Mechanical Surface Testing

Transkript

1 //// CSM INSTRUMENTS Advanced Mechanical Surface Testing EXCELLENCE IN NANOINDENTATION, SCRATCH AND TRIBOLOGY //// CSM ULTRA NANOINDENTATION TESTER (UNHT) the new generation of Nanoindenter with ultra low thermal drift This new Nanoindenter is based on the principle of using a measurement head (built with drift-free Zerodur glass material) with one axis for measurement and one axis for reference, each one having its own actuator and its own sensors of depth and force. It is therefore possible to carry out active referencing of the surface of the sample. The true penetration depth is measured with a third capacitive sensor monitoring the direct difference of penetration between the reference and the indenter. > Extremely soft materials: gels and cells Experiments performed on gels show the exceptional capabilities of the UNHT in extreme applications: with loads lower than 50 N, penetration depths can reach 10 to 20 m! Great measurement accuracy can be obtained for penetration depths from 10 nm to over nm. Thanks to the unmatched thermal stability of the system, adhesion energy can be easily studied on various soft materials. > Ultra low load indentations on low-k films > Creep studies on polymers Low load indentations on low-k films of 200 nm thickness demonstrate the high-resolution capabilities of this unique and patented UNHT instrument. This makes it the ideal instrument for characterization of ultra thin coatings. Nanomechanical testing of materials exhibiting timedependent properties requires an instrument with high thermal stability and high resolution. Creep studies on polymers can always be performed without any thermal stabilization period or thermal drift correction! CSM Instruments Rue de la Gare 4 CH 2034 Peseux Phone : Fax : info@csm-instruments.com

2 Výhradní zástupce výrobce elektronových mikroskopů FEI pro Českou republiku a Slovensko Zařízení a služby pro elektronovou a optickou mikroskopii Adresa společnosti EDLIN, s. r. o. Za Kralupkou LIBIŠ tel: fax:

3 AFM, SEM microscopy and nanoindentation Agilent Technologies The Agilent 8500 FE-SEM is a compact system that offers researchers a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) right in their own laboratory. The innovative 8500 has been optimized for low-voltage imaging, extremely high surface contrast, and resolution typically found only in much larger and more expensive field emission microscopes. Agilent's highly configurable AFM instruments allow you to expand the system's capabilities as your needs occur. Agilent's industry-leading environmental / temperature systems and fluid handling enable superior control for electrochemistry, polymer and life-science applications. The culmination of decades of research and development, the Agilent Nanoindenter systems are the world s most accurate, flexible, and user-friendly instrument for nanoscale mechanical testing. Electromagnetic actuation technology allows the systems to achieve unparalleled dynamic range in force and displacement. H TEST a.s. Šafránkova Praha 5 Tel: info@htest.cz

4 NANOINDENTACE Měřící možnosti systému Nanoindetace Měření tvrdosti, modulu a visko-elastických vlastností pomocí nano a mikro indexačních technik Analýza tvrdosti a modulu v závislosti na hloubce Mapování mechanických vlastností Kvazi-statické a dynamické testování Nano-impact a fatigue Analýza narušení materiálu Měření materiálového útlumového koeficientu Nízká nebo vysoká zátěž (10 μn-500 mn) ( N) Analýza chování při vysoké zátěži Nano-scratch a wear Analýza kritické zátěže při scratch testu a tření Měření počtů cyklů do poruchy pro ochranné vrstvy Řízené prostředí Dynamické zatížení Charakterizace Nano-fretting Akcelerované reciproké únavové testy Nízký kontaktní tlak pro dlouhodobé testování (až 1 milion cyklů) Vysoká teplota (750 o C max) Nízká teplota (-30 o C min) Kapalina (H20, Olej) Vlhkost (15-80% RH) Inertní atmosféra (Ar, N2) Atmosféra s nízkým obsahem kyslíku (0.1% min) Scratch Wear Fretting Sample impact Pendulum impact 3D zobrazení - povrch profiling/ nanopositioner Hloubkový profil 3D zobrazení vysoké rozlišení - AFM Akustická emise Cílená a mapující nanoindentace Kontrolované podmínky testů a rozšíření Kontrolované podmínky prostředí pro testování za reálných podmínek použití testovaných materiálů Vysokoteplotní nanoindentace, nanoscratch a nanoimpact až do 750 C Nízkoteplotní nanoindentace a nanoscratch do -30 C Testování v kapalinách (vzorek i hrot jsou ponořeny v kapalině) Měření při kontrolované atmosféře (bez kyslíku) Měření při kontrolované vlhkosti Naše firma LAO průmyslové systémy, s.r.o. nabízí široké portfolio produktů a služeb v oblasti vědeckých a průmyslových aplikací. Obecně se zabýváme prodejem laserů, vědeckých laserových systémů, optiky a optomechaniky, optoelektronických, detekčních a měřících zařízení, kompletních technologických laserových systémů pro průmyslové aplikace a to včetně servisu, dodávek náhradních dílů a spotřebního materiálu. Na trhu působíme téměř dvacet let a rádi bychom zmínili, že kontinuitu kvalitních služeb vždy zaručovali pracovníci, kteří mají několikaleté zkušenosti s laserovými a optickými aplikacemi. Informace o většině produktů a služeb firmy LAO průmyslové systémy s.r.o. naleznete na Snahou firmy LAO průmyslové systémy, s.r.o. je vždy dělat vše pro to, abychom maximálně a efektivně uspokojili Vaše požadavky, potřeby a záměry a zůstali tak ve Vašem povědomí jako schopný a důvěryhodný partner pro dlouhodobou spolupráci. Dokážeme poradit s řešením dané aplikace, navrhnout vhodnou sestavu či pomůžeme s výběrem optimální technologie. Nabízíme kvalitní a prověřené produkty od světových dodavatelů. Zárukou kvality našich služeb je také certifikace ISO , kterou jsme získali v roce V případě Vašeho zájmu o naše produkty či o cokoliv dalšího, nás neváhejte prosím kontaktovat. Odpovíme Vám rádi na veškeré dotazy a poradíme se správným výběrem a konfigurací pro Vaše pracoviště, tak aby jste maximálně využili všech možností a schopností, které tyto produkty nabízejí. SLAVÍME 20. VÝROČÍ LAO - průmyslové systémy, s.r.o Lasery a Optika Na Floře 1328/4, Praha 4 Tel.: (+420) ISO 9001:2011 Nano_Vantage_250x175.indd :16:35

5

6 nanolab tools Laser Tip heating Laser Substrate heating Si at RT (25 C) Displacement at constant load, F = 570 mn 2000 Si at 500 C Displacement into surface [nm] C 250 C RT for micro/nano mechanical Testing in Nanoindenter and SEM: Peak hold time [s] Creep of Si at RT-500 C Heating: Laser Heater: Rt- 500 C Cooling: - 80 C to 180 C (250 Cmax) SURFACE Rheinstr.7 D41836 Hückelhoven Tel info@surface-tec.com

7 CHEMICKÉ LISTY ročník/volume 106 (S), čís./no. Symposia LISTY CHEMICKÉ roč./vol. 136, ČASOPIS PRO PRŮMYSL CHEMICKÝ, roč./vol. 122 ISSN , ISSN (e-verze), ISSN (CD verze) evidenční číslo MK ČR E 321 Vydává Česká společnost chemická jako časopis Asociace českých chemických společností ve spolupráci s VŠCHT Praha, s ČSPCH a ÚOCHB AV ČR za finanční podpory Nadace Český literární fond a kolektivních členů ČSCH IČO Published by the Czech Chemical Society VEDOUCÍ REDAKTOR/EDITOR-IN-CHIEF: P. Chuchvalec REDAKTOŘI/ EDITORS: J. Barek, Z. Bělohlav, P. Drašar, J. Hetflejš, P. Holý, J. Horák, B. Kratochvíl, J. Podešva, P. Rauch; Bulletin: I. Valterová; Webové stránky: R. Liboska, P. Zámostný ZAHRANIČNÍ A OB- LASTNÍ REDAKTOŘI/FOREIGN AND REGIONAL EDITORS: F. Švec (USA), Z. Kolská (Ústí nad Labem) KONZULTANT/CONSULTANT: J. Kahovec TECHNICKÁ REDAKTORKA/EDITORIAL ASSISTANT: R. Řápková REDAKČNÍ RADA/ADVISORY BOARD: K. Bláha, L. Červený, E. Dibuszová, J. Hanika, Z. Havlas, J. Káš, M. Koman, J. Koubek, T. Míšek, K. Melzoch, V. Pačes, O. Paleta, V. Růžička, I. Stibor, V. Šimánek, R. Zahradník ADRESA PRO ZASÍLÁNÍ PŘÍSPĚVKŮ/MANUSCRIPTS IN CZECH, SLOVAK OR ENGLISH CAN BE SENT TO: Chemické listy, Novotného lávka 5, Praha 1; tel./phone , , chem.listy@csvts.cz INFORMACE O PŘEDPLATNÉM, OBJEDNÁVKY, PRODEJ JEDNOTLIVÝCH ČÍSEL A INZERCE/ INFORMATION ADS: Sekretariát ČSCH, Novotného lávka 5, Praha 1; tel , chem.spol@csvts.cz, chem.ekonom@csvts.cz PLNÁ VERZE NA INTERNETU/FULL VERSION ON URL: TISK: Rodomax s.r.o., Rezecká 1164, Nové Město nad Metují Redakce čísla Symposia (ISSUE EDITOR) R. Čtvrtlík, L. Pešek SAZBA, ZLOM: ČSCH, Chemické listy Copyright 2012 Chemické listy/česká společnost chemická Cena výtisku 170 Kč, roční plné předplatné 2012 (12 čísel) 1730 Kč, individuální členské předplatné pro členy ČSCH 865 Kč. Roční předplatné ve Slovenské republice 92 EUR (doručování via SCHS), individuální členské předplatné pro členy ČSCH 70 EUR (doručování via SCHS), 258 EUR (individuální doručování), ceny jsou uvedeny včetně DPH DISTRIBUTION ABROAD: KUBON & SAGNER, POB , D Munich, FRG; Annual subscription for 2012 (12 issues) 225 EUR This journal has been registered with the Copyright Clearance Center, 2322 Rosewood Drive, Danvers, MA 01923, USA, where the consent and conditions can be obtained for copying the articles for personal or internal use Pokyny pro autory najdete na zkratky časopisů podle Chemical Abstract Service Source Index (viz Chemické listy obsahující Bulletin jsou zasílány zdarma všem individuálním a kolektivním členům ČSCH a ČSPCH v ČR i zahraničí, do všech relevantních knihoven v ČR a významným představitelům české chemie a chemického průmyslu; v rámci dohod o spolupráci i členům dalších odborných společností Molekulární námět na obálce: P. Drašar Dáno do tisku s586