Řádkové snímače CCD. zapsané v předmětu: Videometrie a bezdotykové měření, ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer
|
|
- Sabina Holubová
- před 7 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Řádkové snímače CCD v Materiál je určen pouze jako pomocný materiál pro studenty zapsané v předmětu: Videometrie a bezdotykové měření, ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer Jan Fischer,
2 Náplň přednášky Základní struktury řádkových snímačů CCD Typická uspořádání řádkových snímačů Příklady struktur snímačů CCD 111, CCD 133, CCD 191 Význam a funkce bloků řádkových snímačů Snímače SONY ILX 551 a ILX 751 2
3 Řádkové snímače CCD Řádkový snímač CCD modelový příklad jedna řada fotoelementů, jeden registr CCD, přenosové hradlo fotoelementy "černé pixely" U OUT CCD transportní registr nábojový detektor výst. zesilovač 3
4 Řádkové snímače CCD - bloky Fotoelementy - MOS kapacitory nebo fotodiody Fotoelementy MOS kapacitory příznak v obvodu vyveden vstup fotohradla - Photogate, (polykrystalická elektroda, pod níž jsou fotoelementy) - V PG ss. napětí (typ. 6 až 15 V - v závislosti na typu snímače), používána též kombinace fotodioda + zastíněný akumulační MOS kapacitor Fotoelemety fotodiody s PN přechodem (katody fotodiod nejsou vyvedeny ale navázány prostřednictvím přenosového hradla na registr CCD), Rozměr fotoelementů čtvercové (např. 14 x 14 um, 10 x 10 um, 5 x 5 um,) - obdélníkové ( např. 14 x 200 um, 8 x 200 um pro spektrometrii - citlivost) Přenosové hradlo transfer gate ovládání přenosu náboje z fotoelementů do registru CCD, impulsní řídicí signál (označ. např. Φ x ) Posuvný registr CCD ( jeden nebo dva) obvykle dvoufázový Výstupní stupeň s jedním, nebo dvěma nábojovými detektory 4
5 Řádkové snímače CCD Řádkový snímač CCD, jedna řada fotoelementů, dva posuvné registry, jeden společný výstup U OUT Příklad, viz. CCD 111, Loral Fairchild, jeden z prvních sériově vyráběných snímačů CCD dvoufázové registry CCD, kanál pod OG output gate přívod náboje ke společnému nábojovému detektorou registry CCD řízení v protifázi 5
6 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 6
7 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 7
8 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 8
9 - Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha CCD stejnosměrné parametry 9
10 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 10
11 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 11
12 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 12
13 CCD 111 nehomogenita fotocitlivosti PRNU Photoresponse non-uniformity 13
14 - CCD časování Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 14
15 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 15
16 Řádkové snímače CCD s dvěma výstupy Řádkový snímač CCD jedna řada fotoelementů, dva posuvné registry CCD, dva výstupy společné nebo oddělené řízení přenosových hradel (transfer gate) U OUT1 U OUT2 Příklad Loral Fairchild CCD 133 (cvičení) Různé způsoby řízení, (vysvětlení výstup z registry A a B v protifázi ) 16
17 - Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha Řádkový snímač Fairchild CCD
18 - CCD 111 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 18
19 CCD 133 Čtení signálu - Dark reference isolation cells impulsy bez významu (oddělení fotoelementů a zakrytých fotoelementů - dark) Dark reference. zakryté elementy se shodnou strukturou jako fotoelementy pouze pro informaci o signálu za tmy. Použití pro upínání, příp. korekci aditivní chyby působením proudů za tmy 19
20 CCD výstup Vnitřní generace - signál RESET - vzorkovací signály Signál na výstupech A, B Obvod vzorkovače ( může, ale nemusí být využit) Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 20
21 CCD 133 vysvětlení -CCD 133 zjednodušené řízení vnější říd. sig. pouze Φ X a Φ T Φ X přesun náb. z fotoelementů do posuvného registru ( transfer) Φ T řízení pos. reg. CCD ( transport náb. svazků v CCD )?, kde ostatní signály? dvoufázový CCD, řízené elektrody Φ T, neřízené elektrody pevné napětí V T (transport register DC electrode) 21
22 Registr CCD s jednofázovým řízením -CCD 133 na řízené fázi Φ T, rozkmit od 0 do + 12 V Φ TH = U H = + 11,5 V Φ TL = U L =0 V ( 0 až 0,7 V) V katalogu doporučení V T pevné ss. napětí, přibl. polovina rozkmitu u CCD 133 V T jako virtuální fáze V T = typ. + 6 V 22
23 Idea registru CCD s jednofázovým řízením V T pevné ss. napětí, přibl. polovina rozkmitu na řízené fázi Φ T V T jako virtuální fáze Φ T = U L V T =0,5 U H poly Si aktivní potenc. jáma pod V T u 1 u 2 SiO 2 Φ TH = U H = + 11,5 V Φ TL = U L =0 V ( 0 až 0,7 V) V T = typ. + 6 V aktivní potenc. jáma pod Φ T P -Si (řešení dvoufáz. CCD nesymetrie potenciálové jámy i implantací pod část elektrody) Φ T = U H V T =0,5 U H u u
24 Idea registru CCD s jednofázovým řízením Jiné způsoby řešení jednofázového řízení: Virtuální fází dotací polovodiče v oblasti virtuální fázové elektrody (firma Texas Instruments) Řádkové snímače s jednofázovým řízením (SONY) vnitřní generátor dvoufázového řídicího signálu? Identifikace přímý vstup obvody na řízení pos. registr kapacity řádu 100 pf, (CCD 133 kapacita vstupu Φ T C ΦT = 350 pf ) kapacita vstupu Φ X u CCD 133 C ΦX = 80 pf snímač s interními budiči kapacity vstupů řídicích signálů - řádu jednotek pf 24
25 Snímač CCD 191 firmy Fairchild x 1, délka fotocitl. oblasti - 6 cm katalog: 6000 x 1 photosite array 10 µm x 10µm photosites on 10µm pitch Anti-blooming and integration control Enhanced spectr 25
26 Snímač CCD 191 firmy Fairchild x 1, délka fotocitl. oblasti - 6 cm 26
27 Snímač CCD 191 firmy Fairchild fotoelement - PN akumulace- MOS kapacitor V PG el. závěrka, antiblooming. hradlo 27
28 - CCD časování Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 28
29 - CCD 191 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha 29
30 CCD řízení doby el. závěrky - Elektronická závěrka u CCD 191 řízení antibloomingového hradla 30
31 Řádkové snímače CCD s jedním registrem CCD Řádkový snímač CCD jedna řada fotoelementů, jeden dvoufázový registr CCD, Forma fotoelementů nejčastěji fotodiody - přechody PN (příklad Sony ILX 503, ILX 551, kamera, cvičení) přenosové hradlo fotoelementy "černé pixely" U OUT CCD transportní registr nábojový detektor výst. zesilovač 31
32 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha Řádkový snímač CCD Sony ILX551 32
33 Před. A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha CCD Sony ILX551 časování 33
34 CCD Sony ILX551 v parametry Optical black signál zakrytých fotoelementů ( jako u u CCD 133 dark) Dummy prázdné ( nepravé ) nábojové svazky 34
35 CCD Sony ILX551 v parametry Co hledat v katalogu 35
36 CCD Sony ILX551 v parametry Co hledat v katalogu Malé vstupní kapacity interní budiče CCD na čipu vstupy kompatibilní s výstupem CMOS s U cc = + 5 V 36
37 CCD Sony ILX551 Spektrální charakt. citlivosti - maximum citlivosti pro 550 mn - shodné s citlivostí lidského oka. funkce možná v blízké oblasti infra 37
38 CCD Sony ILX551 zapojení v obvodu Pozor na opačnou relativní velikost napětí + 9V, +5 V ( při náběhu, vypínání). 38
39 Řádkový snímač CCD Sony ILX551 ILX 551 signály (bez využití vzorkovače) vnitřní generace signálu RESET 39
40 Řádkový snímač CCD Sony ILX551 Interní reset vždy, možnost použití interního vzorkovače 40
41 Řádkový snímač CCD Sony ILX751 ILX751, podobné jako ILX elektronická závěrka závěrka 41
42 Řádkový snímač CCD Sony ILX751 aktivací el. závěrky vynulování náboje ve fotoelementech 42
43 Trilineární snímač Trilineární snímač shodné struktury těsně vedle sebe, odstup řad fotoelementů 20 až 60 um U OUT1 U OUT2 U OUT3 43
44 Snímače CCD pro režim typu TDI TDI Time Delay and Integration struktura jako FF (full frame sensor), provoz jako řádkový snímač postupná expozice ( průběžné zpracování analogie výrobní pás) vysvětlení principu funkce, použití snímače výklad na přednášce OUT 8 OUT 7 OUT 6 OUT 5 pohyb obrazu VCCD U OUT OUT 1 OUT 2 OUT 3 OUT 4 Režimy provozu, posun nábojů synchronně s posunem obrazu,.. posun obrazu nahoru, nebo dolu,.. VCCD 44
Řádkové snímače CCD. ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer přednáška A3M38VBM Jan Fischer, 2011
Řádkové snímače CCD ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer přednáška A3M38VBM Jan Fischer, 2011 1 Náplň přednášky Základní struktury řádkových snímačů CCD Typická uspořádání řádkových snímačů
VíceOptoelektronické snímače fotodiodová pole, obrazové senzory CMOS
Optoelektronické snímače fotodiodová pole, obrazové senzory CMOS Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014 Materiál je pouze grafickým podkladem
VíceMěření signálu CCD řádkových snímačů
z 5 13.11.2008 16:26 Měření signálu CCD řádkových snímačů Měření CCD řádkového senzoru L110, Řádková CCD kamera se snímačem L133 Úkoly měření: Měření CCD řádkového senzoru L110 1 ) Seznamte se s katalogovým
VíceOptoelektronické senzory. Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém
Optoelektronické senzory Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém Optron obsahuje generátor světla (LED) a detektor optické prostředí změna prostředí změna
VícePřednáška - Čítače. 2013, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer. A3B38MMP, 2013, J.Fischer, ČVUT - FEL, kat. měření 1
Přednáška - Čítače 2013, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A3B38MMP, 2013, J.Fischer, ČVUT - FEL, kat. měření 1 Náplň přednášky Čítače v MCU forma, principy činnosti A3B38MMP, 2013, J.Fischer,
VíceOptoelektronické snímače fotodiodová pole,
Optoelektronické snímače fotodiodová pole, CMOS a CCD Materiál je určen pouze jako pomocný materiál pro studenty zapsané v předmětu: Videometrie a bezdotykové měření, ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející
VíceZPRACOVÁNÍ OBRAZU přednáška 4
ZPRACOVÁNÍ OBRAZU přednáška 4 Vít Lédl vit.ledl@tul.cz TECHNICKÁ UNIVERZITA V LIBERCI Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Tento materiál vznikl v rámci projektu ESF CZ.1.07/2.2.00/07.0247,
VíceNapájení mikroprocesorů. ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. studenty zapsané v předmětu: A4B38NVS
Napájení mikroprocesorů v. 2012 Materiál je určen jako pomocný materiál pouze pro studenty zapsané v předmětu: A4B38NVS ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer A4B38NVS, 2012, J.Fischer, kat.
VíceVideosignál. A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer. Před. A3M38VBM, 2015 J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha
Videosignál A3M38VBM ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer 1 Základ CCTV Základ - CCTV (uzavřený televizní okruh) Řetězec - snímač obrazu (kamera) zobrazovací jednotka (CRT monitor) postupné
VíceTeprve půlka přednášek?! já nechci
Teprve půlka přednášek?! já nechci 1 Světlocitlivé snímací prvky Obrazové senzory, obsahující světlocitlové buňky Zařízení citlivé na světlo Hlavní druhy CCD CMOS Foven X3 Polovodičové integrované obvody
VíceProjekt - Voltmetr. Přednáška 3 - část A3B38MMP, 2015 J. Fischer kat. měření, ČVUT - FEL, Praha. A3B38MMP, 2015, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL 1
Projekt - Voltmetr Přednáška 3 - část A3B38MMP, 2015 J. Fischer kat. měření, ČVUT - FEL, Praha A3B38MMP, 2015, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL 1 Náplň Projekt Voltmetr Princip převodu Obvodové řešení
VíceElektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze. CCD vs CMOS. Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc.
Elektrotechnická fakulta České vysoké učení technické v Praze CCD vs CMOS Prof. Ing. Miloš Klíma, CSc. 0 Multimedia Technology Group, K13137, FEE CTU 0 Historie snímání obrazu 1884 Paul Nipkow mechanický
VíceDigitální astronomická. fotografie. zimní semestr Radek Prokeš. FJFI ČVUT v Praze
Fyzikální seminář zimní semestr 2009 Digitální astronomická Digitální astronomická fotografie Radek Prokeš FJFI ČVUT v Praze 15. 10. 2009 Digitální astronomická fotografie Digitální astronomická fotografie!
VíceFEKT VUT v Brně ESO / P5 / J.Boušek 3 FEKT VUT v Brně ESO / P5 / J.Boušek 4
Využití vlastností polovodičových přechodů Oblast prostorového náboje elektrické pole na přechodu Propustný směr difůze majoritních nosičů Závěrný směr extrakce minoritních nosičů Rekombinace na přechodu
VíceÚvod, optické záření. Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014
Úvod, optické záření Podkladový materiál k přednáškám A0M38OSE Obrazové senzory ČVUT- FEL, katedra měření, Jan Fischer, 2014 Materiál je pouze grafickým podkladem k přednášce a nenahrazuje výklad na vlastní
VícePřednáška A3B38MMP. Bloky mikropočítače vestavné aplikace, dohlížecí obvody. 2015, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer
Přednáška A3B38MMP Bloky mikropočítače vestavné aplikace, dohlížecí obvody 2015, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A3B38MMP, 2015, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL Praha 1 Hlavní bloky procesoru
VíceObrazové snímače a televizní kamery
Obrazové snímače a televizní kamery Prof. Ing. Václav Říčný, CSc. Současná televizní technika a videotechnika kurz U3V Program semináře a cvičení Snímače obrazových signálů akumulační a neakumulační. Monolitické
VíceObrazové snímače a televizní kamery
Obrazové snímače a televizní kamery Prof. Ing. Václav Říčný, CSc. Současná televizní technika a videotechnika kurz U3V Program semináře a cvičení Snímače obrazových signálů akumulační a neakumulační. Monolitické
VíceETC Embedded Technology Club 7. setkání
T mbedded Technology lub 7. setkání 31.1. 2017 Katedra telekomunikací, Katedra měření, ČVUT- FL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, Sc. T club - 7, 31.1.2017, ČVUT- FL, Praha 1 Náplň Výklad: ipolární tranzistor
VícePřed A3M38VBM, J. Fischer, kat. měření, ČVUT FEL Praha. Plošné snímače CCD
Před A3M38VBM J. Fischer kat. měření ČVUT FEL Praha Plošné snímače CCD v. 2011 Materiál je určen pouze jako pomocný materiál pro studenty zapsané v předmětu: Videometrie a bezdotykové měření ČVUT- FEL
VíceVlastnosti digitálních fotoaparátů
1 Vlastnosti digitálních fotoaparátů Oldřich Zmeškal Fakulta chemická, Vysoké učení technické v Brně Purkyňova 118, 612 00 Brno e-mail: zmeskal@fch.vutbr.cz 1. Úvod Počátky digitální fotografie souvisejí
VíceDigitální fotografie
Semestrální práce z předmětu Kartografická polygrafie a reprografie Digitální fotografie Autor: Magdaléna Kršnáková, Štěpán Holubec Editor: Zdeněk Poloprutský Praha, duben 2012 Katedra mapování a kartografie
VíceSNÍMÁNÍ OBRAZU. KAMEROVÉ SYSTÉMY pro 3. ročníky tříletých učebních oborů ELEKTRIKÁŘ. Petr Schmid listopad 2011
KAMEROVÉ SYSTÉMY pro 3. ročníky tříletých učebních oborů ELEKTRIKÁŘ SNÍMÁNÍ OBRAZU Petr Schmid listopad 2011 Projekt Využití e-learningu k rozvoji klíčových kompetencí reg. č.: CZ.1.07/1.1.10/03.0021 je
VíceOptika v počítačovém vidění MPOV
Optika v počítačovém vidění MPOV Rozvrh přednášky: 1. osvětlení 2. objektivy 3. senzory 4. další související zařízení Princip pořízení a zpracování obrazu Shoda mezi výsledkem a realitou? Pořízení obrazu
VíceNapájení mikroprocesorů
Napájení mikroprocesorů Přednáška A4B38NVS ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer A4B38NVS, 2014, J.Fischer, kat. měření, ČVUT FEL, Praha 1 Náplň Napájení síťové napájení, bateriové napájení
VíceOptoelektrické senzory, obrazové senzory CMOS pro vestavné systémy
Optoelektrické senzory, obrazové senzory CMOS pro vestavné systémy Materiál je určen pouze jako pomocný materiál pro studenty zapsané v předmětu: A4M38AVS ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer
VícePřednáška , kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer. A4B38NVS, 2012, J.Fischer, kat. měření,, ČVUT - FEL 1
Přednáška 10 2012, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A4B38NVS, 2012, J.Fischer, kat. měření,, ČVUT - FEL 1 Náplň přednášky Čítače v MCU forma, principy činnosti A4B38NVS, 2012, J.Fischer, kat.
VíceČísla, reprezentace, zjednodušené výpočty
Čísla, reprezentace, zjednodušené výpočty Přednáška 4 A3B38MMP kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A3B38MMP, 2014, J.Fischer, ČVUT - FEL, kat. měření 1 Čísla 4 bitová dec bin. hex. 0 0000 0 1 0001
VíceProblémové okruhy ke zkoušce A3M38VBM Videometrie a bezkontaktní měření ls 2014 Optické záření- základní vlastnosti optického záření a veličiny a
Problémové okruhy ke zkoušce A3M38VBM Videometrie a bezkontaktní měření ls 2014 Optické záření- základní vlastnosti optického záření a veličiny a vztahy sloužící pro jeho popis (např. svítivost, zářivost,
Více1. Snímací část. Náčrtek CCD čipu.
CCD 1. Snímací část Na začátku snímacího řetězce je vždy kamera. Před kamerou je vložen objektiv, který bývá možno měnit. Objektiv opticky zobrazí obraz snímaného obrazu (děje) na snímací součástku. Dříve
VíceA4B38NVS, 2011, kat. měření, J.Fischer, ČVUT - FEL. Rozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,.. A438NVS, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha. J.
Rozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,.. A438NVS, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer 1 Náplň přednášky Druhá část. přednášky 12 Sériové rozhraní SPI, Sériové rozhraní IIC A4B38NVS, 2011, kat. měření,
VíceFET Field Effect Transistor unipolární tranzistory - aktivní součástky unipolární využívají k činnosti vždy jen jeden druh majoritních nosičů
FET Field Effect Transistor unipolární tranzistory - aktivní součástky unipolární využívají k činnosti vždy jen jeden druh majoritních nosičů (elektrony nebo díry) pracují s kanálem jednoho typu vodivosti
VíceETC Embedded Technology Club setkání 6, 3B zahájení třetího ročníku
ETC Embedded Technology Club setkání 6, 3B 13.11. 2018 zahájení třetího ročníku Katedra měření, Katedra telekomunikací,, ČVUT- FEL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, CSc. ETC club,6, 3B 13.11.2018, ČVUT- FEL,
VíceEvropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti MI-SOC: 2 KOMUNIKACE NAČIPU, LATENCE, PROPUSTNOST, ARCHITEKTURY doc. Ing. Hana Kubátová, CSc. Katedra číslicového návrhu Fakulta informačních
VíceSEKVENČNÍ LOGICKÉ OBVODY
Sekvenční logický obvod je elektronický obvod složený z logických členů. Sekvenční obvod se skládá ze dvou částí kombinační a paměťové. Abychom mohli určit hodnotu výstupní proměnné, je potřeba u sekvenčních
VíceETC Embedded Technology Club 10. setkání
ETC Embedded Technology Club 10. setkání 21.2. 2017 Katedra telekomunikací, Katedra měření, ČVUT- FEL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, CSc. ETC club -10, 21.2.2017, ČVUT- FEL, Praha 1 Náplň Výklad: Fototranzistor,
VíceStruktura a architektura počítačů (BI-SAP) 10
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Struktura a architektura počítačů (BI-SAP) 10 doc. Ing. Hana Kubátová, CSc. Katedra číslicového návrhu Fakulta informačních technologii
VíceUniverzita Tomáše Bati ve Zlíně
Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně Ústav elektrotechniky a měření Optoelektronika Přednáška č. 8 Milan Adámek adamek@ft.utb.cz U5 A711 +420576035251 Optoelektronika 1 Optoelektronika zabývá se přeměnou elektrické
VíceRozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,..
Rozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,.. Přednáška 14 - X38MIP -2009, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer 1 Rozhraní SPI Rozhraní SPI ( Serial Peripheral Interface) - původ firma Motorola SPI není typ
VíceMĚŘENÍ Laboratorní cvičení z měření Měření optoelektronického vazebního členu, část 3-11-1
MĚŘENÍ Laboratorní cvičení z měření Měření optoelektronického vazebního členu, část 3-11-1 Výukový materiál Číslo projektu: CZ.1.07/1.5.00/34.0093 Šablona: III/2 Inovace a zkvalitnění výuky prostřednictvím
Více7. Měření lineární a úhlové polohy. Optoelektronické a ultrazvukové senzory
7. Měření lineární a úhlové polohy. Optoelektronické a ultrazvukové senzory Prof. Pavel Ripka Katedra měření ČVUT v Praze, FEL Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti 2014 A3B38SME
VícePolovodičov. ové prvky. 4.přednáška
Polovodičov ové prvky 4.přednáška Polovodiče Základem polovodičových prvků je obvykle čtyřmocný (obsahuje 4 valenční elektrony) krystal křemíku (Si). Čisté krystaly křemíku mají za pokojové teploty jen
VíceRozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,.. Přednáška 11 (12)
Rozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,.. Přednáška 11 (12) A438NVS, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A4B38NVS, 2012, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL 1 Náplň přednášky Sériová rozhraní rozhraní
VíceMOSFET. Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor. Julius Edgar Lilienfeld, U.S. Patent 1,745,175 (1930)
MOFET Metal Oxide emiconductor Field Effect Transistor Julius Edgar Lilienfeld, U.. Patent 1,745,175 (193) MOFET Metal Oxide emiconductor Field Effect Transistor 196 ovládnutí povrchových stavů:. Kahng,
VícePolovodičové prvky. V současných počítačových systémech jsou logické obvody realizovány polovodičovými prvky.
Polovodičové prvky V současných počítačových systémech jsou logické obvody realizovány polovodičovými prvky. Základem polovodičových prvků je obvykle čtyřmocný (obsahuje 4 valenční elektrony) krystal křemíku
VícePřednáška 4, 5 a část 6 A4B38NVS Návrh vestavěných systémů 2014 katedra měření, ČVUT - FEL, Praha. J. Fischer
Přednáška 4, 5 a část 6 A4B38NVS Návrh vestavěných systémů 2014 katedra měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A4B38NVS, 2014, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL 1 Informace Toto je grafický a heslovitý
VíceBinární data. Číslicový systém. Binární data. Klávesnice Snímače polohy, dotykové displeje, myš Digitalizovaná data odvozená z analogového signálu
5. Obvody pro číslicové zpracování signálů 1 Číslicový systém počítač v reálném prostředí Klávesnice Snímače polohy, dotykové displeje, myš Digitalizovaná data odvozená z analogového signálu Binární data
VíceETC Embedded Technology Club 6. setkání
ETC Embedded Technology Club 6. setkání 17.1. 2017 Katedra telekomunikací, Katedra měření, ČVUT- FEL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, CSc. ETC club - 6, 7.1.2017, ČVUT- FEL, Praha 1 Náplň Výklad: PWM, RC
VíceMěření vlastností optických vláken a WDM přenos
Obecný úvod Měření vlastností optických vláken a WDM přenos Úloha se věnuje měření optických vláken, jejich vlastností a rušivých jevů souvisejících s vzájemným nedokonalým navázáním v konektorech. Je
VíceRozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,..
Rozhraní mikrořadiče, SPI, IIC bus,.. Přednáška A3B38MMP 2013 kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A3B38MMP, 2013, J.Fischer, kat. měření, ČVUT - FEL, Praha 1 Rozhraní SPI Rozhraní SPI ( Serial Peripheral
VíceSpínače s tranzistory řízenými elektrickým polem. Používají součástky typu FET, IGBT resp. IGCT
Spínače s tranzistory řízenými elektrickým polem Používají součástky typu FET, IGBT resp. IGCT Základní vlastnosti spínačů s tranzistory FET, IGBT resp. IGCT plně řízený spínač nízkovýkonové řízení malý
Více7. Měření lineární a úhlové polohy. Optoelektronické a ultrazvukové senzory
7. Měření lineární a úhlové polohy. Optoelektronické a ultrazvukové senzory přednášky A3B38SME Senzory a měření zdroje převzatých obrázků: pokud není uvedeno jinak, zdrojem je monografie Haasz, Sedláček:
Více9. ČIDLA A PŘEVODNÍKY
Úvod do metrologie - 49-9. ČIDLA A PŘEVODNÍKY (V.LYSENKO) Čidlo (senzor, detektor, receptor) je em jedné fyzikální veličiny na jinou fyzikální veličinu. Snímač (senzor + obvod pro zpracování ) je to člen
VíceETC Embedded Technology Club setkání 4 2B druhý ročník
ETC Embedded Technology Club setkání 4 2B druhý ročník Katedra telekomunikací, Katedra měření, ČVUT- FEL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, CSc. ETC club, 4_ 2roč. 31.10.2017, ČVUT- FEL, Praha 1 Náplň příště:
VíceISŠT Mělník. Integrovaná střední škola technická Mělník, K učilišti 2566, 276 01 Mělník Ing.František Moravec
ISŠT Mělník Číslo projektu Označení materiálu Název školy Autor Tematická oblast Ročník Anotace CZ.1.07/1.5.00/34.0061 VY_32_ INOVACE_C.3.05 Integrovaná střední škola technická Mělník, K učilišti 2566,
VíceÚloha č. 4. Připojení 7-segmentového zobrazovače LED s posuvným registrem, připojení tlačítek
Úloha č. 4. Připojení 7-segmentového zobrazovače LED s posuvným registrem, připojení tlačítek Úkol: K STM32F100 připojte pomocí sério-paralelního posuvného registru 7-segmetový zobrazovač s LED a dále
VíceÚstav technologie, mechanizace a řízení staveb. Teorie měření a regulace. snímače foto. p. 2q. ZS 2015/2016. 2015 - Ing. Václav Rada, CSc.
Ústav technologie, mechanizace a řízení staveb Teorie měření a regulace snímače foto p. 2q. ZS 2015/2016 2015 - Ing. Václav Rada, CSc. Obrazová analýza je proces velice starý vyplývající automaticky z
VícePrincip pořízení obrazu P1
Princip pořízení obrazu P1 Optická vinětace objektivu Optická soustava Mechanická vinětace objektivu Optická soustava Optická soustava Hloubka ostrosti závislá na použitém objektivu, velikosti pixelu a
VíceVÝKONOVÉ TRANZISTORY MOS
VÝKONOVÉ TANZSTOY MOS Pro výkonové aplikace mají tranzistory MOS přednosti: - vysoká vstupní impedance, - vysoké výkonové zesílení, - napěťové řízení, - teplotní stabilita PNP FNKE TANZSTO MOS Prahové
VíceFotodioda ve fotovodivostním a fotovoltaickém režimu OPTRON
Cvičení 13 Fotodioda ve fotovodivostním a fotovoltaickém režimu OPTRON Přenosová charakteristika optronu Dynamické vlastnosti optronu Elektronické prvky A2B34ELP cv.13/str.2 cv.13/str.3 Fotodioda fotovodivostní
VíceSimulace číslicových obvodů (MI-SIM) zimní semestr 2010/2011
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Simulace číslicových obvodů (MI-SIM) zimní semestr 2010/2011 Jiří Douša, katedra číslicového návrhu (K18103), České vysoké učení technické
VíceTELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU
TELEVIZNÍ ZÁZNAM A REPRODUKCE OBRAZU Hystorie Alexander Bain (Skot) 1843 vynalezl fax (na principu vodivé desky s napsaným textem nevodivým, který se snímal kyvadlem opatřeným jehlou s posunem po malých
VíceVariátor. Doutnavka. Zářivka. Digitron. Sensistor. Kompaktní Zářivka. Ing. Ladislav Fišer, Ph.D.: Druha prednaska. VA charakteristika
VA charakteristika Variátor R S a R D. = f(u) VA charakteristika Doutnavka Sériové řazení 0-A náběhová oblast A-B pracovní oblast B-C oblast přetížení U R = I 27.2.2008 12:46 Základy elektroniky - 2. přednáška
VíceY36SAP 2007 Y36SAP-4. Logické obvody kombinační a sekvenční používané v číslicovém počítači Sčítačka, půlsčítačka, registr, čítač
Y36SAP 27 Y36SAP-4 Logické obvody kombinační a sekvenční používané v číslicovém počítači Sčítačka, půlsčítačka, registr, čítač 27-Kubátová Y36SAP-Logické obvody typické Často používané funkce Majorita:
Více9/12/2012. Budicí obvody VPS - drivers. Budicí obvody VPS - drivers obsah prezentace. Požadavky na budicí obvody VPS. Budicí obvod
Budicí obvody VPS - drivers Konstrukce polovodičových měničů Budicí obvody VPS - drivers obsah prezentace požadavky na budicí obvody VPS základní požadavek na budicí obvod - galvanické oddělení budicí
VíceKapacitní senzory. ε r2. Změna kapacity důsledkem změny X. b) c) ε r1. a) aktivní plochy elektrod. b)vzdálenosti elektrod
Kapacitní senzory a) b) c) ε r1 Změna kapacity důsledkem změny a) aktivní plochy elektrod d) ε r2 ε r1 e) ε r2 b)vzdálenosti elektrod c)plochy dvou dielektrik s různou permitivitou d) tloušťky dvou dielektrik
VíceStřídavé měniče. Přednášky výkonová elektronika
Přednášky výkonová elektronika Projekt ESF CZ.1.07/2.2.00/28.0050 Modernizace didaktických metod a inovace výuky technických předmětů. Vstupní a výstupní proud střídavý Rozdělení střídavých měničů f vst
VíceVY_32_INOVACE_ENI_3.ME_16_Unipolární tranzistor Střední odborná škola a Střední odborné učiliště, Dubno Ing. Miroslav Krýdl
Číslo projektu CZ.1.07/1.5.00/34.0581 Číslo materiálu VY_32_INOVACE_ENI_3.ME_16_Unipolární tranzistor Název školy Střední odborná škola a Střední odborné učiliště, Dubno Autor Ing. Miroslav Krýdl Tematická
VíceOVLÁDACÍ OBVODY ELEKTRICKÝCH ZAŘÍZENÍ
OVLÁDACÍ OBVODY ELEKTRICKÝCH ZAŘÍZENÍ Odlišnosti silových a ovládacích obvodů Logické funkce ovládacích obvodů Přístrojová realizace logických funkcí Programátory pro řízení procesů Akční členy ovládacích
VíceETC Embedded Technology Club setkání 5, 3B zahájení třetího ročníku
ETC Embedded Technology Club setkání 5, 3B 6.11. 2018 zahájení třetího ročníku Katedra měření, Katedra telekomunikací,, ČVUT- FEL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, CSc. ETC club,5, 3B 30.10.2018, ČVUT- FEL,
VíceNOVÉ METODY HODNOCENÍ OBRAZOVÉ KVALITY
NOVÉ METODY HODNOCENÍ OBRAZOVÉ KVALITY Stanislav Vítek, Petr Páta, Jiří Hozman Katedra radioelektroniky, ČVUT FEL Praha, Technická 2, 166 27 Praha 6 E-mail: svitek@feld.cvut.cz, pata@feld.cvut.cz, hozman@feld.cvut.cz
VíceI. Současná analogová technika
IAS 2010/11 1 I. Současná analogová technika Analogové obvody v moderních komunikačních systémech. Vývoj informatických technologií v poslední dekádě minulého století digitalizace, zvýšení objemu přenášených
VíceArchitektura počítačů Logické obvody
Architektura počítačů Logické obvody http://d3s.mff.cuni.cz/teaching/computer_architecture/ Lubomír Bulej bulej@d3s.mff.cuni.cz CHARLES UNIVERSITY IN PRAGUE faculty of mathematics and physics Digitální
VíceSekvenční logické obvody
Sekvenční logické obvody Sekvenční logické obvody - úvod Sledujme chování jednoduchého logického obvodu se zpětnou vazbou Sekvenční obvody - paměťové členy, klopné obvody flip-flop Asynchronní klopné obvody
VíceArchitektura počítačů Logické obvody
Architektura počítačů Logické obvody http://d3s.mff.cuni.cz/teaching/computer_architecture/ Lubomír Bulej bulej@d3s.mff.cuni.cz CHARLES UNIVERSITY IN PRAGUE faculty of mathematics and physics 2/36 Digitální
VíceBoundary Scan JTAG (Joined Test Action Group) IEEE 1149.X Zápis do rozhraní
Boundary Scan JTAG (Joined Test Action Group) IEEE 1149.X Zápis do rozhraní Testování obvodů přístup k obvodům omezen porty / vývody In-Circuit Testery (Bed of Nails) Fine Pitch / MCM Multilayer Coating
VíceVestavné systémy BI-VES Přednáška 5
Vestavné systémy BI-VES Přednáška 5 Ing. Miroslav Skrbek, Ph.D. Katedra počítačových systémů Fakulta informačních technologií České vysoké učení technické v Praze Miroslav Skrbek 2010,2011 ZS2010/11 Evropský
VíceZpracování obrazu v FPGA. Leoš Maršálek ATEsystem s.r.o.
Zpracování obrazu v FPGA Leoš Maršálek ATEsystem s.r.o. Základní pojmy PROCESOROVÉ ČIPY Křemíkový čip zpracovávající obecné instrukce Různé architektury, pracují s různými paměti Výkon instrukcí je závislý
VíceObsah DÍL 1. Předmluva 11
DÍL 1 Předmluva 11 KAPITOLA 1 1 Minulost a současnost automatizace 13 1.1 Vybrané základní pojmy 14 1.2 Účel a důvody automatizace 21 1.3 Automatizace a kybernetika 23 Kontrolní otázky 25 Literatura 26
VíceZvyšování kvality výuky technických oborů
Zvyšování kvality výuky technických oborů Klíčová aktivita V. 2 Inovace a zkvalitnění výuky směřující k rozvoji odborných kompetencí žáků středních škol Téma V. 2.3 Polovodiče a jejich využití Kapitola
VícePřenos signálů, výstupy snímačů
Přenos signálů, výstupy snímačů Topologie zařízení, typy průmyslových sběrnic, výstupní signály snímačů Přenosy signálů informací Topologie Dle rozmístění ŘS Distribuované řízení Většinou velká zařízení
VíceMěření na unipolárním tranzistoru
Měření na unipolárním tranzistoru Teoretický rozbor: Unipolární tranzistor je polovodičová součástka skládající se z polovodičů tpu N a P. Oproti bipolárnímu tranzistoru má jednu základní výhodu. Bipolární
Více11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr
11. Odporový snímač teploty, měřicí systém a bezkontaktní teploměr Otázky k úloze (domácí příprava): Pro jakou teplotu je U = 0 v případě použití převodníku s posunutou nulou dle obr. 1 (senzor Pt 100,
VíceČísla, reprezentace, zjednodušené výpočty
Čísla, reprezentace, zjednodušené výpočty Přednáška 5 A3B38MMP kat. měření, ČVUT - FEL, Praha J. Fischer A3B38MMP, 2015, J.Fischer, ČVUT - FEL, kat. měření 1 Čísla 4 bitová dec bin. hex. 0 0000 0 1 0001
VíceELEKTRONIKA. Maturitní témata 2018/ L/01 POČÍTAČOVÉ A ZABEZPEČOVACÍ SYSTÉMY
ELEKTRONIKA Maturitní témata 2018/2019 26-41-L/01 POČÍTAČOVÉ A ZABEZPEČOVACÍ SYSTÉMY Řešení lineárních obvodů - vysvětlete postup řešení el.obvodu ohmovou metodou (postupným zjednodušováním) a vyřešte
VíceSystém řízení sběrnice
Systém řízení sběrnice Sběrnice je komunikační cesta, která spojuje dvě či více zařízení. V určitý okamžik je možné aby pouze jedno z připojených zařízení vložilo na sběrnici data. Vložená data pak mohou
VíceEvropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti MI-SOC: 7 ČASOVÁNÍ A SYNCHRONIZACE TECHNICKÉHO VYBAVENÍ doc. Ing. Hana Kubátová, CSc. Katedra číslicového návrhu Fakulta informačních
Více7b. Tlakové senzory II piezoelektrické kapacitní pn přechod s Hallovým senzorem optické. 1. Piezoelektrické tlakové senzory. Tlakové senzory II
POLOVODIČOVÉ TLAKOVÉ SENZORY Přednášející: 7b. Tlakové senzory II piezoelektrické kapacitní pn přechod s Hallovým senzorem optické Prof. Ing. Miroslav Husák, CSc. husak@fel.cvut.cz tel.: 2 2435 2267 http://micro.feld.cvut.cz
Víceteorie elektronických obvodů Jiří Petržela analýza šumu v elektronických obvodech
Jiří Petržela co je to šum? je to náhodný signál narušující zpracování a přenos užitečného signálu je to signál náhodné okamžité amplitudy s časově neměnnými statistickými vlastnostmi kde se vyskytuje?
VíceETC Embedded Technology Club setkání 3, 3B zahájení třetího ročníku
ETC Embedded Technology Club setkání 3, 3B 9.10. 2018 zahájení třetího ročníku Katedra měření, Katedra telekomunikací,, ČVUT- FEL, Praha doc. Ing. Jan Fischer, CSc. ETC club, 3, 3B 23.10.2018, ČVUT- FEL,
VíceZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ
ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části
VíceZákladní pojmy z oboru výkonová elektronika
Základní pojmy z oboru výkonová elektronika prezentace k přednášce 2013 Projekt ESF CZ.1.07/2.2.00/28.0050 Modernizace didaktických metod a inovace výuky technických předmětů. výkonová elektronika obor,
VíceNapájení a blokování napájení mikroprocesorů
Napájení a blokování napájení mikroprocesorů Materiál je určen jako pomocný materiál pouze pro studenty zapsané v předmětu: A3B38MMP ČVUT- FEL, katedra měření, přednášející Jan Fischer Jan Fischer, 2015
Více2. Pomocí Theveninova teorému zjednodušte zapojení na obrázku, vypočtěte hodnoty jeho prvků. U 1 =10 V, R 1 =1 kω, R 2 =2,2 kω.
A5M34ELE - testy 1. Vypočtěte velikost odporu rezistoru R 1 z obrázku. U 1 =15 V, U 2 =8 V, U 3 =10 V, R 2 =200Ω a R 3 =1kΩ. 2. Pomocí Theveninova teorému zjednodušte zapojení na obrázku, vypočtěte hodnoty
VíceStruktura a architektura počítačů (BI-SAP) 4
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Struktura a architektura počítačů (BI-SAP) 4 doc. Ing. Hana Kubátová, CSc. Katedra číslicového návrhu Fakulta informačních technologii
Více4. Elektronické logické členy. Elektronické obvody pro logické členy
4. Elektronické logické členy Kombinační a sekvenční logické funkce a logické členy Elektronické obvody pro logické členy Polovodičové paměti 1 Kombinační logické obvody Způsoby zápisu logických funkcí:
Více1 ÚVOD DO PŘEDMĚTU...11 1.1 1.2 1.3 2 ZÁKLADNÍ OBVODY...14
Obsah 1 ÚVOD DO PŘEDMĚTU...11 1.1 Cíl učebnice...11 1.2 Přehled a rozdělení elektroniky...11 1.3 Vstupní test...12 2 ZÁKLADNÍ OBVODY...14 2.1 Základní pojmy z elektroniky...14 2.1.1 Pracovní bod...16 2.2
VíceMěření neelektrických veličin. Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně Ústav konstruování
Měření neelektrických veličin Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně Ústav konstruování Obsah Struktura měřicího řetězce Senzory Technické parametry senzorů Obrazová příloha Měření neelektrických veličin
VícePřednáška Omezení rozlišení objektivu difrakcí
Před A3M38VBM, J. Ficher, kat. měření, ČVUT FL Praha Přednáška Omezení rozlišení objektivu difrakcí v. 2011 Materiál je určen pouze jako pomocný materiál pro tudenty zapané v předmětu: Videometrie a bezdotykové
VíceOtázka č. 3 - BEST Aktivní polovodičové součástky BJT, JFET, MOSFET, MESFET struktury, vlastnosti, aplikace Vypracovala Kristýna
Otázka č. 3 - BEST Aktivní polovodičové součástky BJT, JFET, MOSFET, MESFET struktury, vlastnosti, aplikace Vypracovala Kristýna Tato otázka přepokládá znalost otázky č. - polovodiče. Doporučuji ujasnit
Více