Rentgenová difrakce a spektrometrie



Podobné dokumenty
Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie

1 Teoretický úvod. 1.2 Braggova rovnice. 1.3 Laueho experiment

RTG difraktometrie 1.

Elektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II

Základy Mössbauerovy spektroskopie. Libor Machala

Oblasti průzkumu kovů

Krystalografie a strukturní analýza

Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec

Vybrané spektroskopické metody

Chemie a fyzika pevných látek l

Emise vyvolaná působením fotonů nebo částic

ABSORPČNÍ A EMISNÍ SPEKTRÁLNÍ METODY

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

Program XPS XRD XRF. Martin Kormunda

Chemie a fyzika pevných látek p2

nano.tul.cz Inovace a rozvoj studia nanomateriálů na TUL

Využití metod atomové spektrometrie v analýzách in situ

Kvantitativní fázová analýza

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.

Skupenské stavy látek. Mezimolekulární síly

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ

V obecném případě se ve forenzní laboratoři lze setkat s materiály

Metody charakterizace nanomaterálů I

SANAČNÍ A VÝPLŇOVÉ SMĚSI PŘIPRAVENÉ PRO KOMPLEXNÍ ŘEŠENÍ PROBLEMATIKY METANU VE VAZBĚ NA STARÁ DŮLNÍ DÍLA

Možnosti rtg difrakce. Jan Drahokoupil (FZÚ) Zdeněk Pala (ÚFP) Jiří Čapek (FJFI)

Metody pro studium pevných látek

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis

Tomáš Grygar: Metody analýza pevných látek L4-difrakce.doc

13. Spektroskopie základní pojmy

Glass temperature history

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).

SPEKTROMETRIE. aneb co jsem se dozvěděla. autor: Zdeňka Baxová

RNDr. Jaroslav Maixner, CSc. technologická v Praze. Praha, říjen 2005

Analytické metody využívané ke stanovení chemického složení kovů. Ing.Viktorie Weiss, Ph.D.

Metody pro studium pevných látek

Přednáška 12. Neutronová difrakce a rozptyl neutronů. Martin Kormunda

SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE)

Přednáška č. 3. Strukturní krystalografie, krystalové mřížky, rentgenografické metody určování minerálů.

Spektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS

Studijní program: Analytická a forenzní chemie

Praktikum III - Optika

Úloha 5: Studium rentgenových spekter Mo a Cu anody

Rentgenfluorescenční analýza, pomocník nejen při studiu památek

RYCHLÉ ZJIŠŤOVÁNÍ LÉČIV A JEJICH REZIDUÍ V ŽP

MŘÍŽKY A VADY. Vnitřní stavba materiálu

Jednotné pracovní postupy zkoušení krmiv STANOVENÍ OBSAHU SELENU METODOU ICP-OES

Metody charakterizace

CMI900. Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků a jejich prvkového složení metodou XRF. Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý

METODY FARMACEUTICKÉ TECHNOLOGIE ČL 2009, D PharmDr. Zdenka Šklubalová, Ph.D

VYUŽITÍ TEPELNÉHO ZMLŽOVAČE V AAS

1. Ze zadané hustoty krystalu fluoridu lithného určete vzdálenost d hlavních atomových rovin.

Elektronová mikroskopie

Chemie a fyzika pevných látek p3

Nauka o materiálu. Přednáška č.2 Poruchy krystalické mřížky

METODY - spektrometrické

Konfokální XRF. Ing. Radek Prokeš Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze

STANOVENÍ ETHANOLU V ALKOHOLICKÉM NÁPOJI POMOCÍ NIR SPEKTROMETRIE

Úloha 21: Studium rentgenových spekter

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál

Teorie rentgenové difrakce

HMOTNOSTNÍ SPEKTROMETRIE - kvalitativní i kvantitativní detekce v GC a LC - pyrolýzní hmotnostní spektrometrie - analýza polutantů v životním

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

Seznam platných norem z oboru DT k

Možnosti využití nedestruktivních

Rentgenografické difrakční určení mřížového parametru známé kubické látky

Mobilní Ramanův spektrometr Ahura First Defender

CHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ

2. Difrakce elektronů na krystalu

České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. Příloha formuláře C OKRUHY

RTG prášková difrakce a RTG fluorescenční spektroskopie v (nano)materiálovém výzkumu. Jan Filip Centrum výzkumu nanomateriálů, PřF UPOL

Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)

Vizualizace krystalové struktury. Individuální seminární práce pro udělení zápočtu z předmětu Anorganická chemie 2012

Obsah. Analýza povrchu (Nadpis 1) Shrnutí (Nadpis 2) Úvod (Nadpis 2)

Lasery RTG záření Fyzika pevných látek

ANALÝZA POVRCHU (NADPIS 1) 2 SHRNUTÍ (NADPIS 2) 2. Úvod (Nadpis 2) 2. Povrch, vakuum (Nadpis 2) 2 VZORKY 3. Principy (Nadpis 2) 6 XPS (Nadpis 3) 6

Dualismus vln a částic

Použití molekulové spektrometrie při sledování účinnosti termické desorpce zemin kontaminovaných organickými polutanty

Fyzika je přírodní věda, která zkoumá a popisuje zákonitosti přírodních jevů.

Řešení: Nejdříve musíme určit sílu, kterou působí kladka proti směru pohybu padajícího vědra a napíná tak lano. Moment síly otáčení kladky je:

Jednotné pracovní postupy zkoušení krmiv STANOVENÍ OBSAHU DEKOCHINÁTU METODOU HPLC

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence

Luminiscenční spektroskopické metody

Principy a metody monokrystalové strukturní analýzy

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

Nauka o materiálu. Přednáška č.12 Keramické materiály a anorganická nekovová skla

Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů

VÝUKOVÝ MATERIÁL Ing. Yvona Bečičková Tematická oblast. Termika Číslo a název materiálu VY_32_INOVACE_0301_0220 Anotace

AUTOMATICKÁ EMISNÍ SPEKTROMETRIE

Elektronová mikroanalýza trocha historie

Náboj a hmotnost elektronu

Plazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého

VYUŽITÍ MOBILNÍCH PŘÍSTROJŮ PRO RYCHLOU IN-SITU ANALÝZU SLOŽENÍ ODPADŮ

Transkript:

Rentgenová difrakce a spektrometrie RNDr.Jaroslav Maixner, CSc. VŠCHT v Praze Laboratoř rentgenové difraktometrie a spektrometrie Technická 5, 166 28 Praha 6 224354201, 24355023 Jaroslav.Maixner@vscht.cz

Technické vybavení laboratoře Prvková analýza RTG spektrometr - XRF 9400 - (r.v.1999) Emisní spektrograf - Q24 (r.v.1970) Fázová analýza - stanovení krystalických fázi v polykrystalickém materialu RTG difraktometry - DronUM, Seifert - Debyeflex, XRD 3000, Bruker -D8, Philips - XpertPro vysokoteplotní komora - studium vzorku v teplotním rozsahu 20-1400oC

Technické vybavení ÚCHPL Strukturní analýza - stanovení krystalické a molekulové struktury Čtyřkruhový difraktometr - Enraf Nonius - CAD4 - Krystalografické databáze databáze práškových standardů PDF-2 databáze anorganických struktur ICDS databáze organických struktur CSD

RTG spektrální analýza Buzení prvků pomocí RTG záření Rh lampy Charakteristické záření prvků -dano energetickými hladinami prvku Rozklad vybuzeného záření vzorku monochromatorem - oddělení jednotivých vlnových délek různých prvků Detekce fotonu scintilačním a průtokovým detektorem

Rentgenový spektrometr XRF 9400 Kvalitativní prvková analýza ( B - U) kapalné, práškové a kompaktní vzorky detekční limity od 1ppm do 100% přesnější pro těžší prvky, omezení pro B,C,N,O, horší detekční limity pro F, Na nedestruktivní metoda kvantitativní analýza pomocí standardů kvantitativní analýza programem Uniquant

Základní informace a postřehy výhodné pro měření více prvků najednou ve vzorku přesnost a citlivost měření roste s protonovým číslem prvku minimální interference mezi prvky lehké prvky B-Si vyžadují pečlivou reprodukovatelnou přípravu vzorku, čím je hladší povrch tím lépe

Práškové a kompaktní vzorky práškové vzorky 0.5-2g závisí na hustotě, jemně rozetřené (optimálně na 10 µm) menší množství od 5mg - semikvantitativní prvková analýza kompaktní vzorky - v rozmezí 30-52 mm a výška max. 25 mm, menší vzorky - zalisovat do vosku či zalit do dentakrylu, snížení přesnosti nepravidelné tvary kompaktních vzorků je

Kapalné vzorky a filtry optimální množství 15 ml, ph v rozmezí od 2 do 12, Na-U podstatně snížená mez detekce a přesnost pro lehké prvky Na-Si méně přesné než AAS, nevhodné pro měření menšího množství prvků jak 3 rychlá informace o všech prvcích v kapalině s koncentracemi nad 100ppm analýza tenkých vrstev na filtračním papíru,

Příklad aplikací analýzy stop prvků v polymerech, detekční limit je minimálně 1 ppm analýzy kapalin, detekční limit 0.5ppm analýzy olejů analýzy ocelí analýzy skel, včetně analýzy Boru analýzy zlata analýzy půd, jílových minerálů a keramiky

Emisní spektrograf Q24 malé množství materiálu cca 25mg optimální pro stanovování kovů neumožňuje stanovovat všechny prvky možno stanovovat Li, Be a až o 2 řády nižší koncentrace B např. ve sklech doplňuje RTG spektrometr.

RTG difrakce Krystalická fáze elementární buňkou - a,b,c,α, β, γ pozice atomů v buňce - x, y, z set mezirovinných vzdáleností a intenzit - d, I Braggův zákon - 2d sin (θ) = λ mezirovinná vzdálenost - d úhle difrakce - θ vlnová délka - λ

Difraktogram amorfní fáze

Difraktogram krystalické fáze

Tuk - směs kryst. a amorfní fáze

Karta z databáze PDF-2

Identifikace fáze

Srovnání dražé a sacharozy

Kvantitativní fázová analýza Srovnáním naměřeného vzorku se standardy Srovnáním naměřeného vzorku s teoreticky vypočítanými daty z databází ICSD a CSD Koncentrace od 1% Množství vzorku 20-100mg

Data z databáze ICSD COL ICSD Collection Code 23660 FORM (Al2 O3) TITL The Crystal Structure of kappa'-al2 O3, the New Intermediate Phase CELL a=5.544(1) b=5.544(1) c=9.024(1) ŕ=90.0 á=90.0 ç=120.0 SGR P 63 m c (186) - hexagonal PARM Atom No OxStat Wyck -----X----- -----Y----- -----Z----- -SOF- Al 1 3.000 2b 1/3 2/3 0.056 0.51(2) Al 2 3.000 6c 5/6 1/6 0.061 0.08(1) Al 3 3.000 2b 2/3 1/3 0.148 0.98(5) O 1-2.000 2a 0. 0. 0. O 2-2.000 6c 1/2 1/2 0.006 O 3-2.000 6c 0.832 0.168 0.256 O 4-2.000 2b 1/3 2/3 0.254

Příklad aplikací Rozlišení polymorfie anatasu a rutilu Stanovení složení cementů, rzí Stanovení austenit. a feritické fáze v ocelích Koroze kovových materiálů Kontrola výroby pigmentů a léčiv Pigmentace nátěr. hmot, smaltů a plastů Stanovení krystalického podílu v kovových sklech, smaltech a plastech

Strukturní analýza Stanovení elementární buňky Stanovení pozic atomů v buňce Stanovení meziatomových vzdáleností a úhlů Stanovení uspořádání molekul v buňce

Uspořádání molekul v buňce