku) elektrony opustí svůj zdroj katodu- po dodání určité množství
VíceAnalytické metody využívané ke stanovení chemického složení kovů. Ing.Viktorie Weiss, Ph.D.
Analytické metody využívané ke stanovení chemického složení kovů. Ing.Viktorie Weiss, Ph.D. Rentgenová fluorescenční spektrometrie ergiově disperzní (ED-XRF) elé spektrum je analyzováno najednou polovodičovým
VíceTechniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
VíceNákup strojního vybavení dílenské víceúčelové haly
Technické podmínky Veřejné zakázky Nákup strojního vybavení dílenské víceúčelové haly Obecné technické podmínky platné pro celou dodávku Kvalitní a spolehlivé stroje. Součástí dodávky budou všechny komponenty
VíceTechnická specifikace předmětu veřejné zakázky
předmětu veřejné zakázky Příloha č. 1c Zadavatel požaduje, aby předmět veřejné zakázky, resp. přístroje odpovídající jednotlivým částem veřejné zakázky splňovaly minimálně níže uvedené parametry. Část
VíceFotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm
VíceKupní smlouva. v platném znění
Kupní smlouva uzavřená dle ustanovení 2079 a násl. zákona č. 89/2012 Sb., občanského zákoníku, Níže uvedeného dne, měsíce a roku uzavřeli: v platném znění 1. Ústav molekulární genetiky AV ČR, v.v.i. se
VíceOdůvodnění veřejné zakázky SUSEN Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí dle 156 zákona č. 137/2006 Sb. a vyhlášky č. 232/2012 Sb.
Odůvodnění veřejné zakázky SUSEN Rastrovací elektronový mikroskop pro aktivní prostředí dle 156 zákona č. 137/2006 Sb. a vyhlášky č. 232/2012 Sb. Odůvodnění účelnosti veřejné zakázky podle 2 vyhlášky 232/2012
VíceElektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
VíceZADÁVACÍ DOKUMENTACE
ZADÁVACÍ DOKUMENTACE ZADÁVACÍ PODMÍNKY NADLIMITNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY NA DODÁVKY dle zákona o veřejných zakázkách č. 137/2006 Sb. ve znění pozdějších předpisů (dále jen zákon nebo ZVZ ) Název veřejné zakázky:
VíceElektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová
VíceODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY s názvem KONFOKÁLNÍ MIKROSKOPIE - CEITEC MU II. ČÁST 2 vyhotovené podle 156 zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, v platném znění (dále jen Zákon o VZ) 1. ODŮVODNĚNÍ
VíceANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek
/ 1 ZPRACOVAL Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL PhDr. Margaréta Musilová Mestský ústav ochrany pamiatok Uršulínska 9 811 01 Bratislava OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Energiově-disperzní
VíceMETODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
VíceZadávací dokumentace Příloha výzvy k podání nabídek
Zadávací dokumentace Příloha výzvy k podání nabídek Název programu: Registrační číslo projektu Název projektu: Operační program Vzdělávání pro konkurenceschopnost CZ.1.07/1.5.00/34.0116 Modernizace výuky
VíceA. Technická specifikace pro výběrové řízení na Dynamický smykový reometr
A. Technická specifikace pro výběrové řízení na Dynamický smykový reometr Popis systému: Výzkumnický model dynamického smykového reometru pro stanovení reologických vlastností asfaltových pojiv podle metod
VíceProč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
VíceSpecifikace VT 11 ks. Ultrabook dle specifikace v příloze č. 1 11 ks. 3G modem TP-LINK M5350
Specifikace VT 11 ks. Ultrabook dle specifikace v příloze č. 1 Prodloužená záruka 3 roky 11 ks. 3G modem TP-LINK M5350 11 ks. MS Office 2013 pro podnikatele CZ 11 ks. brašna 11 ks. bezdrátová myš 5 ks.
VíceMěření optických vlastností materiálů
E Měření optických vlastností materiálů Úkoly : 1. Určete spektrální propustnost vybraných materiálů různých typů stavebních skel a optických filtrů pomocí spektrofotometru 2. Určete spektrální odrazivost
VíceSpektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie
Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. rentgenová spektroskopická metoda k určen
VíceANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX
/ 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)
VíceREM s ultravysokým rozlišením JEOL JSM 6700F v ÚPT AVČR. Jiřina Matějková, Antonín Rek, ÚPT AVČR, Královopolská 147, 61264 Brno
REM s ultravysokým rozlišením JEOL JSM 6700F v ÚPT AVČR Jiřina Matějková, Antonín Rek, ÚPT AVČR, Královopolská 147, 61264 Brno Projekt ÚPT 6351 na r. 2002 - JEOL JSM6700F- Cíl: Vybudovat pracoviště se
VíceZADÁVACÍ DOKUMENTACE VEŘEJNÉ ZAKÁZKY
ZADÁVACÍ DOKUMENTACE VEŘEJNÉ ZAKÁZKY Nadlimitní zakázka zadaná v otevřeném řízení dle 56 zákona č. 134/2016 Sb., o zadávání veřejných zakázek, ve znění pozdějších předpisů Předmět veřejné zakázky Extrakorporální
VícePředmětem nabídky musí být nová a nepoužitá technika. Celková cena musí být včetně ceny za dopravu do místa plnění zakázky.
Příloha č. 1 Rozsah a technická specifikace zakázky Předmětem zakázky je dodání ICT techniky a dalšího zařízení pro učebnu Centra Kašpar, o. s. Předmětem nabídky musí být nová a nepoužitá technika. Celková
VíceODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY s názvem MIKROSKOPY PRO CEITEC MU - ČÁST 8 vyhotovené podle 156 zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, 1. ODŮVODNĚNÍ ÚČELNOSTI VEŘEJNÉ ZAKÁZKY v platném znění (dále jen
Více4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4.1 Mikrostruktura stavebních hmot 4.1.1 Úvod Vlastnosti pevných látek, tak jak se jeví při makroskopickém zkoumání, jsou obrazem vnitřní struktury materiálu. Vnitřní
VíceAnalýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod
1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek
VíceINTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
VíceVlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Mikroskopie Rozlišovací schopnost lidského oka cca 025 0,25mm Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VíceOdůvodnění vymezení technických podmínek podle 156 odst. 1 písm. c) zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách
Název veřejné zakázky: Laserový 3D skener II Odůvodnění vymezení technických podmínek podle 156 odst. 1 písm. c) zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách Technická podmínka: Odůvodnění HW specifikace
VíceLaserový systém pro pulzní fototepelnou radiometrii
Název veřejné zakázky: Laserový systém pro pulzní fototepelnou radiometrii Odůvodnění vymezení technických podmínek podle 156 odst. 1 písm. c) zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách Technická podmínka:
VíceMikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 tel.: +420 485 353 006 cxi.tul.cz
Mikroskopie, zobrazovací technika Vizualizační technika Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení je optické měřící zařízení pro měření teplot (VISIOFEM Temperature
VíceDokumentace. k projektu Czech POINT. Technická specifikace hardwarového a softwarového vybavení
Dokumentace k projektu Czech POINT Technická specifikace hardwarového a softwarového vybavení Vytvořeno dne: 11.4.2007 Aktualizováno: 13.3.2009 Verze: 1.3 2009 MVČR Obsah 1. Technická specifikace hardwarového
VíceMeo S-H: software pro kompletní diagnostiku intenzity a vlnoplochy
Centrum Digitální Optiky Meo S-H: software pro kompletní diagnostiku intenzity a vlnoplochy Výzkumná zpráva projektu Identifikační čí slo výstupu: TE01020229DV003 Pracovní balíček: Zpracování dat S-H senzoru
VíceElektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II
Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda
VíceDokumentace. k projektu Czech POINT. Technická specifikace hardwarového a softwarového vybavení
Dokumentace k projektu Czech POINT Technická specifikace hardwarového a softwarového vybavení Vytvořeno dne: 11.4.2007 Aktualizováno: 3.3.2010 Verze: 1.4 2009 MVČR Obsah 1. Technická specifikace hardwarového
VíceMikroskopie a zobrazovací technika. Studentská 1402/ Liberec 1 tel.: cxi.tul.cz
Mikroskopie a zobrazovací technika Oddělení vozidel a motorů Vizualizační technika Sledování dějů ve spalovacím motoru Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení
VíceMetodický postup stanovení kovů v půdách volných hracích ploch metodou RTG.
Strana : 1 1) Význam a použití: Metoda je používána pro stanovení prvků v půdách volných hracích ploch. 2) Princip: Vzorek je po odběru homogenizován, je stanovena sušina, ztráta žíháním. Suchý vzorek
VíceNATIS s.r.o. Seifertova 4313/10 767 01 Kroměříž T:573 331 563 E:natis@natis.cz www.natis.cz. Videoendoskopy a příslušenství
Videoendoskopy a příslušenství Strana 2 Úvod Jsme rádi, že vám můžeme představit katalog videoendoskopů a jejich příslušenství. Přenosné videoendoskopy model V55100 a X55100 s velkým barevným LCD displejem,
VíceCMI900. Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků a jejich prvkového složení metodou XRF. Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý
COATINGS Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků a jejich prvkového složení metodou XRF Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý CMI9 : Garantovaná kvalita a snížené náklady Elektronika
VícePříloha č. 1 zadávací dokumentace - Technická specifikace
Obsah Příloha č. 1 zadávací dokumentace - Technická specifikace Stávající stav... 2 Část č. 1 veřejné zakázky - Tablety posádek... 4 Část č. 2 veřejné zakázky - Tiskárny... 5 Část č. 3 veřejné zakázky
VíceMěření optických vlastností materiálů
E Měření optických vlastností materiálů Úkoly : 1. Určete spektrální propustnost vybraných materiálů různých typů stavebních skel a optických filtrů pomocí spektrofotometru 2. Určete spektrální odrazivost
VíceZískání obrazu Dlouhodobá reprodukovatelnost standardního nastavení expozice Homogenita receptoru obrazu Nekorigovaný vadný prvek detektoru
Přílohy Tabulka č. 1: Minimální rozsah a četnost zkoušek provozní stálosti Test Četnost Základní kontrolní parametry Vizuální kontrola negatoskopu Kontrola artefaktů obrazu Vizuální kontrola CR systému
VíceTechnické podmínky "SUSEN - Zařízení pro TEM laboratoř"
Číslo Technické a funkční vlastnosti Technické podmínky "SUSEN - Zařízení pro TEM laboratoř" 1. Kupující v zadávacím řízení poptal dodávku zařízení vyhovujícího následujícím technickým požadavkům: Předmětem
VíceDifrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů Ondřej Ticháček, PORG, ondrejtichacek@gmail.com Eva Korytiaková, Gymnázium Nové Zámky, korpal@pobox.sk Abstrakt: Jak vypadá vnitřek hmoty? Lze spatřit
VíceODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY DLE 156 ZÁKONA Č. 137/2006 SB., O VEŘEJNÝCH ZAKÁZKÁCH
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY DLE 156 ZÁKONA Č. 137/2006 SB., O VEŘEJNÝCH ZAKÁZKÁCH V SOULADU S VYHL. Č. 232/2012 SB., O PODROBNOSTECH ROZSAHU ODŮVODNĚNÍ ÚČELNOSTI VEŘEJNÉ ZAKÁZKY A ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY
VíceKonfigurace zařízení - Střední průmyslová škola Edvarda Beneše a Obchodní akademie Břeclav
Konfigurace zařízení - Střední průmyslová škola Edvarda Beneše a Obchodní akademie Břeclav P.č. 1 Stolní PC sestava + SW 17ks Procesor čtyř jádrový procesor, benchmark min. 3,350 Paměti min 4GB Grafická
Více10. Tandemová hmotnostní spektrometrie. Princip tandemové hmotnostní spektrometrie
10. Tandemová hmotnostní spektrometrie Princip tandemové hmotnostní spektrometrie Informace získávané při tandemové hmotnostní spektrometrii Možné způsoby uspořádání tandemové HS a/ scan fragmentů vzniklých
VíceMetody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka
Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů Pavel Matějka Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů 1. sekundárních iontů - SIMS 1. Princip metody 2. Typy bombardování 3. Analyzátory iontů
VíceZADAVATEL: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Sídlem: Na Slovance 2, Praha 8 doc. Jan Řídký, DrSc., ředitel IČ:
ZADAVATEL: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Sídlem: Na Slovance 2, 182 21 Praha 8 Jednající: doc. Jan Řídký, DrSc., ředitel IČ: 68378271 VEŘEJNÁ ZAKÁZKA: Multifunkční fotoelektronový spektrometr s rychlým
VíceÚstav molekulární a translační medicíny LF UP holografický transmisní mikroskop
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY ve smyslu ust. 156 zákona č. 137/2006 Sb., ve znění pozdějších předpisů (dále jen zákon ) a v souladu s ust. 2 až 8 vyhlášky č. č. 232/2012 Sb. (dále jen vyhláška) VEŘEJNÁ ZAKÁZKA
VíceNázev a specifikace dodávaného zařízení - hardware pro virtuální učebnu Tablet PC
Název a specifikace dodávaného zařízení - hardware pro virtuální učebnu Tablet PC Je-li v zadávací dokumentaci definován konkrétní výrobek nebo technologie, má se za to, že je tím definován minimální požadovaný
VíceRentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm
Rtg. záření: Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm Vznik rtg. záření: 1. Rtg. záření se spojitým spektrem vzniká při prudkém zabrzdění urychlených elektronů.
Vícepříloha C zadávací dokumentace pro veřejnou zakázku malého rozsahu Mikroskopy pro LF MU TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)
příloha C zadávací dokumentace pro veřejnou zakázku malého rozsahu Mikroskopy pro LF MU TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) Část 1 Stereomikroskop s digitální kamerou : - Konstrukce optiky CMO (Common
VícePrincipy a instrumentace
Průtoková cytometrie Principy a instrumentace Ing. Antonín Hlaváček Úvod Průtoková cytometrie je moderní laboratorní metoda měření a analýza fyzikálních -chemických vlastností buňky během průchodu laserovým
VíceI N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í. Počet: 30
Příloha č. 1 - Technické podmínky I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í Technické zadání zakázky na dodávku výpočetní techniky pro Střední odbornou školu a Střední odborné učiliště, Moravské
VícePísemná zpráva zadavatele
Písemná zpráva zadavatele o veřejné zakázce zadávané dle zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, ve znění účinném ke dni zahájení zadávacího řízení (dále jen ZVZ ). Veřejná zakázka Název: Spektrofotometry
VíceKonstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení
Konstrukční varianty systému pro nekoherentní korelační zobrazení Technický seminář Centra digitální optiky Vedoucí balíčku (PB4): prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. Zpracoval: Petr Bouchal Řešitelské organizace:
VíceMetody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie
VícePísemná zpráva zadavatele
Písemná zpráva zadavatele o veřejné zakázce zadávané dle zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, v platném znění (dále jen ZVZ ). Veřejná zakázka Název: Dokumentační systémy Druh veřejné zakázky:
VíceMetody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
VíceZADÁVACÍ DOKUMENTACE
Název zakázky: Dodávka výpočetní techniky ZADÁVACÍ DOKUMENTACE Zadavatel Název: Městské centrum sociálních služeb a prevence Právní forma: Příspěvková organizace Osoba oprávněná jednat jménem zadavatele:
VíceMgr. Jan Marenčík tel ,
Gymnázium, Obchodní akademie a Jazyková škola s právem státní jazykové zkoušky Hodonín, příspěvková organizace Název zakázky: Dodávka technického a programového vybavení počítačové učebny Předmět zakázky
VíceACH 02 VZÁCNÉPLYNY. Katedra chemie FP TUL www.kch.tul.cz VZÁCNÉ PLYNY
VZÁCNÉPLYNY ACH 02 Katedra chemie FP TUL www.kch.tul.cz VZÁCNÉ PLYNY 1 VZÁCNÉ PLYNY 2 Vzácné plyny 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 I II III IV V VI VII VIII I II III IV V VI VII VIII s 2 p
VíceVýzva k podání nabídek
Číslo zakázky: 2011-03 Výzva k podání nabídek Název programu: Registrační číslo projektu Název projektu: Operační program Vzdělávání pro konkurenceschopnost CZ.1.07/1.4.00/21.3287 ZŠ Bulharská a peníze
VíceSpektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE
Spektroskopie Augerových elektronů AES KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE Spektroskopie Augerových elektronů AES Jev Augerových elektronů objeven 1923 - Lise Meitner
VícePříloha č. 2 Technické podmínky
Příloha č. 2 Technické podmínky 1. Integrované zařízení pro skladování a přípravu chemických sloučenin se musí skládat z následujících komponent s příslušnými minimálními parametry: 1.1. Skladovací zařízení
VíceElektronová mikroanalýza trocha historie
Elektronová mikroanalýza trocha historie 1949 - Castaing postavil první mikrosondu s vlnově disperzním spektrometrem a vypracoval teorii 1956 počátek výroby komerčních mikrosond (Cameca) 1965 - počátek
VíceSoubor zařízení (meteostanic) je určen pro monitoring meteorologických parametrů ve venkovním prostředí.
Příloha č. 4 - Technická specifikace Název zařízení/sestavy: Systém plně automatických profesionálních meteostanic Počet kusů: 7 ks samostatných meteostanic v různých sestavách podle specifikace Použití
VíceREFERENČNÍ MATERIÁLY
REFERENČNÍ MATERIÁLY www.spl-bohumin.cz I. REFERENČNÍ MATERIÁLY, CERTIFIKOVANÉ Českým metrologickým institutem : C, S, N v ocelích a litinách OCELI s certifikovanými obsahy C, S, resp. N balení 250 g *
Vícedodání během 2. pololetí 2013, objednáno bude s měsíčním předstihem
Max. cena za kus Max. cena za ks Max. celkem za č. Předmět Počet ks bez DPH vč. DPH položky vč. DPH Požadavky 1 počítače do učebny 13 12 500,00 15 125,00 196 625,00 Parametry: dodání během 2. pololetí
VíceREFERENČNÍ MATERIÁLY
REFERENČNÍ MATERIÁLY 2018.1 www.spl-labmat.cz REFERENČNÍ MATERIÁLY, CERTIFIKOVANÉ Českým metrologickým institutem : C, S, N v ocelích a litinách OCELI s certifikovanými obsahy C, S, resp. N balení 250
VíceDetektory kovů řady Vistus
Technické údaje Detektory kovů řady Vistus Dotykový displej Multifrekvenční technologie Vyšší vyhledávací citlivost Kratší bezkovová zóna Větší odolnost proti rušení 1 Základní popis zařízení Detektory
VíceSKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony
VíceUchazeč není oprávněn nabídnout repasované zboží! Veškeré zboží bude nové. Výkonný stolní PC Základní technické požadavky: Počet jednotek
Dodávka vybavení učebny předtiskové přípravy Příloha č. 2 Technická specifikace Uchazeč není oprávněn nabídnout repasované zboží! Veškeré zboží bude nové. Požadavky: Výkonný stolní PC Základní technické
VíceMetodika testů pro zařízení LZZ
LOKALIZAČNÍ A ZÁZNAMOVÁ ZAŘÍZENÍ Příloha č. 10 k Č.j.: PPR-24824-9/ČJ-2013-990640 Metodika testů pro zařízení LZZ Prováděné testy jsou seskupeny do následujících kategorií: 1. Kontrola dokumentace základní
VíceTechnické parametry příloha č. 2 k veřejné zakázce s názvem: Mikroskopy pro Centrum modelových organismů
Technické parametry příloha č. 2 k veřejné zakázce s názvem: Mikroskopy pro Centrum modelových organismů Část 1 veřejné zakázky: Super-rezoluční mikroskop s možností zobrazování živých dějů - invertovaný
VíceODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY
ODŮVODNĚNÍ VEŘEJNÉ ZAKÁZKY s názvem PULSNÍ LASEROVÁ DEPOZICE CEITEC MU vyhotovené podle 156 zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách, v platném znění (dále jen Zákon o VZ) 1. ODŮVODNĚNÍ ÚČELNOSTI
Víceod 70mm (měřeno od zadní desky s axiálním výstupem) interní prvky opatřeny černou antireflexní vrstvou, centrální trubice s vnitřní šroubovicí
Model QM-1 (s válcovým tubusem) QM-1 je základním modelem řady distančních mikroskopů Questar, které jsou celosvětově oceňovanými optickými přístroji zejména z hlediska extrémně precizní optiky a mechanického
VíceZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části
Víceinstalace, implementace a integrace se systémem spisové služby (SSL)
PŘÍLOHA Č. 1 ZADÁVACÍ DOKUMENTACE TECHNICKÁ SPECIFIKACE ZÁKAZNÍKA 1 Komplexní dodávka interaktivních úředních desek (IUD), včetně instalace, implementace a integrace se systémem spisové služby (SSL) 1.1
VíceStereomikroskop. Stativ pro dopadající světlo
Stereomikroskop Konstrukční typ Greenough Apochromaticky korigovaná optika Zoomovací poměr min. 8:1 Rozsah celkového zvětšení 10x 80x nebo větší (včetně uvedených hodnot, s 10x okuláry, bez předsádky)
VíceVybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
VíceTECHNICKÁ DOKUMENTACE
TECHNICKÁ DOKUMENTACE Dle ustanovení 44 a násl. zákona č. 137/2006 Sb., o veřejných zakázkách (dále jen zákon ) Název veřejné zakázky: Druh veřejné zakázky: Druh zadávacího řízení Obchodní společnost nebo
VíceREFERENČNÍ MATERIÁLY
I. REFEREČÍ MATERIÁLY, CERTIFIKOVAÉ Českým metrologickým institutem : C, S, v ocelích a litinách OCELI s certifikovanými obsahy C, S, resp. balení 250 g * Sada nízkolegovaných ocelí CRM CZ 2003 A 8 A CERTIFIKOVAÉ
VícePrincip rastrovacího konfokálního mikroskopu
Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus
VícePříloha č. 1 zadávací dokumentace - Specifikace předmětu plnění veřejné zakázky
1 Příloha č. 1 zadávací dokumentace - Specifikace předmětu plnění veřejné zakázky 1. Server a příslušenství Počet kusů 1 Specifikace Procesor: minimálně čtyř jádrový, 2.40 GHz, 12 MB cache Pevný disk:
VíceDodávka rozhraní a měřících senzorů
Dodávka rozhraní a měřících senzorů Příloha 1 Specifikace předmětu zakázky Zakázka: 2/2012 OPVK Zadavatel: Střední škola technická a zemědělská, Nový Jičín, příspěvková organizace U Jezu 7, 741 01 Nový
VícePříloha č.1 Specifikace předmětu zakázky část II.
Příloha č.1 Specifikace předmětu zakázky část II. Projekt Inovace ve vzdělávacím procesu Vyšší odborné školy, Střední odborné školy a Středního odborného učiliště, Bzenec, registrační číslo CZ.1.07/1.3.41/01.0038
VíceSenzory - snímací systémy
Senzory - snímací systémy Měřicí jednotky Strana 333 335 LSM 902 Strana 337 LSM 9506 Strana 336 Zobrazovací jednotky Strana 335 336 331 příklady použití Kontinuální měření skleněných vláken a tenkých drátů
VíceProjekt FRVŠ č: 389/2007
Závěrečné oponentní řízení 7.2.2007 Projekt FRVŠ č: 389/2007 Název: Řešitel: Spoluřešitelé: Pracoviště: TO: Laboratoř infračervené spektrometrie Doc. Ing. Milan Honner, Ph.D. Ing. Petra Vacíková, Ing.
VíceDODATEČNÉ INFORMACE K PODMÍNKÁM VÝBĚROVÉHO ŘÍZENÍ Č. I
DODATEČNÉ INFORMACE K PODMÍNKÁM VÝBĚROVÉHO ŘÍZENÍ Č. I VEŘEJNÁ ZAKÁZKA: Nákup výpočetní techniky 2016 výzva k podání nabídek byla zveřejněna na profilu zadavatele dne: 07.09.2016 spisová značka zadavatele:
VíceElectron BackScatter Diffraction (EBSD)
Electron BackScatter Diffraction (EBSD) Informace o xtalografii objemových vzorků získané pomocí SEM + EBSD a) základní součásti systému EBSD 1. Základy EBSD Vzorek Detektor EBSD Fluorescenční stínítko
Více