Pozitronový mikroskop

Podobné dokumenty
Měření doby života na svazku pozitronů

Polovodičové detektory

Svazek pomalých pozitronů

Ab-inito teoretické výpočty pozitronových parametrů

Slitiny titanu pro použití (nejen) v medicíně

Fitování spektra dob života pozitronů

Techniky mikroskopie povrchů

Měření doby úhlových korelací (ACAR)

Zajímavosti z konference. Ing. Petr Paluska, Klinika onkologie a radioterapie, FN Hradec Králové

Objemové ultrajemnozrnné materiály a jejich příprava. Doc. RNDr. Miloš Janeček CSc. Katedra fyziky materiálů

Anihilace pozitronů v polovodičích

METODY ANALÝZY POVRCHŮ

Elektronová mikroskopie II

Záchyt pozitronů v precipitátech

Fyzika II, FMMI. 1. Elektrostatické pole

Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů

Pozitron teoretická předpověď

Metody charakterizace

Metody analýzy povrchu

Elektronová mikroskopie a mikroanalýza-2

Metody analýzy povrchu

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec

Světlo jako elektromagnetické záření

4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY

Elektronová Mikroskopie SEM

Anihilace pozitronů v letu

MŘÍŽKY A VADY. Vnitřní stavba materiálu

Objemové ultrajemnozrnné materiály. Miloš Janeček Katedra fyziky materiálů, MFF UK

Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ

Chemie a fyzika pevných látek p2

Optika pro mikroskopii materiálů I

Proč elektronový mikroskop?

Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko

LOGO. Struktura a vlastnosti pevných látek

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka

Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft

Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka

Úloha 3: Mřížkový spektrometr

Chemie a fyzika pevných látek l

3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).

optické vlastnosti polymerů

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Pozorování Slunce s vysokým rozlišením. Michal Sobotka Astronomický ústav AV ČR, Ondřejov

LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií)

Fotonásobič. fotokatoda. typicky: - koeficient sekundární emise = počet dynod N = zisk: G = fokusační elektrononová optika

Plastická deformace a pevnost

Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)

Analýza obrazu II. Jan Macháček Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha

FYZIKA II. Marek Procházka 1. Přednáška

V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289

Konfokální XRF. Ing. Radek Prokeš Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze

Dosazením a úpravou dostaneme. V 0 gh=(v 0 Sh 1)[ gh+ g(h h 1)],

Obrazovkový monitor. Antonín Daněk. semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky. Téma č. 7: princip, blokově základní obvody

vodič u něho dochází k transportu el. nabitých částic, který je nevratný, dochází ke vzniku proudu a disipaci energie

Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál

Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka

POPIS VYNÁLEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ. (II) (Bl) ČESKOSLOVENSKÁ SOCIALISTICKÁ ( 1S ) (51) lat Cl. 4 С 21 D 1/09

NÁVRH TRANSFORMÁTORU. Postup školního výpočtu distribučního transformátoru

Rentgenová spektrální analýza Elektromagnetické záření s vlnovou délkou 10-2 až 10 nm

Teorie rentgenové difrakce


Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie

Senzory průtoku tekutin

Fyzika II. Marek Procházka Vlnová optika II

Slunce ve vysokoenergetických oblastech spektra

2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu.

EM, aneb TEM nebo SEM?

Interakce fluoroforu se solventem

NOVÁ METODIKA PŘÍPRAVY 1 MM FÓLIÍ PRO TEM ANALÝZU AUSTENITICKÝCH OCELÍ OZÁŘENÝCH NEUTRONY. Kontaktní bui@cvrez.cz

Elektřina: Elektrostatika: Elektrostatika: Elektrostatika: Analogie elektřiny s mechanikou: Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou.

Mikroskopie rastrující sondy

Hlavní body - elektromagnetismus

Elektřina. Elektrostatika: Elektrostatika: Elektrostatika: Analogie elektřiny s mechanikou: Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou.

Teorie elektromagnetického pole Laboratorní úlohy

Co se skrývá v ultrazvukové vyšetřovací sondě?

Oblasti průzkumu kovů

Základy Mössbauerovy spektroskopie. Libor Machala

Hmotnostní analyzátory I

Integrita povrchu a její význam v praktickém využití

10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita

ÚVOD ZKOUŠENÍ PETROCHEMICKÉHO REAKTORU

České vysoké učení technické v Praze Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská. Příloha formuláře C OKRUHY






Přehled veličin elektrických obvodů

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek

Svařování svazkem elektronů

M I K R O S K O P I E

Struktura a vlastnosti kovů I.

Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček

2. Difrakce elektronů na krystalu

ZPRACOVÁNÍ OBRAZU přednáška 3

Transkript:

rychlé pozitrony z b + radioizotopu prostorové rozlišení 1 mm nedestruktivní mapování rozložení defektů

mapování rozložení defektů mikrotvrdost dislokace (work hardening) D hranice zrn (Hall-Petch) 1/ d torzní deformace e ln r / l e skutečná true log. deformace - úhel otočení r vzdálenost od středu l stloušťka vzorku 1 1 1 1 1 1 Ultrajemnornná Cu HPT (p = 6 GPa) 1 HPT revolution 1 HPT revolution 15 HPT revolutions 15 HPT revolutions 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 3 HPT revolutions 3 HPT revolutions 5 HPT revolutions 5 HPT revolutions

nedestruktivní mapování rozložení defektů měření Dopplerovského rozšíření mapování pomocí S-parametru dislokace hranice zrn deformací-indukované vakance torzní deformace e ln r / l e skutečná true log. deformace - úhel otočení r vzdálenost od středu l stloušťka vzorku 1 1 S/S S/S S/S S/S 1.1 1.5 1.1 S/S S/S S/S S/S 1..95.9 1.5 1..95.9 Ultrajemnornná Cu HPT (p = 6 GPa) 1 HPT revolution 1 HPT revolution 15 HPT revolutions 15 HPT revolutions 1 1.1 1.5 1. 1 S/S S/S S/S S/S 1 1.9.95 1. 1.5 1.1 S/S S/S S/S S/S 1.1 1.5.95.9 1..95.9.9.95 1. 1.5 1.1 3 HPT revolutions 3 HPT revolutions 5 HPT revolutions 5 HPT revolutions

W/W Pozitronový mikroskop Ultrajemnornná Cu HPT (p = 6 GPa) S-W plot 1.1 1..9.8.7.6.5 1 S/S S/S 1.1 1.5 1..95.9 1.1 1.5 1..95.9 1 HPT revolution 15 HPT revolutions N = 1 N = 3 N = 15 N = 5 15 HPT revolutions 1 S/S 1 1.1 1.5 1..95.9.9.95 1. 1.5 1.1 S/S 1.1 1.5 1..95.9 3 HPT revolutions 5 HPT revolutions 5 HPT revolutions microhardness S parameter..95 1. 1.5 1.1 1. S/S.9.95 1. 1.5 1.1

pomalé pozitrony moderované ve svazku střední implantační hloubka pro E 1 kev je z mean 1 nm protorové rozlišení limitováno diffůzní délkou termalizovaného pozitronu 1 nm mapování laterálního rozložení defektů + měření hloubkového profilu nedstruktivní 3D mapování rozložení defektů

jas (brightness) svazku pozitronů B I x y jas komerčně dostupných zdrojů e + 1-19 1-16 krát jas typických zdrojů e -! I intenzita Liouvilleův teorém x y p x p y x y konst konst Kögel, EPOS meeting

remoderace B I x y I intenzita zvýšení jasu B tj. zmenšení objemu svazku ve fázovém prostoru ale nutně snížení intenzity

remoderace elektrostatický remoderátor redukce velikosti svazku 1 remoderátor s magnetickou čočkou magentická separace primárního svazku a remoderovaných e + redukce velikosti svazku 1 Kögel, EPOS meeting

remoderace elektrostatický remoderátor redukce velikosti svazku 1 remoderátor s magnetickou čočkou magentická separace primárního svazku a remoderovaných e + redukce velikosti svazku 1 Kögel, EPOS meeting

skenovací pozitronový mikroskop TU Munich fokusovaný pulsovaný svazek pomalých e + velikost fokusovaného svazku mm r opt f E E CS R 16 f 6 6 E disperze energie e + v transverzálním směru f ohnisková délka elektrostatické fokusační čočky C S sférická vada R poloměr svazku Kögel et al. Appl. Surf. Sci. 116, 18 (1997)

skenovací pozitronový mikroskop TU Munich fokusovaný pulsovaný svazek pomalých e + velikost fokusovaného svazku mm časové rozlišení 5 ps četnost koincidencí 5 s -1 urychlovač E =.5-3 kev toroidní vychylovací cívky oddělení re-moderovaných pomalých e + urychlovač E = 5 kev buncher sinus 1 Hz pila, 1 V ps pulsy e + urychlovač E = 8 ev pre-buncher B =.5 mt 5 Hz pila, V ns pulsy e + čas potřebný pro jeden obrázek týden Kögel et al. Appl. Surf. Sci. 116, 18 (1997) primární kontinuální svazek E = ev

skenovací pozitronový mikroskop TU Munich příklad spekter dob života e + měřených na SPM, E = 8 kev fokusovaný pulsovaný svazek pomalých e + časové rozlišení 5 ps Kögel et al. Appl. Surf. Sci. 116, 18 (1997)

skenovací pozitronový mikroskop TU Munich prostorové rozlišení mm Si substrát s vyleptaným obrazcem SEM obrázek SPM obrázek (střední doba života) David et al. Phys. Rev. Lett. 87, 67 (1)

skenovací pozitronový mikroskop TU Munich prostorové rozlišení mm mechanicky namáhaná Cu mapování pomocí střední doby života e + E = 16 kev Egger et al. Appl. Surf. Sci. 19, 1 ()

skenovací pozitronový mikroskop TU Munich prostorové rozlišení mm mechanicky namáhaná Cu lineární sken kolmo na crack E = 16 kev dvou-komponentní rozklad, t fixováno na ps Egger et al. Appl. Surf. Sci. 19, 1 ()

transmisní pozitronový mikroskop KEK Tsukuba pozironový zdroj: LINAC Matsua et al. Nucl. Insr. Meth. A 65, 1 (11)

transmisní pozitronový mikroskop remoderator (brightness enhancer) KEK Tsukuba pozironový zdroj: LINAC Matsua et al. Nucl. Insr. Meth. A 65, 1 (11)

transmisní pozitronový mikroskop KEK Tsukuba pozironový zdroj: LINAC Matsua et al. Nucl. Insr. Meth. A 65, 1 (11)

transmisní pozitronový mikroskop 1 nm Au (1) fólie na mikro mřížce pozitrony elektrony Matsua et al. Nucl. Insr. Meth. A 65, 1 (11)

transmisní pozitronový mikroskop 1 nm Au (1) fólie na mikro mřížce - difrakce pozitrony elektrony Matsua et al. Nucl. Insr. Meth. A 65, 1 (11)

transmisní pozitronový mikroskop 35 nm Al fólie na Cu mikro mřížce - transmitance pozitrony elektrony díra fólie díra fólie Matsua et al. Nucl. Insr. Meth. A 65, 1 (11)