Princip práškové metody Prášková metoda slouží k určení hodnot mřížkových parametrů krystalické mřížky dané krystalické látky.

Transkript

1 Vyhodnocování rentgenogramu určení mřížové konstanty Úkol: 1) Seznamte se podrobně s Debye-Scherrerovou komůrkou a jejími funkčními prvky. 2) Analyzujte debyegram práškového ZnS proměřte polohy linií a určete hodnotu mřížového parametru a. Teorie Princip práškové metody Prášková metoda slouží k určení hodnot mřížkových parametrů krystalické mřížky dané krystalické látky. Při interakci monochromatického rentgenového záření s jedním krystalem dané látky dochází k difrakci záření na rovinách krystalu (hkl) v jednom či dvou směrech. Směr difrakce není náhodný. Pro danou krystalickou látku difraktované paprsky splňují Braggovu rovnici (viz. níže). V případě práškového vzorku který je tvořen mnoha malými náhodně orientovanými krystaly studované látky dojde k difrakci monochromatického záření ve více směrech. Difraktované paprsky pak tvoří difrakční kužely. V případě že difrakční kužely jsou tvořeny ve směru monochromatického rentgenového záření hovoříme o přední reflexi (front reflections) u odražených paprsků o zadní reflexi (back reflections). Difraktované paprsky jsou zaznamenány na film který je umístěn okolo studovaného vzorku. Z experimentálního spořádání plyne že na film je většinou zachycena pouze část difrakčních kuželů. 1

2 Debye-Scherrerova komůrka a prášková metoda (podle Nauš 1985) Studovaný vzorek je polykrystalický nebo práškový s náhodnou orientací jednotlivých zrn. Vzhledem k tomu že většina látek je polykrystalických patří tato metoda k nejdůležitějším metodám strukturní analýzy. Používá se monochromatické rentgenové záření nejčastěji dublet CuKα1α2 (střední vážená vlnová délka nm CuKα1 = nm CuKα2 = nm). Studovaný práškový materiál se nalepuje amorfním lepidlem na skleněnou tyčinku o průměru 05 1 mm. Tyčinka se vzorkem se umísťuje v ose válcové komory a během expozice se může otáčet. Ve válcové kazetě je souose se vzorkem uložen film (obr. 1). Obr. 1 Krystalky vzorku jsou náhodně orientovány a proto vždy část krystalků je orientována tak že pro daný soubor rovin (hkl) je splněna Braggova rovnice (obr. 2): 2d (hkl) sinθ (hkl) = nλ Obr. 2. Schematické znázornění difrakce monochromatického záření na rovinách krystalové mřížky. Braggova rovnice je splněna když pro dráhové rozdíly difraktovaných paprsků platí (AB + BC) (AC ) = nλ. 2

3 Roviny (hkl) krystalků svírající s dopadajícím paprskem úhel θ (hkl) obalují kužel s osou v primárním paprsku. Difraktované paprsky vytvářejí tzv. difrakční kužel o vrcholovém úhlu 4θ. Průsečíky těchto kuželů s válcovou plochou filmu jsou křivky 4. stupně podobající se kružnicím (tzv. Debyeovy kroužky nebo linie). Pro θ < 45 dostáváme tzv. přední reflexe θ > 45 tzv. zadní reflexe. Vyhodnocování válcového debyegramu lze provádět ve 2 krocích: 1) Po vyvolání exponovaného filmu se odměřují průměry kroužků. Pomocí známého převodního faktoru Z (úhel připadající na 1 mm filmu) se určí hodnoty 4θ. Válcové komory se vyrábějí o poloměrech 573 mm nebo mm což odpovídá převodním faktorům Z = 1 resp. 2 /mm. Ze známých hodnot λ a θ se pak určí mezirovinné vzdálenosti d. 2) Pomocí dozimetrů nebo fotometrů se určují relativní intenzity proužků I (stupeň zčernání filmu) Série hodnot d a I jsou jednoznačně charakteristické pro danou látku (otisky prstů). Debyegramy lze tedy použít pro identifikaci látek Jsou vydány mezinárodní tabulky JCPDS (Joint Comittee on Powder Diffraction Standards) které zachycují tyto údaje pro asi látek. Problém představuje přiřazení Millerových indexů (hkl) hodnotám d. Je-li znám typ mříže a příslušné mřížové konstanty pak lze teoreticky pro všechny kombinace (hkl) vypočítat d(hkl) a na základě porovnání vypočtených a experimentálních hodnot přiřadit experimentálním hodnotám příslušné Millerovy indexy. Neznáme-li o látce nic bližšího určuje se nejprve typ mříže a pak iteračními postupy (tj. zkusmo pomocí zpětné opravy) příslušné Millerovy indexy. Indexování difrakcí pro nejjednodušší případ kubické soustavy: Pro kubickou soustavu platí d 2 = a 2 (h 2 + k 2 + l 2 ) kde a je mřížová konstanta. Po dosazení za d z Braggovy rovnice a úpravě dostáváme sin 2 θ (hkl) = λ 2 (h 2 + k 2 + l 2 ) 4a 2 Není-li hodnota a známa je nutno najít nejvyššího společného dělitele hodnot sin 2 θ kterým je výraz λ 2 4a 2 a to tak že zkoušíme postupně nejmenší difrakci (difrakce pro nejmenší θ) přiřadit hkl =100 v případě neúspěchu postupně Nepodaří-li se takto společného dělitele najít nejde o kubickou krystalovou mříž nebo je chyba v měření. Je potřeba mít dále na paměti že u látek s centrovanou kubickou mříží dochází k vyhasínání určitých reflexí (obr. 3). Bazálně centrovaná mřízka vyhasínání s lichým h+k Plošně centrovaná mřížka vyhasínání se smíšenými hkl Prostorově ceptrovaná mžížka vyhasínání s lichými h+k+l Ze struktury Debye-Sherrerových linií lze odhadnout velikost krystalků podle těchto pravidel: 1) linie rozšířené velikost krystalků: µm 2) linie spojité ostré - velikost krystalků: 01-1 µm 3) linie tečkované - velikost krystalků: µm 3

4 Obr. 3. Vyhasínání reflexí u středově (b) plošně (c) a prostorově (d) centrované kubické mříže. Analýza debyegramu Nejdříve je nutné se správně na filmu zorientovat a jednoznačně určit jeho polohu v komůrce. K tomu poslouží 3 skutečnosti: stín tyčinky u předních reflexí dvojitá křivka u zadních kroužků a stíny úchytů pro vypínání filmu. Většina Debyeových kroužků má na filmu 2 části napravo a nalevo od otvorů pro průchod primárního svazku. Pouze kroužky s nejmenšími úhly θ mohou mít na filmu obě části. Některé kroužky s θ > 45 (θ - difrakční úhel - úhel který svírá odražený paprsek s atomovou rovinou) mají pouze jednu část druhá spadá do místa přerušení filmu. Všimněte si struktury kroužků. Odráží se v ní velikost krystalků i skutečnost zda vzorek během expozice rotoval či nikoliv. 4

5 Obr. 4. Schéma debyegramu práškového ZnS. Před odměřováním poloh částí kroužků je vhodné si nakreslit přesné schéma filmu a očíslovat kroužky. Kroužky očíslujeme v pořadí od předních reflexí k zadním tak že pravým částem kroužků přiřadíme čísla a levým částem (obr. 4). Vzdálenost průsečíků daného j-tého kroužku na ose filmu (obr. 4) představuje délku oblouku Sj na válcové ploše filmu (obr. 5) pro níž platí S j = 4θR. A pro zadní reflexe S j = 4(π 2 θ j)r kde R je skutečný poloměr válcové plochy filmu se zahrnutím možných změn rozměrů filmu při vyvolávání sušení a nepřesnosti uložení filmu v komůrce. Obr. 5. Délka oblouku pro přední a zadní reflexe. Odvození výrazů pro výpočet úhlu θ a délky oblouku S j a poloměru R. 5

6 Z těchto vztahů vypočítáme úhel difrakce θ j pro j-tou přední resp. zadní reflexi (θ j = S j 4R resp. θ j = π 2 S j 4R ). Hodnota průměru válcové plochy filmu D =2R by měla být blízká průměru komůrky D = 573 mm který je zvolen tak aby 1 mm filmu odpovídal úhlu 2. Debyegram je uložen jako soubor *.jpg v rozlišení 600 dpi ( dots per inch 600 bodů na 256 cm). V libovolném grafickém editoru zorientujeme debyegram podle obr. 4 a vytvoříme vodorovnou osu debyegramu která protíná středy obou otvorů v debyegramu. Obrázek uložíme ve stejném rozlišení a načteme v programu UTHSCSA Image tool. V tomto programu odečítáme polohu jednotlivých linií v pixelech nejlépe od průsečíku vodorovné osy s levou stranou debyegramu. Hodnoty zapíšeme do tabulky. č. použku x j [pix. ] x j [pix. ] C 1 = (x j + x j ) 2 [mm] C 2 = (x j + x j ) 2 [mm] S j [mm] θ j [rad] sin 2 θ hkl h 2 + k 2 + l 2 a [nm] Pro přední reflexe spočítáme hodnoty C 1 = (x j + x j ) 2 a určíme průměr φc 1 a hodnoty C 2 = (x j + x j ) 2 pro zadní reflexe s průměrem φc 2. Platí že R = (φc 2 φc 1 ) π. Velikost tohoto poloměru použijeme k výpočtu θ j. Pro všechny reflexe kromě poslední zadní reflexe volíme střední váženou hodnotu dubletu λ CuKα1α2 = nm. Poslední kroužek je zřetelně dvojitý a pro výpočet θ j je třeba použít přesné vlnové délky λ CuKα1 a λ CuKα2 (viz výše). Při výpočtu mřížové konstanty předpokládáme že krystalová mřížka je kubická a že může být centrovaná. Literatura: V. Valvoda: Rentgenografické difrakční metody (sktriptum). SPN Praha 1979 J. Nauš: Experimentální metody biofyziky I (skriptum). UP Olomouc 1985 H. Šíchová a kol.: Rentgenografické praktikum MFF UK 1980 J. Brož a kol.: Základy fyzikálních měření II(A). SPN Praha 1974 (str. 196) 6