EM, aneb TEM nebo SEM?



Podobné dokumenty
M I K R O S K O P I E

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

Optika pro mikroskopii materiálů I

Proč elektronový mikroskop?

Elektronová mikroskopie (jemný úvod do SEM, TEM) Rostislav Medlín NTC, ZČU

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

Techniky mikroskopie povrchů

Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček

Viková, M. : MIKROSKOPIE I Mikroskopie I M. Viková

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM. Pracovní listy teoretická příprava

Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka

Cvičení Kmity, vlny, optika Část interference, difrakce, fotometrie

Přednáška 2_1. Konstrukce obrazu v mikroskopu Vady čoček Rozlišovací schopnost mikroskopu

Lupa a mikroskop příručka pro učitele

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem

Testování nanovlákenných materiálů

Kryogenní elektronová mikroskopie aneb Nobelova cena za chemii v roce 2017

Mikroskopické techniky

Elektronová Mikroskopie SEM

CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ

5.3.5 Ohyb světla na překážkách

FLUORESCENČNÍ MIKROSKOP

10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita

Testování nanovlákenných materiálů. Eva Košťáková KNT, FT, TUL

Vliv komy na přesnost měření optických přístrojů. Antonín Mikš Katedra fyziky, FSv ČVUT, Praha

Věra Mansfeldová. Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.

Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2

Testování nanovlákenných materiálů

Metody charakterizace

Atomová fyzika - literatura

Podivuhodný grafen. Radek Kalousek a Jiří Spousta. Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně. Čichnova

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka

Vlnové vlastnosti světla. Člověk a příroda Fyzika

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Optika OPTIKA. June 04, VY_32_INOVACE_113.notebook

Nanotechnologie a nanomateriály ve výuce přírodovědných oborů.

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Měření rozložení optické intenzity ve vzdálené zóně

Přírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ

SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH

Krystalografie a strukturní analýza

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

Podpora rozvoje praktické výchovy ve fyzice a chemii

M I K R O S K O P I E

Transmisní elektronová mikroskopie (TEM)

ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII

Bioimaging rostlinných buněk, CV.2

Základní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi

CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM)

Klíčová slova TEM, transmisní elektronový mikroskop, zlato, germanium, nanočástice, nanovlákna

Pozorování Slunce s vysokým rozlišením. Michal Sobotka Astronomický ústav AV ČR, Ondřejov

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková

27. Vlnové vlastnosti světla

Elektronová mikroskopie II

Elektronová mikroanalýza trocha historie

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech

Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)

Domácí úlohy ke kolokviu z předmětu Panorama fyziky II Tomáš Krajča, , Jaro 2008

Mikroskopie rastrující sondy

Fyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II

Elektronová mikroskopie v materiálovém výzkumu

Typy světelných mikroskopů

Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje

1 Teoretický úvod. 1.2 Braggova rovnice. 1.3 Laueho experiment

MĚŘENÍ VLNOVÝCH DÉLEK SVĚTLA MŘÍŽKOVÝM SPEKTROMETREM

VLNOVÁ OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník

2. Difrakce elektronů na krystalu

Mikroskopické metody Přednáška č. 3. Základy mikroskopie. Kontrast ve světelném mikroskopu

Optické přístroje. Oko

Optoelektronika. elektro-optické převodníky - LED, laserové diody, LCD. Elektronické součástky pro FAV (KET/ESCA)

LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií)

Dualismus vln a částic

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).

5.3.6 Ohyb na mřížce. Předpoklady: 5305

ELEKTRICKÝ PROUD V PLYNECH

Balmerova série, určení mřížkové a Rydbergovy konstanty

Fyzika 2 - rámcové příklady vlnová optika, úvod do kvantové fyziky

Historie světelné mikroskopie. Světelná mikroskopie. Robert Hook (1670) a Antonie van Leeuwenhoek (1670) zakladatelé světelné mikroskopie

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

Návrh optické soustavy - Obecný postup

Spektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS

Obrázek 2: Experimentální zařízení pro E-I. [1] Dřevěná základna [11] Plastové kolíčky [2] Laser s podstavcem a držákem [12] Kulaté černé nálepky [3]

Jednoduchý elektrický obvod

2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu.

Elektronová mikroskopie

CÍLE CHEMICKÉ ANALÝZY

Charakterizace materiálů I KFY / P224. Martin Kormunda

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY KONTRAST V OBRAZE ZÍSKANÉM POMOCÍ IONIZAČNÍHO DETEKTORU VE VP SEM

Charakterizace koloidních disperzí. Pavel Matějka

Obsah Contents. Předmluva / Preface

25. Zobrazování optickými soustavami

Geometrická optika. předmětu. Obrazový prostor prostor za optickou soustavou (většinou vpravo), v němž může ležet obraz

Transkript:

EM, aneb TEM nebo SEM? Jiří Šperka Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita, Brno 2. únor 2011 / Prezentace pro studentský seminář Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 1 / 21

O čem se bude mluvit Úvod do elektronové mikroskopie Transmisní elektronový mikroskop Rastrovací elektronový mikroskop Na závěr pár fotek ze SEMu Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 2 / 21

O čem se bude mluvit Úvod do elektronové mikroskopie Transmisní elektronový mikroskop Rastrovací elektronový mikroskop Na závěr pár fotek ze SEMu Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 2 / 21

O čem se bude mluvit Úvod do elektronové mikroskopie Transmisní elektronový mikroskop Rastrovací elektronový mikroskop Na závěr pár fotek ze SEMu Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 2 / 21

O čem se bude mluvit Úvod do elektronové mikroskopie Transmisní elektronový mikroskop Rastrovací elektronový mikroskop Na závěr pár fotek ze SEMu Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 2 / 21

Délková škála Stanu se menším a ještě menším, až budu nejmenším na celém světě. Jiří Wolker Rozlišení, které člověk potřebuje, aby objekty rozlišil Objekt Typická velikost D Zvětšení M=75 µm / D Zrnko písku 1 mm Vidíme okem Lidský vlas 150 µm Vidíme okem Červená krvinka 10 µm 7.5 Bakterie 1 µm 75 virus 20 nm 4000 Molekula DNA 2 nm 40,000 Atom uranu 0.2 nm 400,000 Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 3 / 21

Čokoláda Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 4 / 21

Délková škála a oko Rozlišení, kterého je lidské oko schopné docílit je dáno třemi faktory: Velikostí receptorových buněk na retině, nedokonalostmi zaostřování (aberace) a difrakcí světla na vstupní zornici oka. Rozlišení dospělého lidského oka při pozorování hvězdné oblohy je asi jedna úhlová minuta. Tomu odpovídá rozlišení 75 µm (pro objektovou vzdálenost předmětu 25 cm před okem). Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 5 / 21

Rayleighovo kritérium Pokud uvažujeme světelný paprsek dopadající na neprůhledné stínítko s kruhovým otvorem o průměru d pak úhel θ, který ohraničuje první minimum difraktovaného světla (Airyho disk), je dán přibližným vztahem: sin θ = 1, 22 λ d, kde θ je úhel v radiánech a λ vlnová délka dopadajícího světla. Tento vztah udává také úhlové rozlišení pro difrakcí limitovaný systém, tedy tzv. Rayleighovo kritérium dva objekty lze rozlišit právě tehdy, když první maximum difrakčního obrazce prvního zobrazovaného bodu spadá do prvního minima difrakčního obrazce druhého bodu. Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 6 / 21

1924, Louis-Victor de Broglie λ = h p Vlnová délka elektronu v závislosti na urychlovacím napětí V [kv] p rel [kg m s 1 ] v rel [m s 1 ] v klas [m s 1 ] λ [nm] 0,05 3,82E-024 4,19E+006 4,19E+006 0,1734 1 1,71E-023 1,87E+007 1,88E+007 0,0388 2 2,42E-023 2,64E+007 2,65E+007 0,0274 5 3,83E-023 4,16E+007 4,19E+007 0,0173 25 8,65E-023 9,05E+007 9,38E+007 0,0077 100 1,79E-022 1,64E+008 1,88E+008 0,0037 250 3,01E-022 2,22E+008 2,97E+008 0,0022 300 3,37E-022 2,33E+008 3,25E+008 0,0020 Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 7 / 21

Optický mikroskop (kolem roku 1600 ) Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 8 / 21

Nác rtek prvního TEM, Ernst Ruska, 1931 Jir í Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 9 / 21

TEM a Ernst Ruska Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 10 / 21

TEM - první prakticky používaný Jir í Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 11 / 21

TEM - schéma Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 12 / 21

TEM - virus dětské obrny s rozměrem 30 nm Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 13 / 21

Nobelova cena The Nobel Prize in Physics 1986 was divided, one half awarded to Ernst Ruska "for his fundamental work in electron optics, and for the design of the first electron microscope",the other half jointly to Gerd Binnig and Heinrich Rohrer "for their design of the scanning tunneling microscope". Autobiography Further work, conducted together with Dr Knoll, led to the first construction of an electron microscope in 1931. With this instrument two of the most important processes for image reproduction were introduced-the principles of emission and radiation. In 1933 I was able to put into use an electron microscope, built by myself, that for the first time gave better definition than a light microscope. In my Doctoral thesis of 1934 and for my university teaching thesis (1944), both at the Technical College in Berlin, I investigated the properties of electron lenses with short focal lengths. Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 14 / 21

SEM1 - Vladimir Zworkyin 1, J. Hillier a R. L. Snyder. 1 Vladimir Zworkyin také přispěl ke vzniku CRT obrazovky, vyvinul vhodnou katodovou trubici (kinescope) Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 15 / 21

SEM - schéma Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 16 / 21

SEM - JEOL 7500 Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 17 / 21

Pozor na vzorek (SEM) Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 18 / 21

Fotka ze SEMu Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 19 / 21

3D SEM Jir í Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 20 / 21

3D environmental SEM Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 21 / 21