Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Rozměr: px
Začít zobrazení ze stránky:

Download "Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka"

Transkript

1 Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka

2 Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická spektroskopie blízkého pole 1. UV-vis absorpční a fluorescenční 1. Instrumentace 2. Příklady využití 2. Infračervená NIR a MIR 1. Instrumentace 2. Příklady využití 3. Ramanova 1. Instrumentace 2. Srovnání s TERS

3 Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů

4 Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Brief History of NSOM Ideas started in mid-1980 s; D.W. Pohl, W. Denk, and M. Lanz, Appl. Phys. Lett.44, (1984). A. Lewis, M. Isaacson, A. Harootunian, and A. Murray, Ultramicroscopy 13, 227 (1984); Technology developed in 1990 s; Eric Betzig, et al. Science, 262, (1993). Eric Betzig, et al. Nature, 2369, (1994). Prototype commercial available since 2000 s

5 Mikroskopie rastrovací sondou Rastrování povrchu

6 Optická nanospektroskopie Techniky blízkého pole sonda v blízkosti povrchu ( blízké pole ) Mikroskopie blízkého pole Spektroskopie blízkého pole (near-field spectroscopy) SNOM scanning near-field optical microscopy UV-vis, IR (IR-SNOM), Ramanova spektroskopie absorpce, fotoluminiscence, fluorescence, fotoindukovaný přenos náboje rozlišení lepší než 50 nm spektroskopie jedné molekuly

7 Optická nanospektroskopie vzdálenost sondy 10 nm apertura sondy optické spřažení mezi špičkou sondy a vzorkem sonda reaguje na změny dielektrické funkce v jejím okolí režimy snímání transmisní (jen transparentní vzorky) reflexní ostrá sonda vysílač, přijímač

8 SNOM - úvod Transmisní režim lze použít jen pro studium transparentních látek Záření prošlé vzorkem sbíráno inverzním mikroskopem V reflexním módu je měřena intenzita světla odraženého od povrchu

9 SNOM - úvod

10 SNOM - součásti Optické Zdroje světla, optická vlákna, zrcadla, čočky, objektivy, fotodetektory, difrakční mřížky/filtry, hrotová SONDA Mechanické Polohování vzorku Polohování sondy Antivibrační optická lavice Elektrické Zpětnovazebný systém pro polohování svisle, laterálně Zesilovače, zpracování signálu Řízení experimentu

11 SNOM - úvod Příprava optických vláken: chemické leptání nebo zahřátí vlákna a natažení Tažená vlákna: zužuje se nejen vlákno ale i jádro, není nutné pokovení, výhodou je hladký povrch, nevýhodou je malý světelný výkon a snadné poškození Leptaná vlákna: jádro se nezužuje, je nezbytné pokovení hliníkem. Apertura se vytvoří jemným přitlačením hrotu k povrchu vzorku. Výhodou je lepší světelný výkon, lepší potlačení ztrát v dalekém poli, větší odolnost Snadnost poškození a obtížnost výroby jsou hlavními důvody finanční náročnost práce v oblasti SNOM

12

13 Luminiscenční nanospektroskopie

14 Luminiscenční nanospektroskopie

15 Infračervená nanospektroskopie

16 Infračervená nanospektroskopie Techniky pro MIR oblast optická vlákna a sonda z chalkogenidů propustnost v MIR křehké, omezená životnost, omezený spektrální rozsah sonda skenuje povrch bod po bodu kritická je apertura sondy a její vzdálenost od povrchu

17 Výhody a problémy SNOM VÝHODY překonání difrakční limity nanorozlišení nedestruktivní metoda flexibilní režimy snímání PROBLÉMY technologické nároky na konstrukci SNOM sondy nízká intenzita detekovaného záření nároky na citlivost detektoru

18 Výhody IR SNOM kombinace SNOM a IR záření prostorové rozlišení SNOM jednotky nanometrů chemické rozlišení - chemická specificita IR spekter chemická charakterizace nanomateriálů nanodomény

19 Příklady použití organické nanokompozitní materiály domény polystyren Poly-2-vinylpyridin kontrast při 2950 cm -1

20 Příklady použití domény polystyren poly-2-vinylpyridin organické nanokompozitní materiály

21 Příklady použití 20 x 20 μm IR SNOM obrazy 1515 cm -1 buněčné kultury 1440 cm -1

22 Příklady použití NIR SNOM

23 Příklady použití NIR SNOM

24 Raman - NSOM

25 Raman - NSOM vzdálenost sondy do 10 nm apertura sondy režimy snímání kolmá či šikmá laserová excitace

26 NANOINDENTACE Měření mikro-/nano- mechanických vlastností - tvrdost? - zatlačování miniaturního hrotu (většinou diamantu) do materiálu na úrovni nm-µm Tvary hrotu: - sférický - pyramidální (Berkowich) - jehlan (Vickers) - jiné

27 NANOINDENTACE Z pracovního diagramu Síla-hloubka Např.. -z odtěžovací větve elasticita -z fáze držení zatížení viskózní vlastnosti

28 NANOINDENTACE Z pracovního diagramu Síla-hloubka Např.. -z odtěžovací větve elasticita -z fáze držení zatížení viskózní vlastnosti

29 NANOINDENTACE

30 NANOINDENTACE - tvary hrotů

31 NANOINDENTACE AFM sonda na průhybovém nosníku Maximální síla 100 µn Tuhá sonda Široký silový rozsah 100 nn až 10 N

32 NANOINDENTACE

33 NANOINDENTACE Nanoindenter Nanotest (Micro Materials, UK) Jednoduchá teplotní a vlhkostní komora Sférická indentace Pyramidální indentace (Berkowich) Horizontální pozice vzorku Zoom mikroskop 5x,10x, 20x, 40x High-load N a low-load head mn Vysokoteplotní pec (500 C)

34 NANOINDENTACE CSM-Instrument Nanohardness tester Špičková klimatická komora Pyramidální indentace (Berkowich) Optický mikroskop 5x,100x -Nikon (4000x CCD kamera) Měřící rozsah mn Rozlišení hloubky 0.5 nm Reference-ring system Cyklické zatěžování Statické and dynamické testy

35 NANOINDENTACE

36

Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka

Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití

Více

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka

Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova

Více

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková

Viková, M. : MIKROSKOPIE V Mikroskopie V M. Viková Mikroskopie V M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Hloubka ostrosti problém m velkých zvětšen ení tloušťka T vrstvy vzorku kolmé k optické ose, kterou vidíme ostře zobrazenou Objektiv

Více

VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE

VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE (c) -2012 RAMANOVA SPEKTROMETRIE 1 PRINCIP METODY Měří se rozptýlené záření, které vzniká interakcí monochromatického záření z viditelné oblasti s molekulami vzorku za současné změny

Více

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM

Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první

Více

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence

- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence ROZPTYLOVÉ a EMISNÍ metody - Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl - fluorescence - fosforescence Ramanova spektroskopie Každá čára Ramanova spektra je svými vlastnostmi závislá

Více

Spektrometr pro měření Ramanovy optické aktivity: proč a jak. Optická sestava a využití motorizovaných jednotek.

Spektrometr pro měření Ramanovy optické aktivity: proč a jak. Optická sestava a využití motorizovaných jednotek. Spektrometr pro měření Ramanovy optické aktivity: proč a jak. Optická sestava a využití motorizovaných jednotek. Josef Kapitán Centrum digitální optiky Digitální Ramanova spektroskopie a Ramanova optická

Více

Základy NIR spektrometrie a její praktické využití

Základy NIR spektrometrie a její praktické využití Nicolet CZ s.r.o. The world leader in serving science Základy NIR spektrometrie a její praktické využití NIR praktická metoda molekulové spektroskopie, nahrazující pracnější, časově náročnější a dražší

Více

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ

ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ ZÁKLADNÍ ČÁSTI SPEKTRÁLNÍCH PŘÍSTROJŮ (c) -2008, ACH/IM BLOKOVÉ SCHÉMA: (a) emisní metody (b) absorpční metody (c) luminiscenční metody U (b) monochromátor často umístěn před kyvetou se vzorkem. Části

Více

Využití UV/VIS a IR spektrometrie v analýze potravin

Využití UV/VIS a IR spektrometrie v analýze potravin Využití UV/VIS a IR spektrometrie v analýze potravin Chemické laboratorní metody v analýze potravin MVDr. Zuzana Procházková, Ph.D. MVDr. Michaela Králová, Ph.D. Spektrometrie: základy Interakce záření

Více

Mikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace

Mikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace Mikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace Úvod SPM scanning probe microscopy mikroskopie skenující sondou Soubor experimentálních metod určených ke studiu struktury povrchu s atomárním rozlišením

Více

Zobrazovací metody v nanotechnologiích

Zobrazovací metody v nanotechnologiích Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší

Více

Molekulová spektroskopie 1. Chemická vazba, UV/VIS

Molekulová spektroskopie 1. Chemická vazba, UV/VIS Molekulová spektroskopie 1 Chemická vazba, UV/VIS 1 Chemická vazba Silová interakce mezi dvěma atomy. Chemické vazby jsou soudržné síly působící mezi jednotlivými atomy nebo ionty v molekulách. Chemická

Více

optické vlastnosti polymerů

optické vlastnosti polymerů optické vlastnosti polymerů V.Švorčík, vaclav.svorcik@vscht.cz Definice světelného paprsku světlo se šíří ze zdroje podél přímek (paprsky) Maxwell: světlo se šířív módech (videch) = = jediná možná cesta

Více

MIKROSKOP. Historie Jeden z prvních jednoduchých mikroskopů sestavil v roce 1676 holandský obchodník a vědec Anton van Leeuwenhoek.

MIKROSKOP. Historie Jeden z prvních jednoduchých mikroskopů sestavil v roce 1676 holandský obchodník a vědec Anton van Leeuwenhoek. MIKROSKOPIE E- mailový zpravodaj MIKROSKOP firmy Olympus Journal of Scanning Probe Microscopy (http://www.aspbs.com/jspm.html) Materials Today, 2008, New Microscopy Special Issue MIKROSKOP Historie Jeden

Více

Video mikroskopická jednotka VMU

Video mikroskopická jednotka VMU Video mikroskopická jednotka VMU Série 378 VMU je kompaktní, lehká a snadno instalovatelná mikroskopická jednotka pro monitorování CCD kamerou v polovodičových zařízení. Mezi základní rysy optického systému

Více

Fluorescenční mikroskopie

Fluorescenční mikroskopie Fluorescenční mikroskopie Pokročilé biofyzikální metody v experimentální biologii Ctirad Hofr 1 VYUŽITÍ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ FLUORESCENCE, PŘÍMÁ A NEPŘÍMA IMUNOFLUORESCENCE, BIOTIN-AVIDINOVÁ METODA IMUNOFLUORESCENCE

Více

Mikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 tel.: +420 485 353 006 cxi.tul.cz

Mikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 tel.: +420 485 353 006 cxi.tul.cz Mikroskopie, zobrazovací technika Vizualizační technika Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení je optické měřící zařízení pro měření teplot (VISIOFEM Temperature

Více

Program Letní školy SPM mikroskopie

Program Letní školy SPM mikroskopie Program Letní školy SPM mikroskopie Letní škola SPM mikroskopie je pořádána ve dnech 10-11. 6. 2013 v Brně firmou RMI, s.r.o. Lázně Bohdaneč za spoluúčasti Fakulty chemické VUT v Brně. 1. den - pondělí

Více

Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu

Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus

Více

CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM)

CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM) CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM) Morfologie nauka o tvarech. Studium tvaru povrchu vrstev a povlaků (nerovnosti, inkluze, kapičky, hladkost,.). Topologie

Více

Spektrometrické metody. Reflexní a fotoakustická spektroskopie

Spektrometrické metody. Reflexní a fotoakustická spektroskopie Spektrometrické metody Reflexní a fotoakustická spektroskopie odraz elektromagnetického záření - souvislost absorpce a reflexe Kubelka-Munk funkce fotoakustická spektroskopie Měření odrazivosti elmg záření

Více

Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace

Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Jednotlivé komponenty mikroskopu AFM Funkce, obecné nastavení parametrů a jejich vztah ke konkrétním funkcím software Nova Verze 20110706 Jan Přibyl,

Více

MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT

MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT MĚŘENÍ V KONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVERNEXT Teoretická část: 1. Vysvětlete piezoelektrický jev, kde nejvíce a proč je využíván v SPM mikroskopii. 2. Co je podstatou měření v Kontaktním režimu.

Více

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory

25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie υ = -40 C.. +10000 C. Výhody termovize Senzory infračerveného záření Rozdělení tepelné senzory 25 A Vypracoval : Zdeněk Žák Pyrometrie Bezdotykové měření Pyrometrie (obrázky viz. sešit) Bezdotykové měření teplot je měření povrchové teploty těles na základě elektromagnetického záření mezi tělesem

Více

Věra Mansfeldová. vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.

Věra Mansfeldová. vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. Mikroskopie, která umožnila vidět Feynmanův svět Věra Mansfeldová vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. Richard P. Feynman 1918-1988 1965 - Nobelova

Více

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky

Technická specifikace předmětu veřejné zakázky předmětu veřejné zakázky Příloha č. 1c Zadavatel požaduje, aby předmět veřejné zakázky, resp. přístroje odpovídající jednotlivým částem veřejné zakázky splňovaly minimálně níže uvedené parametry. Část

Více

Spektroskopické metody. převážně ve viditelné, ultrafialové a blízké infračervené oblasti

Spektroskopické metody. převážně ve viditelné, ultrafialové a blízké infračervené oblasti Spektroskopické metody převážně ve viditelné, ultrafialové a blízké infračervené oblasti Elektromagnetické záření Elektromagnetické záření je postupné vlnění elektromagnetického pole složeného z kombinace

Více

Mobilní Ramanův spektrometr Ahura First Defender

Mobilní Ramanův spektrometr Ahura First Defender ČVUT v Praze, Kloknerův ústav, Šolínova 7, Praha 6 Mobilní Ramanův spektrometr Ahura First Defender Příručka Ing. Daniel Dobiáš, Ph.D. Doc. Ing. Tomáš Klečka, CSc. Praha 2009 Anotace Příručka obsahuje

Více

snímačů 2.3 Příslušenství optoelektronických snímačů Obsah

snímačů 2.3 Příslušenství optoelektronických snímačů Obsah Obsah Příslušenství Odrazky.2 Kruhové.3 Čtvercové.4 Pro laserové reflexní optické závory.5 Reflexní folie Připevňovací materiály.6 Úhlové držáky.8 Svěrky, adaptéry, úhlové držáky odrazek.9 Příchytky, montážní

Více

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15

Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15 Moderní metody rozpoznávání a zpracování obrazových informací 15 Hodnocení transparentních materiálů pomocí vizualizační techniky Vlastimil Hotař, Ondřej Matúšek Katedra sklářských strojů a robotiky Fakulta

Více

Nabídkový list spolupráce 2014

Nabídkový list spolupráce 2014 Nabídkový list spolupráce 2014 Fyzikální ústav AV ČR v Praze Centrum pro inovace a transfer technologií www.citt.cz 2014 Kontaktní osoba prof. Jan Řídký, DrSc. e-mail: ridky@fzu.cz citt@fzu.cz tel: 266

Více

Bezpečnostní inženýrství. - Detektory požárů a senzory plynů -

Bezpečnostní inženýrství. - Detektory požárů a senzory plynů - Bezpečnostní inženýrství - Detektory požárů a senzory plynů - Úvod 2 Včasná detekce požáru nebo úniku nebezpečných látek = důležitá součást bezpečnostního systému Základní požadavky včasná detekce omezení

Více

MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT

MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT Teoretická část: 1. Co je podstatou měření v Semikontaktním režimu. Na křivce zobrazující průběh silového působení mezi hrotem a povrchem vzorku

Více

Viková, M. : MIKROSKOPIE II Mikroskopie II M. Viková

Viková, M. : MIKROSKOPIE II Mikroskopie II M. Viková II Mikroskopie II M. Viková LCAM DTM FT TU Liberec, martina.vikova@tul.cz Osvětlovac tlovací soustava I Výsledkem Köhlerova nastavení je rovnoměrné a maximální osvětlení průhledného preparátu, ležícího

Více

3.3. Mikroskopie. 3.3.1. Základní součásti světelného mikroskopu

3.3. Mikroskopie. 3.3.1. Základní součásti světelného mikroskopu 3.3. Mikroskopie Různé mikroskopické metody dosáhly obrovských možností při pozorování nejen biologických objektů. Na pozorování neživých struktur lze použít v podstatě jakoukoliv metodu, ovšem na pozorování

Více

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ

MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Mikroskopické techniky MIKROSKOPIE JAKO NÁSTROJ STUDIA MIKROORGANISMŮ Slouží k vizualizaci mikroorganismů Antoni van Leeuwenhoek (1632-1723) Čočka zvětšující 300x Různé druhy mikroskopů, které se liší

Více

1.1 Zobrazovací metody v optické mikroskopii

1.1 Zobrazovací metody v optické mikroskopii 1 1.1 Zobrazovací metody v optické mikroskopii 1.1.1 Světlé pole Původní metoda optické mikroskopie. Světelný kužel prochází (v procházejícím světle) nebo se odráží (v odrážejícím světle) a vstupuje do

Více

Speciální spektrometrické metody. Zpracování signálu ve spektroskopii

Speciální spektrometrické metody. Zpracování signálu ve spektroskopii Speciální spektrometrické metody Zpracování signálu ve spektroskopii detekce slabých signálů synchronní detekce (Lock-in) čítaní fotonů měření časového průběhu signálů metoda fázového posuvu časově korelované

Více

Analýza pevných látek. L5-spektroskopie.doc

Analýza pevných látek. L5-spektroskopie.doc 5. UV-Vis-IR spektroskopické metody Analýza pevných látek. L5-spektroskopie.doc Pro měření spektrálních vlastností pevných látek je hlavním limitem problém, že pevný vzorek se skládá z konečně velkých

Více

knové senzory v geotechnice a stavebnictví

knové senzory v geotechnice a stavebnictví Optovláknov knové senzory v geotechnice a stavebnictví Safibra, s.r.o. 1 Obsah Proč monitorovat? Co lze optovlákny monitorovat. FBG technologie Raman OTDR Brillouin OTDR Úloha firmy Safibra 2 Proč monitorovat?

Více

ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII

ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25

Více

PŘIHLÁŠKA DO SOUTĚŽE

PŘIHLÁŠKA DO SOUTĚŽE Soutěž projektu SPOLEČNĚ PRO VÝZKUM, ROZVOJ A INOVACE PŘIHLÁŠKA DO SOUTĚŽE ÚDAJE O SOUTĚŽÍCÍM / SOUTĚŽNÍM TÝMU Jméno a příjmení soutěžících (do závorky za jméno a příjmení uveďte datum narození): Jméno

Více

Úvod. Mikroskopie. Optická Elektronová Skenující sondou. Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů.

Úvod. Mikroskopie. Optická Elektronová Skenující sondou. Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů. Mikrosvět Úvod Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů. Mikroskopie Optická Elektronová Skenující sondou Optická mikroskopie zorný úhel osvětlení zvětšení zorného

Více

Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012

Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012 Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012 MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE Josef KUDĚLKA, Tomáš MARTÍNEK Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně Fakulta aplikované informatiky Nad Stráněmi 4511 760 05 Zlín

Více

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka

Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová

Více

1 Bezkontaktní měření teplot a oteplení

1 Bezkontaktní měření teplot a oteplení 1 Bezkontaktní měření teplot a oteplení Cíle úlohy: Cílem úlohy je seznámit se s technologií bezkontaktního měření s vyhodnocováním tepelné diagnostiky provozu elektrických zařízení. Součastně se seznámit

Více

PŘEHLED KLASICKÝCH A MODERNÍCH MIKROSKOPICKÝCH METOD

PŘEHLED KLASICKÝCH A MODERNÍCH MIKROSKOPICKÝCH METOD PŘEHLED KLASICKÝCH A MODERNÍCH MIKROSKOPICKÝCH METOD Jan Hošek Ústav přístrojové a řídící techniky, Fakulta strojní, ČVUT v Praze, Technická 4, 166 07 Praha 6, Česká republika Ústav termomechaniky AV ČR,

Více

Nicolet CZ s.r.o. Porovnání infračervené a Ramanovy spektroskopie. Typické aplikace těchto technik. The world leader in serving science

Nicolet CZ s.r.o. Porovnání infračervené a Ramanovy spektroskopie. Typické aplikace těchto technik. The world leader in serving science Nicolet CZ s.r.o. Porovnání infračervené a Ramanovy spektroskopie. The world leader in serving science Typické aplikace těchto technik. Základní princip Infračervená a Ramanova spektroskopie nedestruktivní

Více

LŠVT 2007. Mechanické vlastnosti: jak a co lze měřm. ěřit na tenkých vrstvách. Jiří Vyskočil, Andrea Mašková HVM Plasma, Praha

LŠVT 2007. Mechanické vlastnosti: jak a co lze měřm. ěřit na tenkých vrstvách. Jiří Vyskočil, Andrea Mašková HVM Plasma, Praha Mechanické vlastnosti: jak a co lze měřm ěřit na tenkých vrstvách Jiří Vyskočil, Andrea Mašková HVM Plasma, Praha Prague, May 2005 OBSAH 1 mechanické vlastnosti objemových materiálů 1 tenké vrstvy a jejich

Více

Identifikace barviv pomocí Ramanovy spektrometrie

Identifikace barviv pomocí Ramanovy spektrometrie Identifikace barviv pomocí Ramanovy spektrometrie V kriminalistických laboratořích se provádí technická expertíza písemností, která se mimo jiné zabývá zkoumáním použitých psacích prostředků: tiskových

Více

Obrazové snímače a televizní kamery

Obrazové snímače a televizní kamery Obrazové snímače a televizní kamery Prof. Ing. Václav Říčný, CSc. Současná televizní technika a videotechnika kurz U3V Program semináře a cvičení Snímače obrazových signálů akumulační a neakumulační. Monolitické

Více

Obrazové snímače a televizní kamery

Obrazové snímače a televizní kamery Obrazové snímače a televizní kamery Prof. Ing. Václav Říčný, CSc. Současná televizní technika a videotechnika kurz U3V Program semináře a cvičení Snímače obrazových signálů akumulační a neakumulační. Monolitické

Více

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření

Metody využívající rentgenové záření. Rentgenovo záření. Vznik rentgenova záření. Metody využívající RTG záření Metody využívající rentgenové záření Rentgenovo záření Rentgenografie, RTG prášková difrakce 1 2 Rentgenovo záření Vznik rentgenova záření X-Ray Elektromagnetické záření Ionizující záření 10 nm 1 pm Využívá

Více

ÚVOD POROVNÁNÍ VLASTNOSTÍ LEXT, SEM A KONVENČNÍCH SYSTÉMŮ

ÚVOD POROVNÁNÍ VLASTNOSTÍ LEXT, SEM A KONVENČNÍCH SYSTÉMŮ Mikroskop LEXT a jeho využití v materiálových vědách J. Řeboun, A. Hamáček Katedra technologií a měření, Fakulta elektrotechnická, ZČU v Plzni, Univerzitní 26, Plzeň E-mail : jreboun@ket.zcu.cz, hamacek@ket.zcu.cz

Více

METROLOGICKÉ ZABEZPEČENÍ MĚŘENÍ DÉLEK V NANOMĚŘÍTKU. Petr Klapetek a, Miroslav Valtr a, Josef Lazar b, Ondřej Číp b

METROLOGICKÉ ZABEZPEČENÍ MĚŘENÍ DÉLEK V NANOMĚŘÍTKU. Petr Klapetek a, Miroslav Valtr a, Josef Lazar b, Ondřej Číp b METROLOGICKÉ ZABEZPEČENÍ MĚŘENÍ DÉLEK V NANOMĚŘÍTKU Petr Klapetek a, Miroslav Valtr a, Josef Lazar b, Ondřej Číp b a Český metrologický institut, Okružní 31, 638 00 Brno, Česká republika b Ústav přístrojové

Více

PRINCIP MĚŘENÍ TEPLOTY spočívá v porovnání teploty daného tělesa s definovanou stupnicí.

PRINCIP MĚŘENÍ TEPLOTY spočívá v porovnání teploty daného tělesa s definovanou stupnicí. 1 SENZORY TEPLOTY TEPLOTA je jednou z nejdůležitějších veličin ovlivňujících téměř všechny stavy a procesy v přírodě Ke stanovení teploty se využívá závislosti určitých fyzikálních veličin na teplotě (A

Více

Laserová závora s analogovým výstupem. Laserová závora s digitálním výstupem. Laserová vidlicová závora

Laserová závora s analogovým výstupem. Laserová závora s digitálním výstupem. Laserová vidlicová závora Přehled produkt u A-LAS řada Laserová závora s analogovým výstupem Laserový paprsek paralelně a stejnoměrně rozložený do kruhového nebo hranatého profilu používaný na měření, polohování a identifikaci

Více

Optická (světelná) Mikroskopie pro TM I

Optická (světelná) Mikroskopie pro TM I Optická (světelná) Mikroskopie pro TM I Jan.Machacek@vscht.cz Ústav skla a keramiky VŠCHT Praha +42-0- 22044-4151 Osnova přednášky Typy klasických biologických a polarizačních mikroskopů Přehled součástí

Více

Základy pyrometrie. - pyrometrie = bezkontaktní měření teploty. 0.4 µm... 25 µm - 40 0 C... 10 000 0 C

Základy pyrometrie. - pyrometrie = bezkontaktní měření teploty. 0.4 µm... 25 µm - 40 0 C... 10 000 0 C Základy pyrometrie - pyrometrie = bezkontaktní měření teploty 0.4 µm... 25 µm - 40 0 C... 10 000 0 C výhody: zanedbatelný vliv měřící techniky na objekt možnost měření rotujících nebo pohybujících se těles

Více

Zdroje optického záření

Zdroje optického záření Metody optické spektroskopie v biofyzice Zdroje optického záření / 1 Zdroje optického záření tepelné výbojky polovodičové lasery synchrotronové záření Obvykle se charakterizují zářivostí (zářivý výkon

Více

Fyzika ve firmách: Český metrologický institut. Petr Klapetek, Dominik Pražák, Jindřich Bílek, Pavel Klenovský

Fyzika ve firmách: Český metrologický institut. Petr Klapetek, Dominik Pražák, Jindřich Bílek, Pavel Klenovský Fyzika ve firmách: Český metrologický institut Petr Klapetek, Dominik Pražák, Jindřich Bílek, Pavel Klenovský 2015 Metrologie Žádné měřidlo neměří absolutně přesně, jeho metrologické parametry se vlivem

Více

Pohledy do Mikrosvěta

Pohledy do Mikrosvěta Pohledy do Mikrosvěta doc. RNDr. František Lednický, CSc. Ústav makromolekulární chemie Akademie věd ČR ledn@imc.cas.cz Abstrakt Na příkladech převážně z oblasti polymerních materiálů je v presentované

Více

Některé poznatky z charakterizace nano železa. Marek Šváb Tereza Nováková Martina Müllerová Jan Šubrt Karel Závěta Eva Gregorová

Některé poznatky z charakterizace nano železa. Marek Šváb Tereza Nováková Martina Müllerová Jan Šubrt Karel Závěta Eva Gregorová Některé poznatky z charakterizace nano železa Marek Šváb Tereza Nováková Martina Müllerová Jan Šubrt Karel Závěta Eva Gregorová Nanotechnologie 60. a 70. léta 20. st.: období miniaturizace 90. léta 20.

Více

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289

C Mapy Kikuchiho linií 263. D Bodové difraktogramy 271. E Počítačové simulace pomocí programu JEMS 281. F Literatura pro další studium 289 OBSAH Předmluva 5 1 Popis mikroskopu 13 1.1 Transmisní elektronový mikroskop 13 1.2 Rastrovací transmisní elektronový mikroskop 14 1.3 Vakuový systém 15 1.3.1 Rotační vývěvy 16 1.3.2 Difúzni vývěva 17

Více

Ruční bezdotykový teploměr Více jistoty při měření díky dvoubodovému laseru

Ruční bezdotykový teploměr Více jistoty při měření díky dvoubodovému laseru testo 830-T4 Ruční bezdotykový teploměr Více jistoty při měření díky dvoubodovému laseru testo 830-T4 ruční bezdotykový teploměr Teploměr testo 830-T4 je profesionálním řešením pro bezdotykové měření teploty

Více

Infračervená spektroskopie

Infračervená spektroskopie Infračervená spektroskopie 1 Teoretické základy Podstatou infračervené spektroskopie je interakce infračerveného záření se studovanou hmotou, kdy v případě pohlcení fotonu studovanou hmotou mluvíme o absorpční

Více

FTTX - Měření v optických sítích. František Tejkl 17.9.2014

FTTX - Měření v optických sítích. František Tejkl 17.9.2014 FTTX - Měření v optických sítích František Tejkl 17.9.2014 Náplň prezentace Co lze měřit v optických sítích Vizuální kontrola povrchu ferule konektoru Vizuální hledání chyb Optický rozpočet Přímá metoda

Více

Precizní termokamera s vynikajícími vlastnostmi

Precizní termokamera s vynikajícími vlastnostmi Precizní termokamera s vynikajícími vlastnostmi testo 885 Výhody testo 885 Velikost detektoru 320 x 240 pixelů Se 76 800 měřícími teplotními body jsou měřené objekty detekovány s vynikající kvalitou obrazu

Více

AMPACITA VENKOVNÍCH VEDENÍ Ampacita (Ampere Capacity) = proudová zatížitelnost omezení maximální dovolená provozní teplota vodiče; ta dána typem

AMPACITA VENKOVNÍCH VEDENÍ Ampacita (Ampere Capacity) = proudová zatížitelnost omezení maximální dovolená provozní teplota vodiče; ta dána typem AMPACITA VENKOVNÍCH VEDENÍ Ampacita (Ampere Capacity) = proudová zatížitelnost omezení maximální dovolená provozní teplota vodiče; ta dána typem vodiče a provozním stavem vlivy klimatické (teplota okolí,

Více

Aktuální dění v optických komunikacích a jejich názorná výuka SEMINÁŘ PRO PEDAGOGY

Aktuální dění v optických komunikacích a jejich názorná výuka SEMINÁŘ PRO PEDAGOGY Aktuální dění v optických komunikacích a jejich názorná výuka SEMINÁŘ PRO PEDAGOGY Praha + Bratislava, 27. 3. + 12. 4. 2012 Martin Hájek, Miroslav Švrček MIKROKOM, s.r.o. martin.hajek@mikrokom.cz miroslav.svrcek@mikrokom.cz

Více

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace)

Příloha C. zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013. TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) Příloha C zadávací dokumentace pro podlimitní veřejnou zakázku Mikroskopy pro LF MU 2013 TECHNICKÉ PODMÍNKY (technická specifikace) 1. část VZ: Laboratorní mikroskop s digitální kamerou a PC Položka č.1

Více

Novinky pro výuku vláknové optiky a optoelektroniky

Novinky pro výuku vláknové optiky a optoelektroniky Novinky pro výuku vláknové optiky a optoelektroniky Moderní výukové soubory Praha 20. dubna 2006 MIKROKOM Praha Martin Hájek, Jan Brouček, Miroslav Švrček, Ondřej Hanzálek Výukové soubory 1. krok do vláknové

Více

PSI (Photon Systems Instruments), spol. s r.o. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.

PSI (Photon Systems Instruments), spol. s r.o. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i. PSI (Photon Systems Instruments), spol. s r.o. Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i. Konstrukce a výroba speciálních optických dielektrických multivrstev pro systémy FluorCam Firma příjemce voucheru

Více

Lasery. Biofyzikální ústav LF MU. Projekt FRVŠ 911/2013

Lasery. Biofyzikální ústav LF MU. Projekt FRVŠ 911/2013 Lasery Biofyzikální ústav LF MU Elektromagnetické spektrum http://cs.wikipedia.org/wiki/soubor:elmgspektrum.png http://cs.wikipedia.org/wiki/ Soubor:Spectre.svg Bezkontaktní termografie 2 Součásti laseru

Více

FT 25-RA. Miniaturní čidlo pro měření vzdálenosti

FT 25-RA. Miniaturní čidlo pro měření vzdálenosti výhradní zastoupení: FT -RA Miniaturní čidlo pro měření vzdálenosti Miniaturní pouzdro s rozměry 34 1 0 mm umožňující snadnou a vysoce flexibilní zástavbu Měřicí rozsahy 0... 80 mm / 30... 00 mm Vysoká

Více

Správa barev. Měřící přístroje. Správa barev. Vytvořila: Jana Zavadilová Vytvořila dne: 14. února 2013. www.isspolygr.cz

Správa barev. Měřící přístroje. Správa barev. Vytvořila: Jana Zavadilová Vytvořila dne: 14. února 2013. www.isspolygr.cz Měřící přístroje www.isspolygr.cz Vytvořila: Jana Zavadilová Vytvořila dne: 14. února 2013 Strana: 1/12 Škola Ročník 4. ročník (SOŠ, SOU) Název projektu Interaktivní metody zdokonalující proces edukace

Více

Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis

Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis (Foto)elektronová spektroskopie (pro chemickou analýzu) ESCA, XPS X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Any technique in which the sample is bombarded

Více

Termokamera pro nejvyšší nároky

Termokamera pro nejvyšší nároky Termokamera pro nejvyšší nároky testo 890 Nejvyšší kvalita obrazu Srdcem termokamery je detektor. Zde Testo klade důraz na nejvyšší kvalitu. S termokamerou testo 890 dosáhnete pomocí detektoru s 640 x

Více

Budoucnost zavazuje. testo 845

Budoucnost zavazuje. testo 845 Budoucnost zavazuje testo 845 Infra-teploměr s označením snímané plochy Přepínání optiky pro velkou a malou vzdálenost pro optimalizaci velikosti snímané plochy. Současně je možné měřit i vlhkost. 2006

Více

SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE

SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE SKENOVACÍ (RASTROVACÍ) ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE Klára Šafářová Centrum pro výzkum nanomateriálů, Olomouc 4.12. Workshop: Mikroskopické techniky SEM a TEM Obsah historie mikroskopie proč právě elektrony

Více

Bezkontaktní me ř ení teploty

Bezkontaktní me ř ení teploty Bezkontaktní me ř ení teploty I když je bezkontaktní měření teploty velmi jednoduché - opravdu stačí "namířit na měřený objekt a na displeji odečíst teplotu" - pro dosažení správných hodnot, co nejvyšší

Více

Využití Ramanovy spektroskopie pro identifikaci inkoustů na českých bankovkách a jejich padělcích

Využití Ramanovy spektroskopie pro identifikaci inkoustů na českých bankovkách a jejich padělcích Využití Ramanovy spektroskopie pro identifikaci inkoustů na českých bankovkách a jejich padělcích Using of Raman spectroscopy for inks identification on Czech money and their falsifications Pavel Valášek

Více

Nanovědy Nanooptika Nanotechnologie. E hν x λ/2 Obr.1. Vztah současných věd a nanověd [2]

Nanovědy Nanooptika Nanotechnologie. E hν x λ/2 Obr.1. Vztah současných věd a nanověd [2] Nanooptika Pavel TOMÁNEK Abstrakt: S rozvojem nanotechnologií začínají nabývat na významu i nové podobory klasických disciplin nanooptika a nanofotonika a jejich hlavní nástroj optika blízkého pole. V

Více

HILGER s.r.o., Místecká 258, 720 02 Ostrava-Hrabová, Telefon: (+420) 596 718 912, (+420) 596 706 301, Email: hilger@hilger.cz,

HILGER s.r.o., Místecká 258, 720 02 Ostrava-Hrabová, Telefon: (+420) 596 718 912, (+420) 596 706 301, Email: hilger@hilger.cz, Tyto kamery třetí generace mají vysoce citlivý IR detektor a ergonomický tvar. Jsou cenově dostupné, jednoduše se ovládají, poskytují vysoce kvalitní snímky a umožňují přesné měření teplot. Mají integrovanou

Více

Fluorescenční vyšetření rostlinných surovin. 10. cvičení

Fluorescenční vyšetření rostlinných surovin. 10. cvičení Fluorescenční vyšetření rostlinných surovin 10. cvičení Cíl cvičení práce s fluorescenčním mikroskopem detekce vybraných rostlinných surovin Princip nepřímé dvojstupňové IHC s použitím fluorochromu Fluorescenční

Více

Ing. Michal Lattner (lattner@fvtm.ujep.cz) Fakulta výrobních technologií a managementu Věda pro život, život pro vědu CZ.1.07/2.3.00/45.

Ing. Michal Lattner (lattner@fvtm.ujep.cz) Fakulta výrobních technologií a managementu Věda pro život, život pro vědu CZ.1.07/2.3.00/45. Ing. Michal Lattner (lattner@fvtm.ujep.cz) Fakulta výrobních technologií a managementu Věda pro život, život pro vědu CZ.1.07/2.3.00/45.0029 Statické zkoušky (pevnost, tvrdost) Dynamické zkoušky (cyklické,

Více

Instrumentace Ramanovy spektroskopie

Instrumentace Ramanovy spektroskopie Instrumentace Ramanovy spektroskopie Vladimír Baumruk Univerzita Karlova v Praze, Matematicko-fyzikální fakulta Ramanovo spektrum Rayleigh (zeslaben filtrem) anti-stokes Raman Stokes Raman Ramanův posun,

Více

Spektrální analyzátor Ocean optics

Spektrální analyzátor Ocean optics Anna Kapchenko, Václav Dajčar, Jan Zmelík 4.3.21 1. Zadání: Spektrální analyzátor Ocean optics Získat praktické zkušenosti s měřením spektrálních charakteristik pomocí spektrálního analyzátoru Ocean Optics

Více

MULTIMEDIÁLNÍ A HYPERMEDIÁLNÍ SYSTÉMY

MULTIMEDIÁLNÍ A HYPERMEDIÁLNÍ SYSTÉMY MULTIMEDIÁLNÍ A HYPERMEDIÁLNÍ SYSTÉMY 5) Statický bitmapový obraz (poprvé) Petr Lobaz, 17. 3. 2004 OBRAZOVÁ DATA OBRAZ statický dynamický bitmapový vektorový popis 2D 3D 2 /33 ZPRACOVÁNÍ OBRAZU pořízení

Více

Metody spektrální. Metody molekulové spektroskopie. UV-vis oblast. Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti

Metody spektrální. Metody molekulové spektroskopie. UV-vis oblast. Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Metody spektrální Metody molekulové spektroskopie UV-vis oblast Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Absorpční spektro(foto)metrie - v ultrafialové (UV) a viditelné (VIS)

Více

Moderní mikroskopické techniky: Elektronová mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou. Pavel Janda. pavel.janda@jh-inst.cas.cz

Moderní mikroskopické techniky: Elektronová mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou. Pavel Janda. pavel.janda@jh-inst.cas.cz Moderní mikroskopické techniky: Elektronová mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou Pavel Janda pavel.janda@jh-inst.cas.cz Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského,

Více

Optické komunikace II Měření numerické apertury NA optických vláken

Optické komunikace II Měření numerické apertury NA optických vláken Fakulta elektrotechniky a informatiky, VŠB-TU Ostrava Optické komunikace II Měření numerické apertury NA optických vláken Datum: 25.02. 2014 Autor: Tomáš Škařupa, SKA0092 Kontakt: ska0092@vsb.cz Předmět:

Více

Moderní trendy měření Radomil Sikora

Moderní trendy měření Radomil Sikora Moderní trendy měření Radomil Sikora za společnost RMT s. r. o. Členění laserových měřičů Laserové měřiče můžeme členit dle počtu os na 1D, 2D a 3D: 1D jsou tzv. dálkoměry, které měří vzdálenost pouze

Více

Technické parametry příloha č. 2 k veřejné zakázce s názvem: Mikroskopy pro Centrum modelových organismů

Technické parametry příloha č. 2 k veřejné zakázce s názvem: Mikroskopy pro Centrum modelových organismů Technické parametry příloha č. 2 k veřejné zakázce s názvem: Mikroskopy pro Centrum modelových organismů Část 1 veřejné zakázky: Super-rezoluční mikroskop s možností zobrazování živých dějů - invertovaný

Více

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE

ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE ATOMOVÁ SPEKTROMETRIE (c) Lenka Veverková, 2013 Atomová spektrometrie valenčních e - 1. OES (AES) 2. AAS 3. AFS ATOMOVÁ SPEKTRA ČÁROVÁ SPEKTRA Tok záření P - množství zářivé energie (Q E ) přenesené od

Více

Lasery ve výpočetní technice

Lasery ve výpočetní technice Lasery ve výpočetní technice Laser je obdivuhodné a neobyčejně univerzální zařízení - je schopen měnit prakticky jakýkoli druh energie na energii koherentního elektromagnetického záření. Volbou vhodného

Více

Vlastnosti tenkých DLC vrstev

Vlastnosti tenkých DLC vrstev Vlastnosti tenkých DLC vrstev Ing. Vladimír Jech ČVUT v Praze, FS, Technická 4, 16607 Praha Abstrakt Vrstvy DLC nacházejí díky svým jedinečným vlastnostem stále širší oblasti využití. Vyznačují se vysokou

Více

CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ

CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ CHARAKTERIZACE MIKROSTRUKTURY OCELÍ POMOCÍ POMALÝCH A VELMI POMALÝCH ELEKTRONŮ Aleš LIGAS 1, Jakub PIŇOS 1, Dagmar JANDOVÁ 2, Josef KASL 2, Šárka MIKMEKOVÁ 1 1 Ústav přístrojové techniky AV ČR, v.v.i.,

Více

Defektoskopie. 1 Teoretický úvod. Cíl cvičení: Detekce měřicího stavu a lokalizace objektu

Defektoskopie. 1 Teoretický úvod. Cíl cvičení: Detekce měřicího stavu a lokalizace objektu Defektoskopie Cíl cvičení: Detekce měřicího stavu a lokalizace objektu 1 Teoretický úvod Defektoskopie tvoří v počítačovém vidění oblast zpracování snímků, jejímž úkolem je lokalizovat výrobky a detekovat

Více