Dílčí cíle projektu a jejich plnění v roce 2007 (ÚJF AV ČR - laboratoř Tandetronu)
|
|
- Ludvík Malý
- před 5 lety
- Počet zobrazení:
Transkript
1 Dílčí cíle projektu a jejich plnění v roce 2007 (ÚJF AV ČR - laboratoř Tandetronu) V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron V průběhu r probíhaly práce na dokončení nových experimentálních zařízení na urychlovači Tandetron, jejich kalibrace a uvádění do rutinního provozu. Rovněž se pokračovalo osvojení různých režimů provozu Tandetronu a jejich optimalizaci. Zařízení pro analýzy a hloubkové profilování lehkých prvků metodou ERDA-TOF (Elastic Recoil Detection Analysis - Time of Flight) byla v rámci diplomové práce provedena první měření a ověřeny jeho parametry a diplomová práce byla úspěšně obhájena. Dále byl dokončen druhý (stop) detektor ve spektrometru Time of Flight (TOF) pro metodu ERDA, byl umístěn do vakua a elektronicky testován. TOF spektrometr je tímto dokončen a proběhly kalibrace TOF spektrometru s iontovým svazkem Cu 6+, 15.4 MeV (stanovení časového a energetického rozlišení). V roce 2007 bylo dokončeno testování a kalibrace zařízení pro metodu RBS-channeling. Byla naměřena spektra s využitím pohyblivého detektoru pro zpětně odražené ionty metodou RBS a vyražené částice metodu ERDA na různých úhlech současně s nastavením geometrie experimentu. Na zařízení pro analýzy metodou RBS-channeling, které umožňuje zkoumání struktury monokrystalických materiálů (včetně určování poloh atomů příměsí, koncentrací, typu a hloubkových profilů defektů) byly provedeny první experimenty, které ukázaly funkčnost zařízení. Jeho uvedení do rutinního využití v r si ještě vyžádá odstranění drobných technických potíží zejména se softwarem, které se průběžně řeší ve spolupráci s dodavatelskou firmou NEC.
2 RBS-CHANNELING - National Electrostatics Corporation, USA
3 V roce 2007 byla vyrobena aparatura pro depozici tenkých kovových vrstev magnetronovým naprašováním (HVM Plasma). Aparatura byla testována a bylo ověřeno, že jsou všechny módy funkční. Jednak lze vzorek účinně čistit iontovým bombardem Ar + iontů urychlených v plasmatu, dále lze po odklopení targetu deponovat vrstvy kovů při různých podmínkách (volbou předpětí měnit energii dopadajících iontů a tím měnit strukturu vrstvy) Během r byly kompletně rekonstruovány dvě laboratoře určené pro umístění všech zmíněných zařízení. Výše uvedené deposiční metody jsou klíčové pro řešení dílčích cílů V004, 005, 006, 011. V r se bude pokračovat v budování experimentálních zařízení laboratoře urychlovače Tandetron a v rostoucí míře budou prováděny rutinní analýzy materiálů v rámci plnění jednotlivých výzkumných etap centra. Bude dokončeno nové zařízení pro analýzy metodami PIXE, PIGE a dokončeno testování zařízení ERDA-TOF a bude připraven software pro zpracování 2D spekter metody ERDA-TOF. Publikace [1] J. Bočan, A. Macková, P. Malinský, Využití urychlovače TANDETRON pro studium mikro a nano-struktur, Seminář Radioanalytické metody IAA 07, , Praha, Sborník příspěvků, Editor. M. Vobecký, Spektroskopická společnost J. M. Marci, 2007.
4 V010 a V011 Plasmové modifikace struktur polymer/kov a studium struktur metodami počítačové fyziky V roce 2007 jsme se zabývali mobilitou a vytváření kovových částic na rozhraní polymeru a kovu po ozáření metalizovaných polymerů v plasmatu. Kovové částice vytvořené v dielektrickém materiálu jako je polymer jsou stále atraktivním objektem studia kvůli nezvyklým vlastnostem, které vykazují kovové částice ve srovnání s objemovým kovem. Metalizované polymery (Ag/PET, Ag/PE) byly modifikovány v Ar plasmatu a dále charakterizovány metodami RBS, ERDA. Výsledkem bylo stanovaní hloubkových profilů Ag, výpočet difůzních parametrů (aktivační energie difůze, difůzních koeficientů). Dále byly vzorky charakterizovány AFM, TEM a XPS z hlediska změn morfologie povrchu a chemických vazeb. Morfologie povrchu tenkých kovových vrstev modifikovaných v plasmatu se dramaticky měnila s dobou modifikace a teplotou polymerního substrátu. Vliv morfologie musel být zahrnut do vyhodnocení hloubkových profilů metodou RBS. Toto bylo provedeno s použitím softwaru SIMNRA a měřením vzorků metodou RBS pod různými úhly dopadu iontů, což nám umožnilo kvantifikovat vliv drsnosti povrchu a srovnat s výsledky drsnosti získané metodou AFM. TEM prokázala existenci Ag částic na rozhraní Ag/PET, jejichž velikost rostla s rostoucí teplotou substrátu použité během plasmatické modifikace. Experimenty ukázaly řadu vlastností rozhraní kovu a polymeru pod vlivem ozáření v plasmatu popř. zvýšením teploty polymeru blízko T g nebo T m. Cíl V010 byl úspěšně splněn, sumární výsledky plasmaticky modifikovaných tenkých kovových vrstev byly publikovány a aparatura byla vyrobena a otestována. Publikace [1] Macková, Anna - Švorčík, V. - Sajdl, P. - Strýhal, Z. - Pavlík, J. - Malinský, Petr - Šlouf, Miroslav, RBS, XPS, and TEM study of metal and polymer interface modified by plasma treatment, Vacuum. Roč. 82, - (2007), s [2] Macková, Anna - Švorčík, V. - Strýhal, Z. - Pavlík, J. - Malinský, Petr, RBS, XPS and AFM Study of Ag Thin Films and Polyethylene Foils Interface Modified by Plasma Treatment, Bratislava : Comenius University, s. 16th Symposium on Application of Plasma Processes. Podbánske (SK), [3] Macková, Anna - Bočan, Jiří - Malinský, Petr, Využití iontových svazků pro analýzu materiálů. Praha : Česká vakuová společnost, s. Letní škola vakuové techniky. Štrbské pleso (SK), [4] Macková, Anna - Malinský, Petr - Bočan, J - Švorčík, V. - Pavlík, J. - Strýhal, Z., Study of Ag/PE interface after plasma treatment, 9th International workshop on plasma based ion implantation and deposition. Leipzig (DE), , Book of abstracts, p. 81, will be published in Physica Status Solidi
5 RBS The beam of 2.68 MeV He + ions from Van de Graaff accelerator was used for RBS analysis measured at 170 o laboratory scattering angle. RBS spectra of Ag very thin films on polymer substrates were recorded for incoming ion beam angles 0 o, 50 o, 60 o and 75 o to achieve better depth resolution and to observe the surface morphology influencing RBS spectra. RBS spectra were evaluated using SIMNRA code taking into account the surface roughness. Plasma gas /substrate Temperature of substrate [ C] Performance of plasma [W] Ag amount RBS [10 15 at/cm 2 ] Ag fraction XPS [atomic %] LDPE ,2±0,1 14,4±0,8 Ar / LDPE ,5±0,1 28,1±0,8 Ar / LDPE ,1±0,1 23,5±0,8 Ar /LDPE ,5±0,1 8,5±0,8 HDPE ,8±0,1 15,7±0,8 Ar / HDPE ,3±0,1 14,2±0,8 Ar / HDPE ,7±0,1 14,0±0,8 Ar / HDPE ,6±0,1 13,5±0,8 Table 1: Summarization of deposition parameters and integral amount of Ag determined RBS and Ag surface fraction determined by XPS. XPS, AFM An Omicron Nanotechnology ESCAProbeP spectrometer was used to measure the X-ray photoelectron spectra (XPS). The X-ray source was monochromated at ev. The exposed and analyzed area had dimensions of 2x3 mm 2. The spectra were measured stepwise with a step in binding energy of 0.05 ev. The surface topography and roughness were measured by the Atomic Force Microscopy (AFM - Metris 2001A NC, Burleigh Instruments Inc.) All AFM measurements were carried out in the non - contact mode at the ambient atmosphere and at room temperature.
6 Parameter R q and R a determined from AFM analysis and from SIMNRA evaluation of RBS spectra are compared. The extraction of diffusion coefficients from RBS spectra was done using geometry of incoming beam with the best correlation with AFM parameters to distinguish the part of Ag signal connected with the surface roughness and with the diffusion profile. Sample of plasma treated Ag/LDPE Ar 10W 55 C Ar 20W 65 C Ar 10W 95 C Parameter AFM analysis R a 20,3 R q 16,8 R a 27,0 R q 22,0 R a 19,5 R q 15,6 RBS analysis using different incident ion beam angle ,6 27,0 22,9 13,4 33,1 22,4 16,6 8,5 53,4 61,4 51,1 68,3 43,6 39,5 40,8 44,7 37,2 31,1 28,6 34,7 20,0 15,9 19,9 17,9
7 V004 a V013 Charakterizace a modifikace materiálů iontovými svazky a Struktury pro optoelektroniku (fotoniku) na bázi LN, LT. V r byl zejména studován účinek iontové implantace do silikátových skel a do optických krystalů potenciálně využitelným ve fotonce. Implantace byly provedeny na dvou pracovištích tj. v Řeži a Rossendorfu za použití různých energií a různých fluencí iontů. Jako dielektrické materiály byly použity různé typy silikátových skel a niobičnan lithný. Vlastnosti připravených vrstev byly charakterizovány pomocí RBS, PIXE, kanálovací RBS (hloubkové koncentrační profily implantovaných prvků), dále metodou vidové spektroskopie (vlnovodné vlastnosti připravených vrstev), Ramanovou spektroskopií (struktura vrstvy) a dále byla měřena absorpční a fluorescenční spektra připravených vrstev. Ve skleněných substrátech byla dosud nejvíce studována implantace zlata, které bylo implantováno s energií 1,7 MeV v různých fluencích do sodnovápenatých silikátových skel, která se od sebe lišila jednak typem síťotvorného prvku nebo obsahem alkálií. Zjistili jsme skutečnost, že vlnovodné vlastnosti má vrstva, která je vytvořena při energii 1,7 MeV a fluenci minimálně 1x10 16 at/cm 2 a je vytvořena v silikátovém skle. Dále jsme studovali vliv následného žíhání na takto připravené vrstvy a podle prvních výsledků bylo zjištěno, že vhodná teplota žíhání by měla být mírně nad teplotou T g skla. Do různých typů skleněných substrátů byly dále implantovány erbium a chrom. Tyto prvky byly implantovány s nižší energií 330 kev a fluencí max. 3x10 15 at/cm 2. Nejúspěšnějším projektem v tomto roce byla příprava speciálních silikátových skel obsahující chrom(iii) v různých koncentracích do kterých byl implantován kyslík (O + ). Cílem těchto experimentů bylo získat skleněné materiály s obsahem velmi žádaného Cr(IV), který má široký emisní pás v oblasti nm. V různých krystalografických řezech niobičnanu lithného byla provedena implantace erbia při energii 330 kev a různých dávkách. Vliv krystalografické orientace substrátu na implantaci a souvislost mezi následným žíháním a fluorescenčními vlastnostmi jsou nyní studovány. Vzorky substrátů i tenké vrstvy připravené na povrchu substrátů některou z difusních technik založených především na iontové výměně byly analyzovány metodami RBS a PIXE (obsah příp. koncentrační hloubkové profily funkčních iontů., jako např. erbia), NDP (obsah a koncentrační hloubkové profily lithia) a ERDA (obsah a koncentrační hloubkové profily vodíku). Výsledky sloužily k vyhodnocení experimentů a dalším úpravám experimentálních procesů s cílem připravit optické vlnovody s optimální koncentrací a distribucí funkčních iontů ve vlnovodné oblasti.
8 Obrázek 1 : RBS analýza skel implantovaných 1,7 MeV Au ionty (ϑ = 170 ). Nahoře: RBS spektrum a hloubkový profil Au skla implantovaného dávkou at./cm 2. Dole: RBS spektrum a hloubkový profil Au skla implantovaného dávkou at./cm a 2b Obrázek 2a Er hloubkové profily v LN měřené metodou RBS Obrázek 2b RBS-channeling analýza implantovaných LN pro různé energie implantace a fluence, srovnání s neimplantovaným krystalem
9
10 Publikace: [1] J. Spirkova, P. Tresnakova, H. Malichova, M. Mika, Cu+ containing waveguiding layers in novel silicate glass substrates, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 18 (2007) [2] L. Salavcova, J. Spirkova, M. Mika, A. Mackova, J. Oswald, A. Langrova, J. Vacik, Localised Doping of Li-silicate Glasses by Er3+ Ion Exchange to Fabricate Thin Optical Layers, Opt. Mater. 29 (2007) [3] L. Salavcova, A. Mackova, J. Oswald, B. Svecova, S. Janakova, J. Spirkova, M. Mika, Erbium doping into silicate glasses to form luminescent optical layers for photonics applications, J. Phys. Chem. Sol. 68 (2007) [4] L. Salavcova, J. Spirkova, F. Ondracek, A. Mackova, J. Vacik, U. Kreissig, F. Eichhorn, R. Groetzschel, Study of anomalous behaviour of LiTaO3 during the annealed proton exchange process of optical waveguide's formation - comparison with LiNbO3, Opt. Mater. 29 (2007) [5] J. Spirkova, P. Tresnakova, H. Malichova, M. Mika, Cu+ containing waveguiding layers in novel silicate glass substrates, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 18 (2007) [6] L. Salavcova, J. Spirkova, M. Mika, A. Mackova, J. Oswald, A. Langrova, J. Vacik, Localised Doping of Li-silicate Glasses by Er3+ Ion Exchange to Fabricate Thin Optical Layers, Opt. Mater. 29 (2007) [7] L. Salavcova, A. Mackova, J. Oswald, B. Svecova, S. Janakova, J. Spirkova, M. Mika, Erbium doping into silicate glasses to form luminescent optical layers for photonics applications, J. Phys. Chem. Sol. 68 (2007) [8] Salavcova, L., Macková, A., Oswald, J., Švecová, B.,Janáková, S., Špirková, J., Míka, M. Erbium doping into silicate glasses to form luminescent optical layers for photonics applications. Journal of Physics and Chemistry of Solids. Roč. 68, 5-6 (2007), s [9] Macková, A., Bočan, J., Malinský, P., Využití iontových svazků pro analýzu materiálů. Praha : Česká vakuová společnost, s. Letní škola vakuové techniky. Štrbské pleso (SK), [10] Macková, A., Havránek, V., Salavcová, L., Špirková, J., Study of Erbium Diffusion into a Glass Surface For Applications in Photonics using Ion Beam Methods. 12th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. Brussels (BE), [11] A. Macková, V. Švorčík, V. Hnatowicz, P. Malinský, J. Bočan, R.I. Khaibullin, P. Nekvindová, Material Analyses and Modification on the Tandetron Accelerator, 4 th International Student Summer school,nuclear Physics Methods and Accelerators in Biology and Medicine, Masarykova Hall, Czech Technical University, Prague, Czech Republic, July 8-19, 2007, Proc. Summer School, Publ. AIP New York (2007) p [12] Janakova S., Spirkova J., Svecova B., Lahodny F., Mika M., Oswald J., Mackova A., Properties of chromium ions containing novel silicate glasses, In: ICOOPMA July-3 August 2007, London (UK). [13] Janakova S., Spirkova J., Svecova B., Nekvindová P., Mika M., Oswald J., Novel silicate glasses doped by RE3+ for M-IR applications, In: ICOOPMA July-3 August 2007, London (UK). [14] Švecová B., Špirková K., Janáková S., Míka M., Oswald J., Macková A., Diffusion process applied in fabrication of ion-exchanged optical waveguides in novel Er3+ and Er3+/Yb3+-doped silicate glasses, In: ICOOPMA July-3 August 2007, London (UK). [15] Janáková S., Švecová B., Špirková J., Míka M., Nekvindová P., Oswald J., Macková A., Ion-implantation into chromium doping silicate glass, In: ChemZi 3(1), 189 (2007).
11 V012 Syntéza a charakterizace materiálů na bázi nanočástic kovů a jejich oxidů. Počítačové modelování elektrických, optických a magnetických vlastností implantovaných polymerních materiálů úzce navazuje na tématiku iontové implantace kovů do polymerů. Implantované struktury PEEK, PI a PET ionty Fe+, Ni+ (40 kev) byly připraveny v roce V roce 2007 byly provedeny analýzy implantovaných struktur metodami RBS, ERDA, XPS, UV-VIS spektroskopie. Výsledkem byly hloubkové profily kovů v polymerní matrici a změny složení implantovaného profilu. Pro první simulace hloubkových profilů byl použit software SRIM, který však nezahrnuje celou dynamiku procesu, kdy jsou ionty implantovány těsně pod povrch a dochází ke změnám složení povrchové vrstvy, její hustoty a tím je ovlivněn i tvar profilu implantovaných iontů. Proto byl použit dále software TRIDYNE, který zahrnuje dynamický výpočet změny doletu iontů na základě aktuální změny složení dané vrstvy v livem implantace jiného prvku do matrice substrátu. TRIDYN je založen na simulaci balistického transportu iontů v materiálu s využitím modelu aproximace binárními srážkami. Výsledky jsou připravovány k publikaci v V roce 2008 plánujeme pokračovat v kompletní charakterizaci polymerů (PET, PI, PEEK, PE) implantovaných kovovými ionty metodami RBS, ERDA, UV-VIS, XPS, TEM a především se zabývat elektrickými vlastnostmi již připravených struktur (implantace Fe, Ni - 40keV) ve spolupráci s VŠCHT. Budou připraveny další struktury implantací Ag, Au a následně charakterizovány a žíhány. A b u n d ance Depth profiles of Ni in PET (D = 2.5x10 16 at/cm 2 ) Ni C H O A b u n d a n c e Depth profiles of Ni in PET (D = 10.0x10 16 at/cm 2 ) TRYDIN simulace Ni C H O Depth [Angström] Depth [Angström]
12 XPS Podíl C 1s O 1s Ni 2p 3/2 N 1s Ni 0 /Ni ox ERDA ERDA spektrum vodíku pro NiPI PEEK PI PET Impulzy NiPI1 (0.25e17/cm2, 4 ua/cm2) NiPI2 (0.50e17/cm2, 4 ua/cm2) NiPIš (0.75e17/cm2, 4 ua/cm2) NiPI4 (0.50e17/cm2, 4 ua/cm2) NiPI5 (1.25e17/cm2, 4 ua/cm2) NiPI6 (1.50e17/cm2, 4 ua/cm2) NiPI virgin Pozice Ni ev Ni ev C 1s ev O 1s ev N 1s ev Hloubková distribuce Ni v PET (1. série) Hloubkový korekční faktor: Energie [kanál] Normované zastoupení Ni v polymerové vrstvě SRIM2006 Ni-PET 0 Ni-PET 1 Ni-PET 2 Ni-PET 3 Ni-PET 4 Ni-PET 5 Ni-PET Hloubka [nm]
V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron
V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron Údaje o provozu urychlovačů v ÚJF AV ČR ( hodiny 2009/hodiny 2008) Urychlovač Celkový počet hodin Analýzy Implantace
VíceDílčí cíle projektu a jejich plnění v roce 2008 (ÚJF AV ČR - laboratoř Tandetronu)
Dílčí cíle projektu a jejich plnění v roce 2008 (ÚJF AV ČR - laboratoř Tandetronu) V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron Bylo dokončeno testování a kalibrace
VíceTypy interakcí. Obsah přednášky
Co je to inteligentní a progresivní materiál - Jaderné analytické metody-využití iontových svazků v materiálové analýze Anna Macková Ústav jaderné fyziky AV ČR, Řež 250 68 Obsah přednášky fyzikální princip
VíceDílčí cíle projektu a jejich plnění v roce 2006 (ÚJF AV ČR - laboratoř Tandetronu)
Dílčí cíle projektu a jejich plnění v roce 2006 (ÚJF AV ČR - laboratoř Tandetronu) V001 Dokončení a kalibrace experimentálních zařízení v laboratoři urychlovače Tandetron 2006 dokončení instalace implantační
VíceCentrum základního výzkumu LC 06041. Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením. Jaroslav Pavlík, KF PřF UJEP, Ústí n. L.
Centrum základního výzkumu LC 06041 Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením Jaroslav Pavlík, KF PřF UJEP, Ústí n. L. Řešitelský tým: Doc. RNDr. S. Novák, CSc. Prof. RNDr. R.
VíceINTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II.
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů INTERAKCE IONTŮ S POVRCHY II. Metody IBA (Ion Beam Analysis): pružný rozptyl nabitých částic (RBS), detekce odražených atomů (ERDA), metoda PIXE, Spektroskopie rozptýlených
VíceVyužití iontových svazků pro analýzu materiálů
Využití iontových svazků pro analýzu materiálů A. Macková, J. Bočan, P. Malinský Skupina jaderných analytických metod, Ústav jaderné fyziky AV ČR, Řež u Prahy, 250 68 Mackova@ujf.cas.cz. Úvod Počátek rozvoje
VíceVysokoenergetická implantace iontů na Tandetronu 4130MC v ÚJF Řež
Vysokoenergetická implantace iontů na Tandetronu 4130MC v ÚJF Řež Havránek Vladimír, Hnatowicz Vladimír, Macková Anna, Novotný Jiří, Vacík Jiří, Voseček Václav Ustav jaderné fyziky AVČR, v.v.i, 250 68,
VíceLaboratoř analýz a modifikace látek iontovými svazky Ústavu jaderné fyziky AV ČR
Laboratoř analýz a modifikace látek iontovými svazky Ústavu jaderné fyziky AV ČR 1. Kapitola ÚVOD Účelem této publikace je stručná informace o aktivitách skupiny nukleárních analytických metod v Ústavu
VícePříloha 1 - Strukturovaný odborný životopis
Příloha 1 - Strukturovaný odborný životopis RNDr. Anna Macková, Ph.D. Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i. Narozena 9.7.1973, Most, Česká Republika Vzdělání 1991-1996 Magisterské studium matematicko fyzikální
VíceV Rmax 3500 V T = 125 o C I. no protons
Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením ČVUT Praha, fakulta elektrotechnická, Praha 6 Řešitelský tým katedra mikroelektroniky FEL, ČVUT v Praze Jan Vobecký garant, člen Rady
VíceSvazek pomalých pozitronů
Svazek pomalých pozitronů pozitrony emitované + zářičem moderované pozitrony střední hloubka průniku Příklad: 0 z P z dz 1 Mg: -1 =154 m Al: -1 = 99 m Cu: -1 = 30 m z pravděpodobnost, p že pozitron pronikne
VíceZpráva o činnosti centra LC06041 za r. 2006
Zpráva o činnosti centra LC06041 za r. 2006 Zpráva je pro přehlednost koncipována jako přehled činností týkajících se jednotlivých plánovaných etap V001 -V013 a je doplněna seznamem publikací, které se
VíceMatematicko-fyzikální fakulta Univerzity Karlovy. Habilita ní práce Modikace a charakterizace materiál energetickými ionty
Matematicko-fyzikální fakulta Univerzity Karlovy Habilita ní práce Modikace a charakterizace materiál energetickými ionty RNDr. Anna Macková, Ph.D. Ústav jaderné fyziky AV ƒr Odd lení neutronové fyziky
VíceRBS (Rutherford Backscattering Spectrometry) + ERDA (Elastic Recoil Detection) PIXE (Particle Induced X-ray Emission)
RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry) + ERDA (Elastic Recoil Detection) PIXE (Particle Induced X-ray Emission) V ČR lze tyto a další metody používat na AV v Řeži u Prahy odkud je také většina v
VíceNANOSTRUKTURY NA BÁZI UHLÍKU A POLYMERU PRO VYUŽITÍ V BIOELEKTRONICE A V MEDICÍNE
Nanotechnologie pro společnost, KAN400480701 NANOSTUKTUY NA BÁZI UHLÍKU A POLYMEU PO VYUŽITÍ V BIOELEKTONICE A V MEDICÍNE ÚJF Řež, leden 2009 Temata řešená v rámci projektu na VŠCHT A4 Nanostruktury vytvořené
VíceCentrum základního výzkumu LC Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením. Jaroslav Pavlík, KF PřF UJEP, Ústí n. L.
Centrum základního výzkumu LC 06041 Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením Jaroslav Pavlík, KF PřF UJEP, Ústí n. L. Řešitelský tým: Doc. RNDr. S. Novák, CSc. Prof. RNDr. R.
VíceVytržení jednotlivých atomů, molekul či jejich shluků bombardováním terče (targetu) ionty s vysokou energií (~kev)
Naprašování: Vytržení jednotlivých atomů, molekul či jejich shluků bombardováním terče (targetu) ionty s vysokou energií (~kev) Po nárazu iont předává hybnost částicím terče, dojde k vytržení Depozice
VíceMetody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
Více2. FYZIKÁLNÍ ZÁKLADY ANALYTICKÉ METODY RBS
RBS Jaroslav Král, katedra fyzikální elektroniky FJFI, ČVUT. ÚVOD Spektroskopie Rutherfordova zpětného rozptylu (RBS) umožňuje stanovení složení a hloubkové struktury tenkých vrstev. Na základě energetického
VíceMetody analýzy povrchu
Metody analýzy povrchu Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. 2 Povrch pevné látky: Poslední monoatomární vrstva + absorbovaná monovrstva Ovlivňuje fyzikální vlastnosti (ukončení
VíceNanotechnologie a Nanomateriály na PřF UJEP Pavla Čapková
Přírodovědecká fakulta UJEP Ústí n.l. a Ústecké materiálové centrum na PřF UJEP http://sci.ujep.cz/faculty-of-science.html Nanotechnologie a Nanomateriály na PřF UJEP Pavla Čapková Kontakt: Doc. RNDr.
VíceHODNOCENÍ HLOUBKOVÝCH PROFILŮ MECHANICKÉHO CHOVÁNÍ POLYMERNÍCH MATERIÁLŮ POMOCÍ NANOINDENTACE
HODNOCENÍ HLOUBKOVÝCH PROFILŮ MECHANICKÉHO CHOVÁNÍ POLYMERNÍCH MATERIÁLŮ POMOCÍ NANOINDENTACE EVALUATION OF DEPTH PROFILE OF MECHANICAL BEHAVIOUR OF POLYMER MATERIALS BY NANOINDENTATION Marek Tengler,
VíceStanovisko habilitační komise
Stanovisko habilitační komise k návrhu Matematicko-ťyzikální fakulty UK na jmenování uchazečky RNDr. Anny Mackové, Ph.D. docentkou pro obor: Fyzika - Fyzika povrchů a rozhraní Složení komise: Předseda:
VíceACOUSTIC EMISSION SIGNAL USED FOR EVALUATION OF FAILURES FROM SCRATCH INDENTATION
AKUSTICKÁ EMISE VYUŽÍVANÁ PŘI HODNOCENÍ PORUŠENÍ Z VRYPOVÉ INDENTACE ACOUSTIC EMISSION SIGNAL USED FOR EVALUATION OF FAILURES FROM SCRATCH INDENTATION Petr Jiřík, Ivo Štěpánek Západočeská univerzita v
VíceNANOSTRUKTURY NA BÁZI UHLÍKU A POLYMERU PRO VYUŽITÍ V BIOELEKTRONICE A V MEDICÍNE
Nanotechnologie pro společnost, KAN400480701 NANOSTRUKTURY NA BÁZI UHLÍKU A POLYMERU PRO VYUŽITÍ V BIOELEKTRONICE A V MEDICÍNE Řež, březen 2007 Graduates with B.S. in Chemical Engineering ( universal engineers
VíceCo všechno umí urychlovač TANDETRON a jak vlastně funguje?
Co všechno umí urychlovač TANDETRON a jak vlastně funguje? AnnaMacková** 24. listopadu 2006 1 Úvod Cílem přednášky bylo představit nové unikátní zařízení, které přitáhlo i zájem médií. Myslím,žejevelmipotřebnéstudentůmukazovat,jaksevědavnašemstátěrozvíjíaje
VícePříprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením
Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením ČVUT Praha, fakulta elektrotechnická, Praha 6 Výsledky 2008 Řešitelský tým FEL - ČVUT v Praze, katedra mikroelektroniky Jan Vobecký
VícePříprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením
Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením ČVUT Praha, fakulta elektrotechnická, Praha 6 Řešitelský tým FEL - ČVUT v Praze, katedra mikroelektroniky Jan Vobecký garant, člen Rady
VíceTechniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis
Techniky prvkové povrchové analýzy elemental analysis (Foto)elektronová spektroskopie (pro chemickou analýzu) ESCA, XPS X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Any technique in which the sample is bombarded
VíceInformační bulletin. Obsah
Informační bulletin Skupina jaderných analytických metod Ústav jaderné fyziky AV ČR 1 Obsah Kapitola I Úvod 3 Kapitola II Stávájící jaderné analytické metody 5 2.1 Rutherford Back-Scattering spectrometry
VíceMETODY ANALÝZY POVRCHŮ
METODY ANALÝZY POVRCHŮ (c) - 2017 Povrch vzorku 3 definice IUPAC: Povrch: vnější část vzorku o nedefinované hloubce (Užívaný při diskuzích o vnějších oblastech vzorku). Fyzikální povrch: nejsvrchnější
VíceNanokrystalické tenké filmy oxidu železitého pro solární štěpení vody
Nanokrystalické tenké filmy oxidu železitého pro solární štěpení vody J. Frydrych, L. Machala, M. Mašláň, J. Pechoušek, M. Heřmánek, I. Medřík, R. Procházka, D. Jančík, R. Zbořil, J. Tuček, J. Filip a
VíceHodnocení změn mechanických vlastností v mikrolokalitách po deposičního procesu
Hodnocení změn mechanických vlastností v mikrolokalitách po deposičního procesu Analysis of Changing of Mechanical Properties in Microlocation after Deposition Process Jiří Hána, Radek Němec, Ivo Štěpánek
VíceMetody povrchové analýzy založené na detekci iontů. Pavel Matějka
Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů Pavel Matějka Metody povrchové analýzy založené na detekci iontů 1. sekundárních iontů - SIMS 1. Princip metody 2. Typy bombardování 3. Analyzátory iontů
VíceCentrum urychlovačů a jaderných analytických metod (CANAM)
Separát z publikace Aplikační laboratoře Akademie věd České republiky, vydala AV ČR, 2018 Centrum urychlovačů a jaderných analytických metod (CANAM) Posláním velké infrastruktury CANAM je využití svazků
VíceVLIV VYBRANÝCH PARAMETRŮ TECHNOLOGICKÉHO PROCESU NA VLASTNOSTI A CHOVÁNÍ SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA SUBSTRÁT
VLIV VYBRANÝCH PARAMETRŮ TECHNOLOGICKÉHO PROCESU NA VLASTNOSTI A CHOVÁNÍ SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA SUBSTRÁT THE INFLUENCES OF SELECTED PARAMETERS OF TECHNOLOGICAL PROCESS ON PROPERTIES AND BEHAVIOUR OF SYSTEMS
VíceHodnocení korozí odolnosti systémů tenká vrstva substrát v prostředí kompresorů
Hodnocení korozí odolnosti systémů tenká vrstva substrát v prostředí kompresorů Analysis of Corrosion Resistance of Systems Thin Films Substrate in Compressors Environment Jiří Hána, Ivo Štěpánek, Radek
VícePavel Matějka
Pavel Matějka Pavel.Matejka@vscht.cz Pavel.Matejka@gmail.com www.vscht.cz/anl/matejka Strukturní a povrchová analýza Analýza struktury (pevných látek) a analýza povrchu, resp. fázového rozhraní pevných
VíceNanomateriály v medicíně a elektronice
V.Švorčík, Ústav inženýrství pevných látek, VŠCHT Praha vaclav.svorcik@vscht.cz Nanomateriály v medicíně a elektronice Vysoká škola chemicko-technologická v Praze Fakulta chemické technologie Ústav inženýrství
VíceHODNOCENÍ POVRCHOVÝCH ZMEN MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ PO ELEKTROCHEMICKÝCH ZKOUŠKÁCH. Klára Jacková, Ivo Štepánek
HODNOCENÍ POVRCHOVÝCH ZMEN MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ PO ELEKTROCHEMICKÝCH ZKOUŠKÁCH Klára Jacková, Ivo Štepánek Západoceská univerzita v Plzni, Univerzitní 22, 306 14 Plzen, CR, ivo.stepanek@volny.cz Abstrakt
VícePlazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého
Plazmová depozice tenkých vrstev oxidu zinečnatého Bariérový pochodňový výboj za atmosférického tlaku Štěpán Kment Doc. Dr. Ing. Petr Klusoň Mgr. Zdeněk Hubička Ph.D. Obsah prezentace Úvod do problematiky
VíceUniverzální využití indentačních metod pro hodnocení mechanických vlastností a chování velmi rozdílných systémů materiálů
Univerzální využití indentačních metod pro hodnocení mechanických vlastností a chování velmi rozdílných systémů materiálů Universal Application of Indentation Method for Analysis Mechanical Properties
VíceMateriálový výzkum na ústavu anorganické chemie. Ondřej Jankovský
Materiálový výzkum na ústavu anorganické chemie Ondřej Jankovský ÚSTAV ANORGANICKÉ CHEMIE Koordinační chemie Materiály pro fotoniku Oxidové materiály Polovodiče a nanomateriály Teoretická chemie Vedoucí
VíceStudentské projekty FÚUK 2013/2014
Studentské projekty FÚUK 2013/2014 Měření propustnosti tenké ITO desky a kalibrace osvětlení Konzultant: Mgr. Jakub Zázvorka (zazvorka.jakub@gmail.com) Tenké filmy polovodičového materiálu ITO ( oxid india
VíceVLIV PŘÍPRAVY POVRCHU A NEHOMOGENIT TLOUŠŤKY VRSTEV NA CHOVÁNÍ TENKOVRSTVÝCH SYSTÉMŮ
VLIV PŘÍPRAVY POVRCHU A NEHOMOGENIT TLOUŠŤKY VRSTEV NA CHOVÁNÍ TENKOVRSTVÝCH SYSTÉMŮ INFLUENCE OF PREPARING SURFACE AND INHOMOGENEITY OF THICKNESS FILMS ON BEHAVIOUR THIN FILMS SYSTEMS Abstrakt Ivo ŠTĚPÁNEK
VíceFotoelektronová spektroskopie Instrumentace. Katedra materiálů TU Liberec
Fotoelektronová spektroskopie Instrumentace RNDr. Věra V Vodičkov ková,, PhD. Katedra materiálů TU Liberec Obecné schéma metody Dopad rtg záření emitovaného ze zdroje na vzorek průnik fotonů několik µm
VíceMERENÍ MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ V MIKROLOKALITÁCH NANOINDENTACÍ. Radek Nemec, Ivo Štepánek
MERENÍ MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ V MIKROLOKALITÁCH NANOINDENTACÍ Radek Nemec, Ivo Štepánek Západoceská univerzita v Plzni, Univerzitní 22, 306 14 Plzen, CR, ivo.stepanek@volny.cz Abstrakt Príspevek se zabývá
VíceVLIV KOROZNÍHO PORUŠENÍ NA PRUBEH DEPOSICNÍHO PROCESU A VLIV NA VÝSLEDNÉ VLASTNOSTI. Petr Fialka, Ivo Štepánek, Klára Jacková, Jirí Hána
VLIV KOROZNÍHO PORUŠENÍ NA PRUBEH DEPOSICNÍHO PROCESU A VLIV NA VÝSLEDNÉ VLASTNOSTI Petr Fialka, Ivo Štepánek, Klára Jacková, Jirí Hána Západoceská univerzita v Plzni, Univerzitní 22, 306 14 Plzen, CR,
VíceV005. Studium interakce tranzitních kovů s nanodiamanty a fullerény a příprava a modifikace jejich kompozitů. ( )
V005 Studium interakce tranzitních kovů s nanodiamanty a fullerény a příprava a modifikace jejich kompozitů. (2006-2009) J. Vacík, V. Lavrentiev, V. Bejšovec, V. Hnatowicz Hybridizace Hybridizace organických
VíceZMENY POVRCHOVÝCH MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ SYSTÉMU S TENKÝMI VRSTVAMI PO KOMBINOVANÉM NAMÁHÁNÍ. Roman Reindl, Ivo Štepánek
ZMENY POVRCHOVÝCH MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ SYSTÉMU S TENKÝMI VRSTVAMI PO KOMBINOVANÉM NAMÁHÁNÍ Roman Reindl, Ivo Štepánek Západoceská univerzita v Plzni, Univerzitní 22, 306 14 Plzen, CR, ivo.stepanek@volny.cz
VíceGlass temperature history
Glass Glass temperature history Crystallization and nucleation Nucleation on temperature Crystallization on temperature New Applications of Glass Anorganické nanomateriály se skelnou matricí Martin Míka
VíceEVALUATION OF FAILURES AND MODIFICATION OF SYSTEMS THIN FILM BASIC MATERIAL TO THE DEPTH OF MATERIAL SYSTEMS
STUDIUM PORUŠENÍ A MODIFIKACE SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA ZÁKLADNÍ MATERIÁL DO HLOUBKY MATERIÁLOVÝCH SYSTÉMŮ Abstrakt EVALUATION OF FAILURES AND MODIFICATION OF SYSTEMS THIN FILM BASIC MATERIAL TO THE DEPTH OF
VíceUniverzita Karlova v Praze Matematicko-fyzikální fakulta DIPLOMOVÁ PRÁCE. Miroslav Jandus
Univerzita Karlova v Praze Matematicko-fyzikální fakulta DIPLOMOVÁ PRÁCE Miroslav Jandus Studium procesů v progresivních materiálech s využitím iontových svazků metody RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry)
VíceParametrizace ozařovacích míst v aktivní zóně školního reaktoru VR-1 VRABEC
Parametrizace ozařovacích míst v aktivní zóně školního reaktoru VR-1 VRABEC Kohos Antonín, Katovský Karel Huml Ondřeji Vinš Miloslav Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT, Katedra jaderných reaktorů,
VícePRINCIPY ZAŘÍZENÍ PRO FYZIKÁLNÍ TECHNOLOGIE (FSI-TPZ-A)
PRINCIPY ZAŘÍZENÍ PRO FYZIKÁLNÍ TECHNOLOGIE (FSI-TPZ-A) GARANT PŘEDMĚTU: Prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (ÚFI) VYUČUJÍCÍ PŘEDMĚTU: Prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc., Ing. Stanislav Voborný, Ph.D. (ÚFI) JAZYK
VíceTechniky mikroskopie povrchů
Techniky mikroskopie povrchů Elektronové mikroskopie Urychlené elektrony - šíření ve vakuu, ovlivnění dráhy elektrostatickým nebo elektromagnetickým polem Nepřímé pozorování elektronového paprsku TEM transmisní
Více10/21/2013. K. Záruba. Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje. velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita
Chování a vlastnosti nanočástic ovlivňuje velikost a tvar (distribuce) povrchové atomy, funkční skupiny porozita stabilita K. Záruba Optická mikroskopie Elektronová mikroskopie (SEM, TEM) Fotoelektronová
VíceEVALUATION OF SPECIFIC FAILURES OF SYSTEMS THIN FILM SUBSTRATE FROM SCRATCH INDENTATION IN DETAIL
DETAILNÍ STUDIUM SPECIFICKÝCH PORUŠENÍ SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA SUBSTRÁT PŘI VRYPOVÉ INDENTACI EVALUATION OF SPECIFIC FAILURES OF SYSTEMS THIN FILM SUBSTRATE FROM SCRATCH INDENTATION IN DETAIL Kateřina Macháčková,
Více13. Spektroskopie základní pojmy
základní pojmy Spektroskopicky významné OPTICKÉ JEVY absorpce absorpční spektrometrie emise emisní spektrometrie rozptyl rozptylové metody Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti
VíceFUNKČNÍ VZOREK FUNKČNÍ VZOREK ZAŘÍZENÍ HTPL-A PRO MĚŘENÍ RELATIVNÍ TOTÁLNÍ EMISIVITY POVLAKŮ
ODBOR TERMOMECHANIKA TECHNOLOGICKÝCH PROCESŮ FUNKČNÍ VZOREK FUNKČNÍ VZOREK ZAŘÍZENÍ HTPL-A PRO MĚŘENÍ RELATIVNÍ TOTÁLNÍ EMISIVITY POVLAKŮ Autor: Ing. Zdeněk Veselý, Ph.D. Doc. Ing. Milan Honner, Ph.D.
VíceCOMPARISON OF SYSTEM THIN FILM SUBSTRATE WITH VERY DIFFERENT RESISTANCE DURING INDENTATION TESTS. Matyáš Novák, Ivo Štěpánek
POROVNÁNÍ SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA SUBSTRÁT S VELICE ROZDÍLNOU ODOLNOSTÍ PŘI INDENTAČNÍCH ZKOUŠKÁCH COMPARISON OF SYSTEM THIN FILM SUBSTRATE WITH VERY DIFFERENT RESISTANCE DURING INDENTATION TESTS Matyáš Novák,
VíceMIKROSTRUKTURNÍ VLASTNOSTI V DIFUZNÍCH SPOJÍCH Ni 3 Al-Ni A NiAl-Ni. Barabaszová K., Losertová M., Kristková M., Drápala J. a
MIKROSTRUKTURNÍ VLASTNOSTI V DIFUZNÍCH SPOJÍCH 3 Al- A Al- MICROSTRUCTURE PROPERTIES OF 3 Al- AND Al- DIFFUSION COUPLES Barabaszová K., Losertová M., Kristková M., Drápala J. a a VŠB-Technical University
VíceCYKLICKÁ VRYPOVÁ ZKOUŠKA PRO HODNOCENÍ VÝVOJE PORUŠENÍ A V APROXIMACI ZKOUŠKY OPOTŘEBENÍ. Markéta Podlahová, Ivo Štěpánek, Martin Hrdý
CYKLICKÁ VRYPOVÁ ZKOUŠKA PRO HODNOCENÍ VÝVOJE PORUŠENÍ A V APROXIMACI ZKOUŠKY OPOTŘEBENÍ. Markéta Podlahová, Ivo Štěpánek, Martin Hrdý Západočeská univerzita v Plzni, Univerzitní 22, 306 14 Plzeň, ČR,
VíceKroková hodnocení kombinovaného namáhání systémů s tenkými vrstvami. Roman Reindl, Ivo Štěpánek, Radek Poskočil, Jiří Hána
Kroková hodnocení kombinovaného namáhání systémů s tenkými vrstvami Step by Step Analysis of Combination Stress of Systems with Thin Films Roman Reindl, Ivo Štěpánek, Radek Poskočil, Jiří Hána Západočeská
VíceSTUDIUM ZMĚN MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ POLYMERNÍCH MATERIÁLŮ PO TEPLOTNÍM STÁRNUTÍ S HLOUBKOVOU ROZLIŠITELNOSTÍ POMOCÍ NANOINDENTAČNÍCH ZKOUŠEK
STUDIUM ZMĚN MECHANICKÝCH VLASTNOSTÍ POLYMERNÍCH MATERIÁLŮ PO TEPLOTNÍM STÁRNUTÍ S HLOUBKOVOU ROZLIŠITELNOSTÍ POMOCÍ NANOINDENTAČNÍCH ZKOUŠEK STUDY OF CHANGING OF MECHANICAL PROPERTIES OF POLYMER MATERIALS
VíceKORELACE ZMĚN SIGNÁLU AKUSTICKÉ EMISE A ZMĚN PORUŠOVÁNÍ PŘI VRYPOVÉ ZKOUŠCE NA SYSTÉMECH S TENKÝMI VRSTVAMI. Petr Jirík, Ivo Štěpánek, Martin Hrdý
KORELACE ZMĚN SIGNÁLU AKUSTICKÉ EMISE A ZMĚN PORUŠOVÁNÍ PŘI VRYPOVÉ ZKOUŠCE NA SYSTÉMECH S TENKÝMI VRSTVAMI. Petr Jirík, Ivo Štěpánek, Martin Hrdý Západočeská univerzita v Plzni, Univerzitní 22, 306 14
VícePREPARING OF AL AND SI SURFACE LAYERS ON BEARING STEEL
METAL 28 PŘÍPRAVA ALITOSILITOVANÝH POVRHOVÝH VRSTEV NA LOŽISKOVÉ OELI PREPARING OF AL AND SI SURFAE LAYERS ON BEARING STEEL Pavel Doležal, Ladislav Čelko, Aneta Němcová, Lenka Klakurková, mona Pospíšilová
VícePříprava polarizačního stavu světla
Příprava polarizačního stavu světla Konzultant: RNDr. Jakub Zázvorka (zazvorka.jakub@gmail.com) Projekt bude zaměřen na přípravu a charakterizaci polarizačního stavu světla pro spinově závislou luminiscenci
VíceStudium procesů ve strukturách polymer/kov modifikovaných plasmatickým výbojem s využitím jaderných analytických metod
Univerzita Jana Evangelisty Purkyně Pedagogická fakulta Katedra fyziky Diplomová práce Studium procesů ve strukturách polymer/kov modifikovaných plasmatickým výbojem s využitím jaderných analytických metod
VíceFYZIKA VE FIRMĚ HVM PLASMA
FYZIKA VE FIRMĚ HVM PLASMA Jiří Vyskočil HVM Plasma spol.s r.o. Na Hutmance 2, 158 00 Praha 5 OBSAH HVM PLASMA spol. s r.o. zaměření a historie firmy hlavní činnost a produkty POVRCHOVÉ TECHNOLOGIE metody
VícePříprava polarizačního stavu světla
Příprava polarizačního stavu světla Konzultant: RNDr. Jakub Zázvorka (zazvorka.jakub@gmail.com) Projekt bude zaměřen na přípravu a charakterizaci polarizačního stavu světla pro spinově závislou luminiscenci
VíceVlastnosti tenkých DLC vrstev
Vlastnosti tenkých DLC vrstev Ing. Vladimír Jech ČVUT v Praze, FS, Technická 4, 16607 Praha Abstrakt Vrstvy DLC nacházejí díky svým jedinečným vlastnostem stále širší oblasti využití. Vyznačují se vysokou
VíceVÝZKUM MOŽNOSTÍ ZVÝŠENÍ ŽIVOTNOSTI LOŽISEK CESTOU POVRCHOVÝCH ÚPRAV
VÝZKUM MOŽNOSTÍ ZVÝŠENÍ ŽIVOTNOSTI LOŽISEK CESTOU POVRCHOVÝCH ÚPRAV RESEARCH INTO POSSIBILITY OF INCREASING SERVICE LIFE OF BEARINGS VIA SURFACE TREATMENT Zdeněk Spotz a Jiří Švejcar a Vratislav Hlaváček
VíceTenké vrstvy GaN dopované přechodnými kovy
Tenké vrstvy GaN dopované přechodnými kovy ZDENĚK SOFER 1) JAN LUXA 1) DANIEL BOUŠA 1) VLASTIMIL MAZÁNEK 1) MIROSLAV MARYŠKO 2) DAVID SEDMIDUBSKY 1) 1) Ústav anorganické chemie, VŠCHT Praha, Technická
VíceMetody charakterizace
Metody y strukturní analýzy Metody charakterizace nanomateriálů I Význam strukturní analýzy pro studium vlastností materiálů Experimentáln lní metody využívan vané v materiálov lovém m inženýrstv enýrství:
VíceAplikace jaderné fyziky (několik příkladů)
Aplikace jaderné fyziky (několik příkladů) Pavel Cejnar Ústav částicové a jaderné fyziky MFF UK pavel.cejnar@mff.cuni.cz Příklad I Datování Galileiho rukopisů Galileo Galilei (1564 1642) Všechny vázané
VíceElektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM
Elektronová mikroskopie SEM, TEM, AFM Historie 1931 E. Ruska a M. Knoll sestrojili první elektronový prozařovací mikroskop 1939 první vyrobený elektronový mikroskop firma Siemens rozlišení 10 nm 1965 první
VíceAnalýza vrstev pomocí elektronové spektroskopie a podobných metod
1/23 Analýza vrstev pomocí elektronové a podobných metod 1. 4. 2010 2/23 Obsah 3/23 Scanning Electron Microscopy metoda analýzy textury povrchu, chemického složení a krystalové struktury[1] využívá svazek
VíceALTERNATIVNÍ METODY STANOVENÍ HLOUBKOVÉ DISTRIBUCE
ALTERNATIVNÍ METODY STANOVENÍ HLOUBKOVÉ DISTRIBUCE Mgr. Hana Bártová Katedra dozimetrie a aplikace ionizujícího záření FJFI ČVUT v Praze XRF metody ve výzkumu památek 31.5.2017 2 Stanovení hloubkové distribuce
VíceDUPLEXNÍ POVLAKOVÁNÍ PM NÁSTROJOVÉ OCELI LEGOVANÉ NIOBEM DUPLEX COATING OF THE NIOBIUM-ALLOYED PM TOOL STEEL
DUPLEXNÍ POVLAKOVÁNÍ PM NÁSTROJOVÉ OCELI LEGOVANÉ NIOBEM DUPLEX COATING OF THE NIOBIUM-ALLOYED PM TOOL STEEL Pavel Novák Dalibor Vojtěch Jan Šerák Michal Novák Vítězslav Knotek Ústav kovových materiálů
VíceVybrané spektroskopické metody
Vybrané spektroskopické metody a jejich porovnání s Ramanovou spektroskopií Předmět: Kapitoly o nanostrukturách (2012/2013) Autor: Bc. Michal Martinek Školitel: Ing. Ivan Gregora, CSc. Obsah přednášky
VíceSEZNAM PŘÍLOH 11. SEZNAM PŘÍLOH
SEZNAM PŘÍLOH 11. SEZNAM PŘÍLOH Příloha 1 Výrobní systémy prášku VIGA, EIGA a PIGA... 84 Příloha 2 Proudění bublin v tavící lázni... 84 Příloha 3 Graf hodnot BFE pro různé mísící poměry prášků... 85 Příloha
VíceCharakterizace koloidních disperzí. Pavel Matějka
Charakterizace koloidních disperzí Pavel Matějka Charakterizace koloidních disperzí 1. Úvod koloidní disperze 2. Spektroskopie kvazielastického rozptylu 1. Princip metody 2. Instrumentace 3. Příklady použití
VíceÚvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů. Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál
Úvod do fyziky tenkých vrstev a povrchů Spektroskopie Augerových elektron (AES), elektronová mikrosonda, spektroskopie prahových potenciál ty i hlavní typy nepružných srážkových proces pr chodu energetických
VíceSpektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie
Spektroskopie subvalenčních elektronů Elektronová mikroanalýza, rentgenfluorescenční spektroskopie Metody charakterizace nanomateriálů I RNDr. Věra Vodičková, PhD. rentgenová spektroskopická metoda k určen
VícePOROVNÁNÍ VLIVU DEPOSICE TENKÝCH VRSTEV A NAVAŘOVÁNÍ NA DEGRADACI ZÁKLADNÍHO MATERIÁLU
POROVNÁNÍ VLIVU DEPOSICE TENKÝCH VRSTEV A NAVAŘOVÁNÍ NA DEGRADACI ZÁKLADNÍHO MATERIÁLU COMPARISON OF INFLUENCES OF DEPOSITION THIN FILMS AND WELDING ON DEGRADATION OF BASIC MATERIAL Monika Hadáčková a
VíceVLASTNOSTI KOVOVÝCH VRSTEV DEPONOVANÝCH MAGNETRONOVÝM NAPRAŠOVÁNÍM NA SKLENENÝ SUBSTRÁT
VLASTNOSTI KOVOVÝCH VRSTEV DEPONOVANÝCH MAGNETRONOVÝM NAPRAŠOVÁNÍM NA SKLENENÝ SUBSTRÁT PROPERTIES OF METAL LAYERS DEPOSITED BY MAGNETRON SPUTTERING ON GLASS SUBSTRATE David Petrýdes a Ivo Štepánek b a
VíceÚvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv
Evropský sociální fond Praha & EU: Investujeme do vaší budoucnosti Úvod do spektrálních metod pro analýzu léčiv Pavel Matějka, Vadym Prokopec pavel.matejka@vscht.cz pavel.matejka@gmail.com Vadym.Prokopec@vscht.cz
VíceSTUDIUM MECHANICKÉHO CHOVÁNÍ ROZDÍLNÝCH SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA SKLO POMOCÍ INDENTAČNÍCH ZKOUŠEK
STUDIUM MECHANICKÉHO CHOVÁNÍ ROZDÍLNÝCH SYSTÉMŮ TENKÁ VRSTVA SKLO POMOCÍ INDENTAČNÍCH ZKOUŠEK EVALUATION OF MECHANICAL BEHAVIOUR OF DIFFERENT SYSTEMS THIN FILM GLASS BY INDENTATION TESTS Ivo Štěpánek,
VíceCo je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur)
Co je litografie? - technologický proces sloužící pro vytváření jemných struktur (obzvláště mikrostruktur a nanostruktur) -přenesení dané struktury na povrch strukturovaného substrátu Princip - interakce
VíceCHARAKTERIZACE MATERIÁLU II
CHARAKTERIZACE MATERIÁLU II Vyučující a zkoušející Ing. Martin Kormunda, Ph.D. - CN320 Konzultační hodiny: Po 10-12, St 13 14 nebo dle dohody Doc. RNDr. Jaroslav Pavlík, CS.c. - CN Konzultační hodiny:
VíceStudium elektronové struktury povrchu elektronovými spektroskopiemi
Studium elektronové struktury povrchu elektronovými spektroskopiemi Autor: Petr Blumentrit Ve své disertační práci se zabývám Augerovou elektronovou spektroskopií ve speciálním uspořádání, ve kterém jsou
VíceAssociation for the Heat Treatment of Metals. Program. Chemicko-tepelné zpracování kovových povrchů Chemichal Heat Treatment of Metal Surfaces
Association for the Heat Treatment of Metals Program Chemicko-tepelné zpracování kovových povrchů Chemichal Heat Treatment of Metal Surfaces 24. - 25.11. 2015 24 25 November 2015 Jihlava, Czech Republic
VíceCHANGING IN ACOUSTIC EMISSION SIGNAL DURING SCRATCH INDENTATION ON DIFFERENT MATERIALS AND CORRELATION WITH MORPHOLOGY OF FAILURES
ZMĚNY V PRŮBĚHU SIGNÁLU AKUSTICKÉ EMISE PŘI VRYPOVÉ INDENTACI NA RŮZNÝCH MATERIÁLECH A KORELACE S MORFOLOGIÍ PORUŠENÍ Abstrakt CHANGING IN ACOUSTIC EMISSION SIGNAL DURING SCRATCH INDENTATION ON DIFFERENT
VíceCOMPARISON PROPERTIES AND BEHAVIOUR OF SYSTEM WITH THIN FILMS PREPARED BY DIFFERENT TECHNOLOGIES
POROVNÁNÍ VLASTNOSTÍ A CHOVÁNÍ SYSTÉMŮ S TENKÝMI VRSTVAMI Z RŮZNÝCH TECHNOLOGICKÝCH PROCESŮ COMPARISON PROPERTIES AND BEHAVIOUR OF SYSTEM WITH THIN FILMS PREPARED BY DIFFERENT TECHNOLOGIES Ivo Štěpánek
VíceSpolečná laboratoř optiky. Skupina nelineární a kvantové optiky. Představení vypisovaných témat. bakalářských prací. prosinec 2011
Společná laboratoř optiky Skupina nelineární a kvantové optiky Představení vypisovaných témat bakalářských prací prosinec 2011 O naší skupině... Zařazení: UP PřF Společná laboratoř optiky skupina nelin.
VíceF7030 Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách
F7030 Rentgenový rozptyl na tenkých vrstvách O. Caha PřF MU Prezentace k přednášce Numerické simulace Příklady experimentů Vybrané vztahy Sylabus Elementární popis vlnového pole: Rtg vlna ve vakuu; Greenova
VíceTepelné rozklady železo obsahujících sloučenin pohledem Mössbauerovy spektroskopie
Tepelné rozklady železo obsahujících sloučenin pohledem Mössbauerovy spektroskopie Libor Machala E-mail: libor.machala@upol.cz 21.10.2011 Workshop v rámci projektu Pokročilé vzdělávání ve výzkumu a aplikacích
VíceElektronová Mikroskopie SEM
Elektronová Mikroskopie SEM 26. listopadu 2012 Historie elektronové mikroskopie První TEM Ernst Ruska (1931) Nobelova cena za fyziku 1986 Historie elektronové mikroskopie První SEM Manfred von Ardenne
Více