ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII

Rozměr: px
Začít zobrazení ze stránky:

Download "ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII"

Transkript

1 ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII

2

3 Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25 mm

4 Světelný mikroskop okulár stativ objektiv hrubé ostření stolek kondenzor jemné ostření optický přístroj p využívaj vající viditelné světlo rozlišovac ovací schopnost (X) závisz visí na vlnové délce (λ)( ) použit itého zářenz ení X min = 0,61. λ / n sin θ viditelné světlo využívan vané v mikroskopii má λ cca 550nm, rozlišovac ovací schopnost světeln telného mikroskopu cca 250nm ( cca ½ λ), maximm aximální užitečné zvětšen ení je x (0,25/0, ) pro vyšší zvětšen ení nutno použít t zářenz ení o kratší vlnové délce

5 Elektromagnetické spektrum

6 Elektronová mikroskopie 1930 Ruska, Knoll Mikroskopická technika využívající paprsku elektronů namísto světelného záření. Fotony jsou nahrazeny elektrony a optické čočky elektromagnetickými čočkami. Proč elektrony? Jsou nositelé záporného náboje a mají nepatrnou hmotnost ve srovnání s protony či neutrony. Záporný náboj umožňuje urychlovat elektron elektrickým napětím U. Vlnová délka urychleného elektronu (60kV) je přibližně 0,005nm (cca stotisíckrát kratší než viditelné světlo). Výhoda EM - možnost mnohem většího zvětšení než u optického mikroskopu (až x, X min = 0,1 0, 5 nm). EM poskytuje komplexní informace o mikrostruktuře, krystalografii, chemickém složení, ale i o dalších vlastnostech zkoumaného vzorku.

7 Proč fungují? Vlnový charakter pohybujících se částic, v tomto případě elektronů h Dualismus λ = mv de Broglieho vlnová délka Svazek elektronů je urychlen napětím v řádu desítek až stovek kv v = 2eU m

8 Elektronová mikroskopie

9 Elektronová mikroskopie Řada společných součástí - zdroje světla nebo elektronů, čočky skleněné nebo elektromagnetické a v obou se preparát umísťuje na mechanický stolek. TEM potřebuje ke své činnosti i mnoho dalších systémů, které u světelného mikroskopu nejsou, např. vysokonapěťové zdroje, elektroniku k řízení mikroskopu a výkonný vakuový systém pro vyčerpání jeho vnitřních prostor mikroskopu na hodnotu, která zabezpečí střední volnou dráhu elektronu alespoň v délce 3 m.

10 Prozařovac ovací mikroskop P - preparát O - objektiv PR - projektiv Z - zdroj S - stínítko tko Zvětšen ení až stovky tisíc c krát

11

12 Elektronové čočky Rotačně symetrická elektrostatická nebo magnetická pole mohou soustřeďovat svazky elektronů. Elektrostatické čočky - systém kruhových clonek nebo válců, které mají vhodný potenciál. Mohou být jako spojky nebo rozptylky Elektromagnetické čočky - sférická vada. Lze je snadno regulovat velikostí protékajícího proudu, ten musí být přesně stabilizován. Lze dosáhnout vyššího zvětšení

13 Elektrostatická čočka

14 Kondenzor - elmag elmag.č. Budic Budicí vinutí Železný elezný pláš ášť MezeraMezera

15 Elektromagnetická čočka Vinutí,, pólovp lové nástavce

16 Interakce PES s hmotou SEM (Scanning Electron Microscopy) rastrovací elektronová mikroskopie zobrazující elektronový paprsek odražený od povrchu vzorku, pohyblivý svazek, zobrazení povrchu vzorku pomocí odražených a sekundárních elektronů. teplo TEM (Transmission Electron Microscopy) transmisní elektronová mikroskopie zobrazující elektronový paprsek procházející tenkým vzorkem, nepohyblivý elektronový svazek, detekce elektronů prošlých vzorkem na fluorescenčním stínítku nebo detektorem.

17

18 Rozlišujeme čtyři skupiny elektronů opouštějící povrch vzorku: zpětně odražené elektrony - poskytují informaci o topografii (reliéfu) vzorku a o materiálovém složení. Jejich rozlišovací schopnost je nm. sekundární elektrony - poskytují informaci převážně topografickou. Rozlišovací schopnost je 5-15 nm. augerovy elektrony - jsou vyráženy z materiálu a zjištěním jejich energie lze provádět prvkovou (kvalitativní) analýzu. primární elektrony - detekují se jako u transmisního elektronového mikroskopu (0,5 nm)

19 Elektronová mikroskopie

20 Rozlišovac ovací schopnost struktura

21 Osvětlov tlov.část - zdroje elektronového svazku Zahřátím materiálu na vysokou teplotu, dodáme elektronům dostatečnou energii, aby překonaly přirozenou energetickou bariéru, která jim brání v úniku. Vztah únikové energie elektronu k jejich únikové rychlosti kde v je úniková rychlost elektronu, e je jeho náboj a m hmotnost, E je výstupní energie specifická pro daný kov. žhavené wolframové vlákno E wolframu = 4.52, vysoká úniková rychlost 1.26 x 106 m/s, vysoký bodu tání (cca 3653 K ), nízké hodnoty vakua ( kterou vyžaduje TEM pro svůj provoz), tvarování do tvaru písmene V hrot z boritu lanthanu (LaB 6 ) bod tání 2000 K, lepší vakuum v oblasti trysky, tj. vyšší provozní náklady

22 Osvětlovac tlovací část - elektronové dělo Elektronové dělo (elektronová termoemisní tryska) funkce: vybavení elektronů, směr, rychlost svazku elektronů emitovaných ze žhavené katody a urychlovaných v elektronové trysce tvořené systémem katoda - Wehneltův válec - anoda katoda - nutnost aby elektrony vycházely z co nejmenší plochy fokusační elektroda = Wehneltův válec = (elektrostatická čočka) stlačuje elektronový svazek do křižiště těsně před anodou anoda: potenciální rozdíl mezi katodou a anodou kV (u biologických preparátů obvykle 80 kv),

23 Zobrazovací část elektromagnetické čočky držák preparátu, objektiv, mezičočky, projektivy a pozorovací stínítko Působení magnetického pole na dráhu letícího elektronu lze využít k sestrojení elektromagnetické čočky, které by fungovala přibližně stejně jako skleněná čočka v případě světla. Solenoid - kruhová cívka, ve které a okolo které při průchodu elektrického proudu vzniká magnetické pole, jehož siločáry uvnitř cívky jsou rovnoběžné s osou cívky a vně jsou zakřivené. Magnetické pole solenoidu ovlivňuje dráhy elektronů, které vycházejí z bodového zdroje A a které po zakřivení jejich drah v magnetickém poli cívky, opět protínajíjejíosuv bodě B. Účinnost solenoidu se zvyšuje, obklopením cívky vrstvou měkkého železa. Silnější magnetické pole cívky znamená kratší ohniskovou délku a tedy celkově výkonnější a kvalitnější čočku.

24 Interakce PES s hmotou z pohledu TEM Předpoklad tloušťka preparátu cca 100 nm, nesmí obsahovat vodu část elektronů se absorbuje (teplo!) část elektronů prochází ( prozáření ) beze změny Při průchodu elektron těsně míjí: atomové jádro = velká úchylka směru, malá ztráta energie = elastický (pružný) rozptyl, část elektronů rozptýlených s dostatečně velkým úhlem je zachycena objektivovou clonou a tím vyřazena z tvorby obrazu na stínítku. V důsledku toho se mění intenzita elektronového svazku a vzniká kontrast obrazu zasáhne jiný elektron = malá úchylka ve směru, ztráta velké části rychlosti = neelastický (nepružný) rozptyl = změna vlnové délky = chromatická vada = preparát musí být tenký odstranění uchýlených elektronů =zvětšování kontrastu preparátu = vnášení atomů těžkých kovů (Pb, U, W, Os, ), které mají větší náboj jádra a snáze působí elastický rozptyl.

25 Interakce PES s hmotou z pohledu REM Předpoklad masivnější preparát (do 100 nm) část elektronů se absorbuje (= teplo) část se odrazí odražené elektrony, (informace o topografii (reliéfu) vzorku a o materiálovém složení, rozlišovací schopnost je nm, materiálový kontrast signál odražených elektronů závisí na průměrném atomovém (protonovém) čísle Z. Pro větší Z je intenzivnější. sekundární elektrony s malou energií (předávání energie primárních elektronů atomům vzorku, poskytují informaci převážně topografickou. Rozlišovací schopnost je 5-15 nm.) používá se mnohem nižší urychlovací napětí než u TEM (SEM obvykle 20 kv, TEM obvykle 80kV)

26 Oblast interakce

27 Rastrovací elektronový mikroskop Činnost je založena na použití úzkého svazku elektronů emitovaných ze žhavené katody a urychlovaných v elektronové trysce tvořené systémem katoda - Wehneltův válec - anoda. Paprsek je dále zpracován elektromagnetickými čočkami a je rozmítán po povrchu pozorovaného objektu. Synchronně s tímto svazkem elektronů je rozmítán elektronový svazek paprsku v pozorovací obrazovce. Elektronový paprsek urychlený v elektrickém poli je velmi dobře stabilizován a může být vychylován systémem elektromagnetických cívek v osách x, y. Povrch je postupným vychylováním snímán řádek po řádku a takto je postupně skládán obraz vzorku (princip známý z televize). SEM pracuje s vakuem min [Pa] a proto je nutno použít speciální přípravy preparátů, zejména jeho naprášení kovem.

28 Princip SEM

29

30 Faktory ovlivňuj ující kvalitu obrazu volba (velikost) urychlovacího napětí náklon vzorku nabíjení vzorku kvalita pokovení preparátu

31 Příprava preparátu pro TEM

32 Vliv velikosti urychlovacího ho napětí

33 Vliv náklonu n vzorku

34 Vliv velikosti urychlovacího ho napětí

35 Vliv velikosti urych.nap.napětí Vliv nabíjen jení vzorku

36 Rastrovací elektronový mikroskop Povrch vlněného vlákna HV: 20.0 kv Zoom: 1 Au coated, detector A Vacuum degree: 20 Pa

37 Rastrovací elektronový mikroskop Ledové krystaly na povrchu skleněného vlákna HV: 15.0 kv Zoom: 1.00 UncoatedDetector ID + A + B Vacuum degree 480 Pa

38 Augerovy elektrony

39 AE

40 Energie AE

41 Lidský vlas Pix: ľm Mag: HV: 15.0 kv Zoom: 1.00 Uncoated Detector ID + A + B Vacuum degree 480 Pa

42 Mikroskop atomárn rních sil (AFM) Japonsko, Španělsko, Česko AFM umožňuje zobrazovat nejen elektricky vodivé látky, ale také polovodiče a biologické materiály. 3D obraz Využití charakterizace mechanických vlastností bílkovin nebo pro popisování struktury buněčných membrán Hrot tvořený jedním atomem křemíku kmitá na raménku. Když se hrot přiblíží k povrchu desky s chemickými prvky (asi deseti miliontin milimetru ), nastane interakce (vzájemné působení prvků), která změní kmitání, na základě které je stanovena síla chemické vazby mezi jednotlivými atomy. Tak lze zobrazit všechny atomy na ploše, ale nepozná se, o jaké prvky jde (viz černobílý snímek ). Řešení - výkonnější nanotranzistory Měřením chemických vazeb vznikajících mezi atomem na hrotu a atomem z nějaké chemikálie na destičce lze přesně identifikovat jednotlivé prvky.

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první

Více

Charakterizace materiálů I KFY / P224. Martin Kormunda

Charakterizace materiálů I KFY / P224. Martin Kormunda Charakterizace materiálů I KFY / P224 Přednáška 3 SEM (Scanning Electron Microscopy) TEM (Transmition Electron Microscopy) Mikroskopy http://www.paru.cas.cz/lem/book/podkap/pic/7.1/1.gif Konstrukční princip

Více

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová

Více

Laboratoř charakterizace nano a mikrosystémů: Elektronová mikroskopie

Laboratoř charakterizace nano a mikrosystémů: Elektronová mikroskopie : Jitka Kopecká ÚVOD je užitečný nástroj k pozorování a pochopení nano a mikrosvěta. Nachází své uplatnění jak v teoretickém výzkumu, tak i v průmyslu (výroba polovodičových součástek, solárních panelů,

Více

M I K R O S K O P I E

M I K R O S K O P I E Inovace předmětu KBB/MIK SVĚTELNÁ A ELEKTRONOVÁ M I K R O S K O P I E Rozvoj a internacionalizace chemických a biologických studijních programů na Univerzitě Palackého v Olomouci CZ.1.07/2.2.00/28.0066

Více

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE TENTO MATERIÁL SLOUŽÍ JAKO PRACOVNÍ TEXT (DOPLNĚK K PRAKTICKÝM ÚLOHÁM) TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Transmisní elektronová mikroskopie je jednou z experimentálních metod, bez kterých se v současné

Více

SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony

Více

Optika pro mikroskopii materiálů I

Optika pro mikroskopii materiálů I Optika pro mikroskopii materiálů I Jan.Machacek@vscht.cz Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha +42-0- 22044-4151 Osnova přednášky Základní pojmy optiky Odraz a lom světla Interference, ohyb a rozlišení optických

Více

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Zobrazovací metody v nanotechnologiích Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší

Více

Geometrická optika. předmětu. Obrazový prostor prostor za optickou soustavou (většinou vpravo), v němž může ležet obraz - - - 1 -

Geometrická optika. předmětu. Obrazový prostor prostor za optickou soustavou (většinou vpravo), v němž může ležet obraz - - - 1 - Geometrická optika Optika je část fyziky, která zkoumá podstatu světla a zákonitosti světelných jevů, které vznikají při šíření světla a při vzájemném působení světla a látky. Světlo je elektromagnetické

Více

Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje

Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje Optické zobrazování Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje Základní pojmy Optické zobrazování - pomocí paprskové (geometrické) optiky - využívá model světelného

Více

Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu

Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus

Více

VY_32_INOVACE_FY.12 OPTIKA II

VY_32_INOVACE_FY.12 OPTIKA II VY_32_INOVACE_FY.12 OPTIKA II Autorem materiálu a všech jeho částí, není-li uvedeno jinak, je Jiří Kalous Základní a mateřská škola Bělá nad Radbuzou, 2011 Optická čočka je optická soustava dvou centrovaných

Více

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289 OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17

Více

Integrovaná střední škola, Hlaváčkovo nám. 673, Slaný

Integrovaná střední škola, Hlaváčkovo nám. 673, Slaný Označení materiálu: VY_32_INOVACE_STEIV_FYZIKA2_12 Název materiálu: Elektrický proud v plynech. Tematická oblast: Fyzika 2.ročník Anotace: Prezentace slouží k výkladu elektrického proudu v plynech. Očekávaný

Více

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá

Více

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, UP Olomouc 4.12.2009 Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah konstrukce transmisního elektronového mikroskopu

Více

CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ

CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ Aleš LIGAS 1, Jakub PIŇOS 1, Dagmar JANDOVÁ 2, Josef KASL 2, Šárka MIKMEKOVÁ 1 1 Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.,

Více

Viková, M. : MIKROSKOPIE I Mikroskopie I M. Viková

Viková, M. : MIKROSKOPIE I Mikroskopie I M. Viková Mikroskopie I M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz MIKROSVĚT nano Poměry velikostí mikro 9 10 10 8 10 7 10 6 10 5 10 4 10 3 size m 2 9 7 5 3 4 8 1 micela virus světlo 6 písek molekula

Více

Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku

Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku V tomto článku uvádíme shrnutí poznatků učiva II. ročníku

Více

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova

Více

ZOBRAZOVÁNÍ ROVINNÝM ZRCADLEM

ZOBRAZOVÁNÍ ROVINNÝM ZRCADLEM ZOBRAZOVÁNÍ ROVINNÝM ZRCADLEM Pozorně se podívejte na obrázky. Kterou rukou si nevěsta maluje rty? Na které straně cesty je automobil ve zpětném zrcátku? Zrcadla jsou vyleštěné, zpravidla kovové plochy

Více

Optika. Zápisy do sešitu

Optika. Zápisy do sešitu Optika Zápisy do sešitu Světelné zdroje. Šíření světla. 1/3 Světelné zdroje - bodové - plošné Optická prostředí - průhledné (sklo, vzduch) - průsvitné (matné sklo) - neprůsvitné (nešíří se světlo) - čirá

Více

Moderní mikroskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou

Moderní mikroskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Moderní mikroskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Katedra experimentální fyziky Přírodovědecké fakulty, Univerzita Palackého v Olomouci Elektronová

Více

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Mikroskopické techniky MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Slouží k vizualizaci mikroorganismů Antoni van Leeuwenhoek (1632-1723) Čočka zvětšující 300x Různé druhy mikroskopů, které se liší

Více

EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM. Pracovní listy teoretická příprava

EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM. Pracovní listy teoretická příprava EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM Pracovní listy teoretická příprava Úloha 1: První nahlédnutí do nanosvěta Novou část dějin mikroskopie otevřel německý elektroinženýr, laureát Nobelovy ceny

Více

OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Sekunda

OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Sekunda OPTIKA Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Sekunda Základní poznatky Zdroje světla světlo vzniká různými procesy (Slunce, žárovka, svíčka, Měsíc) Bodový zdroj Plošný zdroj Základní poznatky Optická prostředí

Více

Referát z atomové a jaderné fyziky. Detekce ionizujícího záření (principy, technická realizace)

Referát z atomové a jaderné fyziky. Detekce ionizujícího záření (principy, technická realizace) Referát z atomové a jaderné fyziky Detekce ionizujícího záření (principy, technická realizace) Měřicí a výpočetní technika Šimek Pavel 5.7. 2002 Při všech aplikacích ionizujícího záření je informace o

Více

Videosignál. A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. Před. A3M38VBM, 2015 J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha

Videosignál. A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. Před. A3M38VBM, 2015 J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha Videosignál A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer 1 Základ CCTV Základ - CCTV (uzavřený televizní okruh) Řetězec - snímač obrazu (kamera) zobrazovací jednotka (CRT monitor) postupné

Více

5.3.5 Ohyb světla na překážkách

5.3.5 Ohyb světla na překážkách 5.3.5 Ohyb světla na překážkách Předpoklady: 3xxx Světlo i zvuk jsou vlnění, ale přesto jsou mezi nimi obrovské rozdíly. Slyšíme i to, co se děje za rohem x Co se děje za rohem nevidíme. Proč? Vlnění se

Více

GEOMETRICKÁ OPTIKA. Znáš pojmy A. 1. Znázorni chod význačných paprsků pro spojku. Čočku popiš a uveď pro ni znaménkovou konvenci.

GEOMETRICKÁ OPTIKA. Znáš pojmy A. 1. Znázorni chod význačných paprsků pro spojku. Čočku popiš a uveď pro ni znaménkovou konvenci. Znáš pojmy A. Znázorni chod význačných paprsků pro spojku. Čočku popiš a uveď pro ni znaménkovou konvenci. Tenká spojka při zobrazování stačí k popisu zavést pouze ohniskovou vzdálenost a její střed. Znaménková

Více

Světlo 1) Světlo patří mezi elektromagnetické vlnění (jako rádiový signál, Tv signál) elmg. vlnění = elmg. záření

Světlo 1) Světlo patří mezi elektromagnetické vlnění (jako rádiový signál, Tv signál) elmg. vlnění = elmg. záření OPTIKA = část fyziky, která se zabývá světlem Studuje zejména: vznik světla vlastnosti světla šíření světla opt. přístroje (opt. soustavami) Otto Wichterle (gelové kontaktní čočky) Světlo 1) Světlo patří

Více

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX / 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)

Více

EM, aneb TEM nebo SEM?

EM, aneb TEM nebo SEM? EM, aneb TEM nebo SEM? Jiří Šperka Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita, Brno 2. únor 2011 / Prezentace pro studentský seminář Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 1 / 21

Více

Mgr. Jan Ptáčník. Elektrodynamika. Fyzika - kvarta! Gymnázium J. V. Jirsíka

Mgr. Jan Ptáčník. Elektrodynamika. Fyzika - kvarta! Gymnázium J. V. Jirsíka Mgr. Jan Ptáčník Elektrodynamika Fyzika - kvarta! Gymnázium J. V. Jirsíka Vodič v magnetickém poli Vodič s proudem - M-pole! Vložení vodiče s proudem do vnějšího M-pole = interakce pole vnějšího a pole

Více

Jednoduchý elektrický obvod

Jednoduchý elektrický obvod 21 25. 05. 22 01. 06. 23 22. 06. 24 04. 06. 25 28. 02. 26 02. 03. 27 13. 03. 28 16. 03. VI. A Jednoduchý elektrický obvod Jednoduchý elektrický obvod Prezentace zaměřená na jednoduchý elektrický obvod

Více

Optika OPTIKA. June 04, 2012. VY_32_INOVACE_113.notebook

Optika OPTIKA. June 04, 2012. VY_32_INOVACE_113.notebook Optika Základní škola Nový Bor, náměstí Míru 128, okres Česká Lípa, příspěvková organizace e mail: info@zsnamesti.cz; www.zsnamesti.cz; telefon: 487 722 010; fax: 487 722 378 Registrační číslo: CZ.1.07/1.4.00/21.3267

Více

ZOBRAZOVÁNÍ ČOČKAMI. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Septima - Optika

ZOBRAZOVÁNÍ ČOČKAMI. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Septima - Optika ZOBRAZOVÁNÍ ČOČKAMI Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Septima - Optika Čočky Zobrazování čočkami je založeno na lomu světla Obvykle budeme předpokládat, že čočka je vyrobena ze skla o indexu lomu n 2

Více

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek

ANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek / 1 ZPRACOVAL Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL PhDr. Margaréta Musilová Mestský ústav ochrany pamiatok Uršulínska 9 811 01 Bratislava OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Energiově-disperzní

Více

Pokroky matematiky, fyziky a astronomie

Pokroky matematiky, fyziky a astronomie Pokroky matematiky, fyziky a astronomie Vladimír Drahoš; Armin Delong Elektronová interferometrie a fázový kontrast Pokroky matematiky, fyziky a astronomie, Vol. 7 (1962), No. 2, 80--90 Persistent URL:

Více

Lupa a mikroskop příručka pro učitele

Lupa a mikroskop příručka pro učitele Obecné informace Lupa a mikroskop příručka pro učitele Pro vysvětlení chodu světelných paprsků lupou a mikroskopem je nutno navázat na znalosti o zrcadlech a čočkách. Hodinová dotace: 1 vyučovací hodina

Více

SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH

SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH MECHANIKA MOLEKULOVÁ FYZIKA A TERMIKA ELEKTŘINA A MAGNETISMUS KMITÁNÍ A VLNĚNÍ OPTIKA FYZIKA MIKROSVĚTA ODRAZ A LOM SVĚTLA 1) Index lomu vody je 1,33. Jakou rychlost má

Více

M I K R O S K O P I E

M I K R O S K O P I E Inovace předmětu KBB/MIK SVĚTELNÁ A ELEKTRONOVÁ M I K R O S K O P I E Rozvoj a internacionalizace chemických a biologických studijních programů na Univerzitě Palackého v Olomouci CZ.1.07/2.2.00/28.0066

Více

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková Mikroskopie V M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Hloubka ostrosti problém m velkých zvětšen ení tloušťka T vrstvy vzorku kolmé k optické ose, kterou vidíme ostře zobrazenou Objektiv

Více

Základy mikroskopování

Základy mikroskopování Gymnázium a Střední odborná škola pedagogická, Čáslav, Masarykova 248 M o d e r n í b i o l o g i e reg. č.: CZ.1.07/1.1.32/02.0048 TENTO PROJEKT JE SPOLUFINANCOVÁN EVROPSKÝM SOCIÁLNÍM FONDEM A STÁTNÍM

Více

Nanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou

Nanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Nanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Katedra experimentální fyziky Přírodovědecké fakulty, Univerzita Palackého v Olomouci Elektronová

Více

5.2.12 Dalekohledy. y τ τ F 1 F 2. f 2. f 1. Předpoklady: 5211

5.2.12 Dalekohledy. y τ τ F 1 F 2. f 2. f 1. Předpoklady: 5211 5.2.12 Dalekohledy Předpoklady: 5211 Pedagogická poznámka: Pokud necháte studenty oba čočkové dalekohledy sestavit v lavicích nepodaří se Vám hodinu stihnout za 45 minut. Dalekohledy: už z názvu poznáme,

Více

CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM)

CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM) CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM) Morfologie nauka o tvarech. Studium tvaru povrchu vrstev a povlaků (nerovnosti, inkluze, kapičky, hladkost,.). Topologie

Více

Sada Optika. Kat. číslo 100.7200

Sada Optika. Kat. číslo 100.7200 Sada Optika Kat. číslo 100.7200 Strana 1 z 63 Všechna práva vyhrazena. Dílo a jeho části jsou chráněny autorskými právy. Jeho použití v jiných než zákonem stanovených případech podléhá předchozímu písemnému

Více

Základní pojmy. Je násobkem zvětšení objektivu a okuláru

Základní pojmy. Je násobkem zvětšení objektivu a okuláru Vznik obrazu v mikroskopu Mikroskop se skládá z mechanické části (podstavec, stojan a stolek s křížovým posunem), osvětlovací části (zdroj světla, kondenzor, clona) a optické části (objektivy a okuláry).

Více

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části

Více

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem

Geometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem Optické přístroje a soustav Geometrická optika převážně jsou založen na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fzikálním polem Důsledkem této t to interakce je: změna fzikáln lních vlastností

Více

Obrazovkový monitor. Antonín Daněk. semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky. Téma č. 7: princip, blokově základní obvody

Obrazovkový monitor. Antonín Daněk. semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky. Téma č. 7: princip, blokově základní obvody Obrazovkový monitor semestrální práce předmětu Elektrotechnika pro informatiky Antonín Daněk Téma č. 7: princip, blokově základní obvody Základní princip proud elektronů Jedná se o vakuovou elektronku.

Více

Fyzika, maturitní okruhy (profilová část), školní rok 2014/2015 Gymnázium INTEGRA BRNO

Fyzika, maturitní okruhy (profilová část), školní rok 2014/2015 Gymnázium INTEGRA BRNO 1. Jednotky a veličiny soustava SI odvozené jednotky násobky a díly jednotek skalární a vektorové fyzikální veličiny rozměrová analýza 2. Kinematika hmotného bodu základní pojmy kinematiky hmotného bodu

Více

Zákon odrazu. Úhel odrazu je roven úhlu dopadu, přičemž odražené paprsky zůstávají v rovině dopadu.

Zákon odrazu. Úhel odrazu je roven úhlu dopadu, přičemž odražené paprsky zůstávají v rovině dopadu. 1. ZÁKON ODRAZU SVĚTLA, ODRAZ SVĚTLA, ZOBRAZENÍ ZRCADLY, Dívejme se skleněnou deskou, za kterou je tmavší pozadí. Vidíme v ní vlastní obličej a současně vidíme předměty za deskou. Obojí však slaběji než

Více

Základy mikroskopie. Úkoly měření: Použité přístroje a pomůcky: Základní pojmy, teoretický úvod: Úloha č. 10

Základy mikroskopie. Úkoly měření: Použité přístroje a pomůcky: Základní pojmy, teoretický úvod: Úloha č. 10 Úloha č. 10 Základy mikroskopie Úkoly měření: 1. Seznamte se základní obsluhou třech typů laboratorních mikroskopů: - biologického - metalografického - stereoskopického 2. Na výše jmenovaných mikroskopech

Více

Stručný úvod do spektroskopie

Stručný úvod do spektroskopie Vzdělávací soustředění studentů projekt KOSOAP Slunce, projevy sluneční aktivity a využití spektroskopie v astrofyzikálním výzkumu Stručný úvod do spektroskopie Ing. Libor Lenža, Hvězdárna Valašské Meziříčí,

Více

Rozdělení přístroje zobrazovací

Rozdělení přístroje zobrazovací Optické přístroje úvod Rozdělení přístroje zobrazovací obraz zdánlivý subjektivní přístroje lupa mikroskop dalekohled obraz skutečný objektivní přístroje fotoaparát projekční přístroje přístroje laboratorní

Více

Chemie a fyzika pevných látek p2

Chemie a fyzika pevných látek p2 Chemie a fyzika pevných látek p2 difrakce rtg. záření na pevných látkch, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie Kratochvíl

Více

ZŠ ÚnO, Bratří Čapků 1332

ZŠ ÚnO, Bratří Čapků 1332 Animovaná fyzika Top-Hit Atomy a molekuly Atom Brownův pohyb Difúze Elektron Elementární náboj Jádro atomu Kladný iont Model atomu Molekula Neutron Nukleonové číslo Pevná látka Plyn Proton Protonové číslo

Více

Elektřina: Elektrostatika: Elektrostatika: Elektrostatika: Analogie elektřiny s mechanikou: Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou.

Elektřina: Elektrostatika: Elektrostatika: Elektrostatika: Analogie elektřiny s mechanikou: Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou. Elektřina pro bakalářské obory Elektron ( v antice ) =?? Petr Heřman Ústav biofyziky, K.LF Elektron ( v antice ) = jantar Jak souvisí jantar s elektřinou?? Jak souvisí jantar s elektřinou: Mechanické působení

Více

Otázky z optiky. Fyzika 4. ročník. Základní vlastnosti, lom, odraz, index lomu

Otázky z optiky. Fyzika 4. ročník. Základní vlastnosti, lom, odraz, index lomu Otázky z optiky Základní vlastnosti, lom, odraz, index lomu ) o je světlo z fyzikálního hlediska? Jaké vlnové délky přísluší viditelnému záření? - elektromagnetické záření (viditelné záření) o vlnové délce

Více

Elektřina. Elektrostatika: Elektrostatika: Elektrostatika: Analogie elektřiny s mechanikou: Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou.

Elektřina. Elektrostatika: Elektrostatika: Elektrostatika: Analogie elektřiny s mechanikou: Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou. Elektrostatika: Elektřina pro bakalářské obory Souvislost a analogie s mechanikou. Elektron ( v antice ) =?? Petr Heřman Ústav biofyziky, UK.LF Elektrostatika: Souvislost a analogie s mechanikou. Elektron

Více

Optická (světelná) Mikroskopie pro TM I

Optická (světelná) Mikroskopie pro TM I Optická (světelná) Mikroskopie pro TM I Jan.Machacek@vscht.cz Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha +42-0- 22044-4151 Osnova přednášky Typy klasických biologických a polarizačních mikroskopů Přehled součástí

Více

HODNOCENÍ VRYPOVÉ ZKOUŠKY SVĚTELNOU A ŘÁDKOVACÍ ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

HODNOCENÍ VRYPOVÉ ZKOUŠKY SVĚTELNOU A ŘÁDKOVACÍ ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY HODNOCENÍ VRYPOVÉ ZKOUŠKY SVĚTELNOU A ŘÁDKOVACÍ ELEKTRONOVOU MIKROSKOPIÍ EVALUATION OF THE SCRATCH TEST BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPY Martina Sosnová a - sosnova@kmm.zcu.cz. Antonín Kříž a

Více

TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU

TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU Hystorie Alexander Bain (Skot) 1843 vynalezl fax (na principu vodivé desky s napsaným textem nevodivým, který se snímal kyvadlem opatřeným jehlou s posunem po malých

Více

Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka

Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití

Více

Úvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014

Úvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014 Úvod, optické záření Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014 Materiál je pouze grafickým podkladem k přednášce a nenahrazuje výklad na vlastní

Více

1. Millerovy indexy, reciproká mřížka

1. Millerovy indexy, reciproká mřížka Obsah 1. Millerovy indexy, reciproká mřížka 2. Krystalografické soustavy, Bravaisovy mřížky 3. Poruchy v pevných látkách 4. Difrakční metody určování struktury pevných látek 5. Mechanické vlastnosti pevných

Více

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory 25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie Bezdotykové měření Pyrometrie (obrázky viz. sešit) Bezdotykové měření teplot je měření povrchové teploty těles na základě elektromagnetického záření mezi tělesem

Více

FYZIKA na LF MU cvičná. 1. Který z následujících souborů jednotek neobsahuje jen základní nebo odvozené jednotky soustavy SI?

FYZIKA na LF MU cvičná. 1. Který z následujících souborů jednotek neobsahuje jen základní nebo odvozené jednotky soustavy SI? FYZIKA na LF MU cvičná 1. Který z následujících souborů jednotek neobsahuje jen základní nebo odvozené jednotky soustavy SI? A. kandela, sekunda, kilogram, joule B. metr, joule, kalorie, newton C. sekunda,

Více

TEM (Transmition Electron Microscopy) HRTEM (High Resolution TEM) SEM (Scanning Electron Microscopy) EDX (Energy-dispersive X-ray spectroscopy)

TEM (Transmition Electron Microscopy) HRTEM (High Resolution TEM) SEM (Scanning Electron Microscopy) EDX (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) TEM (Transmition Electron Microscopy) HRTEM (High Resolution TEM) SEM (Scanning Electron Microscopy) EDX (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) Mikroskopy http://www.paru.cas.cz/lem/book/podkap/pic/7.1/1.gif

Více

Pohledy do Mikrosvěta

Pohledy do Mikrosvěta Pohledy do Mikrosvěta doc. RNDr. František Lednický, CSc. Ústav makromolekulární chemie Akademie věd ČR ledn@imc.cas.cz Abstrakt Na příkladech převážně z oblasti polymerních materiálů je v presentované

Více

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky předmětu veřejné zakázky Příloha č. 1c Zadavatel požaduje, aby předmět veřejné zakázky, resp. přístroje odpovídající jednotlivým částem veřejné zakázky splňovaly minimálně níže uvedené parametry. Část

Více

Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský

Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský Ultrazvuková defektoskopie Vypracoval Jan Janský Základní principy použití vysokých akustických frekvencí pro zjištění vlastností máteriálu a vad typické zařízení: generátor/přijímač pulsů snímač zobrazovací

Více

Odraz světla na rozhraní dvou optických prostředí

Odraz světla na rozhraní dvou optických prostředí Odraz světla na rozhraní dvou optických prostředí Může kulová nádoba naplněná vodou sloužit jako optická čočka? Exponát demonstruje zaostření světla procházejícího skrz vodní kulovou čočku. Pohyblivý světelný

Více

Kapacitní senzory. ε r2. Změna kapacity důsledkem změny X. b) c) ε r1. a) aktivní plochy elektrod. b)vzdálenosti elektrod

Kapacitní senzory. ε r2. Změna kapacity důsledkem změny X. b) c) ε r1. a) aktivní plochy elektrod. b)vzdálenosti elektrod Kapacitní senzory a) b) c) ε r1 Změna kapacity důsledkem změny a) aktivní plochy elektrod d) ε r2 ε r1 e) ε r2 b)vzdálenosti elektrod c)plochy dvou dielektrik s různou permitivitou d) tloušťky dvou dielektrik

Více

Moderní světelná a elektronová mikroskopie

Moderní světelná a elektronová mikroskopie Moderní světelná a elektronová mikroskopie Doc. RNDr. Roman Kubínek, CSc. Katedra experimentální fyziky Přírodovědecké fakulty Univerzity Palackého v Olomouci Tento projekt je spolufinancován Evropským

Více

POPIS VYNALEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ (19) (13) B1. (40) Zveřejněno 13 10 89 (45) Vydáno 12 02 91. (75) Autor vynálezu A.UTRATA RUDOLF Ing. CSo.

POPIS VYNALEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ (19) (13) B1. (40) Zveřejněno 13 10 89 (45) Vydáno 12 02 91. (75) Autor vynálezu A.UTRATA RUDOLF Ing. CSo. ČESKÁ A SLOVENSKA FEDERATÍVNI REPUBLIKA (19) POPIS VYNALEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ 269 916 (ID (13) B1 (21) pv 6856-87.и (22) Přihlášeno zk 09 87 (51) Int. Cl." II 01 j 37/28 FEDERÄLNl ClňAD PRO VYNÁLEZY

Více

Úkoly. 1 Teoretický úvod. 1.1 Mikroskop

Úkoly. 1 Teoretický úvod. 1.1 Mikroskop Úkoly 1. Z přiložených objektivů vyberte dva, použijte je jako lupy a změřte jejich zvětšení a zorná pole přímou metodou. Odhadněte maximální chyby měření. 2. Změřte zvětšení a zorná pole mikroskopu pro

Více

I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í

I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í OPTICKÉ ZOBRAZOVÁNÍ. Zrcdl prcují n principu odrzu světl druhy: rovinná kulová relexní plochy: ) rovinná zrcdl I N V E S T I C E D O R O Z V O J E V Z D Ě L Á V Á N Í obyčejné kovová vrstv npřená n sklo

Více

Název a číslo materiálu VY_32_INOVACE_ICT_FYZIKA_OPTIKA

Název a číslo materiálu VY_32_INOVACE_ICT_FYZIKA_OPTIKA Název a číslo materiálu VY_32_INOVACE_ICT_FYZIKA_OPTIKA OPTIKA ZÁKLADNÍ POJMY Optika a její dělení Světlo jako elektromagnetické vlnění Šíření světla Odraz a lom světla Disperze (rozklad) světla OPTIKA

Více

Krafková, Kotlán, Hiessová, Nováková, Nevímová

Krafková, Kotlán, Hiessová, Nováková, Nevímová Krafková, Kotlán, Hiessová, Nováková, Nevímová Optická čočka je optická soustava dvou centrovaných ploch, nejčastěji kulových, popř. jedné kulové a jedné rovinné plochy. Čočka je tvořena z průhledného

Více

Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka

Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická

Více

Jméno autora: Mgr. Zdeněk Chalupský Datum vytvoření: 1. 10. 2012. Číslo DUM: VY_32_INOVACE_20_FY_C

Jméno autora: Mgr. Zdeněk Chalupský Datum vytvoření: 1. 10. 2012. Číslo DUM: VY_32_INOVACE_20_FY_C Jméno autora: Mgr. Zdeněk Chalupský Datum vytvoření: 1. 10. 2012 Číslo DUM: VY_32_INOVACE_20_FY_C Ročník: II. Fyzika Vzdělávací oblast: Přírodovědné vzdělávání Vzdělávací obor: Fyzika Tematický okruh:

Více

Testové otázky za 2 body

Testové otázky za 2 body Přijímací zkoušky z fyziky pro obor PTA K vypracování písemné zkoušky máte k dispozici 90 minut. Kromě psacích potřeb je povoleno používání kalkulaček. Pro úspěšné zvládnutí zkoušky je třeba získat nejméně

Více

Přednáška č.14. Optika

Přednáška č.14. Optika Přednáška č.14 Optika Obsah základní pojmy odraz a lom světla disperze polarizace geometrická optika elektromagnetické záření Světlo = elektromagnetické vlnění o vlnové délce 390nm (fialové) až 790nm (červené)

Více

6. Geometrická optika

6. Geometrická optika 6. Geometrická optika 6.1 Měření rychlosti světla Jak už bylo zmíněno v kapitole o elektromagnetickém vlnění, předpokládali přírodovědci z počátku, že rychlost světla je nekonečná. Tento předpoklad zpochybnil

Více

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY

VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF

Více

FYZIKA MIKROSVĚTA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Fyzika mikrosvěta - 3. ročník

FYZIKA MIKROSVĚTA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Fyzika mikrosvěta - 3. ročník FYZIKA MIKROSVĚTA Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Fyzika mikrosvěta - 3. ročník Mikrosvět Svět o rozměrech 10-9 až 10-18 m. Mikrosvět není zmenšeným makrosvětem! Chování v mikrosvětě popisuje kvantová

Více

RENTGENKY ČASU. Vojtěch U l l m a n n f y z i k OD KATODOVÉ TRUBICE PO URYCHLOVAČE

RENTGENKY ČASU. Vojtěch U l l m a n n f y z i k OD KATODOVÉ TRUBICE PO URYCHLOVAČE RENTGENKY V PROMĚNÁCH ČASU OD KATODOVÉ TRUBICE PO URYCHLOVAČE Vojtěch U l l m a n n f y z i k Klinika nukleární mediciny FN Ostrava Ústav zobrazovacích metod ZSF OU Ostrava VÝBOJKY: plynem plněné trubice

Více

Elektronová mikroskopie

Elektronová mikroskopie Elektronová mikroskopie transmisní elektronový mikroskop skenovací elektronový mikroskop mikroskopie atomárních sil historie: komplexní vynález 20. století kombinace mnoha výsledku bádání v různých oblastech

Více

vede sice ke zvýšení kontrastu, zároveň se ale snižuje rozlišení a ostrost obrazu (Obr. 46).

vede sice ke zvýšení kontrastu, zároveň se ale snižuje rozlišení a ostrost obrazu (Obr. 46). 4. cvičení Metody zvýšení kontrastu obrazu (1. část) 1. Přivření kondenzorové clony nebo snížení kondenzoru vede sice ke zvýšení kontrastu, zároveň se ale snižuje rozlišení a ostrost obrazu (Obr. 46).

Více

25. Zobrazování optickými soustavami

25. Zobrazování optickými soustavami 25. Zobrazování optickými soustavami Zobrazování zrcadli a čočkami. Lidské oko. Optické přístroje. Při optickém zobrazování nemusíme uvažovat vlnové vlastnosti světla a stačí považovat světlo za svazek

Více

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) Příloha C zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013 TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) 1. část VZ: Laboratorní mikroskop s digitální kamerou a PC Položka č.1

Více

Fluorescenční mikroskopie

Fluorescenční mikroskopie Fluorescenční mikroskopie Pokročilé biofyzikální metody v experimentální biologii Ctirad Hofr 1 VYUŽITÍ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ A NEPŘÍMA IMUNOFLUORESCENCE, BIOTIN-AVIDINOVÁ METODA IMUNOFLUORESCENCE

Více

SEMINÁŘ Z FYZIKY 2 22

SEMINÁŘ Z FYZIKY 2 22 SEMINÁŘ Z FYZIKY 2 22-1- 1. ELEKTROSTTIK 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6 1.7 Na skleněné tyči třené kůží vznikl kladný náboj 80 nc. Kolik elektronů přešlo z tyče na kůži? Jak se změní při tomto ději hmotnost skleněné

Více

ZKOUŠENÍ MATERIÁLU. Defektoskopie a technologické zkoušky

ZKOUŠENÍ MATERIÁLU. Defektoskopie a technologické zkoušky ZKOUŠENÍ MATERIÁLU Defektoskopie a technologické zkoušky Zkoušení materiálů bez porušení Nedestruktivní zkoušky (nezpůsobují trvalou změnu tvaru, rozměrů nebo struktury): metody zkoumání struktur (optická

Více

Stacionární magnetické pole. Kolem trvalého magnetu existuje magnetické pole.

Stacionární magnetické pole. Kolem trvalého magnetu existuje magnetické pole. Magnetické pole Stacionární magnetické pole Kolem trvalého magnetu existuje magnetické pole. Stacionární magnetické pole Pilinový obrazec magnetického pole tyčového magnetu Stacionární magnetické pole

Více

POPIS VYNÁLEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ. (Bl) (И) ČESKOSLOVENSKA SOCIALISTICKÁ REPUBLIKA ( 1S ) (SI) Int Cl* G 21 G 4/08

POPIS VYNÁLEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ. (Bl) (И) ČESKOSLOVENSKA SOCIALISTICKÁ REPUBLIKA ( 1S ) (SI) Int Cl* G 21 G 4/08 ČESKOSLOVENSKA SOCIALISTICKÁ REPUBLIKA ( 1S ) POPIS VYNÁLEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ 262470 (И) (Bl) (22) přihláženo 25 04 87 (21) PV 2926-87.V (SI) Int Cl* G 21 G 4/08 ÚFTAD PRO VYNÁLEZY A OBJEVY (40)

Více