Pohledy do Mikrosvěta
|
|
- Romana Staňková
- před 8 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Pohledy do Mikrosvěta doc. RNDr. František Lednický, CSc. Ústav makromolekulární chemie Akademie věd ČR Abstrakt Na příkladech převážně z oblasti polymerních materiálů je v presentované práci stručně uveden přehled možností mikroskopických technik, mikroskopických preparací, metod zobrazení a výsledků. 1. Úvod Svět kolem nás, předměty a okolí se kterými se pravidelně setkáváme, vnímáme obvykle jako samozřejmost, aniž bychom o nich podrobněji uvažovali. Dům, ve kterém bydlíme, nám slouží, krajina, kde žijeme, se mění rychleji podle ročních období či pomaleji podle zásahů, které do ní udělá člověk. Nářadí a nástroje, které potřebujeme k práci nebo využíváme ve svém volném čase, považujeme za dobré nebo méně dobré podle toho, do jaké míry jsou nám užitečné. S okolním světem komunikujeme tak, že se jej dotýkáme nebo pozorujeme. Můžeme říci, že pokud k této komunikaci nepotřebujeme speciální prostředky, pak to, co vnímáme je makrosvět. Každá jeho součást, ať jde o část živou nebo neživou, má svoje vlastní složení, strukturu, která odpovídá její funkci. Sledujeme-li strukturní elementy světa o tak malých rozměrech, že je už nejsme schopni sledovat neozbrojeným okem, mluvíme o mikrosvětě. Hledáme-li společné rysy makro- a mikrosvěta, nenajdeme jich mnoho. Důležitým společným rysem však je vnitřní struktura, tedy uspořádání na různých úrovních jak v makrosvětě, tak i ve světě mikroskopických rozměrů. Například zdi domů jsou sestaveny z cihel (či jiných konstrukčních prvků), živá hmota z buněk, neživé hmoty mohou mít
2 krystalickou skladbu či mohou být tvořeny směsí adherujících drobných částic různého původu a různých vlastností. Můžeme nalézt překvapivou analogii ve vnitřní stavbě složitých konstrukcí a běžných přírodních útvarů. (Příkladem může být dokonalá příhradová konstrukce obilného stébla, tvořená mikrotrubicemi různých průměrů uspořádaných ve svazcích a vyztuženými příčným dělením, zvyšujícím jejich tuhost. Porovnáme-li pak obyčejné pšeničné stéblo s dosud nejvyšší volně stojící strukturou vytvořenou člověkem, 553 m vysokou komunikační věží společnosti CN v Torontu, dojdeme k překvapivému zjištění, že stéblo o stejné výšce jako zmíněná věž by měla u země průměr pouhých 6 metrů.) Zjednodušíme-li vztah člověka k poznání a využití okolního světa a omezíme-li se nadále na oblast materiálů a materiálového výzkumu, můžeme říci, že člověk si klade dvě základní otázky: JAK a PROČ. Jak vyrobit materiál, díl či výrobek, jak snížit náklady, jak zvýšit rychlost produkce, jak nahradit drahý materiál, jak zvýšit kvalitu, jak odstranit vady. Odpověď na tyto otázky je většinou úkolem výrobní sféry. Odpovědi na otázku Proč většinou hledáme v akademické sféře. Jde o pochopení stavby hmoty, struktury materiálu a ovlivnění jeho vlastností. Zde je pak přímá souvislost s pohledy do mikrosvěta, tam hledáme odpovědi. Jaké máme možnosti do mikrosvěta nahlížet? Je celá řada technik, které se vztahují k vlastnostem a chování materiálů na úrovních atomární, molekulární a nadmolekulární. Zde si pouze velmi stručně všimneme technik mikroskopických. Tyto techniky poskytují přímý pohled (zprostředkovaný mikroskopickým zařízením) na rozložení strukturních útvarů ve sledovaném objektu. Výsledkem je obraz. Je zřejmé, že k dosažení tohoto pohledu je nutno také vhodným způsobem připravit preparát, který pak zobrazovací zařízení (mikroskop) je schopno zpracovat, aby struktura byla zřejmá. (Například tlustý preparát není možno zobrazit prozařovací technikou, průhledný preparát se obtížně zobrazuje technikami využívajícími odraz záření, vnitřek nepřístupného vzorku je třeba odkrýt vhodnou preparační technikou.) 2. Mikroskopické techniky Mikroskopické zobrazovací techniky můžeme podle způsobu vytváření obrazu rozdělit do dvou základních skupin. Všeobecně známé jsou mikroskopické techniky, u nichž se obraz vytváří pomocí čoček. Typickými příklady jsou světelná a transmisní (prozařovací) elektronová mikroskopie. Druhý typ zobrazovacích zařízení jsou rastrovací či skanovací mikroskopy, u nichž se preparát prohlíží bod po bodu a celkový obraz vzniká složením jednotlivých bodů, tedy složením signálů, které získáme odezvou na interakci buzení.
3 Typickými příklady jsou rastrovací (skanovací) elektronová mikroskopie a mikroskopické techniky známé pod názvem mikroskopie rastrovací sondou, z nichž snad nejznámější jsou mikroskopie atomárních sil a tunelovaní rastrovací mikroskopie. Rozvoj mikroskopických technik v posledních desetiletích pokročil velmi rychle a v současné době existuje řada takových, které oba tyto způsoby kombinují, tedy kdy zařízení obsahuje zobrazovací čočky a obraz vzniká čtením preparátu bod po bodu. Jako příklady můžeme uvést světelnou konfokální mikroskopii, mikroskopii blízkého pole, či rastrovací transmisní elektronovou mikroskopii. Každá z mikroskopických technik má své přednosti i nedostatky. To platí pro techniky jak zobrazovací, tak i preparační. Je proto na jejich uživatelích, aby zvolili takovou (takové), která poskytne ty informace, které o vzorku získat potřebujeme. U mikroskopů, kde se obraz vytváří pomocí čoček, je celý pozorovaný preparát použitým zářením osvětlován současně. Záření difraktované preparátem se zpracovává zobrazovací soustavou a výsledkem je skutečný obraz na záznamovém médiu (matnici, filmu, fluorescenčním stínítku, fotografické desce nebo v současné době nejčastěji digitální pomocí kamery). U skanovacích mikroskopů se pro čtení preparátu využívá různých typů sond. U rastrovacího elektronového mikroskopu je to elektronový svazek, generovaný elektronovým dělem podobně jako u transmisního elektronového mikroskopu, avšak soustředěný do co nejmenší plochy, je možno říci do bodu. Nejlepší možné rozlišení pak závisí na rozměru tohoto bodu. Interakcí elektronového svazku s preparátem vzniká celá řada signálů, za všechny uveďme jen zpětně odražené elektrony, sekundární elektrony a záření X. Každý ze signálů je možno využít k získání obrazu a každý takový obraz pak vypovídá o vzorku poněkud jiným způsobem. Zobrazení s použitím sekundárních elektronů má nejlepší rozlišení a používá se hlavně k získání informace o povrchové topografii (povrchovém reliéfu) zobrazovaného vzorku. Zobrazení získané detekcí zpětně odražených elektronů nesou rovněž informace o materiálovém složení vzorku v daném místě, má však nižší rozlišení, neboť detekovaný signál vzniká ve větším objemu kolem dopadajícího svazku. Ze záření X vzniklého dopadem elektronového svazku na preparát se využívá jeho charakteristická složka, tj. charakteristické záření X. Takto je možno ve zvoleném místě preparátu stanovit jeho chemické složení, nebo se dá vytvořit obraz rozložení zvoleného prvku na preparátu. Tento způsob prvkové mikroanalýzy je velmi důležitým a velmi využívaným nástrojem v materiálovém výzkumu.
4 Zvolený signál (sekundární elektrony, zpětně odražené elektrony a další) se detekuje vhodným detektorem a po elektronickém zpracování se zobrazí na televizní obrazovce jako světlý bod, jehož intenzita je úměrná intenzitě detektovaného signálu. Synchronizací pohybu elektronového svazku po preparátu a odpovídajícího bodu na monitoru vznikne obraz, jehož zvětšení se dá měnit změnou velikosti ozářené oblasti. Jako sondy pro čtení obrazu lze použít velmi tenkého hrotu. To je způsob využívaný u mikroskopie rastrovací sondou (SPM scanning probe microscopy). Velmi tenký hrot, jehož pohyb ve všech směrech je ovládán piezoelektrickými krystaly, interaguje s povrchem vzorku tak, že je možno zvolit způsob této interakce, totiž přímý dotyk, pohyb v určité (malé) vzdálenosti od povrchu či tlak hrotu na povrch vzorku podle atomárních sil mezi krystalovým hrotem a povrchem vzorku. Toto je podstata metody mikroskopie atomárních sil (AFM atomic force microscopy), používané pro nevodivé vzorky. Souřadnice poloh hrotu jsou zaznamenány počítačem a z těchto souřadnic se pak rekonstruuje obraz vzorku. Pro vodivý vzorek je navíc možná volba pohybu hrotu ve vzdálenosti od povrchu, která je určována zvoleným proudem procházejícím mezi hrotem a vzorkem (tunelovacím proudem, odtud tunelovací mikroskopie, STM scanning tunneling microscopy). Jako u každé mikroskopické metody, i zde je možnost její aplikace omezena na relativně hladké a rovné povrchy, avšak její předností je extrémní rozlišovací schopnost, která může dosahovat až rozlišitelnosti jednotlivých atomů. Jiný způsob zobrazení rastrovací technikou, řazený také mezi techniky SPM, je mikroskopie blízkého pole (near-field scanning optical microscopy NSOM). Využívá jako čtecí sondy velmi tenký světelný paprsek, který je do velmi těsné blízkosti povrchu vzorku přiveden tenkým světlovodivým vláknem. Pohyb vlákna je opět řízen piezoelektrickými krystaly a obraz se opět skládá ze signálů získaných ozářením jednotlivých bodů preparátu. Předností této složité techniky je lepší rozlišení, než dovoluje klasická zobrazovací světelná mikroskopie. Mikroskopické techniky musíme rozlišovat podle možností zobrazování jednotlivých typů preparátů tedy vlastně podle typu informace, které o studovaném objektu potřebujeme získat. Buďto potřebujeme získat informace o povrchu preparátu, nebo o jeho vnit ku. ř Zdálo by se, že shora uvedené dělení mikroskopických technik už toto rozlišení poskytuje, ale není tomu tak zcela úplně. Existují zde překryvy: světelná mikroskopie dovoluje pozorování světla odraženého od povrchu preparátu, rastrovací elektronová mikroskopie umožňuje (s příslušnou instrumentací) analyzovat prvkové složení preparátu v poměrně velkém objemu.
5 3. Zvětšení a rozlišení možnosti mikroskopických technik Rozhodujícím parametrem každého mikroskopu není maximální dosažitelné zvětšení, ale rozlišovací schopnost. Ta vyjadřuje nejmenší rozlišitelnou vzdálenost detailů objektu. Zvětšení mikroskopického zařízení je většinou přizpůsobeno tomu, abychom požadovaného rozlišení mohli dosáhnout. Často se ale setkáváme s případem, kdy je použité zvětšení větší, než zvětšení užitečné. Pak ovšem nedokážeme rozlišit jemnější detaily, než odpovídá možnému rozlišení. (Příkladem může být promítání snímku na projekční plátno, kdy zvětšený obraz převyšuje originální fotografii třeba dvacetkrát, přesto jemnějšího rozlišení nelze dosáhnout.) Proto také uvádění zvětšení u snímků obvykle nemá smyslu, jediným možným údajem je připojené měřítko. Možnosti rozlišení jednotlivých mikroskopických technik jsou uvedeny v Tab. I. Tab. I. Rozlišovací schopnosti mikroskopických technik Mikroskopická technika Dosažitelné rozlišení (Neozbrojené oko) 0,1 mm Světelná mikroskopie 0,2 µm Mikroskopie blízkého pole 50 nm Transmisní elektronová mikroskopie nad 0,1 nm Rastrovací elektronová mikroskopie nad cca 2 až 3 nm Mikroskopie rastrovací sondou atomární, kolem 0,1 nm Hodnoty uvedené v Tab. I udávají meze, které jsou dosažitelné s použitím dané mikroskopické techniky. V aktuální situaci musíme však brát ohled na dva faktory: na modifikaci použité techniky (nap ř. na použitý objektiv při světelné mikroskopii: mezního rozlišení dosáhneme pouze s nejlepším objektivem při maximálním zvětšení a obvykle jen při použití imersní techniky) a zejména na možnosti, které poskytuje použitá preparační technika a vlastnosti preparátu. (U prozařovacích technik by pozorované strukturní jednotky měly být souměřitelné s tloušťkou preparátu. Prozáření tlustšího preparátu obsahujícího strukturní jednotky mnohem tenčí, než je preparát, způsobuje překrývání strukturních jednotek a tak zamlží získávanou informaci.) Při rozhodování o použití typu mikroskopu k zviditelnění sledovaného objektu přihlížíme kromě rozlišovací schopnosti obvykle také k dalším parametrům jako jsou hloubka
6 ostrosti zobrazení, způsob pozorování, typ a příprava vzorků, možnosti zpracování obrazu atd. Odlišnosti a technické parametry jednotlivých mikroskopických metod ukazují na to, že jejich možnosti jsou spíše komplementární než konkurenční. 4. Příprava preparátu možnosti preparačních technik Pohled do mikrosvěta musí v prvé řadě respektovat základní cíl: získat informace o objektu, které potřebujeme, tedy ty, které pomáhají vysvětlit jeho charakter, funkci, strukturu, korelaci s jinými naměřenými či pozorovanými vlastnostmi. Příprava preparátu pak musí v první řadě k tomuto cíli napomáhat. Studované objekty mají nejrůznější charakter. Mohou to být tlusté objekty (bloky), tenké filmy, vlákna, malé samostatné částice (prášky), či disperze. Neexistuje obecné pravidlo, které jednoznačně předpisuje, jak se mají jednotlivé preparáty pro mikroskopické studium připravit. Pro jednotlivé zobrazovací techniky však z charakteru zobrazení vyplývají možné způsoby téměř jednoznačně. U prozařovacích technik musíme respektovat tloušťku preparátu. U prozařovací světelné mikroskopie je to uložení na podložním sklíčku a obvykle pod krycím sklem, tloušťka preparátu podle propustnosti, obvykle v jednotkách až maximálně několika málo desítkách mikrometrů. U prozařovací elektronové mikroskopie je celková tloušťka preparátu omezena na tloušťku do asi jednoho sta nanometrů (0,1 µm), nejlépe ještě menší. Namísto podložního skla můžeme použít tenký napařený uhlíkový film, který i s preparátem nepřesahuje tuto tloušťku. Uložení preparátu na nosné síťce s mikroskopickými otvory je tak nutností (celkový průměr síťky 3 mm, typický počet otvorů v síťce může být kolem tisíce), pozorovat objekt je možné jen v oblastech otvorů v síťce. U technik zobrazujících povrch musíme respektovat skutečnost, že pozorujeme převážně jen tento povrch. U takového preparátu většinou nezáleží na velikosti objektu, omezením je jen velikost pracovního prostoru mikroskopického zařízení; velikost preparátu se pak dá snadno upravit seříznutím či odříznutím nedůležitých částí objektu. Někdy je třeba pamatovat na zajištění dostatečné rovinnosti objektu (např. u mikroskopie atomárních sil, nebo vzhledem k malé hloubce ostrosti u světelné odrazové mikroskopie). Preparace práškových materiálů, disperzí, nebo dostatečně tenkých filmů je nejjednodušší ze všech preparačních technik. Stačí je nanést na patřičnou podložku. Avšak pro prozařovací elektronovou mikroskopii může i toto být dosti obtížný problém.
7 U objemnějších objektů (bloků) je často třeba odkrýt strukturu vnitřku. Zde pak máme v zásadě tři možnosti preparace: řez, lom, nebo lept. Příprava tenkých řezů pro světelnou mikroskopii nebo ultratenkých řezů pro prozařovací elektronovou mikroskopii je samostatnou a poměrně obtížnou problematikou. Menší objekty, zvláště nepravidelné, je často třeba uzpůsobit pro řezání tím, že se zalijí do pryskyřice o vhodných vlastnostech. Ultratenké řezy 2 (tlusté kolem 50 nm) zahrnují plochu kolem 0,01 mmp P až 2 0,02 mmp P (přibližně obdélníkový řez o stranách kolem 0,1 mm a 0,1 až 0,2 mm). Uvědomíme-li si, že tloušťka běžného kancelářského papíru je 0,1 mm a že toto je zároveň mez rozlišení neozbrojeného oka, je ihned zřejmé, že manipulace s preparátem není jednoduchá a je k ní třeba dobrého mikroskopu. Druhou možností odkrytí vnitřku vzorku pro pozorování jeho struktury je příprava lomových ploch. Není to metoda obecná a kdykoliv použitelná, ale často jediná možná. Zde je třeba zaručit, abychom dokázali eliminovat vliv deformačních procesů, které lomu vždy předcházejí: buď je omezit na minimum (lom při velmi nízkých teplotách, např. v kapalném dusíku), nebo při pozorování lomové plochy umět rozeznat struktury vzniklé deformací od původní struktury objektu. Třetí možností odkrytí vnitřku vzorku je lept. Odstranění povrchové vrstvy nebo selektivní odstranění snadněji odstranitelných částí objektu se může provádět fyzikálními nebo chemickými technikami. Z fyzikálních technik se nejčastěji používá procesů vznikajících při výboji ve vakuu (vysokonapěťovém nebo vysokofrekvenčním). Mechanismy leptu jsou komplikované, mnohdy nedokonale popsané. Výsledek nebývá spolehlivý a téměř vždy vyžaduje odzkoušení leptacích podmínek. Použití chemických činidel pro selektivní odleptání požadované složky objektu bývá lépe definované, i když odzkoušení podmínek je rovněž nutné. Často se používá činidel způsobujících oxidativní degradaci méně odolné složky objektu. Na tomto místě je užitečné zmínit i fyzikálně chemické techniky, spočívající v selektivním rozpuštění některé z minoritních složek systému. Preparační postupy je možno kombinovat. Můžeme např. leptat povrch vzorku, lomovou plochu nebo řeznou plochu, vzniklou po zhotovení tenkého či ultratenkého řezu. Při interpretaci výsledného obrazu je však třeba znát detailně celý preparační postup, aby bylo zřejmé, jak lze pozorovaný obraz interpretovat, ale také vysvětlit možné preparační artefakty.
8 5. Příklady výsledků různých zobrazovacích technik V tomto souhrnu není prostor pro dostatečné ozřejmění rozdílů a možností mikroskopických technik. Základní typy zobrazení jsou na obr Dostatečný počet příkladů je uveden v přednášce. 6. Literatura L.C. Sawyer, D.T. Grubb, Polymer Microscopy, Chapmann & Hall, London Obrazová část 1 Světelná mikroskopie polymerních sférolitů: A polyoxymethylen (POM); B polyvinylidenfluorid (PVF2). A. Polyoxymethylen B. Polyvinylidenfluorid 2 SEM rastrovací elektronová mikroskopie. Lomová plocha polymerního recyklátu směs polyolefinů (polyethylen PE, polypropylen PP) a polyethylentereftalátu (PET): A. Nekompatibilizovaná směs B. Kompatibilizovaná směs
9 3 Mikrostruktura kopolymeru ABS: A transmisní elektronová mi kroskopie (TEM), ultratenký řez kontrastovaný OsOB4B; B mikroskopie atomárních sil (AFM), řezná plocha. A. TEM transmisní elektronová mikroskopie, ultratenký řez kontrastovaný OsOB4B B. AFM mikroskopie atomárních sil řezná plocha
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
VíceProč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
VíceTechniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
VíceOptické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí
Optické metody a jejich aplikace v kompozitech s polymerní matricí Doc. Ing. Eva Nezbedová, CSc. Polymer Institute Brno Ing. Zdeňka Jeníková, Ph.D. Ústav materiálového inženýrství, Fakulta strojní, ČVUT
VíceMikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka
Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití
VíceANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY DROBNÝCH KOVOVÝCH OZDOB Z HROBU KULTURY SE ZVONCOVÝMI POHÁRY Z HODONIC METODOU SEM-EDX
/ 1 ZPRACOVAL Mgr. Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL David Humpola Ústav archeologické památkové péče v Brně Pobočka Znojmo Vídeňská 23 669 02 Znojmo OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM)
VíceZákladní pojmy a vztahy: Vlnová délka (λ): vzdálenost dvou nejbližších bodů vlnění kmitajících ve stejné fázi
LRR/BUBCV CVIČENÍ Z BUNĚČNÉ BIOLOGIE 1. SVĚTELNÁ MIKROSKOPIE A PREPARÁTY V MIKROSKOPII TEORETICKÝ ÚVOD: Mikroskopie je základní metoda, která nám umožňuje pozorovat velmi malé biologické objekty. Díky
VíceANALYTICKÝ PRŮZKUM / 1 CHEMICKÉ ANALÝZY ZLATÝCH A STŘÍBRNÝCH KELTSKÝCH MINCÍ Z BRATISLAVSKÉHO HRADU METODOU SEM-EDX. ZPRACOVAL Martin Hložek
/ 1 ZPRACOVAL Martin Hložek TMB MCK, 2011 ZADAVATEL PhDr. Margaréta Musilová Mestský ústav ochrany pamiatok Uršulínska 9 811 01 Bratislava OBSAH Úvod Skanovací elektronová mikroskopie (SEM) Energiově-disperzní
Více3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).
PŘEDMĚTY KE STÁTNÍM ZÁVĚREČNÝM ZKOUŠKÁM V BAKALÁŘSKÉM STUDIU SP: CHEMIE A TECHNOLOGIE MATERIÁLŮ SO: MATERIÁLOVÉ INŽENÝRSTVÍ POVINNÝ PŘEDMĚT: NAUKA O MATERIÁLECH Ing. Alena Macháčková, CSc. 1. Souvislost
VíceOptická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka
Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova
VíceElektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová
VíceM I K R O S K O P I E
Inovace předmětu KBB/MIK SVĚTELNÁ A ELEKTRONOVÁ M I K R O S K O P I E Rozvoj a internacionalizace chemických a biologických studijních programů na Univerzitě Palackého v Olomouci CZ.1.07/2.2.00/28.0066
VíceDIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ
DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ T. Jeřábková Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 ter.jer@seznam.cz V. Košař Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 vlastik9a@atlas.cz G. Malenová Gymnázium Třebíč malena.vy@quick.cz
VíceMIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ
Mikroskopické techniky MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Slouží k vizualizaci mikroorganismů Antoni van Leeuwenhoek (1632-1723) Čočka zvětšující 300x Různé druhy mikroskopů, které se liší
VíceMetody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
VíceAnalýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod
1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek
VíceCo je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)
Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) -přenesení dané struktury na povrch strukturovaného substrátu Princip - interakce
Více2. Určete frakční objem dendritických částic v eutektické slitině Mg-Cu-Zn. Použijte specializované programové vybavení pro obrazovou analýzu.
1 Pracovní úkoly 1. Změřte střední velikost zrna připraveného výbrusu polykrystalického vzorku. K vyhodnocení snímku ze skenovacího elektronového mikroskopu použijte kruhovou metodu. 2. Určete frakční
VíceMikroskopické techniky
Mikroskopické techniky Světelná mikroskopie Elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou Zkráceno z přednášky doc. RNDr. R. Kubínka, CSc. Zdroj informací: http://apfyz.upol.cz/ucebnice/elmikro.html
VíceVlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VŠCHT - Forenzní analýza, 2012 RNDr. M. Kotrlý, KUP Mikroskopie Rozlišovací schopnost lidského oka cca 025 0,25mm Vlnová délka světla je cca 0,4 µm => rozlišovací schopnost cca. 0,2 µm 1000 x víc než oko
VíceElektronová Mikroskopie SEM
Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne
VíceZákladní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje
Optické zobrazování Základní pojmy Zobrazení zrcadlem, Zobrazení čočkou Lidské oko, Optické přístroje Základní pojmy Optické zobrazování - pomocí paprskové (geometrické) optiky - využívá model světelného
VíceDifrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech a zobrazení atomů Ondřej Ticháček, PORG, ondrejtichacek@gmail.com Eva Korytiaková, Gymnázium Nové Zámky, korpal@pobox.sk Abstrakt: Jak vypadá vnitřek hmoty? Lze spatřit
VíceLaboratorní úloha č. 6 - Mikroskopie
Laboratorní úloha č. 6 - Mikroskopie Úkoly měření: 1. Seznamte se s ovládáním stereoskopického mikroskopu, digitálního mikroskopu a fotoaparátu. 2. Studujte pod mikroskopem různé preparáty. Vyberte vhodný
Více4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY
4 ZKOUŠENÍ A ANALÝZA MIKROSTRUKTURY 4.1 Mikrostruktura stavebních hmot 4.1.1 Úvod Vlastnosti pevných látek, tak jak se jeví při makroskopickém zkoumání, jsou obrazem vnitřní struktury materiálu. Vnitřní
VíceLupa a mikroskop příručka pro učitele
Obecné informace Lupa a mikroskop příručka pro učitele Pro vysvětlení chodu světelných paprsků lupou a mikroskopem je nutno navázat na znalosti o zrcadlech a čočkách. Hodinová dotace: 1 vyučovací hodina
VíceMETALOGRAFIE I. 1. Úvod
METALOGRAFIE I 1. Úvod Metalografie je nauka, která pojednává o vnitřní stavbě kovů a slitin. Jejím cílem je zviditelnění struktury materiálu a následné studium pomocí světelného či elektronového mikroskopu.
VíceZobrazovací metody v nanotechnologiích
Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší
VíceMikroskopie rastrující sondy
Mikroskopie rastrující sondy Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Metody mikroskopie rastrující sondy SPM (scanning( probe Microscopy) Metody mikroskopie rastrující sondy soubor
VíceMikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Jednotlivé komponenty mikroskopu AFM Funkce, obecné nastavení parametrů a jejich vztah ke konkrétním funkcím software Nova Verze 20110706 Jan Přibyl,
VíceDifrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů
Difrakce elektronů v krystalech, zobrazení atomů T. Sýkora 1, M. Lanč 2, J. Krist 3 1 Gymnázium Českolipská, Českolipská 373, 190 00 Praha 9, tomas.sykora@email.cz 2 Gymnázium Otokara Březiny a SOŠ Telč,
VíceEXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM. Pracovní listy teoretická příprava
EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM Pracovní listy teoretická příprava Úloha 1: První nahlédnutí do nanosvěta Novou část dějin mikroskopie otevřel německý elektroinženýr, laureát Nobelovy ceny
VíceMetody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie
VíceTestování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
VíceNejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku
Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Nejdůležitější pojmy a vzorce učiva fyziky II. ročníku V tomto článku uvádíme shrnutí poznatků učiva II. ročníku
VíceSkenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil M. Vůjtek Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky v rámci projektu Vzdělávání výzkumných
VíceELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII
ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25
VíceSTANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ. Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b
STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b a UNIVERZITA PARDUBICE, Fakulta chemicko-technologická, Katedra anorganické
VíceStudentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012
Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012 MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE Josef KUDĚLKA, Tomáš MARTÍNEK Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně Fakulta aplikované informatiky Nad Stráněmi 4511 760 05 Zlín
VíceFyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)
Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Praktikum z pevných látek (F6390) Zpracoval: Michal Truhlář Naměřeno: 13. března 2007 Obor: Fyzika Ročník: III Semestr:
VíceC Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289
OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17
VíceCHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM)
CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM) Morfologie nauka o tvarech. Studium tvaru povrchu vrstev a povlaků (nerovnosti, inkluze, kapičky, hladkost,.). Topologie
VíceINTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
VíceSBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH
SBÍRKA ŘEŠENÝCH FYZIKÁLNÍCH ÚLOH MECHANIKA MOLEKULOVÁ FYZIKA A TERMIKA ELEKTŘINA A MAGNETISMUS KMITÁNÍ A VLNĚNÍ OPTIKA FYZIKA MIKROSVĚTA ODRAZ A LOM SVĚTLA 1) Index lomu vody je 1,33. Jakou rychlost má
VíceCÍLE CHEMICKÉ ANALÝZY
ANALYTICKÉ METODY CÍLE CHEMICKÉ ANALÝZY Získat maximum informací dostupným přírodovědným průzkumem o památce. Posoudit poruchy a poškození materiálů. Navrhnout nejvhodnější technologii restaurování. Určit
VíceZáklady mikroskopie. Úkoly měření: Použité přístroje a pomůcky: Základní pojmy, teoretický úvod: Úloha č. 10
Úloha č. 10 Základy mikroskopie Úkoly měření: 1. Seznamte se základní obsluhou třech typů laboratorních mikroskopů: - biologického - metalografického - stereoskopického 2. Na výše jmenovaných mikroskopech
VíceEM, aneb TEM nebo SEM?
EM, aneb TEM nebo SEM? Jiří Šperka Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita, Brno 2. únor 2011 / Prezentace pro studentský seminář Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 1 / 21
VíceCentrovaná optická soustava
Centrovaná optická soustava Dvě lámavé kulové ploch: Pojem centrovaná optická soustava znamená, že splývají optické os dvou či více optických prvků. Základním příkladem takové optické soustav jsou dvě
VíceTestování nanovlákenných materiálů. Eva Košťáková KNT, FT, TUL
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
VíceFotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát. Fotografický aparát
Michal Veselý, 00 Základní části fotografického aparátu tedy jsou: tělo přístroje objektiv Pochopení funkce běžných objektivů usnadní zjednodušená představa, že objektiv jako celek se chová stejně jako
VíceNauka o materiálu. Přednáška č.2 Poruchy krystalické mřížky
Nauka o materiálu Přednáška č.2 Poruchy krystalické mřížky Opakování z minula Materiál Degradační procesy Vnitřní stavba atomy, vazby Krystalické, amorfní, semikrystalické Vlastnosti materiálů chemické,
VíceViková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková
Mikroskopie V M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Hloubka ostrosti problém m velkých zvětšen ení tloušťka T vrstvy vzorku kolmé k optické ose, kterou vidíme ostře zobrazenou Objektiv
VíceMETODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
VíceUltrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský
Ultrazvuková defektoskopie Vypracoval Jan Janský Základní principy použití vysokých akustických frekvencí pro zjištění vlastností máteriálu a vad typické zařízení: generátor/přijímač pulsů snímač zobrazovací
VíceFyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze
Fyzikální praktikum FJFI ČVUT v Praze Úloha 6: Geometrická optika Datum měření: 8. 4. 2016 Doba vypracovávání: 10 hodin Skupina: 1, pátek 7:30 Vypracoval: Tadeáš Kmenta Klasifikace: 1 Zadání 1. DÚ: V přípravě
VíceElektronová mikroanalýz Instrumentace. Metody charakterizace nanomateriálů II
Elektronová mikroanalýz ýza 1 Instrumentace Metody charakterizace nanomateriálů II RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Elektronová mikroanalýza relativně nedestruktivní rentgenová spektroskopická metoda
VícePrincip rastrovacího konfokálního mikroskopu
Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus
VíceOptická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická
VíceFluorescenční mikroskopie
Fluorescenční mikroskopie Pokročilé biofyzikální metody v experimentální biologii Ctirad Hofr 1 VYUŽITÍ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ A NEPŘÍMA IMUNOFLUORESCENCE, BIOTIN-AVIDINOVÁ METODA IMUNOFLUORESCENCE
VíceDigitální fotografie. Mgr. Milana Soukupová Gymnázium Česká Třebová
Digitální fotografie Mgr. Milana Soukupová Gymnázium Česká Třebová Téma sady didaktických materiálů Digitální fotografie I. Číslo a název šablony Číslo didaktického materiálu Druh didaktického materiálu
VícePřírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop
Přírodovědecká fakulta bude mít elektronový mikroskop Přístroj v hodnotě několika milionů korun zapůjčí Přírodovědecké fakultě Masarykovy univerzity (MU) společnost FEI Czech Republic, výrobce elektronových
VícePRÁCE S MIKROSKOPEM Praktická příprava mikroskopického preparátu
PRÁCE S MIKROSKOPEM 1. Praktická příprava mikroskopického preparátu 2. a) Z objektu, jehož část, chceme pozorovat pomocí mikroskopu, musíme nejprve vytvořit mikroskopický preparát. Obr. č. 1 b) Pozorovaný
VíceCHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ
CHARAKTERIZACE MATERIÁLU POMOCÍ DIFRAKČNÍ METODY DEBYEOVA-SCHERREROVA NA ZPĚTNÝ ODRAZ Lukáš ZUZÁNEK Katedra strojírenské technologie, Fakulta strojní, TU v Liberci, Studentská 2, 461 17 Liberec 1, CZ,
VíceLaboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech
Laboratorní úloha č. 7 Difrakce na mikro-objektech Úkoly měření: 1. Odhad rozměrů mikro-objektů z informací uváděných výrobcem. 2. Záznam difrakčních obrazců (difraktogramů) vzniklých interakcí laserového
VíceTypy světelných mikroskopů
Typy světelných mikroskopů Johann a Zacharias Jansenové (16. stol.) Systém dvou čoček délka 1,2 m 17. stol. Typy světelných mikroskopů Jednočočkový mikroskop 17. stol. Typy světelných mikroskopů Italský
VíceRozdělení přístroje zobrazovací
Optické přístroje úvod Rozdělení přístroje zobrazovací obraz zdánlivý subjektivní přístroje lupa mikroskop dalekohled obraz skutečný objektivní přístroje fotoaparát projekční přístroje přístroje laboratorní
VíceZobrazovací zařízení. Základní výstupní zařízení počítače, které slouží k zobrazování textových i grafických informací.
Zobrazovací zařízení Základní výstupní zařízení počítače, které slouží k zobrazování textových i grafických informací. Hlavní částí každého monitoru je obrazovka, na jejímž stínítku se zobrazují jednotlivé
VíceMikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 tel.: +420 485 353 006 cxi.tul.cz
Mikroskopie, zobrazovací technika Vizualizační technika Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení je optické měřící zařízení pro měření teplot (VISIOFEM Temperature
VíceMORFOLOGIE VÝSTŘIKU - VLIV TECHNOLOGICKÝCH PODMÍNEK. studium heterogenní morfologické struktury výstřiků
MORFOLOGIE VÝSTŘIKU - VLIV TECHNOLOGICKÝCH PODMÍNEK studium heterogenní morfologické struktury výstřiků Laboratorní cvičení předmět: Vlastnosti a inženýrské aplikace plastů Zadání / Cíl Na vstřikovaných
VíceGeometrická optika. Optické přístroje a soustavy. převážně jsou založeny na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fyzikálním polem
Optické přístroje a soustav Geometrická optika převážně jsou založen na vzájemné interakci světelného pole s látkou nebo s jiným fzikálním polem Důsledkem této t to interakce je: změna fzikáln lních vlastností
VíceZáklady mikroskopování
Gymnázium a Střední odborná škola pedagogická, Čáslav, Masarykova 248 M o d e r n í b i o l o g i e reg. č.: CZ.1.07/1.1.32/02.0048 TENTO PROJEKT JE SPOLUFINANCOVÁN EVROPSKÝM SOCIÁLNÍM FONDEM A STÁTNÍM
VíceOptika pro mikroskopii materiálů I
Optika pro mikroskopii materiálů I Jan.Machacek@vscht.cz Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha +42-0- 22044-4151 Osnova přednášky Základní pojmy optiky Odraz a lom světla Interference, ohyb a rozlišení optických
VíceMetody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření
Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá
VíceProjekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/
Projekt: Inovace oboru Mechatronik pro Zlínský kraj Registrační číslo: CZ.1.07/1.1.08/03.0009 Zrcadla Zobrazení zrcadlem Zrcadla jistě všichni znáte z každodenního života ráno se do něj v koupelně díváte,
VíceSvětlo je elektromagnetické vlnění, které má ve vakuu vlnové délky od 390 nm do 770 nm.
1. Podstata světla Světlo je elektromagnetické vlnění, které má ve vakuu vlnové délky od 390 nm do 770 nm. Vznik elektromagnetických vln (záření): 1. při pohybu elektricky nabitých částic s nenulovým zrychlením
VíceJednoduchý elektrický obvod
21 25. 05. 22 01. 06. 23 22. 06. 24 04. 06. 25 28. 02. 26 02. 03. 27 13. 03. 28 16. 03. VI. A Jednoduchý elektrický obvod Jednoduchý elektrický obvod Prezentace zaměřená na jednoduchý elektrický obvod
Více2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná.
1 Pracovní úkoly 1. Změřte tloušťku tenké vrstvy ve dvou různých místech. 2. Vyhodnoťte získané tloušťky a diskutujte, zda je vrstva v rámci chyby nepřímého měření na obou místech stejně silná. 3. Okalibrujte
VíceMetody využívající rentgenové záření. Rentgenografie, RTG prášková difrakce
Metody využívající rentgenové záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 Rentgenovo záření 2 Rentgenovo záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá se v lékařství a krystalografii.
VíceVÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ
VÝUKOVÝ SOFTWARE PRO ANALÝZU A VIZUALIZACI INTERFERENČNÍCH JEVŮ P. Novák, J. Novák Katedra fyziky, Fakulta stavební, České vysoké učení technické v Praze Abstrakt V práci je popsán výukový software pro
VícePavel Matějka
Pavel Matějka Pavel.Matejka@vscht.cz Pavel.Matejka@gmail.com www.vscht.cz/anl/matejka Strukturní a povrchová analýza Analýza struktury (pevných látek) a analýza povrchu, resp. fázového rozhraní pevných
VíceIng. Jakub Ulmann. Zavádění inovativních metod a výukových materiálů do přírodovědných předmětů na Gymnáziu v Krnově
Zavádění inovativních metod a výukových materiálů do přírodovědných předmětů na Gymnáziu v Krnově 07_10_Zobrazování optickými soustavami II Ing. Jakub Ulmann Zobrazování optickými soustavami 1. Optické
VíceViková, M. : MIKROSKOPIE I Mikroskopie I M. Viková
Mikroskopie I M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz MIKROSVĚT nano Poměry velikostí mikro 9 10 10 8 10 7 10 6 10 5 10 4 10 3 size m 2 9 7 5 3 4 8 1 micela virus světlo 6 písek molekula
VíceTRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
TENTO MATERIÁL SLOUŽÍ JAKO PRACOVNÍ TEXT (DOPLNĚK K PRAKTICKÝM ÚLOHÁM) TRANSMISNÍ ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Transmisní elektronová mikroskopie je jednou z experimentálních metod, bez kterých se v současné
VíceZavádění inovativních metod a výukových materiálů do přírodovědných předmětů na Gymnáziu v Krnově 07_10_Zobrazování optickými soustavami 1
Zavádění inovativních metod a výukových materiálů do přírodovědných předmětů na Gymnáziu v Krnově 07_10_Zobrazování optickými soustavami 1 Ing. Jakub Ulmann Zobrazování optickými soustavami 1. Optické
VíceCharakterizace materiálů I KFY / P224. Martin Kormunda
Charakterizace materiálů I KFY / P224 Přednáška 3 SEM (Scanning Electron Microscopy) TEM (Transmition Electron Microscopy) Mikroskopy http://www.paru.cas.cz/lem/book/podkap/pic/7.1/1.gif Konstrukční princip
VíceMikroskopie a zobrazovací technika. Studentská 1402/ Liberec 1 tel.: cxi.tul.cz
Mikroskopie a zobrazovací technika Oddělení vozidel a motorů Vizualizační technika Sledování dějů ve spalovacím motoru Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení
VíceChyby měřidel a metody měření vybraných fyzikálních veličin
Chyby měřidel a metody měření vybraných fyzikálních veličin Viz oskenovaný text ze skript Sprušil, Zieleniecová: Úvod do teorie fyzikálních měření http://physics.ujep.cz/~ehejnova/utm/materialy_studium/chyby_meridel.pdf
VíceBodový zdroj světla A vytvoří svazek rozbíhajících se paprsků, které necháme projít optickou soustavou.
Optické zobrazení Optické zobrazení je proces, kterým optické soustavy vytvářejí obrazy reálných předmětů. Tyto soustavy mění chod světelných paprsků. Obsahují zrcadla, čočky, odrazné hranoly aj. Princip
VíceSPŠS Č.Budějovice Obor Geodézie a Katastr nemovitostí 4.ročník MĚŘICKÝ SNÍMEK PRVKY VNITŘNÍ A VNĚJŠÍ ORIENTACE CHYBY SNÍMKU
SPŠS Č.Budějovice Obor Geodézie a Katastr nemovitostí 4.ročník MĚŘICKÝ SNÍMEK PRVKY VNITŘNÍ A VNĚJŠÍ ORIENTACE CHYBY SNÍMKU MĚŘICKÝ SNÍMEK Základem měření je fotografický snímek, který je v ideálním případě
VíceNanosvět očima mikroskopů
Nanosvět očima mikroskopů Několik vědců z Ústavu fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR, v.v.i. se prostřednictvím komorní výstavy rozhodlo představit veřejnosti svět, který viděný pouhým okem diváka nikterak
VíceSKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE
SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony
VíceVideo mikroskopická jednotka VMU
Video mikroskopická jednotka VMU Série 378 VMU je kompaktní, lehká a snadno instalovatelná mikroskopická jednotka pro monitorování CCD kamerou v polovodičových zařízení. Mezi základní rysy optického systému
VícePodivuhodný grafen. Radek Kalousek a Jiří Spousta. Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně. Čichnova 19. 9.
Podivuhodný grafen Radek Kalousek a Jiří Spousta Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně Čichnova 19. 9. 2014 Osnova přednášky Úvod Co je grafen? Trocha historie Některé podivuhodné
VíceIntegrovaná střední škola, Hlaváčkovo nám. 673, Slaný
Označení materiálu: VY_32_INOVACE_STEIV_FYZIKA2_12 Název materiálu: Elektrický proud v plynech. Tematická oblast: Fyzika 2.ročník Anotace: Prezentace slouží k výkladu elektrického proudu v plynech. Očekávaný
VíceVLNOVÁ OPTIKA. Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník
VLNOVÁ OPTIKA Mgr. Jan Ptáčník - GJVJ - Fyzika - Optika - 3. ročník Vlnová optika Světlo lze chápat také jako elektromagnetické vlnění. Průkopníkem této teorie byl Christian Huyghens. Některé jevy se dají
VíceOptika OPTIKA. June 04, 2012. VY_32_INOVACE_113.notebook
Optika Základní škola Nový Bor, náměstí Míru 128, okres Česká Lípa, příspěvková organizace e mail: info@zsnamesti.cz; www.zsnamesti.cz; telefon: 487 722 010; fax: 487 722 378 Registrační číslo: CZ.1.07/1.4.00/21.3267
VíceJak vzniká fotografie?
Jak vzniká fotografie? Klepnutím lze upravit styl předlohy podnadpisů. Autor: Ivana Řezníčková Datum: 25. 2. 2014 Cílový ročník: 6. Život jako leporelo, registrační číslo CZ.1.07/1.4.00/21.3763 Vzdělávací
VíceMetalografie. Praktické příklady z materiálových expertíz. 4. cvičení
Metalografie Praktické příklady z materiálových expertíz 4. cvičení Příprava metalografických výbrusů Odběr vzorků nesmí dojít k změně struktury (deformace, ohřev) světelný mikroskop pro dosažení požadovaných
VíceElektromagnetické vlnění
Elektromagnetické vlnění kolem vodičů elmag. oscilátoru se vytváří proměnné elektrické i magnetické pole http://www.walter-fendt.de/ph11e/emwave.htm Radiotechnika elmag vlnění vyzářené dipólem můžeme zachytit
VícePevnost v tahu vláknový kompozit. Technická univerzita v Liberci Kompozitní materiály, 5. MI Doc. Ing. Karel Daďourek 2008
Pevnost v tahu vláknový kompozit Technická univerzita v Liberci Kompozitní materiály, 5. MI Doc. Ing. Karel Daďourek 2008 Předpoklady výpočtu Vycházíme z uspořádání Voigtova modelu Všechna vlákna mají
Více