Mikroskopie se vzorkovací sondou. Pavel Matějka
|
|
|
- Štefan Marek
- před 8 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Mikroskopie se vzorkovací sondou Pavel Matějka
2 Mikroskopie se vzorkovací sondou 1. STM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 2. AFM 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 3. TERS 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití 4. Nanoindentace (až po SNOM) 1. Princip metody 2. Instrumentace a příklady využití
3 Mikroskopie se vzorkovací sondou
4 Mikroskopie se vzorkovací sondou SPM scanning probe microscopy mikroskopie skenující sondou Soubor experimentálních metod určených ke studiu struktury povrchu s atomárním rozlišením a možností rekonstrukce 3D obrazů Posledních let od exotické a málo dostupné techniky k hojně užívané povrchové metodě Techniky SPM udávají nové směry v nanotechnologiích Počátek: objevení skenovací tunelovací mikroskopie v laboratořích IBM (1981, Rohrer, Binnig, 1986 Nobelova cena) atomární rozlišení
5 Mikroskopie se vzorkovací sondou SPM: důležité techniky STM scanning tunneling microscopy skenovací tunelovací mikroskopie AFM atomic force microscopy mikroskopie atomárních sil EFM electric force microcopy mikroskopie elektrostatických sil MFM magnetic force microscopy mikroskopie magnetické síly SNOM scanning near-field optical microscopy mikroskopie v blízkém optickém poli
6 Mikroskopie se vzorkovací sondou SPM: obecné vlastnosti metod Rozlišení hodnota měřené veličiny je nezávislá na vlnové délce objektu ale pouze na parametrech sondy Trojrozměrný obraz v (téměř) reálném čase studium dynamických procesů Aplikace v různých prostředích vzduch, vakuum, voda, elektrolyty Bez nutnosti úpravy vzorku Pouze lokální interakce Obraz neobsahuje informaci o zbytku povrchu Vyšší citlivost k vibracím a teplotním driftům Velké množství artefaktů: záměna hrotu se vzorkem, vliv adsorbované vody na povrchu Obtížnost opětovného zobrazení téhož místa na vzorku
7 Mikroskopie rastrovací sondou STM přenos náboje elektrony - tunelový proud - exponenciální pokles proudu s vzdáleností (měřitelný proud při vzdálenostech v desetinách nm) Napětí hrot vzorek Distanční spektroskopie
8
9
10 STM: pracovní režimy s konstantním proudem pomocí zpětné vazby se udržuje proud měronosnou veličinou je napětí na pohybových prvcích pomalejší režim, možnost sledování větších změn profilu nebezpečí poškození vzorku s konstantní výškou udržuje se konstantní výška, rychlé snímání vzorku, protože není nutno pohybovat vzorkem, méně přesný, při velké vzdálenosti je proud pod dobře měřitelnou hodnotou, hrot se pohybuje v horizontální rovině nad vzorkem, mění se tunelovací proud
11 STM: rozlišení a vlastnosti vzorků Konstantní výška: rychlejší, výhodnější pro hladké povrchy Konstantní proud: pomalejší, užitečný pro členité povrchy Vysoké rozlišení exponenciální závislost tunelového proudu na vzdálenosti hrot-vzorek Rozlišení ve směru normály k povrchu je v řádu jednotek Å Laterální rozlišení závisí na kvalitě hrotu a je omezeno jeho atomovou strukturou Kvalitní hrot: na špičce je izolovaný atom nebo klastr několika atomů Vzdálenost od povrchu je srovnatelná s rozměry krystalové mřížky
12 Mikroskopie rastrovací sondou AFM hrot ohebný nosník - atomární síly Hookův zákon Kontaktní - statický Bezkontaktní - statický Rozkmitaný hrot - dynamický modulace frekvence, amplitudy
13 Mikroskopie rastrovací sondou AFM
14 Mikroskopie rastrovací sondou LFM laterální síly
15 Instrumentace - integrované AFM + TERS
16 Instrumentace - integrované AFM + TERS
17 TERS
18 Instrumentace - integrované AFM + TERS
19 Instrumentace - integrované AFM + TERS dva optické porty
20 Instrumentace - integrované AFM + TERS
21 Instrumentace - integrované AFM + TERS
22 Instrumentace - integrované AFM + TERS
23 Kombinace TERS, AFM
24 Kombinace AFM, Raman nanomapování Paralelní obrazy křemíkového polovodiče AFM obraz 9 x 7 μm Obraz Ramanovy intensity 520 cm -1, stejná oblast
25 Kombinace MikroRaman, NSOM zesílený Raman, AFM Paralelní obrazy křemíkového polovodiče
26 Optická nanospektroskopie Techniky blízkého pole sonda v blízkosti povrchu pole ) ( blízké Spektroskopie blízkého pole (near-field spectroscopy) Mikroskopie blízkého pole SNOM scanning near-field optical microscopy UV-vis, IR (IR-SNOM), Ramanova spektroskopie fotoluminiscence, fluorescence rozlišení lepší než 50 nm spektroskopie jedné molekuly
Zobrazovací metody v nanotechnologiích
Zobrazovací metody v nanotechnologiích Optická mikroskopie Z vlnové povahy světla plyne, že není možné detekovat menší podrobnosti než polovina vlnové délky světla. Viditelné světlo má asi 500 nm, nejmenší
Techniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů. Nanoindentace. Pavel Matějka
Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů Nanoindentace Pavel Matějka Optická mikroskopie a spektroskopie nanoobjektů 1. Optická mikroskopie blízkého pole 1. Princip metody 2. Instrumentace 2. Optická
Mikroskopie rastrující sondy
Mikroskopie rastrující sondy Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Metody mikroskopie rastrující sondy SPM (scanning( probe Microscopy) Metody mikroskopie rastrující sondy soubor
Mikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace
Mikroskopie skenující sondou: teorie a aplikace Úvod SPM scanning probe microscopy mikroskopie skenující sondou Soubor experimentálních metod určených ke studiu struktury povrchu s atomárním rozlišením
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil
Skenovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil M. Vůjtek Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem a státním rozpočtem České republiky v rámci projektu Vzdělávání výzkumných
Základem AFM je velmi ostrý hrot, který je upevněn na ohebném nosníku (angl. cantilever, tento termín se používá i v češtině).
AFM mikroskop Obsah: AFM mikroskop... 1 Režimy snímání povrchu... 1 Konstrukce AFM... 3 Vlastnosti AFM... 3 Rozlišení AFM... 3 Historie AFM... 4 Využití AFM... 4 Modifikace AFM... 5 Závěr... 5 Literatura
Věra Mansfeldová. vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
Mikroskopie, která umožnila vidět Feynmanův svět Věra Mansfeldová vera.mansfeldova@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i. Richard P. Feynman 1918-1988 1965 - Nobelova
EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM. Pracovní listy teoretická příprava
EXKURZE DO NANOSVĚTA aneb Výlet za EM a SPM Pracovní listy teoretická příprava Úloha 1: První nahlédnutí do nanosvěta Novou část dějin mikroskopie otevřel německý elektroinženýr, laureát Nobelovy ceny
Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012
Studentská tvůrčí a odborná činnost STOČ 2012 MIKROVLNNÁ SKENOVACÍ MIKROSKOPIE Josef KUDĚLKA, Tomáš MARTÍNEK Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně Fakulta aplikované informatiky Nad Stráněmi 4511 760 05 Zlín
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
Mikroskopické techniky
Mikroskopické techniky Světelná mikroskopie Elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou Zkráceno z přednášky doc. RNDr. R. Kubínka, CSc. Zdroj informací: http://apfyz.upol.cz/ucebnice/elmikro.html
3. Vlastnosti skla za normální teploty (mechanické, tepelné, optické, chemické, elektrické).
PŘEDMĚTY KE STÁTNÍM ZÁVĚREČNÝM ZKOUŠKÁM V BAKALÁŘSKÉM STUDIU SP: CHEMIE A TECHNOLOGIE MATERIÁLŮ SO: MATERIÁLOVÉ INŽENÝRSTVÍ POVINNÝ PŘEDMĚT: NAUKA O MATERIÁLECH Ing. Alena Macháčková, CSc. 1. Souvislost
Úvod. Mikroskopie. Optická Elektronová Skenující sondou. Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů.
Mikrosvět Úvod Mikroskopie je metod kterej dovoluje sledovat malé objekty a detaile jejích povrchů. Mikroskopie Optická Elektronová Skenující sondou Optická mikroskopie zorný úhel osvětlení zvětšení zorného
Proč elektronový mikroskop?
Elektronová mikroskopie Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop,, 1 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první komerční
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace
Mikroskop atomárních sil: základní popis instrumentace Jednotlivé komponenty mikroskopu AFM Funkce, obecné nastavení parametrů a jejich vztah ke konkrétním funkcím software Nova Verze 20110706 Jan Přibyl,
Mikroskop atomárních sil
Mikroskop atomárních sil ÚVOD, VYUŽITÍ Patří do skupiny nedestruktivních metod se skenovacím čidlem Ke zobrazení není zapotřebí externí zdroj částic Zobrazuje strukturu povrchu v atomárním rozlišení ve
Mikroskopie atomárních sil
Mikroskopie atomárních sil Roman Kubínek, Milan Vůjtek, Renata Holubová Katedra experimentální fyziky přírodovědecké fakulty Univerzity Palackého v Olomouci 1 Úvod V řadě oblastí vědy a techniky se usiluje
Pavel Matějka
Pavel Matějka Pavel.Matejka@vscht.cz Pavel.Matejka@gmail.com www.vscht.cz/anl/matejka Strukturní a povrchová analýza Analýza struktury (pevných látek) a analýza povrchu, resp. fázového rozhraní pevných
Přednáška 5. SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) Martin Kormunda
Přednáška 5 SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) Mikroskopie skenovací sondou Mikroskopie skenující (rastrující) sondou (Scanning Probe
INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
Morfologie částic Fe 2 O 3. studium pomocí AFM
Morfologie částic Fe 2 O 3 studium pomocí AFM 25. 1. 2001 Plán přednášky Mikroskopie atomárních sil Artefakty důležité pro studium částic Oxidy železa, příprava vzorků Výsledky Diskuze Mikroskopie atomárních
Optická konfokální mikroskopie a mikrospektroskopie. Pavel Matějka
Optická konfokální mikroskopie a Pavel Matějka 1. Konfokální mikroskopie 1. Princip metody - konfokalita 2. Instrumentace metody zobrazování 3. Analýza obrazu 2. Konfokální 1. Luminiscenční 2. Ramanova
Mikroskopie skenující sondou (Scanning Probe Microscopy)
Mikroskopie skenující sondou (Scanning Probe Microscopy) Stanovené cíle praktických cvičení: (1) Pochopení základních principů SPM (teoretické základy) (2) Studium funkce a základních operačních režimů
Transmisní elektronová mikroskopie Skenovací elektronová mikroskopie Mikroskopie skenující sondou. Mikroskopické metody SEM, TEM, AFM
Mikroskopické metody SEM, TEM, AFM Rozlišení v optické mikroskopii důvod pro vyvíjení nových technik omezení rozlišení světelné mikroskopie nejmenší vzdálenost dvou bodů, kterou ještě rozlišíme závisí
Metody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
Podivuhodný grafen. Radek Kalousek a Jiří Spousta. Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně. Čichnova 19. 9.
Podivuhodný grafen Radek Kalousek a Jiří Spousta Ústav fyzikálního inženýrství a CEITEC Vysoké učení technické v Brně Čichnova 19. 9. 2014 Osnova přednášky Úvod Co je grafen? Trocha historie Některé podivuhodné
CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM)
CHARAKTERIZACE MORFOLOGIE POVRCHU (Optický mikroskop, SEM, STM, SNOM, AFM, TEM) Morfologie nauka o tvarech. Studium tvaru povrchu vrstev a povlaků (nerovnosti, inkluze, kapičky, hladkost,.). Topologie
NANOTECHNOLOGIE sny a skutenost
NANOTECHNOLOGIE sny a skutenost Roman Kubínek Olomoucký fyzikální kaleidoskop 25. listopadu 2005, Pírodovdecká fakulta UP Nanometr 10-9 m (miliardtina metru) 380-780 nm rozsah λ viditelného svtla obor
Mikroskopie skenující sondou
Mikroskopie skenující sondou Roman Kubínek, Milan Vůjtek Katedra experimentální fyziky, Přírodovědecká fakulta Univerzity Palackého v Olomouci Tento projekt je spolufinancován Evropským sociálním fondem
Moderní mikroskopické techniky: Elektronová mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou. Pavel Janda. pavel.janda@jh-inst.cas.cz
Moderní mikroskopické techniky: Elektronová mikroskopie a mikroskopie rastrovací sondou Pavel Janda pavel.janda@jh-inst.cas.cz Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského,
Testování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
EVROPSKÝ FOND PRO REGIONÁLNÍ ROZVOJ PRAHA & EU - INVESTUJEME DO VAŠÍ BUDOUCNOSTI
ZADAVATEL: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Sídlem: Na Slovance 1999/2, 182 21 Praha 8 Jednající: prof. Jan Řídký, DrSc., ředitel IČ: 68378271 VEŘEJNÁ ZAKÁZKA: Mikroskop atomárních sil AFM Odůvodnění účelnosti
Testování nanovlákenných materiálů. Eva Košťáková KNT, FT, TUL
Testování nanovlákenných materiálů Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných materiálů
Program Letní školy SPM mikroskopie
Program Letní školy SPM mikroskopie Letní škola SPM mikroskopie je pořádána ve dnech 10-11. 6. 2013 v Brně firmou RMI, s.r.o. Lázně Bohdaneč za spoluúčasti Fakulty chemické VUT v Brně. 1. den - pondělí
METROLOGICKÉ ZABEZPEČENÍ MĚŘENÍ DÉLEK V NANOMĚŘÍTKU. Petr Klapetek a, Miroslav Valtr a, Josef Lazar b, Ondřej Číp b
METROLOGICKÉ ZABEZPEČENÍ MĚŘENÍ DÉLEK V NANOMĚŘÍTKU Petr Klapetek a, Miroslav Valtr a, Josef Lazar b, Ondřej Číp b a Český metrologický institut, Okružní 31, 638 00 Brno, Česká republika b Ústav přístrojové
Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu
Konfokální mikroskop Obsah: Konfokální mikroskop... 1 Princip rastrovacího konfokálního mikroskopu... 1 Rozlišovací schopnost... 2 Pozorování povrchů ve skutečných barvách... 2 Konfokální mikroskop Olympus
Nanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou
Nanoskopie Elektronová mikroskopie (TEM, SEM) Mikroskopie skenující sondou Doc.RNDr. Roman Kubínek, CSc. Katedra experimentální fyziky Přírodovědecké fakulty, Univerzita Palackého v Olomouci Elektronová
10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita
Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita K. Záruba Optická mikroskopie Elektronová mikroskopie (SEM, TEM) Fotoelektronová
Mikroskopie rastrovací sondou a odvozené techniky
Mikroskopie rastrovací sondou a odvozené techniky Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Odd. elektrochemických materiálů Pavel Janda Hana Tarábková, Věra Hudská pavel.janda@jh-inst.cas.cz Ústav fyzikální
Pohledy do Mikrosvěta
Pohledy do Mikrosvěta doc. RNDr. František Lednický, CSc. Ústav makromolekulární chemie Akademie věd ČR ledn@imc.cas.cz Abstrakt Na příkladech převážně z oblasti polymerních materiálů je v presentované
- Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl. - fluorescence - fosforescence
ROZPTYLOVÉ a EMISNÍ metody - Rayleighův rozptyl turbidimetrie, nefelometrie - Ramanův rozptyl - fluorescence - fosforescence Ramanova spektroskopie Každá čára Ramanova spektra je svými vlastnostmi závislá
Vybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček
Metody skenovací elektronové mikroskopie SEM a analytické techniky Jiří Němeček Druhy mikroskopie Podle druhu použitého paprsku nebo sondy rozeznáváme tyto základní druhy mikroskopie: Světelná mikrokopie
Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM. Praktikum z pevných látek (F6390)
Fyzikální sekce přírodovědecké fakulty Masarykovy univerzity v Brně FYZIKÁLNÍ PRAKTIKUM Praktikum z pevných látek (F6390) Zpracoval: Michal Truhlář Naměřeno: 13. března 2007 Obor: Fyzika Ročník: III Semestr:
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ ÚSTAV FYZIKÁLNÍHO INŽENÝRTSVÍ FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PHYSICAL ENGINEERING STUDIUM VLASTNOSTÍ
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE
VIBRAČNÍ SPEKTROMETRIE (c) -2012 RAMANOVA SPEKTROMETRIE 1 PRINCIP METODY Měří se rozptýlené záření, které vzniká interakcí monochromatického záření z viditelné oblasti s molekulami vzorku za současné změny
Studium vybraných buněčných linií pomocí mikroskopie atomárních sil s možným využitím v praxi
Studium vybraných buněčných linií pomocí mikroskopie atomárních sil s možným využitím v praxi Petr Kolář, Kateřina Tománková, Jakub Malohlava, Hana Kolářová, ÚLB Olomouc 2013 atomic force microscopy mikroskopie
Testování nanovlákenných materiálů
Testování nanovlákenných materiálů Vizualizace Eva Košťáková KNT, FT, TUL Obsah přednášky Testování nanovlákenných materiálů -Vizualizace (zobrazování nanovlákenných materiálů) -Chemické složení nanovlákenných
Ultrazvuková defektoskopie. Vypracoval Jan Janský
Ultrazvuková defektoskopie Vypracoval Jan Janský Základní principy použití vysokých akustických frekvencí pro zjištění vlastností máteriálu a vad typické zařízení: generátor/přijímač pulsů snímač zobrazovací
Mikroskopie rastrovací sondou II analytické/optické metody
Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského, AVČR v.v.i. Dolejškova 3, 182 23 Praha 8 Mikroskopie rastrovací sondou II analytické/optické metody Pavel Janda Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Odd.
POHLED DO NANOSVĚTA Roman Kubínek
POHLED DO NANOSVĚTA Roman Kubínek Olomoucký fyzikální kaleidoskop 7. listopadu 2003, Přírodovědecká fakulta UP Nanometr 10-9 m (miliardtina metru) 380-780 nm rozsah viditelného světla obor 21. století,
Mikroskopie rastrovací sondou I Základní techniky
Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského, AVČR v.v.i. Dolejškova 3, 182 23 Praha 8 Mikroskopie rastrovací sondou I Základní techniky Pavel Janda Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Odd. elektrochemických
Metrologické zabezpečení mikronových a submikronových posuvů
Metrologické zabezpečení mikronových a submikronových posuvů Metrological problems in micron and submicron distances Josef Kudělka Bakalářská práce 2011 ABSTRAKT Úkolem bakalářské práce bylo seznámit
Metody nelineární optiky v Ramanově spektroskopii
Metody nelineární optiky v Ramanově spektroskopii Využití optických nelinearit umožňuje přejít od tradičního studia rozptylu světla na fluktuacích, teplotních elementárních excitacích, ke studiu rozptylu
METODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ
DIFRAKCE ELEKTRONŮ V KRYSTALECH, ZOBRAZENÍ ATOMŮ T. Jeřábková Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 ter.jer@seznam.cz V. Košař Gymnázium, Brno, Vídeňská 47 vlastik9a@atlas.cz G. Malenová Gymnázium Třebíč malena.vy@quick.cz
METODY SPM ZALOŽENÉ NA SONDÁCH VYROBENÝCH
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ ÚSTAV FYZIKÁLNÍHO INŽENÝRSTVÍ FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PHYSICAL ENGINEERING METODY SPM ZALOŽENÉ
Přednášky, cvičení a ukázky měření pro posluchače projektu TEAM CMV z Univerzity Pardubice
Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR, v.v.i. Projekt Team CMV Univerzity Pardubice Přednášky, cvičení a ukázky měření pro posluchače projektu TEAM CMV z Univerzity Pardubice na téma: Nanomateriály:
Optická a elektronová mikroskopie stručné shrnutí Mikroskopie skenovací sondou
Optická a elektronová mikroskopie stručné shrnutí Mikroskopie skenovací sondou TEM, SEM viz výše STM AFM Optická skenovací mikroskopie (SNOM) Konfokální mikroskopie Srovnání mikroskopů http://www.paru.cas.cz/lem/book/podkap/pic/7.1/1.gif
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie. Pavel Matějka
Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie Pavel Matějka Elektronová mikroskopie a RTG spektroskopie 1. Elektronová mikroskopie 1. TEM transmisní elektronová mikroskopie 2. STEM řádkovací transmisní elektronová
Fyzika ve firmách: Český metrologický institut. Petr Klapetek, Dominik Pražák, Jindřich Bílek, Pavel Klenovský
Fyzika ve firmách: Český metrologický institut Petr Klapetek, Dominik Pražák, Jindřich Bílek, Pavel Klenovský 2015 Metrologie Žádné měřidlo neměří absolutně přesně, jeho metrologické parametry se vlivem
EM, aneb TEM nebo SEM?
EM, aneb TEM nebo SEM? Jiří Šperka Přírodovědecká fakulta, Masarykova univerzita, Brno 2. únor 2011 / Prezentace pro studentský seminář Jiří Šperka (Masarykova univerzita) SEM a TEM 2. únor 2011 1 / 21
FOTOAKUSTIKA. Vítězslav Otruba
FOTOAKUSTIKA Vítězslav Otruba 2010 prof. Otruba 2 The spectrophone 1881 A.G. Bell návrh a Spektrofonu (spectrophone) pro účely posouzení absorpčního spektra subjektů v těch částech, které jsou neviditelné.
Fotoelektronová spektroskopie ESCA, UPS spektroskopie Augerových elektronů. Pavel Matějka
Fotoelektronová spektroskopie ESCA, UPS spektroskopie Augerových elektronů Pavel Matějka Fotoelektronová spektroskopie 1. XPS rentgenová fotoelektronová spektroskopie 1. Princip metody 2. Instrumentace
STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ. Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b
STANOVENÍ TVARU A DISTRIBUCE VELIKOSTI ČÁSTIC MODELOVÝCH TYPŮ NANOMATERIÁLŮ Edita BRETŠNAJDROVÁ a, Ladislav SVOBODA a Jiří ZELENKA b a UNIVERZITA PARDUBICE, Fakulta chemicko-technologická, Katedra anorganické
Mikroskopie atomárních sil biologických materiálů
Univerzita Pardubice Fakulta chemicko-technologická Mikroskopie atomárních sil biologických materiálů Radka Zeisková Bakalářská práce 2012 Univerzita Pardubice Fakulta chemicko-technologická Akademický
Spektroskopické techniky v mikroskopii rastrovací sondou: nano-chemická analýza in situ? Pavel Janda.
Spektroskopické techniky v mikroskopii rastrovací sondou: nano-chemická analýza in situ? Pavel Janda pavel.janda@jh-inst.cas.cz Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Ústav fyzikální chemie Jaroslava
Spektroskopie Augerových elektronů AES. KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE
Spektroskopie Augerových elektronů AES KINETICKÁ ENERGIE AUGEROVÝCH e - NEZÁVISÍ NA ENERGII PRIMÁRNÍHO ZDROJE Spektroskopie Augerových elektronů AES Jev Augerových elektronů objeven 1923 - Lise Meitner
Mikroskopie a zobrazovací technika. Studentská 1402/ Liberec 1 tel.: cxi.tul.cz
Mikroskopie a zobrazovací technika Oddělení vozidel a motorů Vizualizační technika Sledování dějů ve spalovacím motoru Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení
Spektroskopické é techniky a mikroskopie. Spektroskopie. Typy spektroskopických metod. Cirkulární dichroismus. Fluorescence UV-VIS
Spektroskopické é techniky a mikroskopie Spektroskopie metody zahrnující interakce mezi světlem (fotony) a hmotou (elektrony a protony v atomech a molekulách Typy spektroskopických metod IR NMR Elektron-spinová
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV TELEKOMUNIKACÍ FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF OF
STÍNÍCÍ EFEKT OXIDOVÉ IZOLAČNÍ VRSTVY NA POVRCHOVÝ POTENCIÁL MĚŘENÝ POMOCÍ KELVINOVY SONDOVÉ MIKROSKOPIE
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ ÚSTAV FYZIKÁLNÍHO INŽENÝRSTVÍ FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PHYSICAL ENGINEERING STÍNÍCÍ EFEKT
Nanolitografie a nanometrologie
Nanolitografie a nanometrologie 1 Nanolitografie 2 Litografie svazkem 3 Softlitografie 4 Skenovací nanolitografie Nanolitografie Poznámky k tvorbě nanostruktur tvorba užitečných nanostruktur vyžaduje spojení
Atomová fyzika - literatura
Atomová fyzika - literatura Literatura: D.Halliday, R. Resnick, J. Walker: Fyzika (Část 5: Moderní fyzika), I. Úlehla, M. Suk, Z. Trnka: Atomy, jádra, částice, Akademia, Praha, 1990. A. Beiser: Úvod do
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKACNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV TELEKOMUNIKACÍ FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF TELECOMMUNICATIONS
Materiály vznikly díky finanční podpoře FRVŠ
FRVŠ 916/2012/G4 Materiály vznikly díky finanční podpoře FRVŠ Tvůrčí práce studentů směřující k inovaci vzdělávací činnosti Zavedení techniky skenovacího elektrochemického mikroskopu do výuky oboru analytické
MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT
MĚŘENÍ V SEMIKONTAKTNÍM REŽIMU POMOCÍ MIKROSKOPU SOLVER NEXT Teoretická část: 1. Co je podstatou měření v Semikontaktním režimu. Na křivce zobrazující průběh silového působení mezi hrotem a povrchem vzorku
Přednáška STM, AFM pro EMFKL
Přednáška STM, AFM pro EMFKL RNDr. Pavel Kocán, Ph.D. pavel.kocan@mff.cuni.cz Doc. Ivan Ošťádal, CSc. 1. scanning tunneling microscope STM řádkovací tunelový mikroskop (nebo taky rastrovací tunelový mikroskop
Metody charakterizace nanomaterálů I
Vybrané metody spektráln lní analýzy Metody charakterizace nanomaterálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Molekulová spektroskopie atomy a molekuly mohou měnit svůj energetický stav přijetím nebo vyzářením
Mikroskopie rastrovací sondou II analytické/optické metody
Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského, AVČR v.v.i. Dolejškova 3, 182 23 Praha 8 Mikroskopie rastrovací sondou II analytické/optické metody Pavel Janda Laboratoř mikroskopie rastrovací sondou Odd.
Moderní mikroskopické techniky
Moderní mikroskopické techniky Roman Kubínek a Josef Půlkrábek V současnosti existuje řada mikroskopických technik a jejich aplikací, které mají nezastupitelné uplatnění v mnoha vědeckých oborech a které
Mikroskopie, zobrazovací technika. Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 tel.: +420 485 353 006 cxi.tul.cz
Mikroskopie, zobrazovací technika Vizualizační technika Systém pro přímé sledování dějů ve spalovacím motoru AVL VISIOSCOPE, součástí zařízení je optické měřící zařízení pro měření teplot (VISIOFEM Temperature
LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií)
LEED (Low-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s nízkou energií) RHEED (Reflection High-Energy Electron Diffraction difrakce elektronů s vysokou energií na odraz) Úvod Zkoumání povrchů pevných
13. Spektroskopie základní pojmy
základní pojmy Spektroskopicky významné OPTICKÉ JEVY absorpce absorpční spektrometrie emise emisní spektrometrie rozptyl rozptylové metody Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
STUDIUM SELEKTIVNÍHO RŮSTU KOVŮ NA MATRICI PŘIPRAVENÉ AFM NANOLITOGRAFIÍ
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ ÚSTAV FYZIKÁLNÍHO INŽENÝRSTVÍ FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PHYSICAL ENGINEERING STUDIUM SELEKTIVNÍHO
Senzory tlaku. df ds. p = F.. síla [N] S.. plocha [m 3 ] 1 atm = 100 kpa. - definice tlaku: 2 způsoby měření tlaku: změna rozměrů.
![Senzory tlaku. df ds. p = F.. síla [N] S.. plocha [m 3 ] 1 atm = 100 kpa. - definice tlaku: 2 způsoby měření tlaku: změna rozměrů.](/thumbs/57/40030698.jpg "Senzory tlaku. df ds. p = F.. síla [N] S.. plocha [m 3 ] 1 atm = 100 kpa. - definice tlaku: 2 způsoby měření tlaku: změna rozměrů.")
Senzory tlaku - definice tlaku: 2 způsoby měření tlaku: p = df ds F.. síla [N] S.. plocha [m 3 ] 1 atm = 100 kpa p F pružný člen změna rozměrů přímý (intrinsický) senzor senzor mechanického napětí (v prostředích,
Elektronová mikroskopie
Elektronová mikroskopie Princip elektronové mikroskopie Optické přístroje podobně jako světelné mikroskopy. Místo světelného svazku používají elektrickým polem urychlené elektrony. Místo skleněných čoček
Stručný popis metod SPM
Stručný popis metod SPM str. 1 Stručný popis metod SPM Mikroskopie skenující (rastrující) sondou (Scanning Probe Microscopy) je soubor experimentálních metod určených ke stanovování struktury povrchu se
VYUŽITÍ MĚŘICÍ METODY SPM V TECHNOLOGII VÝROBY KRYSTALICKÝCH SOLÁRNÍCH ČLÁNKŮ
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA ELEKTROTECHNIKY A KOMUNIKAČNÍCH TECHNOLOGIÍ ÚSTAV ELEKTROTECHNOLOGIE FACULTY OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMMUNICATION DEPARTMENT OF
PARAMETRY - LABORATORNÍ ZKOUŠKY TUHOST ZEMIN. Vybrané kapitoly z geotechniky (VKG) VKG: Parametry... tuhost zemin /29
PARAMETRY - LABORATORNÍ ZKOUŠKY TUHOST ZEMIN Vybrané kapitoly z geotechniky (VKG) VKG: Parametry... tuhost zemin 120221 1/29 VKG: Parametry... tuhost zemin 120221 2/29 do 1970 / 1980 moduly z laboratoře
VÝVOJ INSTRUMENTÁLNÍHO ZAŘÍZENÍ PRO VÝZKUM NANOSTRUKTUR
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ ÚSTAV FYZIKÁLNÍHO INŽENÝRSTVÍ FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PHYSICAL ENGINEERING VÝVOJ INSTRUMENTÁLNÍHO
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis (Foto)elektronová spektroskopie (pro chemickou analýzu) ESCA, XPS X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Any technique in which the sample is bombarded
Bioimaging rostlinných buněk, CV.2
Bioimaging rostlinných buněk, CV.2 Konstrukce mikroskopu (optika, fyzikální principy...) Rozlišení - kontrast Live cell microscopy Modulace kontrastu (Phase contrast, DIC) Videomikroskopia Nízký kontrast
Modulace a šum signálu
Modulace a šum signálu PATRIK KANIA a ŠTĚPÁN URBAN Nejlepší laboratoř molekulové spektroskopie vysokého rozlišení Ústav analytické chemie, VŠCHT Praha kaniap@vscht.cz a urbans@vscht.cz http://www.vscht.cz/anl/lmsvr
ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII
ELEKTRONOVÁ MIKROSKOPIE V TEXTILNÍ METROLOGII Lidské oko jako optická soustava dvojvypuklá spojka obraz skutečný, převrácený, mozek ho otočí do správné polohy, zmenšený rozlišovací schopnost oka cca 0.25
Optoelektronické senzory. Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém
Optoelektronické senzory Optron Optický senzor Detektor spektrální koherence Senzory se CCD prvky Foveon systém Optron obsahuje generátor světla (LED) a detektor optické prostředí změna prostředí změna
200 nm. Všechny objekty, které mají menší velikost, jsou optickou mikroskopií nerozlišitelné. a) b)
AFM Úvod Pokročilé cvičení z fyzikální chemie 2 Mikroskopie skenující sondou V této úloze se studenti seznámí s teoretickými základy mikroskopie skenující sondou, především mikroskopie atomárních sil V
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY
VYSOKÉ UČENÍ TECHNICKÉ V BRNĚ BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY FAKULTA STROJNÍHO INŽENÝRSTVÍ ÚSTAV FYZIKÁLNÍHO INŽENÝRSTVÍ FACULTY OF MECHANICAL ENGINEERING INSTITUTE OF PHYSICAL ENGINEERING CHARAKTERIZACE
Chemie a fyzika pevných látek p2
Chemie a fyzika pevných látek p2 difrakce rtg. záření na pevných látkch, reciproká mřížka Doporučená literatura: Doc. Michal Hušák dr. Ing. B. Kratochvíl, L. Jenšovský - Úvod do krystalochemie Kratochvíl