Představení diagnostiky počítačů Diagnostika počítačů cvičení 1
Agenda Základní pojmy Porucha t 0 a t 1 Hledání kontrolních bodů při testování kombinačních obvodů, úplný test Metoda intuitivního zcitlivění cesty Závěr
Základní pojmy Diagnostika rozlišení mezi poruchovým a bezporuchovým stavem Porucha Fyzikální - přerušení vodiče, zkrat Logická - vyjádření fyzikální poruchy pomocí logických proměnných (modely poruchy: trvalá logická 0 - t 0 nebo logická 1 t 1 ) Chyba neshoda mezi skutečnou a očekávanou hodnotou výstupu
Prucha t 0 a t 1 (1) Potucha typu t je definována jako připojení zdroje poruchové úrovně v místě působení poruchy Při poruše typu t předpokládáme, že všechny logické členy pracují správně
Prucha t 0 a t 1 (2) Příklad 1 mějme logický člen NAND (viz obrázek) na jehož vstupu A je porucha t 0. Určete jak porucha ovlivní výsledek C
Prucha t 0 a t 1 (2) Příklad 1 mějme logický člen NAND (viz obrázek) na jehož vstupu A je porucha t 0. Určete jak porucha ovlivní výsledek C sestavme pravdivostní tabulku pro člen NAND A B C 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0
Prucha t 0 a t 1 (2) Příklad 1 mějme logický člen NAND (viz obrázek) na jehož vstupu A je porucha t 0. Určete jak porucha ovlivní výsledek C sestavme pravdivostní tabulku pro člen NAND sestavme tabulku zohledňující poruchu (trvalou hodnotu 0 na vstupu A bez ohledu na požadovaný vstup) A B C 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 1 A B C 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0
Prucha t 0 a t 1 (2) Příklad 1 mějme logický člen NAND (viz obrázek) na jehož vstupu A je porucha t 0. Určete jak porucha ovlivní výsledek C porucha t 0 na vstupu A NAND členu se projevila trvalou přítomností log. 1 na výstupu C. Tedy stejně jako by byl výstup zatížen poruchou t 1 A B C A B C 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0
Prucha t 0 a t 1 (3) Příklad 2 předpokládejme kombinační obvod znázorněný obrázkem s poruchou vzniklou přerušením vodiče mezi NAND členy Rozhodněte, zda vstupní vektor (111) a (101) povede ke vzniku chyby budeme předpokládat, že nepřipojený vstup logického členu nese hodnotu log. 1 (t 1 )
Kontrolní body a úplný test kombinační sítě (1) Test kombinačního logického obvodu ze základních logických členů (AND, OR, NAND, NOR, NOT) je úplný vůči všem poruchám typu t, pokrývá-li poruchy typu t0 a t1 na nevětvících se primárních vstupech a na všech větvích za všemi body větvení Pro obvod bez větvení z této věty plyne, že stačí testovat pouze primární vstupy
Kontrolní body a úplný test kombinační sítě (2) Nalezněte kontrolní body kombinační sítě
Kontrolní body a úplný test kombinační sítě (2) Nalezněte kontrolní body kombinační sítě
Kontrolní body a úplný test kombinační sítě (3) Sestavte seznam poruch, jejich pokrytí zaručuje úplný test
Kontrolní body a úplný test kombinační sítě (3) Sestavte seznam poruch, jejich pokrytí zaručuje úplný test E/0, E/1, B/0, B/1, C/0, C/1, G/0, G/1, H/0, H/1 K/0, K/1, L/0, L/1, N/0, N/1, P/0, P/1 T/0, T/1, U/0, U/1
Metoda intuitivního zcitlivění cesty (1) Odvození jednoho kroku testu metodou intuitivního zcitlivění cesty volba poruchy, která má být detekována každý kontrolní bod testujeme na poruchu t0 a t1 přivedení hodnoty 0 do místa výskytu poruchy t1, nebo hodnoty 1 do místa výskytu poruchy t0 zcitlivění cesty z místa výskytu poruchy na primární výstup obvodu na všechny další vstupy každého členu po citlivé cestě přivádíme : NAND, AND logická 1; OR, NOR logická 0 odvození hodnot proměnných na primárních vstupech obvodu (operace konzistence) nalezení všech poruch pokrytých sestaveným krokem testu
Metoda intuitivního zcitlivění cesty (2) Metodou intuitivní citlivé cesty sestavte úplný test
Metoda intuitivního zcitlivění cesty (2) Metodou intuitivní citlivé cesty sestavte úplný test definujeme kontrolní body
Metoda intuitivního zcitlivění cesty (2) Metodou intuitivní citlivé cesty sestavte úplný test definujeme kontrolní body v jednotlivých krocích testu sestavujeme tabulku řádek reprezentuje krok testu sloupce jednotlivé vodiče, na nichž detekujeme poruchu A B C F A B 1 B 2 C 1 1 X 1 t 0 t 0 0 1 0 0 t 1 t 0 1 0 1 0 t 1 t 0 X 0 0 1 t 1 t 1
Závěr Otázky?
Literatura Hlavička, J., Kottek, E., Zelený, J.: Diagnostika Elektronických číslicových obvodů, Praha SNTL (1982) Hlavička J.: Diagnostika a spolehlivost, Vydavatelství ČVUT, Praha (1990), ISBN 80-01-01846-6 Musil, V., Vlček, K.: Diagnostika elektronických obvodů, TEMPUS Equator S_JEP-09468-95, ÚMEL, FEI VUT v Brně (1998)