Velikost a tvar částic



Podobné dokumenty
Typy světelných mikroskopů

Základní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

METODY FARMACEUTICKÉ TECHNOLOGIE ČL 2009, D PharmDr. Zdenka Šklubalová, Ph.D

M I K R O S K O P I E

Proč elektronový mikroskop?

Techniky mikroskopie povrchů

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce

Elektronová Mikroskopie SEM

Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory

Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech

Pevné lékové formy. Vlastnosti pevných látek. Charakterizace pevných látek ke zlepšení vlastností je vhodné využít materiálové inženýrství

Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2

SPEKTROSKOPICKÉ VLASTNOSTI LÁTEK (ZÁKLADY SPEKTROSKOPIE)

Optika pro mikroskopii materiálů I

Analýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod

Příklady biochemických metod turbidimetrie, nefelometrie. Miroslav Průcha

Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku

10. Analýza částic Velikost částic. Příprava předmětu byla podpořena projektem OPPA č. CZ.2.17/3.1.00/33253

SPEKTROMETRIE. aneb co jsem se dozvěděla. autor: Zdeňka Baxová

13. Spektroskopie základní pojmy

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek

Lasery. Biofyzikální ústav LF MU. Projekt FRVŠ 911/2013

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

VLNOVÁ OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník

Refraktometrie, interferometrie, polarimetrie, nefelometrie, turbidimetrie

INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

Spektrální charakteristiky

Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15

Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv

Geometrická optika. předmětu. Obrazový prostor prostor za optickou soustavou (většinou vpravo), v němž může ležet obraz

Zdroje optického záření

ROZDĚLENÍ SNÍMAČŮ, POŽADAVKY KLADENÉ NA SNÍMAČE, VLASTNOSTI SNÍMAČŮ

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).

Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček

Chemie a fyzika pevných látek p2

Viková, M. : MIKROSKOPIE I Mikroskopie I M. Viková

Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský

5.3.5 Ohyb světla na překážkách

OPTIKA - NAUKA O SVĚTLE

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

Otázky z optiky. Fyzika 4. ročník. Základní vlastnosti, lom, odraz, index lomu

Světlo je elektromagnetické vlnění, které má ve vakuu vlnové délky od 390 nm do 770 nm.

Akustooptický modulátor s postupnou a stojatou akustickou vlnou

Principy a instrumentace

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

Chemie a fyzika pevných látek l

Molekulová spektroskopie 1. Chemická vazba, UV/VIS

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ

SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH

Spektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem

Optoelektronika. elektro-optické převodníky - LED, laserové diody, LCD. Elektronické součástky pro FAV (KET/ESCA)

Optické spektroskopie 1 LS 2014/15

Mikroskopické metody Přednáška č. 3. Základy mikroskopie. Kontrast ve světelném mikroskopu

27. Vlnové vlastnosti světla

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky

FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM FJFI ČVUT V PRAZE

2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu.

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát

Problematika snímání skla a kvalifikace povrchové struktury

Akustooptický modulátor s postupnou a stojatou akustickou vlnou

METODY BEZ VÝMĚNY ENERGIE MEZI ZÁŘENÍM A VZORKEM

Světlo 1) Světlo patří mezi elektromagnetické vlnění (jako rádiový signál, Tv signál) elmg. vlnění = elmg. záření

MĚŘENÍ ABSOLUTNÍ VLHKOSTI VZDUCHU NA ZÁKLADĚ SPEKTRÁLNÍ ANALÝZY Measurement of Absolute Humidity on the Basis of Spectral Analysis

Základní pojmy. Je násobkem zvětšení objektivu a okuláru

Ionizační manometry. Při ionizaci plynu o koncentraci n nejsou ionizovány všechny molekuly, ale jenom část z nich n i = γn ; γ < 1.

Název a číslo materiálu VY_32_INOVACE_ICT_FYZIKA_OPTIKA

Úvod. Povrchové vlastnosti jako jsou koroze, oxidace, tření, únava, abraze jsou často vylepšovány různými technologiemi povrchového inženýrství.

Metody charakterizace

Lom světla na kapce, lom 1., 2. a 3. řádu Lom světla na kapce, jenž je reprezentována kulovou plochou rozhraní, je složitý mechanismus rozptylu dopada

Čočky Čočky jsou skleněná (resp. plastová) tělesa ohraničená rovinnými nebo kulovými plochami. Pracují na principu lomu. 2 typy: spojky rozptylky

Katedra geotechniky a podzemního stavitelství

Praktikum školních pokusů 2

Optika OPTIKA. June 04, VY_32_INOVACE_113.notebook

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence

Cvičení Kmity, vlny, optika Část interference, difrakce, fotometrie

Úvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014

ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII

Vznik a šíření elektromagnetických vln

Zadání. Pracovní úkol. Pomůcky

Mikroskop ECLIPSE E200 STUDENTSKÝ NÁVOD K POUŽITÍ. určeno pro studenty ČZU v Praze

10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita

Optika. Zápisy do sešitu

Počítačová grafika a vizualizace I

EM, aneb TEM nebo SEM?

Úloha č. 8 Vlastnosti optických vláken a optické senzory

Třífázové trubkové reaktory se zkrápěným ložem katalyzátoru. Předmět: Vícefázové reaktory Jméno: Veronika Sedláková

Světlo jako elektromagnetické záření

Seznam otázek pro zkoušku z biofyziky oboru lékařství pro školní rok

Témata semestrálních prací:

Video mikroskopická jednotka VMU

Transkript:

Velikost a tvar částic Veronika Grünwaldová Veronika.grunwaldova@zentiva.cz Zentiva k. s.

Proč je velikost částic důležitá? Chemické reakce Co velikost částic ovlivňuje? rychlost Transport léčiva Zpracovatelnost tekutost filtrovatelnost míchání a segregace distribuce léčiva v tabletě Výrobu lékových forem Syntézu Formulaci léčiva Velikost částic, které se uloží v plicích: 4 10 μm Fyziochemické vlastnosti rychlejší disoluce rychlejší absorpce tělem Chování lékových forem Zpracování léčiva v těle

Co velikost částic ovlivňuje? Chování lékových forem Fyziochemické vlastnosti Disoluční profily tablet s API o různé velikosti částic Průběh plazmatické koncentrace amlodipinu v přípravku Agen (plné body; generikum firmy Zentiva) a Norvasc (prázdné body, originál firmy Pfizer)

Co je velikost částic? Částice je definována jako objekt, který je malý ve srovnání s okolím.

Metodika měření Snaha popsat velikost částice jedním číslem Použití aproximací: Koule o stejné.. maximální délce minimální délce Hmotnosti sedimentační rychlosti objemu projde stejnou velikostí oka síta povrchu Jedna částice různé druhy velikosti Výsledná velikost částic se zjišťuje měřením velikostně závislé vlastnosti, tzn. je závislá na použitých předpokladech a aproximacích.

Jedna částice různá velikost Existuje spojitost mezi VELIKOSTÍ a TVAREM částic? Pouze jednoduchá geometrická tělesa koule, krychle lze popsat jediným číslem! 2 D r 3 D 2 D 2 D Tvar částic je důležitý ovlivňuje velikost! V případě nesférických objektů nelze oddělit velikost částice od jejího tvaru a orientace.

Tvar částic ovlivňuje vlastnosti prášků jako je: tekutost, segregace, interakce s dalšími látkami, vodivost, permeability, disoluce Výrobu léčiva Chování léčiva Přesto je tvaru částic věnována daleko menší pozornost než jejich velikosti.

Shrnutí Velikost částic je pouze relativní číslo Rozdílné částice mohou mít stejnou ekvivalentní velikost Při porovnávání velikosti částic je nutné srovnávat pouze výsledky stejných metod Na opakovatelnost metody je kladen daleko větší důraz než na její přesnost (jek je velikost reálná) Kterou metodu měření velikosti použít? předpokládaná velikost částic fyzikálně-chemické vlastnosti měřené látky - tvar částic, morfologie jejich povrchu, rozpustnost a smáčivost přesnost měření rychlost měření cena zařízení a jeho dostupnost

Kterou metodu měření velikosti použít? Přehled vybraných metod charakterizace tvaru a velikosti částic Metoda Obor použití 1. Sítová analýza 5 μm až mm 2. Metody založené na ohybu a rozptylu světla 3. Mikroskopické metody a obrazová analýza nm 3000 μm a) světelná mikroskopie 0,5 250 μm b) elektronová mikroskopie 0,001 100 μm

Sítová analýza Jedna z nestarších technik Princip metody: Analyzovaný prášek je umístěn na horní síto (s největšími oky) celý systém je podroben standardní době třepání. Materiál zachycený na jednotlivých sítech přesně zvážen. Výsledkem analýzy jsou podíly prášku (v hmotnostních procentech) odpovídající jednotlivým velikostním rozmezím mezi dvěma sousedními síty. Dvourozměrný odhad velikosti částic Velikostním parametrem prosévání je délka strany nejmenšího čtvercového otvoru síta, kterým částice projde.

Sítová analýza Typy sít Tkaná Leptaná Perforovaná Velikost ok: 125 mm 38 µm (+/- vliv jemnosti a materiálu) Leptané 20 µm Tkané 20 µm Velikost ok: 500 5 µm (+/- 2 µm) Tvary ok: kulatá, hranatá a j. Nízká odolnost Velikost ok: 125 1 mm (+/- 2 µm) Tvary ok: kulatá, hranatá a j. Vysoká odolnost Označení velikosti ok síta: Počet vláken síta na 1 palec. Materiály sít: Bronz, mosaz, nereznoucí ocel, nylon, hedvábí...

Sítová analýza Suchá cesta Ruční sítování: Strojové sítování: částice menší než cca 50 µm neprocházejí snadno přes stejně veliká oka, gravitační síla je malá vzhledem k třecí síle o stěny ok mimo to se malé částce lepí na velké air jet sieve Sítování v proudu vzduchu Air- jet rozšiřuje použití suchého sítování cca do 25 µm průmyslový vysavač generuje proud vzduchu, který rozpráší částice na analytickém sítu. částice menší než je velikost ok na sítu jsou odsány do použitého vysavače, nebo do cyklónového odlučovače, pro zachování kompletního vzorku. proud vzduchu konstantně pročisťuje oka síta.

Sítová analýza Mokrá cesta Mokré sítování: materiály v suspenzi nebo prášky, které mají za suchého sítování snahu agregovat, částice jsou menší než 50 µm, silně elektricky nabité množství vzorku: 1 g suché váhy použití elektroformovaných sít často spojeno s proplachováním, sáním nebo vibracemi, aby se zlepšil tok kapaliny přes síta vibrace mechanické (velké částice) nebo ultrazvukové (jemné částice) ultrazvukové sítování nejčastěji se používá voda samotná nebo s dispergačním činidlem, ale lze použít i jiné kapaliny konec sítování nastává, když je procházející kapalina prakticky čirá nevýhoda. pomalé cca 1-2 hod, jednotlivé frakce musí být před vážením usušeny

Sítová analýza Suchá cesta většina částic větších než 50 μm Mokrá cesta až do velikosti částic kolem 10 µm. Srovnání výsledků suchého a mokrého sítování Suché sítování : 63 75 μm Mokré sítování : 63 75 μm 44 75 μm 44 75 μm Mokrá cesta: Nebyly problémy s agregací malých částic Dosaženo pouze úzké distribuce velikosti částic na jednotlivcích sítech, tzn. na sítě byly částice stejné velikosti

Sítová analýza - příklad

Shrnutí Sítová analýza

Laserová difrakce Princip metody Rozptyl světla na velké částici Rozptyl světla na malé částici

Laserová difrakce Laserový difraktometr Zdroj světelného záření Detektory Analýza dat

Laserová difrakce Světelný zdroj: laser, wolfram-halogenová lampa... Typ laseru Výkon (mw) Vlnová délka (nm) Charakteristika Ar ionty 30 2000 488; 514,5 Kolimovaný, potřeba vodního chlazení pro vysoký výkon He-Ne 1 50 Diodový 0,1 200 543,5; 594,1 612,0; 632,8 405; 450 635; 650 670; 685 750; 780 Kolimovaný, životnost 20 000 hod Interface s vláknovou optikou, divergentní paprsek Výhody laseru: dlouhá životnost vysoká stabilita monochromatického záření, jeho značná koherence vzhledem k času a prostoru.

Laserová difrakce Detekční systém se skládá řady diskrétních senzorů s velmi malou odrazivostí počet těchto senzorů velmi významně ovlivňuje přesnost měření ve středu detektoru je umístěn otvor nebo zrcadlo (beam trap), které slouží k odstranění nerozptýlené části světla Typy detektorů: Křemíkové detektory široký dynamický rozsahem (107) vysokou citlivostí dlouhou životností. Současný design detektorů požadavkem dobré citlivosti pro slabé intenzity rozptýleného světla ve velkých úhlech, což souvisí s plochou jednotlivých elementů a mezi požadavkem dobrého úhlového rozlišení, což je spojeno s prostorem mezi těmito elementy. CCD detektory jsou vhodné pro měření tvaru mají ale menší dynamický rozsah a citlivost, což způsobuje možnost měření menšího velikostního rozpětí nejčastější rozmístění je lineární, polokruhové nebo do X

Laserová difrakce Analýza naměřených dat - Mieho,teorie je založena na předpokladu kulového tvaru částic, což znamená, že vypočtená velikost není absolutní velikostí částic, ale odpovídá velikosti teoretické koule - koule o stejném objemu jako analyzovaná částice. = Použití Mieho teorie vyžaduje znalost relativního indexu lomu měřených částic vzhledem k měrnému mediu. Index lomu a tvar má vliv na distribuci velikosti částic i na opakovatelnost / reprodukovatelnost metody

Laserová difrakce Laserový difraktometr Měřicí cela Laserová lavice Jednotka pro přípravu mokrého vzorku - suspenze Jednotka pro přípravu suchého vzorku prášku disperzant: disperzant: vzduch míchání, ultrazvuk stlačený vzduch

Laserová difrakce Výstup měření grafické vyjádření distribuce velikosti částic (frekvenční či kumulativní křivka, histogram). Frekvenční křivka Distribuční křivka Frekvenční křivka charakterizuje distribuci velikosti částic vztaženou na objem částic Kumulativní, distribuční křivka udává procentické zastoupení částic ve vzorku o velikosti menší než je velikost zvolená.

Laserová difrakce K charakteristickým parametrům patří: D (0,5) udává velikost při které je 50% částic menších a 50 % větších. Jde vlastně o medián dělící plochu frekvenční křivky na dvě stejné části. D(0,1); D(0,9) udává velikost pod níž se nachází 10 resp. 90 % částic a charakterizuje tak okraje distribuce

Laserová difrakce - příklad Vývoj metody Mokrá cesta Pevné parametry Kapalné médium Zvolení smáčedla Index lomu kapalného média Index lomu API Hledané parametry Rychlost míchání Intenzita sonifikace Doba sonifikace Opakovatelnost Suchá cesta Pevné parametry Index lomu API Hledané parametry Vibrace podavače Tlak vzduchu Opakovatelnost

Laserová difrakce Vliv metody na výslednou distribuci velikosti

Laserová difrakce Vliv metody na výslednou distribuci velikosti Suchá cesta Mokrá cesta

Laserová difrakce Vliv disperzantu na výslednou distribuci velikosti

Laserová difrakce Vliv disperzantu na výslednou distribuci velikosti Slunečnicový olej Minerální olej

Laserová difrakce Vliv tvaru částic na jejich výslednou distribuci velikosti

Laserová difrakce Vliv tvaru částic na jejich výslednou distribuci velikosti

Laserová difrakce Vliv indexu lomu na výslednou distribuci velikosti částic Vliv přítomnosti bublin na výslednou distribuci velikosti částic

Shrnutí Laserová difrakce

Dynamický světelný rozptyl (DLS) analýza podmikronových částic Princip metody: Brownovnův pohyb - částice difundují - závisí na viskozitě okolní kapaliny, teplotě a velikosti částic DLS zkoumá Brownův pohyb opticky. částice osvícené koherentním světelným zdrojem laserem- tvoří difrakční obrazec termální pohyb molekul media způsobuje změnu pozic sledovaných částic, což způsobuje změny difrakčního obrazce. Díky tomu dochází k fluktuaci intenzity sledovaného bodu difrakčního obrazce v čase. Fluktuaci intenzity v závislosti na čase sleduje korelační funkce. DLS použitelná pro širokou škálu koncentrací od zředěných roztoků až po velmi koncentrované, ale pouze pro jednonásobný rozptyl světla.

Dynamický světelný rozptyl (DLS) Jak přístroj pracuje? monochromatické, vertikálně polarizované koherentní světlo Fokusační čočky, štěrbiny a clony Intenzita rozptýleného světla je konvertována do el. signálu

Dynamický světelný rozptyl (DLS) Aspekty ovlivňující měření Velikost částic: částice měřitelné v rozsahu 0,005 1 μm velmi malé částice: měření je limitováno, tím, že špatně rozptylují světlo částice větší než 0,5 μm - mohou se během měření usadit - jejich Brownův pohyb je velmi pomalý, specielně v suspenzích s velkou viskozitou nutné dlouhé měřicí časy suspenze je nestabilní Koncentrace částic: 10-2 10-3 % (v/v), zakalení suspenze je viditelné pouhým okem nízké koncentrace mohou vést k rozptylu světla s menší intenzitou, specielně u velmi malých částic nebo k fluktuaci počtu částic v měřicí zóně pro malé částice je tedy nutno použít vyšších koncentrací nebo silnějšího laseru vysoké koncentrace mohou vést k násobnému rozptylu nebo k interakcím částice částice, násobný rozptyl je velmi pravděpodobný u částic nad 0,5 μm Vzrůst viskozity měřicího media vede ke snížení difůze částic, což omezuje max. měřitelnou velikost částice

Dynamický světelný rozptyl (DLS) Photon Cross Correlation Spectroscopy (PCCS) nová technika využívající 3 D cross corelace, která zcela potlačuje násobný rozptyl lze analyzovat velmi koncentrované suspenze díky vysokým koncentracím částic není citlivá na nečistoty, lze měřit ve standardních podmínkách Princip: dva lasery ozařují stejný objem a vznikají tak dva obrazce fluktuaci intensity sledují dva detektory je použita korelační fce dvou signálů

Dynamický světelný rozptyl (DLS) - Příklad Photon Cross Correlation Spectroscopy (PCCS) Velikost částic - vyjadřována hydrodynamickým průměrem částice.

Dynamický světelný rozptyl (DLS) - Příklad Photon Cross Correlation Spectroscopy (PCCS) Vliv přítomnosti shluků na výsledné vlastnosti látky

Shrnutí Dynamický světelný rozptyl (DLS)

Mikroskopie Mikroskop - složitá optická soustava, jejímž účelem je pozorování drobných předmětů a jejich detailů při velkém zvětšení. Na vlastnostech použité optické soustavy a použitého záření závisí jakých zvětšení a rozlišení bude možno dosáhnout. Rozlišovací schopnost lidského oka cca 0,25 mm Optický mikroskop skleněné čočky a viditelné záření => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko Elektronový mikroskop elektromagnetické čočky a urychlené elektrony => rozlišovací schopnost 0,0025 nm (60kV) 100 000 000 x víc než oko Prakticky 350 000 500 000 x víc než oko Špičkové přístroje až 800 000 1 000 000 x

Optická (světelná) mikroskopie k zobrazení využívá viditelného záření, λ= 420 760 nm. zvětšení je omezeno touto vlnovou délkou a detaily, které jsou svojí velikostí s ní srovnatelné, nelze vzájemně rozlišit. receptorem signálu z mikroskopu elektronický čip, např. čidlo digitální kamery, nikoli lidské oko, je možné rozsah citlivosti rozšířit směrem do oblasti ultrafialové i pod 380 nm nebo směrem do oblasti infračervené, tedy nad 760 nm. Základními optickými prvky mikroskopu jsou objektiv a okulár- - spojné čočky

Optická (světelná) mikroskopie Okuláry Objektivy Objektivy Stolek Křížový posun Křížový posun Hlavní vypínač Regulace osvětlení Makro a mikrošroub Zdroj světla

Optická (světelná) mikroskopie Objektiv Skutečný, převrácený a zvětšený obraz

Optická (světelná) mikroskopie Skutečný, převrácený a zvětšený obraz

Optická (světelná) mikroskopie Okulár Zdánlivý a zvětšený obraz

Optická (světelná) mikroskopie Pozorovatel/ka uvidí v mikroskopu: zdánlivý, zvětšený a převrácený obraz zdánlivý a zvětšený obraz skutečný, převrácený a zvětšený obraz

Optická (světelná) mikroskopie Maximální užitečné zvětšení objektivu Zvětšení Závisí na rozlišovací schopnosti objektivu - vzdálenost dvou bodů (a), které mikroskop zobrazí jako dva samostatné body - je dána jeho numerickou aperturou - schopnost objektivu zachytit co nejširší kužel paprsků, které procházejí objektem Numerická apertura l - vlnová délka a = 0,61 l/ n x sina n index lomu prostředí před objektivem a - polovina otvorového úhlu kužele paprsků, které mohou vstoupit do objektivu Rozlišovací schopnost lze zvýšit: snížením λ použití modrého světla (modrý filtr) zvyšováním n použití imerzního oleje numerická apertura

Elektronová mikroskopie Dle způsobu ozařování vzorku TEM - na průchod SEM (LVSEM, AQUASEM) - na odraz

Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) Jak TEM pracuje? V podstatě analogie optického mikroskopu, ale místo světelného paprsku se používá paprsek elektronový, a místo skleněných čoček, čočky magnetické. Proud elektronů prochází tzv. elektronovou čočkou, kterou tvoří elektrické pole zvláštního kondenzátoru nebo magnetické pole cívky. Tato elektronová čočka soustřeďuje elektrony na pozorovaný předmět (preparát). Proud elektronů pak prochází další elektronovou čočkou objektivem a vytvoří první elektronový obraz. Část tohoto obrazu se elektronovou čočkou projektivem znovu zvětší a vzniká výsledný obrazec. Vrstva preparátu musí být velmi tenká, cca do 100 nm, aby nepohlcovala elektrony.

Transmisní elektronová mikroskopie (TEM) Srovnání fotografie téhož vzorku z TEMu a SEMu TEM 100 000 x kv TEM - na průchod SEM - na odraz

Elektronová tryska generuje elektrony 1. Wolframové vlákno, 2. Katoda LaB 6 3. the field emission gun (FEG) Emise Termoemisní W LaB6 FE Field Emission Velikost (nm) 1 x 10 5 2 x 10 4 0.2 Brightness (A/cm2.steradian) 10 4-10 5 105-10 6 10 7-10 9 Energie (ev) 1-5 0.5 3.0 0.2 0.3 Živortnost (hrs) >20 >100 >300 Vakuum (torr) 10-4 10-5 10-6 10-7 10-9 10

Elektronová tryska generuje elektrony Termoemisní zdroj FEG

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Interakce elektronového paprsku s preparátem

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Interakce elektronového paprsku s preparátem Vzrůst urychlovacího napětí Vzrůst atomového čísla vzorku

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) aparatura obvykle pracuje ve vysokém vakuu (minimálně 10-2 Pa, běžně 10-3 až 10-4 Pa) pro práci ve vysokovakuovém módu je potřeba, aby povrch vzorku byl rovný a vodivý, vodivost vzorku se zabezpečuje jeho napařením uhlíkem nebo kovy např. zlatem. nízkovakuové mikroskopy (3 500 Pa) vhodné pro práci s nevodivými vzorky.

Výhody skanovací elektronová mikroskopie (SEM) vzhledem k optické mikroskopii (LM) Vysoké rozlišení při velkém zvětšení Rozlišení vzdálenost mezi dvěma body, které lze od sebe odlišit Nejlepší rozlišení LM je kolem 200 nm zatímco typický SEM má rozlišení lepší než10 nm (běžně 5 nm). Hloubka ostrosti SEM má cca 300 x větší hloubku ostrosti než LM, díky čemuž je možné ze SEMu získat detailní informaci o topografii vzorku. Mikroanalýza např. analýza chemického složení, krystalografického složení, magnetické a elektrická charakterizace vzorku..

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Příklad - nežádoucí rekrystalizace API

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Příklad sušení API při různých podmínkách

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Příklad - API připravená za různých krystalizačních podmínek

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Sledování vzhledu peletek po disolucích

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Sledování vzhledu tablet 2 1 3

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM/EDX) Identifikace obalu ACLAR blistr ACLAR folie PVC PVC Al

Skanovací elektronová mikroskopie (SEM/EDX) Identifikace obalu Blistr: ACLAR, PVC a Al. Folie: ACLAR a PVC Al Cl Cl Cl F Cl F

Obrazová analýza Jak obrazová analýza funguje? Původní obraz Binární obraz Konečný binární obraz po morfologických binárních operacích Kalibrace Segmentatace RGB/HSI Morfoloické binární operace Měření

Obrazová analýza Jak obrazová analýza funguje v praxi?

Obrazová analýza Vybrané morfologické parametry

Obrazová analýza Srovnání výsledků různých morfologických parametrů jednoho souboru částic

Obrazová analýza Příklad stanovení distribuce velikosti

number volume Obrazová analýza Početní x objemová procenta 12 6 10 5 8 4 6 3 4 2 2 1 0 1 2 3 0 1 2 3 size size Lineární x logaritmické měřítko osy

Obrazová analýza Početní x objemová procenta

Volume Obrazová analýza Početní x objemová procenta 60-65 μm :3 částice = 39 % objemu!!! 45% 40% 35% 30% 25% 20% 15% 10% 5% 0% 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 Size (um)

Obrazová analýza Příklad stanovení morfologických parametrů tvaru Příznak DUL 32 0 02 09 06 Plocha 281,57 104,52 Kruhovitost 0,814 0,673 Protažení 1,88 2,72

Obrazová analýza Příklad analýza vzorku obsahujícího různé druhy částic

Obrazová analýza Příklad stanovení tloušťky vrstev a velikosti peletek

Tvar částic Přehled vybraných metod používaných k popisu tvaru částic Metoda Mikroskopie (optická, SEM, TEM atd.) Digitální zpracování obrazu Difrakce světla Měření jednotlivých částic Ano Ano Založena na zobrazení Ano (projekce, foto) Ano (difrakční obrazec)

Tvar částic Kvantitativní popis číselně pomocí koeficientů, faktorů či indexů (cca 100 různých). Modelování tvaru 1) Digitalizace tvaru jeho popis pomocí pixelů Obrazová analýza 2) Pomocí uspořádaného nebo neuspořádaného seskupení koulí Nevhodné pro nesférické částice 3) Pomoci polygonální sítě Vhodné k popisu nahodilých tvarů

Tvar částic Popis tvaru částic Kvalitativní popis slovně, např.: částice jsou jehličkovité, ostrohranné, dendritické, vláknité. Jeden ze způsobů kvalitativního (slovního) popisu tvaru částic.

Tvar částic Popis tvaru částic - kvantitativně Fourierova analýza Využívá fotografie částic a stanovuje jejich morfologii a texturu První úrovní Fourierova popisu částic je stanovení jejich tvaru, tedy protaženosti, triangularity a pravoúhlosti. Vyšším stupněm je stanovení textury a hrubosti. Celý proces si můžeme představit tak, že na počátku je stanoven přibližný obecný tvar částice, který se v jednotlivých krocích postupně upřesňuje. Od počátečního A do konečného F Vhodná - pro částice s hladkým povrchem a pro částice jejichž úhel orientace je stabilní vzhledem ke kontuře připodobňovaného modelu. Nevhodná - pro polygonální částice, které mají ostré úhly, jako jsou částice s fasetovým povrchem.

Laserová difrakce - příklad Vývoj nové metody na mokré cestě